JPS617519A - 真空インタラプタ - Google Patents
真空インタラプタInfo
- Publication number
- JPS617519A JPS617519A JP12786084A JP12786084A JPS617519A JP S617519 A JPS617519 A JP S617519A JP 12786084 A JP12786084 A JP 12786084A JP 12786084 A JP12786084 A JP 12786084A JP S617519 A JPS617519 A JP S617519A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum interrupter
- arc
- electrode
- vacuum
- contact part
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、真空インタラプタに関し、特に、電極の接触
部とアーク部とが別材料によって構成された真空インタ
ラプタに関する。
部とアーク部とが別材料によって構成された真空インタ
ラプタに関する。
従来の技術
第５図及び第６図に示すように、電極が接触部とアーク
部とから成る真空インタラプタは、一般に、ガラス又は
絶縁セラミクス製の２本の絶縁筒１がそれらの両端に封
着された封着金具２の一方を接合することによって１体
の絶縁筒とされ、この１体の絶縁筒の両開口端部が他方
の封着金具２を介し一対の孔開き円板状の金属端板３で
封着され、両方の金属端板３の各孔を介して、相対的に
接近離反自在な一対の導電棒４が同軸状に１体の絶縁筒
の内部に導入され、両方の導電棒４の内端部が接離自在
の一対の電極５を有し、上記１体の絶縁筒及び両方の金
属端板３を主要構成部材とする真空容器６の内部が高真
空に排気されるようにして構成されている。
部とから成る真空インタラプタは、一般に、ガラス又は
絶縁セラミクス製の２本の絶縁筒１がそれらの両端に封
着された封着金具２の一方を接合することによって１体
の絶縁筒とされ、この１体の絶縁筒の両開口端部が他方
の封着金具２を介し一対の孔開き円板状の金属端板３で
封着され、両方の金属端板３の各孔を介して、相対的に
接近離反自在な一対の導電棒４が同軸状に１体の絶縁筒
の内部に導入され、両方の導電棒４の内端部が接離自在
の一対の電極５を有し、上記１体の絶縁筒及び両方の金
属端板３を主要構成部材とする真空容器６の内部が高真
空に排気されるようにして構成されている。
上記一対の電極５としては、その断面が第５図に示すよ
うな形状のものが使用され、接触部７が０．２〜１重量
％のビスマスを含む銅ベースの合金で構成され、アーク
部８が銅で構成されている。
うな形状のものが使用され、接触部７が０．２〜１重量
％のビスマスを含む銅ベースの合金で構成され、アーク
部８が銅で構成されている。
このアーク部８は、例えば６枚のスノくイラル片によっ
て構成されており、一対の電極５間に生じたアークを磁
気的に回転駆動する。
て構成されており、一対の電極５間に生じたアークを磁
気的に回転駆動する。
発明が解決しようとする問題点
従来技術にかかる電極５を有する真空インクラブタでは
、電流しゃ断性能が比較的良好であるものの、電流しゃ
断時の動的絶縁耐力のバラツキ幅が大きい点と、電流さ
い断値がＩＯＡと高く、そのため小電流しゃ断時に有害
な開閉サージを発生せしめるといった問題点がある。
、電流しゃ断性能が比較的良好であるものの、電流しゃ
断時の動的絶縁耐力のバラツキ幅が大きい点と、電流さ
い断値がＩＯＡと高く、そのため小電流しゃ断時に有害
な開閉サージを発生せしめるといった問題点がある。
また、アーク部がＣｕからなる場合にあっては、Ｃｕの
強度が小さい（引張強度で２０ ｋ！？ ／ ｍｍ１程
度）ことから、アーク部の厚みを太きくしなければなら
ず、電極が大形重量大となる問題があった。
強度が小さい（引張強度で２０ ｋ！？ ／ ｍｍ１程
度）ことから、アーク部の厚みを太きくしなければなら
ず、電極が大形重量大となる問題があった。
問題点を解決するための手段
本発明者等は、従来の接触部がＣｕ−Ｂ１、アーク部が
Ｃｕからなる電極の欠点を改善するために、特開昭５９
−２７４１８号で知られている、さい断電流値が比較的
小さく（４へ程度）、且つ耐電圧特性が良好（ギャップ
３朋で１２０ｋＶ以上）なＣｕ −Ｃｒ −Ｍｏ 系
金属に着目した。
Ｃｕからなる電極の欠点を改善するために、特開昭５９
−２７４１８号で知られている、さい断電流値が比較的
小さく（４へ程度）、且つ耐電圧特性が良好（ギャップ
３朋で１２０ｋＶ以上）なＣｕ −Ｃｒ −Ｍｏ 系
金属に着目した。
また、アーク部の薄肉化を図るためには、強度大の材料
を用いれば良いが、一般的には強度大の材料は導電率が
小さい傾向にある。
を用いれば良いが、一般的には強度大の材料は導電率が
小さい傾向にある。
そこで、発明者等は、接触部をＣｕ −Ｃｒ −Ｍ。
合金（５０Ｃｕ−１０Ｃｒ−４０Ｍｏ、 重量％）で
作り、一方アーク部に種々の導電率（以下ｌＡＣ３とい
う）の材料を用いて大電流しゃ断試験を行なった。
作り、一方アーク部に種々の導電率（以下ｌＡＣ３とい
う）の材料を用いて大電流しゃ断試験を行なった。
なお、真空インタラプタ及び電極の構成は、前述の第６
図及び第５図に示すものと同様であり、且つ接触部は外
径４０φ朋−内径２０φ順のリング状にし、またアーク
部は外径が８０ 朋で６枚のスパイラル形状片で構成し
た。そして印加電圧１２ ｋｖ 、開極ギャップ１２ｍ
ｍ、Ｌや断速度１．３ｍ／Ｓの条件にしてしゃ断試験を
行なった。
図及び第５図に示すものと同様であり、且つ接触部は外
径４０φ朋−内径２０φ順のリング状にし、またアーク
部は外径が８０ 朋で６枚のスパイラル形状片で構成し
た。そして印加電圧１２ ｋｖ 、開極ギャップ１２ｍ
ｍ、Ｌや断速度１．３ｍ／Ｓの条件にしてしゃ断試験を
行なった。
その結果、第１図に示すように、アーク部のｌＡＣ３が
小さくても、また大きくてもしゃ断性能は悪く、ｌＡＣ
３が１０〜３０％当りで良好な結果が得られることが判
った。このｌＡＣ３ｌ０〜３０％の材料であって、且つ
Ｃｕより強度大の材料としては、炭素鋼（例えば５ＩＯ
Ｃ，５４５Ｃ。
小さくても、また大きくてもしゃ断性能は悪く、ｌＡＣ
３が１０〜３０％当りで良好な結果が得られることが判
った。このｌＡＣ３ｌ０〜３０％の材料であって、且つ
Ｃｕより強度大の材料としては、炭素鋼（例えば５ＩＯ
Ｃ，５４５Ｃ。
ＳＧＤ３）、鉄を含有する複合金属（例えば特公昭４４
−７８３８号等で知られているＣｕ−Ｆｅ系金属、特開
昭５３−２１７７７号等で知られているＣｕ −ＳＵＳ
系金属）が該当する。
−７８３８号等で知られているＣｕ−Ｆｅ系金属、特開
昭５３−２１７７７号等で知られているＣｕ −ＳＵＳ
系金属）が該当する。
この第１図の結果に基づき、発明者等は、ｌＡＣ３が１
０〜２０％の炭素鋼（ＳＩＯＣ）にてアーク部を形成し
、そして今度は、接触部のｌＡＣ３を変えることによっ
てしゃ断試験を行った。
０〜２０％の炭素鋼（ＳＩＯＣ）にてアーク部を形成し
、そして今度は、接触部のｌＡＣ３を変えることによっ
てしゃ断試験を行った。
なお、試験条件は、第１図の結果を得た条件と同じであ
る。
る。
その結果、第２図に示すように、接触部のｌＡＣ３がお
よそ２０％未満及び６０％を超える範囲では、急激にし
ゃ断性能が低下し、ｌＡＣ３が２−０〜６０％の範囲で
は良好な結果が得られることが判った。
よそ２０％未満及び６０％を超える範囲では、急激にし
ゃ断性能が低下し、ｌＡＣ３が２−０〜６０％の範囲で
は良好な結果が得られることが判った。
接触部を形成するＣｕ−Ｃｒ−Ｍｏ合金は、１００メツ
シユ以下のＣｒ、Ｍｏ粉末を所定量混合し、この粉末上
にＣｕブロックを載置して真空中で１１００℃以上の温
度に加熱して、Ｃｒ−Ｍｏのスケルトンを形成するとと
もにスケルトン内にＣｕを溶浸せしめて形成したもので
ある。そして、Ｃｕ −Ｃｒ −Ｍ。
シユ以下のＣｒ、Ｍｏ粉末を所定量混合し、この粉末上
にＣｕブロックを載置して真空中で１１００℃以上の温
度に加熱して、Ｃｒ−Ｍｏのスケルトンを形成するとと
もにスケルトン内にＣｕを溶浸せしめて形成したもので
ある。そして、Ｃｕ −Ｃｒ −Ｍ。
の混合比を変えて、ｌＡＣ３を調べた結果、良好なしや
断性能が得られるｌＡＣ３２０〜６０％の材料を得るた
めには、Ｃｕが２０〜８０重量％、Ｃｒが５〜７０重景
％及びＭＯが５〜７０重量％の混合比とすれば良いこと
が判つＩ＝。
断性能が得られるｌＡＣ３２０〜６０％の材料を得るた
めには、Ｃｕが２０〜８０重量％、Ｃｒが５〜７０重景
％及びＭＯが５〜７０重量％の混合比とすれば良いこと
が判つＩ＝。
以上説明した実験結果に基づき本発明は達成されたもの
であり、接触部とアーク部とが各々別材料にて形成され
た電極を有する真空インタラプタにおいて、接触部を銅
とクロムとモリブデンとを含有し且つｌＡＣ３が２０〜
６０％の材料で形成し、アーク部は鉄を含有し且つｌＡ
Ｃ３が１０〜３０％の材料で形成し、これによって低さ
い断電流特性、高耐電圧特性を維持しつつしゃ断性能の
向上を図り、且つ電極の小形軽量化を図った真空インタ
ラプタを提供するものである。
であり、接触部とアーク部とが各々別材料にて形成され
た電極を有する真空インタラプタにおいて、接触部を銅
とクロムとモリブデンとを含有し且つｌＡＣ３が２０〜
６０％の材料で形成し、アーク部は鉄を含有し且つｌＡ
Ｃ３が１０〜３０％の材料で形成し、これによって低さ
い断電流特性、高耐電圧特性を維持しつつしゃ断性能の
向上を図り、且つ電極の小形軽量化を図った真空インタ
ラプタを提供するものである。
実施例
（実施例１）
接触部を形成するＣｕ −Ｃｒ −Ｍｏ 合金は、１
００メツシユ以下のＣｒ’、 Ｍｏ粉末を所定量混合し
、この粉末上にＣｕブロックを載置して真空中で１１０
０℃以上の温度に加熱して、Ｃｒ −Ｍｏのスケルトン
を形成するとともにこのスケルトン内にＣｕを溶浸せし
めて形成したものである。この材料を、外径４０φｍｍ
−内径２ｏφ闘のリング状にして接触部を製作した。同
時に、比較のために同形状のＣｕ−０，２５Ｂ ｉ合金
の接触部も製作した。
００メツシユ以下のＣｒ’、 Ｍｏ粉末を所定量混合し
、この粉末上にＣｕブロックを載置して真空中で１１０
０℃以上の温度に加熱して、Ｃｒ −Ｍｏのスケルトン
を形成するとともにこのスケルトン内にＣｕを溶浸せし
めて形成したものである。この材料を、外径４０φｍｍ
−内径２ｏφ闘のリング状にして接触部を製作した。同
時に、比較のために同形状のＣｕ−０，２５Ｂ ｉ合金
の接触部も製作した。
一方、アーク部は、外径８０’ｍＷで６枚のスパイラル
形状片で且つ５ＩＯＣ材を用いて製作した。
形状片で且つ５ＩＯＣ材を用いて製作した。
同時に、比較のためにＣｕ、ＳＵＳ材からなるアーク部
も製作した。
も製作した。
第１表に、電極を構成する接触部とアーク部との材料の
組合せを示す。
組合せを示す。
第 １ 表
第１表の材料の組合せからなる電極は、前述の第５図に
示す電極構造と同じくし、且つこれら電極を前述の第６
図に示す構成の真空インタラプタに組込み、そして印加
電圧１２ｋｖ、開極ギャップ１２ｍｇ＋ シゃ断速度１
．３ ｍ／ Ｓの条件でしゃ断試験を行なった。
示す電極構造と同じくし、且つこれら電極を前述の第６
図に示す構成の真空インタラプタに組込み、そして印加
電圧１２ｋｖ、開極ギャップ１２ｍｇ＋ シゃ断速度１
．３ ｍ／ Ｓの条件でしゃ断試験を行なった。
その結果、第３図に示すような結果が得られた。
なお第３図中におりる符号Ａ、イ２口、／・の曲線は、
各々第１表のＡ、イ、ｃ１．への符号の電極をブタ（Ａ
）は、従来一般的に使用されていてしゃ断性能が良好と
いわれている接触部がＣｕ −０，２５Ｂ ｉ 。
各々第１表のＡ、イ、ｃ１．への符号の電極をブタ（Ａ
）は、従来一般的に使用されていてしゃ断性能が良好と
いわれている接触部がＣｕ −０，２５Ｂ ｉ 。
アーク部がＣ’ｕからなる電極を備えた真空インタラプ
タ（イ）のものと同等の大電流（３５ｋＡ程度）がしゃ
断でき、且つアーク時間が０．２サイクル程度でもしゃ
断に成功しており、動的絶縁耐力が安定して、しゃ断可
能領域が拡大していることが判る。
タ（イ）のものと同等の大電流（３５ｋＡ程度）がしゃ
断でき、且つアーク時間が０．２サイクル程度でもしゃ
断に成功しており、動的絶縁耐力が安定して、しゃ断可
能領域が拡大していることが判る。
（実施例−２）
第４図に示すよ５に、導電棒４の先端部周囲にアーク部
１２を設け、接触部１０は導電棒４の先端面に直接係合
すると共にビス１１で仮止し、そしてこれらの部材をろ
う付けにて一体結合して電極９を構成している。そして
この電極９を実施例−１と同じ条件にて作り、且つ同じ
条件にてしゃ断試験を行なったところ同様な結果が得ら
れた。
１２を設け、接触部１０は導電棒４の先端面に直接係合
すると共にビス１１で仮止し、そしてこれらの部材をろ
う付けにて一体結合して電極９を構成している。そして
この電極９を実施例−１と同じ条件にて作り、且つ同じ
条件にてしゃ断試験を行なったところ同様な結果が得ら
れた。
この実施例−２のように導電棒４の先端面に接触部１０
を直接固着するものにあっては、通電時にｌＡＣ３が１
０〜３０％のアーク部を介さないので、発熱防止の点で
有利である。
を直接固着するものにあっては、通電時にｌＡＣ３が１
０〜３０％のアーク部を介さないので、発熱防止の点で
有利である。
発明の効果
アーク部に、Ｆｅを含有し強度の大きい材料を用いたの
で電極の小形軽量化が図れる。
で電極の小形軽量化が図れる。
また、アーク部のｌＡＣ３が１０〜３０％と小さいにも
かかわらず、従来品と同程度の大電流がしゃ断でき、し
かも接触部及びアーク部を形成する両者の材料自体の耐
電圧特性が良好なことが相俟って、アーク時間の短い所
でのしゃ断が可能となり、電流しゃ断時の動的絶縁耐力
の安定化が図れた。
かかわらず、従来品と同程度の大電流がしゃ断でき、し
かも接触部及びアーク部を形成する両者の材料自体の耐
電圧特性が良好なことが相俟って、アーク時間の短い所
でのしゃ断が可能となり、電流しゃ断時の動的絶縁耐力
の安定化が図れた。
第１図は、アーク部の導電率と会格しゃ断電流との関係
を示すグラフ、第２図は、接触部の導電率と毒基しゃ断
電流との関係を示すグラフ、第３図は、本発明と比較例
とにかかる真空インタラプタのしゃ断電流とアーク時間
との関係を示すグラフ、第４図は、本発明の第２実施例
にかかる電極の縦断面図、第５図は、従来技術にかかる
電極の縦断面図、第６図は、従来技術にかかる真空イン
タラプタの縦断面図である。 ４・・・導電棒、５，９・・・電極、６・・・真空容器
、７゜１０・・・接触部、８，１２・・・アーク部。 第１図 ｌＡＣ３導嚢率 夏ＡＣ３４￥申 第３図 ０ ０．４０５ １ アー７ヂ■η（づ／１フル） 第４図
を示すグラフ、第２図は、接触部の導電率と毒基しゃ断
電流との関係を示すグラフ、第３図は、本発明と比較例
とにかかる真空インタラプタのしゃ断電流とアーク時間
との関係を示すグラフ、第４図は、本発明の第２実施例
にかかる電極の縦断面図、第５図は、従来技術にかかる
電極の縦断面図、第６図は、従来技術にかかる真空イン
タラプタの縦断面図である。 ４・・・導電棒、５，９・・・電極、６・・・真空容器
、７゜１０・・・接触部、８，１２・・・アーク部。 第１図 ｌＡＣ３導嚢率 夏ＡＣ３４￥申 第３図 ０ ０．４０５ １ アー７ヂ■η（づ／１フル） 第４図
Claims (3)
- （１）接離自在の一対の電極がそれぞれ接触部とアーク
部とから成り、導電棒に接合され、且つ真空容器内に封
入された真空インタラプタにおいて、上記接触部が２０
〜６０％ＩＡＣＳの導電率を有し、銅とクロムとモリブ
デンとを含有する金属材料で構成され、上記アーク部が
１０〜３０％ＩＡＣＳの導電率を有する鉄含有材料で構
成されたことを特徴とする真空インタラプタ。 - （２）鉄含有材料がＪＩＳ規格でＳ１０Ｃ、Ｓ４５Ｃ又
はＳＧＤ３であることを特徴とする特許請求の範囲第１
項に記載の真空インタラプタ。 - （３）接触部が導電棒に直接ろう付けされたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項又は第２項に記載の真空イ
ンタラプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12786084A JPS617519A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 真空インタラプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12786084A JPS617519A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 真空インタラプタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS617519A true JPS617519A (ja) | 1986-01-14 |
| JPH043610B2 JPH043610B2 (ja) | 1992-01-23 |
Family
ID=14970446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12786084A Granted JPS617519A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 真空インタラプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS617519A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002334639A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 真空バルブ |
| EP2885802A1 (en) * | 2012-08-20 | 2015-06-24 | Eaton Corporation | Contact assembly and vacuum switch including the same |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP12786084A patent/JPS617519A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002334639A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 真空バルブ |
| EP2885802A1 (en) * | 2012-08-20 | 2015-06-24 | Eaton Corporation | Contact assembly and vacuum switch including the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH043610B2 (ja) | 1992-01-23 |
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