JPS6173917A - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置Info
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- JPS6173917A JPS6173917A JP59195850A JP19585084A JPS6173917A JP S6173917 A JPS6173917 A JP S6173917A JP 59195850 A JP59195850 A JP 59195850A JP 19585084 A JP19585084 A JP 19585084A JP S6173917 A JPS6173917 A JP S6173917A
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- Japan
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- circuit
- laser beam
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- photodetector
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザ光の走査を回転多面鏡により行い、そ
のレーザ光の走査開始点の検出と、回転多面鏡の製作誤
差等によるレーザ光の走査位置ずれ検出とを比較的簡単
な構成により行うことができる光走査装置に関するもの
である。
のレーザ光の走査開始点の検出と、回転多面鏡の製作誤
差等によるレーザ光の走査位置ずれ検出とを比較的簡単
な構成により行うことができる光走査装置に関するもの
である。
レーザプリンタに於いては、回転多面鏡にレーザ光を入
射させ、その回転多面鏡により反射されたレーザ光が感
光ドラムの軸方向の走査を行うことになり、レーザ光を
画像情報により制御し、感光ドラムを回転させることに
より、感光ドラム上に静電潜像が形成される。この静電
潜像はトナーにより可視像化されて、用紙に転写される
ものである。
射させ、その回転多面鏡により反射されたレーザ光が感
光ドラムの軸方向の走査を行うことになり、レーザ光を
画像情報により制御し、感光ドラムを回転させることに
より、感光ドラム上に静電潜像が形成される。この静電
潜像はトナーにより可視像化されて、用紙に転写される
ものである。
レーザ光は回転多面鏡の高速回転により感光ドラム上を
高速走査するものであるが、画質を向上させる為に、レ
ーザ光の走査精度を高くすることが要求されている。走
査精度は回転多面鏡の製作精度による影響が大きいもの
であり、この回転多面鏡の製作誤差により、（１）レー
ザ光の走査方向位置ずれ、及び（２）レーザ光の走査方
向に対して垂直方向の位置ずれが生じる。（１）は、回
転多面鏡の分割角度誤差、各鏡面の平面度１回転速度変
動等に起因するものであり、又（２）は各鏡面の垂直誤
差、即ち倒れ誤差２回転軸ぶれ等に起因するものである
。
高速走査するものであるが、画質を向上させる為に、レ
ーザ光の走査精度を高くすることが要求されている。走
査精度は回転多面鏡の製作精度による影響が大きいもの
であり、この回転多面鏡の製作誤差により、（１）レー
ザ光の走査方向位置ずれ、及び（２）レーザ光の走査方
向に対して垂直方向の位置ずれが生じる。（１）は、回
転多面鏡の分割角度誤差、各鏡面の平面度１回転速度変
動等に起因するものであり、又（２）は各鏡面の垂直誤
差、即ち倒れ誤差２回転軸ぶれ等に起因するものである
。
第９図は光走査装置の要部上面図、第１０図は側面図で
あり、画像情報により光強度変調機能等を有するレーザ
光源ｌからのレーザ光は、回転多面鏡２に入射され、そ
の反射光はレンズ４を介して感光ドラム等の結像面５に
入射される。回転多面鏡２は回転軸３に固定され、回転
軸は図示を省略したモータ等により高速回転駆動される
ものである。レーザ光は回転多面鏡２の回転により結像
面５上を走査するものであるが、前述のように、走査方
向位置ずれが生じる場合があるから、その走査開始点を
検出する為に光検知器６が配置されている。この光検知
器６によりレーザ光が検知されると、所定時間後にレー
ザ光が結像面５上の所定位置を走査することになるから
、画像情報によリレーザ光の強度変調等の制御が行われ
るものである。即ち、光検知器６によりレーザ光を検知
して同期信号を形成するものである。
あり、画像情報により光強度変調機能等を有するレーザ
光源ｌからのレーザ光は、回転多面鏡２に入射され、そ
の反射光はレンズ４を介して感光ドラム等の結像面５に
入射される。回転多面鏡２は回転軸３に固定され、回転
軸は図示を省略したモータ等により高速回転駆動される
ものである。レーザ光は回転多面鏡２の回転により結像
面５上を走査するものであるが、前述のように、走査方
向位置ずれが生じる場合があるから、その走査開始点を
検出する為に光検知器６が配置されている。この光検知
器６によりレーザ光が検知されると、所定時間後にレー
ザ光が結像面５上の所定位置を走査することになるから
、画像情報によリレーザ光の強度変調等の制御が行われ
るものである。即ち、光検知器６によりレーザ光を検知
して同期信号を形成するものである。
前述の（１）の走査方向の位置ずれの補正は、光検知器
６の出力信号から同期信号を形成して行うことが可能で
あるが、光検知器６の出力信号のピーク検出により同期
信号のタイミングが得られるものであり、出力信号波形
が常に一定とは限らないので、高精度の同期信号を得る
ことが容易ではなかった。又（２）の垂直方向の位置ず
れは、回転多面鏡２の製作精度を向上するか、予め測定
した位置ずれ量の分だけ、垂直方向にレーザ光の入射位
置を補正する等の手段が考えらていた。例えば、回転多
面鏡２の鏡面又は回転軸３が傾斜し、所謂倒れ角Δθが
生じたとすると、垂直方向の走査位置ずれ量は、ｒθレ
ンズ４を使用した場合に、結像面５に於いて２ｆΔθと
なる。又回転多面鏡２の各鏡面がそれぞれ製作誤差によ
る倒れ角が異なる場合は、その検出も困難であるから、
補正も困難となる。従って、回転多面鏡２は、各鏡面の
倒れ角Δθが数秒以内となるような高精度な加工が要求
され、コストアップの要因となっていた。
６の出力信号から同期信号を形成して行うことが可能で
あるが、光検知器６の出力信号のピーク検出により同期
信号のタイミングが得られるものであり、出力信号波形
が常に一定とは限らないので、高精度の同期信号を得る
ことが容易ではなかった。又（２）の垂直方向の位置ず
れは、回転多面鏡２の製作精度を向上するか、予め測定
した位置ずれ量の分だけ、垂直方向にレーザ光の入射位
置を補正する等の手段が考えらていた。例えば、回転多
面鏡２の鏡面又は回転軸３が傾斜し、所謂倒れ角Δθが
生じたとすると、垂直方向の走査位置ずれ量は、ｒθレ
ンズ４を使用した場合に、結像面５に於いて２ｆΔθと
なる。又回転多面鏡２の各鏡面がそれぞれ製作誤差によ
る倒れ角が異なる場合は、その検出も困難であるから、
補正も困難となる。従って、回転多面鏡２は、各鏡面の
倒れ角Δθが数秒以内となるような高精度な加工が要求
され、コストアップの要因となっていた。
本発明は、レーザ光の走査開始点検出と、回転多面鏡の
製作誤差等に基づく垂直方向の位置ずれとを容易に検出
できるようにすることを目的とするものである。
製作誤差等に基づく垂直方向の位置ずれとを容易に検出
できるようにすることを目的とするものである。
本発明の光走査装置は、回転多面鏡を用いてレーザ光を
走査する光走査装置に於いて、前記レーザ光の走査開始
点付近に配置した４分割素子からなる光検知器と、この
光検知器の４分割素子のそ゛ れぞれの出力信号を処
理して前記レーザ光の走査開始点検出信号と、走査位置
ずれ検出信号とを出力する信号処理回路とを設けたもの
である。
走査する光走査装置に於いて、前記レーザ光の走査開始
点付近に配置した４分割素子からなる光検知器と、この
光検知器の４分割素子のそ゛ れぞれの出力信号を処
理して前記レーザ光の走査開始点検出信号と、走査位置
ずれ検出信号とを出力する信号処理回路とを設けたもの
である。
光検知素子の４分割素子のそれぞれの出力信号を信号処
理回路に於いて演算処理することにより、高精度なレー
ザ光の走査開始点検出及び走査位置ずれ量検出を行うも
のであり、４分割素子の中央をレーザ光が通過した時に
、走査開始点として検出し、且つ走査位置ずれ無しとし
て検出し、垂直方向の位置ずれは、４分割素子の上下方
向の素子間の出力信号差により検出することができるも
のである。
理回路に於いて演算処理することにより、高精度なレー
ザ光の走査開始点検出及び走査位置ずれ量検出を行うも
のであり、４分割素子の中央をレーザ光が通過した時に
、走査開始点として検出し、且つ走査位置ずれ無しとし
て検出し、垂直方向の位置ずれは、４分割素子の上下方
向の素子間の出力信号差により検出することができるも
のである。
以下図面を参照して、本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図であり、１０は
４分割素子１０ａ〜１０ｄからなる光検知器、１１ａ〜
１１ｄは加算器、１２．１３は減算器、１４は零クロス
検出回路、１５は同期制御回路、１６は積分回路、１７
はサンプルホールド回路、１８は遅延回路、１９は倒れ
量検出回路、２０はレーザ光のスポットを示す。又Ｒは
積分回路１６のリセット信号、ａ”−ｍは各部の信号で
ある。各部はアナログ回路とすることも又ディジタル回
路とすることも可能であり、ディジタル回路とする場合
は、光検知器ｌＯの分割素子１０８〜１０ｄのアナログ
出力信号をディジタル信号に変換する手段を設ければ良
いことになる。
４分割素子１０ａ〜１０ｄからなる光検知器、１１ａ〜
１１ｄは加算器、１２．１３は減算器、１４は零クロス
検出回路、１５は同期制御回路、１６は積分回路、１７
はサンプルホールド回路、１８は遅延回路、１９は倒れ
量検出回路、２０はレーザ光のスポットを示す。又Ｒは
積分回路１６のリセット信号、ａ”−ｍは各部の信号で
ある。各部はアナログ回路とすることも又ディジタル回
路とすることも可能であり、ディジタル回路とする場合
は、光検知器ｌＯの分割素子１０８〜１０ｄのアナログ
出力信号をディジタル信号に変換する手段を設ければ良
いことになる。
回転多面鏡により走査されるレーザ光２０が、光検知器
１０の中央部に鎖線円で示すように通過した時に、各素
子１０ａ〜１０ｄへの入射光量は等しくなるので、それ
らの出力信号は等しくなり、且つ各時点に於ける上下の
素子１０ａ、１０ｂの出力信号は等しく又素子１０ｃ、
１０ｄの出力信号も等しくなる。
１０の中央部に鎖線円で示すように通過した時に、各素
子１０ａ〜１０ｄへの入射光量は等しくなるので、それ
らの出力信号は等しくなり、且つ各時点に於ける上下の
素子１０ａ、１０ｂの出力信号は等しく又素子１０ｃ、
１０ｄの出力信号も等しくなる。
又加算器１１ａ〜ｌｉｄにより、それぞれ上下に位置す
る素子の出力信号の加算と左右に位置する素子の出力信
号の加算とを行い、加算器１１ａ、１１ｂの出力信号ｅ
、 ｆを減算器１２により減算＜ｅ−ｒ＞ｔ、、て、
零クロス検出回路１４に加え、又加算器１１ｃ、ｌｉｄ
の出力信号ｇ、ｈを減算器Ｉ３により減算（ｇ−ｈ）し
て積分回路１６に加える。この積分回路１６は、所定の
周期例えば、１走査周期毎のリセット信号Ｒによりリセ
ットされるものである。又零クロス検出回路１４の出力
信号ｊは、レーザ光の走査開始点検出信号となり、同期
制御回路１５に加えられる。又積分回路１６の出力信号
ｍはサンプルホールド回路１７に於いて、遅延回路１８
の出力信号にのタイミングでサンプルホールドされ、そ
のホールド出力が倒れ量検出回路１９に加えられる。
る素子の出力信号の加算と左右に位置する素子の出力信
号の加算とを行い、加算器１１ａ、１１ｂの出力信号ｅ
、 ｆを減算器１２により減算＜ｅ−ｒ＞ｔ、、て、
零クロス検出回路１４に加え、又加算器１１ｃ、ｌｉｄ
の出力信号ｇ、ｈを減算器Ｉ３により減算（ｇ−ｈ）し
て積分回路１６に加える。この積分回路１６は、所定の
周期例えば、１走査周期毎のリセット信号Ｒによりリセ
ットされるものである。又零クロス検出回路１４の出力
信号ｊは、レーザ光の走査開始点検出信号となり、同期
制御回路１５に加えられる。又積分回路１６の出力信号
ｍはサンプルホールド回路１７に於いて、遅延回路１８
の出力信号にのタイミングでサンプルホールドされ、そ
のホールド出力が倒れ量検出回路１９に加えられる。
第２図に示すように、光検知器の４分割素子のうちの上
下の素子Ａ、Ｂ間の中央をレーザ光の中心が通過すると
、各素子Ａ、Ｂへの入射光量は、レーザ光がガウス分布
の光強度を有するものであるから、第３図の（ａ）に示
すものとなる。即ち、素子Ａは垂直軸上のＳ−Ｈの幅を
有し、又素子Ｂは垂直軸上の−８〜−Ｈの幅を有し、素
子Ａ、Ｂ間は２Ｓの間隔を有することになり、第３図の
（ａ）の斜線を施したｐ、、Ｐｚの入射光量となる。従
って、素子Ａ、Ｈの出力信号は等しくなる。
下の素子Ａ、Ｂ間の中央をレーザ光の中心が通過すると
、各素子Ａ、Ｂへの入射光量は、レーザ光がガウス分布
の光強度を有するものであるから、第３図の（ａ）に示
すものとなる。即ち、素子Ａは垂直軸上のＳ−Ｈの幅を
有し、又素子Ｂは垂直軸上の−８〜−Ｈの幅を有し、素
子Ａ、Ｂ間は２Ｓの間隔を有することになり、第３図の
（ａ）の斜線を施したｐ、、Ｐｚの入射光量となる。従
って、素子Ａ、Ｈの出力信号は等しくなる。
又回転多面鏡の鏡面の倒れ角Δθにより、第２図に於け
る鎖線の円２０“で示すレーザ光が、垂直方向に２ｆΔ
θの位置ずれが生じた時、各素子Ａ、Ｂへの入射光量は
第３図の山）に示すものとなる。即ち、入射光最大値が
素子Ａ側へΔだけ偏倚して素子Ａへの入射光１ｐ＋が多
くなり、反対に素子Ｂへの入射光量Ｐ２は少なくなる。
る鎖線の円２０“で示すレーザ光が、垂直方向に２ｆΔ
θの位置ずれが生じた時、各素子Ａ、Ｂへの入射光量は
第３図の山）に示すものとなる。即ち、入射光最大値が
素子Ａ側へΔだけ偏倚して素子Ａへの入射光１ｐ＋が多
くなり、反対に素子Ｂへの入射光量Ｐ２は少なくなる。
従って、入射光量に対応して素子Ａの出力が素子Ｂの出
力より大きくなる。
力より大きくなる。
ＰＯを全光出力、ｐ、を素子Ａの出力、Ｐｚを素子Ｂの
出力とすると、規格化出力差（（ｐ＋−Ｐｚ）／ＰＯ）
と、変位量Δ（＝２ｆΔθ）との関係は、変位量Δが微
小な範囲では第４図に示すようにほぼ比例関係となる。
出力とすると、規格化出力差（（ｐ＋−Ｐｚ）／ＰＯ）
と、変位量Δ（＝２ｆΔθ）との関係は、変位量Δが微
小な範囲では第４図に示すようにほぼ比例関係となる。
又変位量Δと出力比（Ｐ ｒ ／ Ｐ ２ ）との関係
は、第５図に示すように、出力比（ＰＩ／Ｐ２）の対数
値に対して直線的な比例関係となる。
は、第５図に示すように、出力比（ＰＩ／Ｐ２）の対数
値に対して直線的な比例関係となる。
レーザ光のスポット径２Ｗを検知器の素子Ａ。
Ｂ間の間隔即ち不感領域幅２Ｓで規格化した変数（ｗ／
Ｓ）と、規格化出力差（（Ｐ＋−Ｐｚ）／Ｐｏ）との関
係は、第６図に示すものとなり、変数（ｗｏ／５）＝２
で最大となる。Ｓが一定であるとすると、最大値となる
レーザ光のスポット径（半径）Ｗｏはほぼ２Ｓとなる。
Ｓ）と、規格化出力差（（Ｐ＋−Ｐｚ）／Ｐｏ）との関
係は、第６図に示すものとなり、変数（ｗｏ／５）＝２
で最大となる。Ｓが一定であるとすると、最大値となる
レーザ光のスポット径（半径）Ｗｏはほぼ２Ｓとなる。
第１図に於ける各部の信号ａ”−ｍの一例を第７図のｔ
ａｔ〜（ｍ）として示すものであり、垂直方向の上方向
に位置ずれを生じて、レーザ光２０が光検知器１０の素
子１０ａ、１０ｃ側に偏倚して通過した場合についての
ものである。従って、光検知器１０の素子１０ａの出力
信号ａが素子１０ｂの出力信号すより大きく、又素子１
０ｃの出力信号Ｃが素子１０ｄの出力信号ｄより大きく
なる。又時刻ｔ１は、素子１０ａ、１０ｂと、素子１０
ｃ ＋１０ｄとの間にレーザ光が位置したタイミング
を示す。
ａｔ〜（ｍ）として示すものであり、垂直方向の上方向
に位置ずれを生じて、レーザ光２０が光検知器１０の素
子１０ａ、１０ｃ側に偏倚して通過した場合についての
ものである。従って、光検知器１０の素子１０ａの出力
信号ａが素子１０ｂの出力信号すより大きく、又素子１
０ｃの出力信号Ｃが素子１０ｄの出力信号ｄより大きく
なる。又時刻ｔ１は、素子１０ａ、１０ｂと、素子１０
ｃ ＋１０ｄとの間にレーザ光が位置したタイミング
を示す。
加算器１１ａは（ａ＋ｂ）、加算器１１ｂは（ｃ＋ｄ）
、加算器１１ｃは（ａ”ｃ）、又加算器ｌｉｄは（ｂ
＋ ｄ）の加算を行うので、その加算出力信号ｅ ｗ
ｈは第７図の（ｅ）〜（ｈｌに示すものとなる。従って
、加算器１１ａの出力信号ｅ及び加算器１１ｂの出力信
号ｆは、レーザ光の垂直方向の位置ずれにはほぼ関係の
ない大きさとなる。又加算器ｌｉｅの出力信号ｇと加算
器ｌｉｄの出力信号りとは、レーザ光の垂直方向の位置
ずれに対応して大きさが異なるものとなる。又時刻ｔ２
は、時刻ｔ１に対応した時刻を示すものである。
、加算器１１ｃは（ａ”ｃ）、又加算器ｌｉｄは（ｂ
＋ ｄ）の加算を行うので、その加算出力信号ｅ ｗ
ｈは第７図の（ｅ）〜（ｈｌに示すものとなる。従って
、加算器１１ａの出力信号ｅ及び加算器１１ｂの出力信
号ｆは、レーザ光の垂直方向の位置ずれにはほぼ関係の
ない大きさとなる。又加算器ｌｉｅの出力信号ｇと加算
器ｌｉｄの出力信号りとは、レーザ光の垂直方向の位置
ずれに対応して大きさが異なるものとなる。又時刻ｔ２
は、時刻ｔ１に対応した時刻を示すものである。
減算器１２は加算器１１ａ、ｌｌｂの出力信号ｅ、ｆに
ついて（ｅ−ｆ）の減算を行うものであり、その出力信
号ｉは第７図の（１）に示すものとなる。又減算器１３
は加算器１１ｃ、ｌｉｄの出力信号ｇ、ｈについて（ｇ
−ｈ）の減算を行うものであり、その出力信号ｌは第７
図の（１）に示すものとなる。
ついて（ｅ−ｆ）の減算を行うものであり、その出力信
号ｉは第７図の（１）に示すものとなる。又減算器１３
は加算器１１ｃ、ｌｉｄの出力信号ｇ、ｈについて（ｇ
−ｈ）の減算を行うものであり、その出力信号ｌは第７
図の（１）に示すものとなる。
減算器１２の出力信号ｉは、極性が反転する信号となる
ので、零クロス検出回路１４に於いてその零クロス点を
検出するものであり、検出信号ｊは第７図の（」）に示
すように、時刻ｔ３に出力される。この検出信号ｊは同
期制御回路１５に加えられて、レーザ光走査の同期信号
として用いられることになる。このように、零クロス検
出により同期信号を形成することができるから、高精度
な同期信号を得ることができる。
ので、零クロス検出回路１４に於いてその零クロス点を
検出するものであり、検出信号ｊは第７図の（」）に示
すように、時刻ｔ３に出力される。この検出信号ｊは同
期制御回路１５に加えられて、レーザ光走査の同期信号
として用いられることになる。このように、零クロス検
出により同期信号を形成することができるから、高精度
な同期信号を得ることができる。
又減算器１３の出力信号ｌは、積分回路１６に加えられ
て積分され、積分出力信号ｍは第７図の（ホ）に示すも
のとなり、サンプルホールド回路１７に於いてサンプル
ホールドされる。そのサンプリングのタイミングは、零
クロス検出回路１４からの検出信号ｊを遅延回路１８に
より遅延時間τの遅延を与えた第７図の（ｋ）に示す信
号ｋによるものであり、遅延時間τは、レーザ光が光検
知器１０を通過してしまった時点にサンプルホールドが
行われるように設定される。
て積分され、積分出力信号ｍは第７図の（ホ）に示すも
のとなり、サンプルホールド回路１７に於いてサンプル
ホールドされる。そのサンプリングのタイミングは、零
クロス検出回路１４からの検出信号ｊを遅延回路１８に
より遅延時間τの遅延を与えた第７図の（ｋ）に示す信
号ｋによるものであり、遅延時間τは、レーザ光が光検
知器１０を通過してしまった時点にサンプルホールドが
行われるように設定される。
サンプルホールド回路１７の出力信号は倒れ量検出回路
１９に加えられ、サンプルホールド出力信号により倒れ
量Δθを求めることができる。
１９に加えられ、サンプルホールド出力信号により倒れ
量Δθを求めることができる。
前述のように、レーザ光の走査開始点を検出すると共に
、回転多面鏡の倒れ量を検出することができるもので、
この倒れ量検出信号により、回転多面鏡へ入射させるレ
ーザ光の位置補正を電気光学的に行わせることが可能と
なり、回転多面鏡の製作誤差による問題点を解決するこ
とができることになる。
、回転多面鏡の倒れ量を検出することができるもので、
この倒れ量検出信号により、回転多面鏡へ入射させるレ
ーザ光の位置補正を電気光学的に行わせることが可能と
なり、回転多面鏡の製作誤差による問題点を解決するこ
とができることになる。
第８図は本発明の他の実施例のブロック図であり、第１
図と同一符号は同一部分を示し、２１は対数変換回路２
２．２３と減算回路２４とからなる除算回路である。こ
の除算回路２１に於いては、加算器１１ｃの出力信号ｇ
ｗａ十ｃと、加算器ｌｉｄの出力信号ｈ−ｂ＋ｄとのそ
れぞれ対数を、対数変換回路２２．２３により求めて、
減算回路２４により、（Ｉｌ、ｇ−１，ｈ）の演算が行
われるので、その減算結果を対数の逆変換を行うことに
より、（ｇ／ｈ）の除算が行われたことになる。
図と同一符号は同一部分を示し、２１は対数変換回路２
２．２３と減算回路２４とからなる除算回路である。こ
の除算回路２１に於いては、加算器１１ｃの出力信号ｇ
ｗａ十ｃと、加算器ｌｉｄの出力信号ｈ−ｂ＋ｄとのそ
れぞれ対数を、対数変換回路２２．２３により求めて、
減算回路２４により、（Ｉｌ、ｇ−１，ｈ）の演算が行
われるので、その減算結果を対数の逆変換を行うことに
より、（ｇ／ｈ）の除算が行われたことになる。
この除算回路２１の出力信号ｌは積分回路１６で積分さ
れ、積分出力信号ｍはサンプルホールド回路１７に於い
て、遅延回路１８により遅延された信号ｋによってサン
プルホールドされ、そのホールド出力信号が倒れ量検出
回路１９に加えられる。
れ、積分出力信号ｍはサンプルホールド回路１７に於い
て、遅延回路１８により遅延された信号ｋによってサン
プルホールドされ、そのホールド出力信号が倒れ量検出
回路１９に加えられる。
この実施例に於いては、加算器１１Ｃ，ｌｉｄの出力信
号ｇ、ｈの比を求めることになるので、レーザ光の光量
の絶対値の変化に影響されることなく倒れ量を検出する
ことができることになる。
号ｇ、ｈの比を求めることになるので、レーザ光の光量
の絶対値の変化に影響されることなく倒れ量を検出する
ことができることになる。
従って、除算回路２１は通常の除算回路を用いることも
できる。
できる。
又減算回路２４に於いて対数の減算結果を使用すれば、
第５図について説明したように、光検知器ＩＯの素子の
出力信号の比Ｐ＋／Ｐｇと、倒れ量Δとの関゛係は直線
関係となり、倒れ量の検出が容易となる。従って、除算
回路２１を通常の除算回路と、その演算結果を対数に変
換する対数変換回路とにより構成することも可能である
。
第５図について説明したように、光検知器ＩＯの素子の
出力信号の比Ｐ＋／Ｐｇと、倒れ量Δとの関゛係は直線
関係となり、倒れ量の検出が容易となる。従って、除算
回路２１を通常の除算回路と、その演算結果を対数に変
換する対数変換回路とにより構成することも可能である
。
以上説明したように、本発明は、回転多面鏡によるレー
ザ光の走査開始点付近に、４分割素子からなる光検知器
１０を配置して、それらの４分割素子の出力信号を処理
して、レーザ光の走査開始点と走査位置ずれとを検出す
るものであり、４分割素子の光検知器１０を用いること
により、走査開始点の検出を、第７図について説明した
ように、零クロス検出等により正確に検出することが可
能となり、又回転多面鏡の倒れ量をリアルタイムで検出
することができるので、その倒れ量を補正する手段の制
御が可能となり、回転多面鏡の機械的、光学的精度が多
少低くても、容易に補正することができ、廉価な光走査
装置を提供することが可能となる利点がある。
ザ光の走査開始点付近に、４分割素子からなる光検知器
１０を配置して、それらの４分割素子の出力信号を処理
して、レーザ光の走査開始点と走査位置ずれとを検出す
るものであり、４分割素子の光検知器１０を用いること
により、走査開始点の検出を、第７図について説明した
ように、零クロス検出等により正確に検出することが可
能となり、又回転多面鏡の倒れ量をリアルタイムで検出
することができるので、その倒れ量を補正する手段の制
御が可能となり、回転多面鏡の機械的、光学的精度が多
少低くても、容易に補正することができ、廉価な光走査
装置を提供することが可能となる利点がある。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図はレー
ザ光の走査位置ずれと光検知器との説明図、第３図（ａ
ｌ、 （ｂ）はレーザ光の走査位置すれと光検知器の出
力信号との説明図、第４図及び第５図は光検知器の出力
比と倒れ量Δとの関係曲線図、第６図はレーザ光径と光
検知器の素子間隔との関係による光検知器の出力信号と
の関係曲線図、第７図は第１図の各部の一例の信号波形
説明図、第８図は本発明の他の実施例のブロック図、第
９図及び第１０図は光走査装置の要部上面図及び側面図
である。 １はレーザ光源、２は回転多面鏡、３は回転軸、４はレ
ンズ、５は結像面、６は光検知器、１０は光検知器、ｌ
ｌａ 〜ｌｉｄは加算器、１２．１３は減算器、１４は
零クロス検出回路、１５は同期制御回路、１６は積分回
路、１７はサンプルホールド回路、１８は遅延回路、１
９は倒れ量検出回路、２０はレーザ光のスポット、２１
は除算回路、２２．２３は対数変換回路、２４は減算回
路である。
ザ光の走査位置ずれと光検知器との説明図、第３図（ａ
ｌ、 （ｂ）はレーザ光の走査位置すれと光検知器の出
力信号との説明図、第４図及び第５図は光検知器の出力
比と倒れ量Δとの関係曲線図、第６図はレーザ光径と光
検知器の素子間隔との関係による光検知器の出力信号と
の関係曲線図、第７図は第１図の各部の一例の信号波形
説明図、第８図は本発明の他の実施例のブロック図、第
９図及び第１０図は光走査装置の要部上面図及び側面図
である。 １はレーザ光源、２は回転多面鏡、３は回転軸、４はレ
ンズ、５は結像面、６は光検知器、１０は光検知器、ｌ
ｌａ 〜ｌｉｄは加算器、１２．１３は減算器、１４は
零クロス検出回路、１５は同期制御回路、１６は積分回
路、１７はサンプルホールド回路、１８は遅延回路、１
９は倒れ量検出回路、２０はレーザ光のスポット、２１
は除算回路、２２．２３は対数変換回路、２４は減算回
路である。
Claims (1)
- 回転多面鏡を用いてレーザ光を走査する光走査装置に於
いて、前記レーザ光の走査開始点付近に配置した４分割
素子からなる光検知器と、該光検知器の４分割素子のそ
れぞれの出力信号を処理して前記レーザ光の走査開始点
検出信号と、走査位置ずれ検出信号とを出力する信号処
理回路とを設けたことを特徴とする光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59195850A JPS6173917A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59195850A JPS6173917A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6173917A true JPS6173917A (ja) | 1986-04-16 |
Family
ID=16348045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59195850A Pending JPS6173917A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6173917A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6481466A (en) * | 1987-09-22 | 1989-03-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light beam scanning position detection mechanism |
| US5245181A (en) * | 1991-06-24 | 1993-09-14 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus of detecting deviation of scanning line of light beam |
| WO1995015052A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-06-01 | Schneider Elektronik Rundfunkwerk Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum pyramidalfehlerausgleich |
-
1984
- 1984-09-20 JP JP59195850A patent/JPS6173917A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6481466A (en) * | 1987-09-22 | 1989-03-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light beam scanning position detection mechanism |
| JPH0671302B2 (ja) * | 1987-09-22 | 1994-09-07 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビーム走査位置検出機講 |
| US5245181A (en) * | 1991-06-24 | 1993-09-14 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus of detecting deviation of scanning line of light beam |
| WO1995015052A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-06-01 | Schneider Elektronik Rundfunkwerk Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum pyramidalfehlerausgleich |
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