JPS6159435A - カメラの測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明はカメラの測光装置、特にファインダ光路中に光
電変換素子を設けた測光装置に関するものである。

〈従来例〉 従来、−眼レフレックスカメラの測光装置は、例えばコ
ンデンサレンズに形成した例えばマイクロビームスプリ
ッタなどの光分割部材によって測光素子へ光束を導くも
の、或いはペンタプリズムの光束出射面に設けたフレネ
ルレンズを介して集光するものなどが提案されているが
、ファインダ視野での光量分布の阻害、又は測光方式を
変更する場合には光分割部材の交換を要するなどの欠点
を有していた。

第１図、第２図は従来の測光装置の一例であり、第１同
Ｔヨー眼レフ１／ツクカメラの光学系の断面図である。

ここで、撮影レンズｌを透過した被写体光は、レフレッ
クスミラー２により」三方に反射され、ピント板３、光
分割部材４．測光素子５、コンデンサレンズ６、ペンタ
プリズム７を経て接眼レンズ８に至る。この方式では、
接眼レンズ８を介して被写体を見たとき、光分割部材４
を通過する光束の一部分が遮光され、ファインダ中央部
に陰影が生ずる弊害がある。また、測光素子５に取り込
む光線の領域は光分割部材４の形状によって決定される
ものであり、画面中央部を重点とする中央重点測光、画
面全体の平均像として捉える平均測光等があって、それ
ぞれの測定領域は固定されている。従って、測光領域を
変えたい場合には光分割部材４の形成されたコンデンサ
レンズ６を取り換える必要がある。

第２図の従来例においては、図示しない撮影レンズを透
過した被写体光は、レフレックスミラー２で反射されフ
ォーカシングスクリーン９を経てペンタプリズム７で屈
折し接眼レンズ８に至っている。一方、ペンタプリズム
７の出射面に設置されたフレネルレンズ１０により、そ
の出射位置に対応して設けられた測光素子５に集光する
方式である。この場合は第１図と異なってファインダ中
央部に陰影が生ずることはないが、前述の多様な測光方
式に対応し得るものではなく、測光方式の切換えを行う
ことは容易ではない。

この点に鑑みて、カメラの撮影光学部材に光電変換素子
を設けることにより上述の欠点を解消せんとする技術が
提案されている。

かかる技術を第３図、第４図を用いて説明する。第３図
は」−述の光電変換素子の断面図である。第３図におい
ては、カメラの撮影光学部材である２１の透明基板上に
２２の透明電極と２３の遮光電極間に２４のアモルファ
スΦシリコンで形成された光電変換素子を形成し図下力
よりの光を測光する様にしていた。なお、２５は絶縁物
、２６は透明電極を補助する為の遮光電極である。

第４図は第３図に示した光電変換素子を用いた測光回路
である。第４図において、２７は第３図に示した光電変
換素子で、かかる素子の光電流をオペアンプ２８と、対
数圧縮用ダイオード２９を用いて対数圧縮した電圧とし
て出力する。

」−述の技術に依れば装置は次のような効果が得られる
。

（１）微細幅の光電変換素子で構成された光電変換素子
群を用いることにより、ファインダの視界に影響を生じ
ない。

（２）光電変換素子体を複数個のブロックに分割し、そ
の組合わせにより多用の測光方式がスイッチの切換えに
より容易に選択可能である。

（３）光電変換素子体が蒸着により形成されるため、安
価に制作し得る。

（４）焦点面近傍での測光のため、測光のＦナンバの比
例性がよく開放ナンバの補正も不要となる。

（５）カメラの測光光学系が簡単となり、レンズ構造の
簡易化を図ることができる。

したがって、光電変換素子２７を撮影光学部材に設けて
測光を行えば前述の欠点は解消されるが、撮影光学部材
全般にわたって平均的に測光を行うためには、かかる光
電変換素子は撮影光学部材全面に網らすることが必要と
なり、そのことにより光電変換素子２７が誘導ノイズを
ひろったり、あるいは撮影光学部材に網らされた光電変
換素子のある範囲の部分的な温度変化による出力の変動
を補償することは難かしいという欠点があった。

〈発明の目的、概要〉 本発明はかかる欠点を防止することを目的とするもので
、従来の測光回路の光電変換素子に加えて遮光された光
電変換素子と、 両光電変換素子の出力の差を出力する差動増幅器とを備
えることを特徴とするものである。

〈実施例〉 以下図面を用いて本発明を詳述する。

第５図は本発明の第１の実施例に用いられる光電変換素
子の断面図であり、第６図はかかる光電変換素子の出力
を増幅する測光回路のブロック図である。

尚、第５図、第６図において、第３図、第４図に示した
要素と同じｆ動きをなす要素については同じ符号を伺し
説明を省略する。以下説明する実施例についても同様で
ある。

第５図において、左側に示された光電変換素子２７は第
３図に示した従来の光電変換素子と全く同じ構造である
。右側に示された光電変換素子３０は光電変換素子２７
が透明電極２２を用いていたものに対して遮光電極２６
にて素子自体を覆ってしまうことにより、素子に入射す
る光とは全く関係なく誘導ノイズおよび温度変化による
出力の変動分のみを出力する。

かかる光電変換素子２７の出力を第６図で示したオペア
ンプ２８および対数圧縮用ダイオード２９にて圧縮して
電圧に変換し、同様に光電変換素子３０の出力をオペア
ンプ３１および対数圧縮用ダイオード３２にて圧縮して
電圧に変換した後、差動アンプ３３でオペアンプ２８、
オペアンプ３１の出力の差を演算することにより光電変
換素子２７に生じた誘導ノイズや温度変化による出力変
動を補償することができる。

第７図は本発明の第２の実施例の光電変換素子の断面図
、第８図はかかる光電変換素子に用いられる測光回路の
実施例である。

第７図に示される光電変換素子においては遮光電極２３
、および遮光電極３５により全面的に遮光された遮光光
電変換素子３０と透明電極２２からの入射光を電気信号
に変換する受光光電変換素子２７を重ね合わせて構成し
、遮光電極２３を共通の電極としている。

かかる光電変換素子２７．３０の出力から第８図に示す
オペアンプ２８、対数圧縮用ダイオード２９の、回路に
よりそれぞれの差の対数圧縮された出力を得る。尚、遮
光電極２３は各光電変換素子のバイアスを固定するため
グランドに接続されている。

以上の様に構成すれば光電変換素子２７゜３０は全く同
一位置にあることをほぼ等価であるから光電変換素子２
７．３０に発生する誘導ノイズ、もしくは温度変化によ
る出力変動は全く同一とみなしてもよく、光電変換素子
２７に生じた前述の出力変動を補償することができる。

第９図は本発明の第３の実施例の光電変換素子の断面図
、第１０図はかかる光電変換素子に用いられる測光回路
のブロック図である。

第９図に示される実施例においては遮光電極２６を第７
図の実施例に比して図の上方に延長しで遮光電極２３と
同様に遮光光電素子３０と受光光電素子２７の共通電極
としている。

ここで、光電変換素子２７．３０の極性が各々反対とな
るように構成すれば、第１０図に示す回路に示した測光
回路を用いることにより第７図、第８図に示した本発明
の第２の実施例と全く同様の効果を奏することができる
。

以上の様に本発明に依れば、微細な幅で形成した線状の
光電変換素子をファインダー光路中の焦点面あるいはそ
の近傍に配置したカメラの測光装置において、前記光電
変換素子を透明電極を有する受光光電変換素子と、遮光
電極を有する遮光光電変換素子とから構成し、更に前記
受光光電変換素子と前記遮光光電変換素子のぞれぞれの
出力の差を出力する差動増幅器とを具備させたのでファ
インダ光路中の焦点面あるいはその近傍に配置しても、
誘導ノイズによる影響や光電変換素子の部分的な温度変
化による出力の変動を補償することができるという効果
を奏するものである。

第５図は本発明の第１の実施例の光電変換素子の断面図
、第６図はかかる光電変換素子を用いたカメラの測光回
路のブロック図、第７図は本発明の第２の実施例の光電
変換素子の断面図、第８図はかかる光電変換素子を用い
たカメラの測光回路のブロック図、第９図は本発明の第
３実施例の光電変換素子の断面図、第１０図はかかる光
電変換素子を用いたカメラの測光回路のブロック図であ
る。

２７−−−−受光光電変換素子 ３０−−−一遮光光電変換素子

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 微細な幅で形成した線状の光電変換素子をファインダー
   光路中の焦点面あるいはその近傍に配置した、カメラの
   測光装置において、 前記光電変換素子を透明電極を有して外光を光電変換す
   る受光光電変換素子と、遮光電極を有して、外光を遮光
   した遮光光電変換素子とから構成し、更に 前記受光光電変換素子と前記遮光光電変換素子のそれぞ
   れの出力の差を出力する差動増幅器とを具備することを
   特徴とするカメラの測光装置。