JPS6157850A - グラスライニング面のピンホ−ル検知器 - Google Patents
グラスライニング面のピンホ−ル検知器Info
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- JPS6157850A JPS6157850A JP18152584A JP18152584A JPS6157850A JP S6157850 A JPS6157850 A JP S6157850A JP 18152584 A JP18152584 A JP 18152584A JP 18152584 A JP18152584 A JP 18152584A JP S6157850 A JPS6157850 A JP S6157850A
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- glass lining
- high voltage
- transformer
- circuit
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、グラスライニング機器等のグラスライニング
面に存在するピンホール等の微小欠陥を検知するための
装置に関し、特にプローブの検知電極とグラスライニン
グ機器の金属母材との間に2万V程度の直流高電圧を印
加しピンホールを通じて発生する火花放電にエフ欠陥を
検知する種類の検知器に関する。
面に存在するピンホール等の微小欠陥を検知するための
装置に関し、特にプローブの検知電極とグラスライニン
グ機器の金属母材との間に2万V程度の直流高電圧を印
加しピンホールを通じて発生する火花放電にエフ欠陥を
検知する種類の検知器に関する。
(従来の技術)
この種の検知器は、ピンホール部で@縁破壊により火花
放電t−起させるための火花開始電圧として、2万V程
度の直流高電圧が必要である。
放電t−起させるための火花開始電圧として、2万V程
度の直流高電圧が必要である。
この工うな直流高電圧を発生させる手段としては、従来
%(1)高周波電圧をフライバンクトランス等で昇圧し
整流して直流高電圧とする方式。
%(1)高周波電圧をフライバンクトランス等で昇圧し
整流して直流高電圧とする方式。
(2)商用周波電源電圧を電源トランス等で昇圧し整流
して直流高電圧とする方式が知られている。
して直流高電圧とする方式が知られている。
しかしピンホール検知器用の直流高電圧の電源としては
、(1)は少ない巻線で高電圧が得られるが、パワーが
不足するため、グラスライニング面と大地との間の絶縁
抵抗が50 MΩ以下では着しい電圧降下が認められ実
用上機能面に問題がある。(2)は低周波のためトラン
スが大きくボルト当りの巻線数が多く装置全体が大形で
重量も170#程度と重く、取扱上手軽に運搬すること
が困難であり、機能面でも出力電圧の安定性に欠け31
!断電流が不同となる等に因り測定精度が低い。
、(1)は少ない巻線で高電圧が得られるが、パワーが
不足するため、グラスライニング面と大地との間の絶縁
抵抗が50 MΩ以下では着しい電圧降下が認められ実
用上機能面に問題がある。(2)は低周波のためトラン
スが大きくボルト当りの巻線数が多く装置全体が大形で
重量も170#程度と重く、取扱上手軽に運搬すること
が困難であり、機能面でも出力電圧の安定性に欠け31
!断電流が不同となる等に因り測定精度が低い。
そして上記何れの方式の従来のピンホール検出器も、火
花放電が過渡的現象であり制御の面から火花放電を継続
して安定状態で発生させることが困難で、このことはグ
ラスライニング機−器における特異な形状の部分等での
テスト英施を妨げている。
花放電が過渡的現象であり制御の面から火花放電を継続
して安定状態で発生させることが困難で、このことはグ
ラスライニング機−器における特異な形状の部分等での
テスト英施を妨げている。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は従来技術のピンホール検出器の上記問題点に解
決を与える九めになさnたものである。すなわち運搬性
を良好とし、電源特性の改善紀エク直波高電圧による放
電テストの安定性および安全性を向上させ、さらにプロ
ーブの検知電極の直流高電圧と金属母材のアース部との
間(短絡に近い状態が生ずるようなグラスライニングの
周辺部でも連続テストを行うことができるようにするこ
とを目的とする。
決を与える九めになさnたものである。すなわち運搬性
を良好とし、電源特性の改善紀エク直波高電圧による放
電テストの安定性および安全性を向上させ、さらにプロ
ーブの検知電極の直流高電圧と金属母材のアース部との
間(短絡に近い状態が生ずるようなグラスライニングの
周辺部でも連続テストを行うことができるようにするこ
とを目的とする。
(問題点を解決するための手段および作用および実施例
) 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するんめ、昇圧
トランスの1次側&:直流電圧可変電源から供給する電
vlt−昇圧トランス駆動アンプのトランジスタ茫より
スイッチング制御して2次側に発生したパルス電圧を整
流して直流高電圧を発生する方式を採用し、これ&:エ
ク直波高電圧出力発生装置Itを小形化部1化するとと
もに、直流高電圧出力電圧t−直流電圧可変電源におい
て制御する電圧安定化回軸、および放電負荷時の過電流
を昇圧トランスの1次1Illにおいて!1llFrす
る直流高圧過電流遮断回路を設けて安定し九火尤放電テ
ストを行い得るように、さらに上記2回路間の切換に工
って無負荷時の定電圧と放電負荷時の設定定電流とを維
持するオートバランス回v?1を設けてグラスライニン
グ面の特殊形状部分も連続的にテストできるようにした
ものである。
) 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するんめ、昇圧
トランスの1次側&:直流電圧可変電源から供給する電
vlt−昇圧トランス駆動アンプのトランジスタ茫より
スイッチング制御して2次側に発生したパルス電圧を整
流して直流高電圧を発生する方式を採用し、これ&:エ
ク直波高電圧出力発生装置Itを小形化部1化するとと
もに、直流高電圧出力電圧t−直流電圧可変電源におい
て制御する電圧安定化回軸、および放電負荷時の過電流
を昇圧トランスの1次1Illにおいて!1llFrす
る直流高圧過電流遮断回路を設けて安定し九火尤放電テ
ストを行い得るように、さらに上記2回路間の切換に工
って無負荷時の定電圧と放電負荷時の設定定電流とを維
持するオートバランス回v?1を設けてグラスライニン
グ面の特殊形状部分も連続的にテストできるようにした
ものである。
以下、本発明を、添付図の1実施例の回路を示すグロン
ク図に工V%各構成回路および関連を具体的に詳細に説
明する。
ク図に工V%各構成回路および関連を具体的に詳細に説
明する。
(+) 直滴高電圧発生回路
直流電圧可変電源(1)は、例えばAC1007電源ト
ランスの2次側14 Vからグリッジダイオード(図示
省略)で整流して得られる12V直流電源(2)とそれ
に接続した直流電圧可変用IC(3)とからなる。 電
源の容IFi20v、3A程度である。直流電圧可変用
IC(s) t;を後述の直流電圧可変用IC作動用ト
ランジスタ(4)の制御を受けて0〜16V[囲(電圧
可変の直流を出力する。(以下、トランジスタはTR。
ランスの2次側14 Vからグリッジダイオード(図示
省略)で整流して得られる12V直流電源(2)とそれ
に接続した直流電圧可変用IC(3)とからなる。 電
源の容IFi20v、3A程度である。直流電圧可変用
IC(s) t;を後述の直流電圧可変用IC作動用ト
ランジスタ(4)の制御を受けて0〜16V[囲(電圧
可変の直流を出力する。(以下、トランジスタはTR。
そのベースはB1コレクタは01エミツタはEとlll
8称することがある。
8称することがある。
この出力は後述の筋圧出力遮断用リレー(5)のa接点
(リレーが動作したとき閉じる接点)(6)全経て昇圧
トランス(7)の1次側のm−に接続され、その他端は
TRからなる昇圧トランス駆動アンプ(8)のC−Zを
経て回路のマイナス[(9) G−流れるよう接続され
る。昇圧トランス駆動7 ン7” (8)は、Bが50
/ 60 nzの電源トランスの2次側から全波1!
!L流した2v1100 / 120 Hz電源に接続
されてスイッチング制御J御されるのでそのC−Eを経
て昇圧トランX (7) (7) 1次偶tmnる電流
は100 / 120 Hzの#続し72:1itti
liとなp昇圧トランス(′i)の2次側にパルス状の
高電圧が発生する。 ゛発生した高電圧は高圧整流用ダ
イオード(ト)のアノード側に接続さ九、そのカソード
側に接続した高電圧出力層子(2)&:整流された約2
万V程度の直流高電圧が得られる。iii圧出力榴子四
にはグローブ(2)のピンホール検知電極が接続される
。高電圧出力端子(ロ)側とアース端子(至)側との間
にはリップル除去用の平滑コンデンサσ◆が接続される
。テストしようとするグラスライニング機器(A)は母
材(A)、グラスライニング面(A)により示されてい
るが、母材(A)が端子0に接続されアースされる。こ
うしてプローブ@の約2万Vの直流高圧過電流ピンホー
ル等のホリデーと総称される欠陥部(由では火花放電(
8)が発生する。
(リレーが動作したとき閉じる接点)(6)全経て昇圧
トランス(7)の1次側のm−に接続され、その他端は
TRからなる昇圧トランス駆動アンプ(8)のC−Zを
経て回路のマイナス[(9) G−流れるよう接続され
る。昇圧トランス駆動7 ン7” (8)は、Bが50
/ 60 nzの電源トランスの2次側から全波1!
!L流した2v1100 / 120 Hz電源に接続
されてスイッチング制御J御されるのでそのC−Eを経
て昇圧トランX (7) (7) 1次偶tmnる電流
は100 / 120 Hzの#続し72:1itti
liとなp昇圧トランス(′i)の2次側にパルス状の
高電圧が発生する。 ゛発生した高電圧は高圧整流用ダ
イオード(ト)のアノード側に接続さ九、そのカソード
側に接続した高電圧出力層子(2)&:整流された約2
万V程度の直流高電圧が得られる。iii圧出力榴子四
にはグローブ(2)のピンホール検知電極が接続される
。高電圧出力端子(ロ)側とアース端子(至)側との間
にはリップル除去用の平滑コンデンサσ◆が接続される
。テストしようとするグラスライニング機器(A)は母
材(A)、グラスライニング面(A)により示されてい
るが、母材(A)が端子0に接続されアースされる。こ
うしてプローブ@の約2万Vの直流高圧過電流ピンホー
ル等のホリデーと総称される欠陥部(由では火花放電(
8)が発生する。
(1) 直流高圧出力電圧安定回路
高電圧出力端子(ロ)に発生する直流電圧の安定化のた
め、直流高圧出力電圧調整器(至)から設定コントロー
ル電圧CV 1)を電圧用差動アンプ(ト)k入力する
。一方、高電圧出力端子a1J@とマイナス側(9)と
の間に接続しm出力電圧安定化抵抗器(ロ)と高圧電圧
計に)との間の直流高圧(電圧)検出点(6)からその
電圧(V、)をアンプに)に入力し、前記コントロール
電圧(マl)入力との比較に工りアンプ(至)を作動さ
せる。
め、直流高圧出力電圧調整器(至)から設定コントロー
ル電圧CV 1)を電圧用差動アンプ(ト)k入力する
。一方、高電圧出力端子a1J@とマイナス側(9)と
の間に接続しm出力電圧安定化抵抗器(ロ)と高圧電圧
計に)との間の直流高圧(電圧)検出点(6)からその
電圧(V、)をアンプに)に入力し、前記コントロール
電圧(マl)入力との比較に工りアンプ(至)を作動さ
せる。
電圧用差動アンプQQの出力側は逆電圧阻止用ダイオー
ド60′ft経て前記の直流電圧可変用IC(3)のド
ライブ用トランジスタ(4)のB&:接aされる。直流
電圧可変用IC(3)の電圧調!I喘子はそのドライブ
用トランジスタ(4)のC−Eを経てマイナス側(9)
に接続され、Bにプラス電圧が印加さ九ることに工りC
−Elが導通して直流電圧可変用IC(3)の直流出方
電圧を低下させるようになっている。
ド60′ft経て前記の直流電圧可変用IC(3)のド
ライブ用トランジスタ(4)のB&:接aされる。直流
電圧可変用IC(3)の電圧調!I喘子はそのドライブ
用トランジスタ(4)のC−Eを経てマイナス側(9)
に接続され、Bにプラス電圧が印加さ九ることに工りC
−Elが導通して直流電圧可変用IC(3)の直流出方
電圧を低下させるようになっている。
電圧用差動アンプ01&:入力される検出点(2)の電
圧(マρがフントロール電圧(Y、)エフ高い場合は、
その出力はプラスとなり、ドライブ用トランジスタ(4
) &:工9直流電圧可変用工C(3)の直流出力電圧
が低下し、その結果、高電圧出力端子(ロ)の直流高圧
出力電圧が低下する。
圧(マρがフントロール電圧(Y、)エフ高い場合は、
その出力はプラスとなり、ドライブ用トランジスタ(4
) &:工9直流電圧可変用工C(3)の直流出力電圧
が低下し、その結果、高電圧出力端子(ロ)の直流高圧
出力電圧が低下する。
こうして直流高圧出力電圧が低下し、電圧検出点Qすの
電圧CV、)も低下しコントロール電圧(v、)エフ低
くなると、電圧用差動アンプ(至)の出力はマイナスと
なり、ドライブ用トランジスタ(4)はオフとなる。直
流電圧可変用IC(3)はドライブ用トランジスタ(4
)がオフとなることによりその直流出力電圧を再び上昇
させる。
電圧CV、)も低下しコントロール電圧(v、)エフ低
くなると、電圧用差動アンプ(至)の出力はマイナスと
なり、ドライブ用トランジスタ(4)はオフとなる。直
流電圧可変用IC(3)はドライブ用トランジスタ(4
)がオフとなることによりその直流出力電圧を再び上昇
させる。
このスイツチングにより、高電圧出力端子aすの直流高
圧電圧は調整器(ト)の設定に従う一定電圧に維持され
る。
圧電圧は調整器(ト)の設定に従う一定電圧に維持され
る。
(2) 直流高圧過電流しゃ断回路
直流高電圧発生回路(1)を作動状態とするには、前述
の高圧出力遮断用リレー(5)のa接点(6)が閉じた
状態に保持する。そのため、高圧出力遮断用リレー(5
)は電源トランス2次側から整流して得た+127電源
なυ力為らリレー(5)ヲ経てリレーコントロールトラ
ンジスター(2)のC−1を経てマイナス側(9)に接
続さtl、、このTR@のBには+121電源c29か
ら手動のリレーコントロールスイッチ四が抵抗(財)を
経て接続される。従って最初にリレーコントロールスイ
ッチg3を閉じることに工りTR@のB&ニブラス電圧
が印加され、それ&:エクTRに)のC−Σtit導通
してリレー(5)は動作状態となりa接点(6)は閉じ
た状態&:維持される。
の高圧出力遮断用リレー(5)のa接点(6)が閉じた
状態に保持する。そのため、高圧出力遮断用リレー(5
)は電源トランス2次側から整流して得た+127電源
なυ力為らリレー(5)ヲ経てリレーコントロールトラ
ンジスター(2)のC−1を経てマイナス側(9)に接
続さtl、、このTR@のBには+121電源c29か
ら手動のリレーコントロールスイッチ四が抵抗(財)を
経て接続される。従って最初にリレーコントロールスイ
ッチg3を閉じることに工りTR@のB&ニブラス電圧
が印加され、それ&:エクTRに)のC−Σtit導通
してリレー(5)は動作状態となりa接点(6)は閉じ
た状態&:維持される。
直流高電圧発生回路(1)の作動状急において機器(A
)のグラスライニング面(4)のテスト中r。
)のグラスライニング面(4)のテスト中r。
プローブ(2)からピンホール部(d)に火花放電←)
が生じ、電流が流れ負荷状態となる場合に、大電流によ
る機器破損を防止し操作者の安全を確保するため、電流
値が設定値1.7 n+ A にξ下となるように、過
電fllFi高圧出力遮断用Ilレー(5)のa接点(
6)の開放にエフ遮断される。1:うにする。
が生じ、電流が流れ負荷状態となる場合に、大電流によ
る機器破損を防止し操作者の安全を確保するため、電流
値が設定値1.7 n+ A にξ下となるように、過
電fllFi高圧出力遮断用Ilレー(5)のa接点(
6)の開放にエフ遮断される。1:うにする。
過電流しゃ断のため、!l断電rliv4整器に)から
遮断電流値に対応するコントロール電圧(、、)を電流
用差動アンプOI&:入力する。一方、アース四側とマ
イナス側(9)に接続した高圧電流計に)との間の直流
高圧〔電流〕検出点に)から負荷電流値に対応した電圧
(74) t−アンプ@6.二人力し、前記コントロー
ル電圧(カ)入力との比較&−エクアンデに)を作動さ
せる。電流用ノき勤アンプ曽の出力側は逆電圧阻止用ダ
イオード四を経てオートバランス切換スイッチ−の電流
!lIl個所点(61)を経て電流遮断用補助トランジ
スタC52)のBに接続されそのEはマイナス1llI
(9)に、そのCは前記リレーコントロールトランジス
タに)のB1.:接続される。
遮断電流値に対応するコントロール電圧(、、)を電流
用差動アンプOI&:入力する。一方、アース四側とマ
イナス側(9)に接続した高圧電流計に)との間の直流
高圧〔電流〕検出点に)から負荷電流値に対応した電圧
(74) t−アンプ@6.二人力し、前記コントロー
ル電圧(カ)入力との比較&−エクアンデに)を作動さ
せる。電流用ノき勤アンプ曽の出力側は逆電圧阻止用ダ
イオード四を経てオートバランス切換スイッチ−の電流
!lIl個所点(61)を経て電流遮断用補助トランジ
スタC52)のBに接続されそのEはマイナス1llI
(9)に、そのCは前記リレーコントロールトランジス
タに)のB1.:接続される。
電流用差動アン1ト入力される直流高圧(電流)検出点
に)の電圧(v4)が1.7mAの遮断電流値フントロ
ール電圧CV、)より高い場合は、その出力はプラスと
なり、補助トランジスタ(32)のC−E間ii*通し
てリレーコントロールトランジスタ(支)のB、E間は
短絡する。
に)の電圧(v4)が1.7mAの遮断電流値フントロ
ール電圧CV、)より高い場合は、その出力はプラスと
なり、補助トランジスタ(32)のC−E間ii*通し
てリレーコントロールトランジスタ(支)のB、E間は
短絡する。
そnにエクリレ〜コントロールトランジスタ(2)はオ
フとなり、高圧出力遮断用リレー(5)のa接点(6ン
をオフして直tfI高電圧発生@路(1)を開放して過
電流は遮断される。
フとなり、高圧出力遮断用リレー(5)のa接点(6ン
をオフして直tfI高電圧発生@路(1)を開放して過
電流は遮断される。
電流用差動アンプ(ホ)に入力される検出点(2)の電
圧(v4)がi、7mAの遮断電流値のコントロール電
圧CV 、)より低ければ、補助トランジCスター(3
2)はオフとなり、リレーコントロールトランジスタ(
2)はオン紀保持される。
圧(v4)がi、7mAの遮断電流値のコントロール電
圧CV 、)より低ければ、補助トランジCスター(3
2)はオフとなり、リレーコントロールトランジスタ(
2)はオン紀保持される。
前記の過電流遮断のため直流高電圧発生回路(1)が開
放したのち、再びピンホール検出器に直流高圧出力電圧
を発生させるにはリレーコントロールスイッチ(ホ)に
より回路(+)をオンにする。直流高圧出力電圧の発生
を所望により停止する場合&:は、リレーコントロール
スイッチ@に工って直流高電圧発生口W1(+)をオフ
にする。
放したのち、再びピンホール検出器に直流高圧出力電圧
を発生させるにはリレーコントロールスイッチ(ホ)に
より回路(+)をオンにする。直流高圧出力電圧の発生
を所望により停止する場合&:は、リレーコントロール
スイッチ@に工って直流高電圧発生口W1(+)をオフ
にする。
面 オードバランス回路
グラスライニング機器(A)のグラスライニング面(A
)のピンホールの検出中にプローブ@の先端をクリスラ
イ=ング面(J’に20−以下の程度に:@近させL場
合に、付着物へのチャージ電流やコロナ放電&:、Cつ
で連続放電が生じやすくなり、機器のノズル剖等のグラ
スライニング面と母材(Ajが露出し7ic機器外面と
の境界付近、あるいは部分的にグラスライニングした部
品等、特殊形状部分のピンホール検定を実施する場合に
は、グラスライニング面0〕全経由しない母材(、A)
への′直接放電が発生する。
)のピンホールの検出中にプローブ@の先端をクリスラ
イ=ング面(J’に20−以下の程度に:@近させL場
合に、付着物へのチャージ電流やコロナ放電&:、Cつ
で連続放電が生じやすくなり、機器のノズル剖等のグラ
スライニング面と母材(Ajが露出し7ic機器外面と
の境界付近、あるいは部分的にグラスライニングした部
品等、特殊形状部分のピンホール検定を実施する場合に
は、グラスライニング面0〕全経由しない母材(、A)
への′直接放電が発生する。
この放電は連続放電に近い頼繁な放電となる。
そしてこの放電電流が例えば1.7mAの設定遮断電流
値を越えると、直流高圧過電流遮断回Fj11(ilが
作動して遮断を実行し高圧出力は無電圧となる。従って
テストを続行する(は遮断動作の都度、同時に:オフに
なっている孤すレーコントロールスインチ■ヲ操作して
直流高電圧発生回路(1)をオンにしなけILばならな
い。このことは非電に繁雑でありテストの能率を極度に
低下させる。
値を越えると、直流高圧過電流遮断回Fj11(ilが
作動して遮断を実行し高圧出力は無電圧となる。従って
テストを続行する(は遮断動作の都度、同時に:オフに
なっている孤すレーコントロールスインチ■ヲ操作して
直流高電圧発生回路(1)をオンにしなけILばならな
い。このことは非電に繁雑でありテストの能率を極度に
低下させる。
この開題に解決を与える1cめ、本発明においては、前
記のオートバランス切換スイッチに)を過電流遮断側接
点(61)からオートバランス接点(36)に切換える
ようにせられ、オートバランス接点C55) Fi直流
電圧可変用IC装置(3)のドライブ用トランジスタ(
4)のBに接続される。ここ(は前記のように電圧用差
動アンプに)の出力側も接続されている。
記のオートバランス切換スイッチに)を過電流遮断側接
点(61)からオートバランス接点(36)に切換える
ようにせられ、オートバランス接点C55) Fi直流
電圧可変用IC装置(3)のドライブ用トランジスタ(
4)のBに接続される。ここ(は前記のように電圧用差
動アンプに)の出力側も接続されている。
このオートバランス回路紀よると、直流高圧出力電圧を
所望の電圧に設定しピンホール検知の実施中に、例えば
前記の1ば接放電&:Lり高圧電流計@に例えば1.7
mAの設定電流値以上の電流が流れて直流高圧(電流)
検出点に)にその電圧が発生すると電流用差動アンプに
)の出力はプラスとなり、逆流阻止用ダイオード@、オ
ートバランス切換スイッチ−を経て、今回はオートバラ
ンス用接点(63)から直流電圧可変用X C(a)の
ドライブ用トランジスタ(4)のB&:印加されるので
、このトランジスタ(4)が導通して直流電圧可変用I
C装置(3)の出力電圧が低下し、その結果高圧放電電
流が低下して1.7 m A以下となり、直流高圧(電
流)検出点(2)の電圧本低下する。
所望の電圧に設定しピンホール検知の実施中に、例えば
前記の1ば接放電&:Lり高圧電流計@に例えば1.7
mAの設定電流値以上の電流が流れて直流高圧(電流)
検出点に)にその電圧が発生すると電流用差動アンプに
)の出力はプラスとなり、逆流阻止用ダイオード@、オ
ートバランス切換スイッチ−を経て、今回はオートバラ
ンス用接点(63)から直流電圧可変用X C(a)の
ドライブ用トランジスタ(4)のB&:印加されるので
、このトランジスタ(4)が導通して直流電圧可変用I
C装置(3)の出力電圧が低下し、その結果高圧放電電
流が低下して1.7 m A以下となり、直流高圧(電
流)検出点(2)の電圧本低下する。
こうして高圧放電電流が1.7mAの設定値以下となる
と、電流用作動アンプに)の出力側はマイナスとなる。
と、電流用作動アンプに)の出力側はマイナスとなる。
このとき直流高圧出力電圧が設定値より低下していると
、直流高圧(電圧)検出点mからの入力電圧も電圧差動
アンプ(至)のコントロール電圧入カエシ低いので、そ
の出力側からプク゛スがドライブ用トランジスター(4
)のB&:印加されることもない。結局ドライブ用トラ
ンジスタ(4)は何九の経路からもプラスを印加されな
いので、オフとなり。
、直流高圧(電圧)検出点mからの入力電圧も電圧差動
アンプ(至)のコントロール電圧入カエシ低いので、そ
の出力側からプク゛スがドライブ用トランジスター(4
)のB&:印加されることもない。結局ドライブ用トラ
ンジスタ(4)は何九の経路からもプラスを印加されな
いので、オフとなり。
直流電圧可変用IC(3)の出力電圧は再び上昇する。
このようにして、高圧出力側が無負荷のときは高圧出力
電圧v4整器05にエフ設定した電圧が維持される一方
、放電等に工p負荷電流が流れる場合紀電流は設定電1
m1.7mA&:l持されるので連続放電が可能となり
連続テストが可能となる。
電圧v4整器05にエフ設定した電圧が維持される一方
、放電等に工p負荷電流が流れる場合紀電流は設定電1
m1.7mA&:l持されるので連続放電が可能となり
連続テストが可能となる。
オートバランス回路(2)の切換スイッチ(至)はプロ
ーブ(6)の検知電極の近傍に設け、操作者が押ボタン
を押している間のみオートバランス接点(36)に切換
えられる工うにすると、前記のグラスライニング機器の
特殊形状部分や部品類の連続テストが容易に行える工う
kなり、操作者の安全も確保される。
ーブ(6)の検知電極の近傍に設け、操作者が押ボタン
を押している間のみオートバランス接点(36)に切換
えられる工うにすると、前記のグラスライニング機器の
特殊形状部分や部品類の連続テストが容易に行える工う
kなり、操作者の安全も確保される。
′ (発明の効果)
本発明によれば、グラスライニング面のピンホール検知
器として、重量が十数に9程度の軽量小形の可搬式の装
置とすることができるので増扱が容易で作業能率が上り
、機能上、火花放電の友めの直流高電圧が安定して得ら
れるので確実な欠陥検出ができ、放電負荷時の過電波が
遮断されて作業者および機器の安全が確保され、さらに
無負荷時の定電圧と放電負荷時の定電流の自動両立を実
現してグラスライニング機器の特殊形状部分等も遮断の
都度リセットする必要なく連続テストできる等の効果が
得られる。
器として、重量が十数に9程度の軽量小形の可搬式の装
置とすることができるので増扱が容易で作業能率が上り
、機能上、火花放電の友めの直流高電圧が安定して得ら
れるので確実な欠陥検出ができ、放電負荷時の過電波が
遮断されて作業者および機器の安全が確保され、さらに
無負荷時の定電圧と放電負荷時の定電流の自動両立を実
現してグラスライニング機器の特殊形状部分等も遮断の
都度リセットする必要なく連続テストできる等の効果が
得られる。
添付図は本発明のグラスライニング面のピンホール検知
器の1実施例の回路図を示す。 (1)・・直流電圧可変電源、(2)・・直流電源、(
3)・・直流電圧可変電源C%+4)・・直流電圧可変
用IC作動用トランジスタ、(5)・・高圧出力遮断用
リレー、(6)・・a接点、(7)・・昇圧トランス、
(8)・・昇圧トランス駆動用アンプ、(9)・・マイ
ナス側、(ト)・・高圧整流用ダイオード。 (ロ)・・高電圧出力電子、斡・・プローブ、0・・ア
ース1i111N 子、α青・−平i!コンチンf 、
(イ)・・直流電圧出力電圧調整器、(7)・・電圧用
差動アンプ、α力・・出力電圧安定化抵抗、(ト)・・
高圧電圧計、に)・・直流高圧(電圧)検出点、(イ)
(ト)・・逆電圧阻止用ダイオード、@・・リレー駆動
電源、@e・リレーコントロールトランジスタ、に)・
・リレーコントロールス4’;t4−s(ハ)・・抵抗
、(2)・・!1断電流調整器、に)・・電流用差動ア
ンプ、に)・・高圧電流計、(ホ)・・直流高圧(電[
)検出点、に)・・オート・フランス切換スイッチ、C
31)・・過電流遮断側接点、(32)・・過電流遮断
用補助トランジスタ% (33)・・オートバランス側
接点、(I)・・直流高電圧発生回路、 (1)・・直
流高圧出力電圧安定回路%I・・直流高圧過電流遮断回
路、(ト)・・オートノ1ランス回路、(A)・・グラ
スライニング機器、(A)・・・母材、cA)・・グラ
スライニング面、 (vθ・・コントロール電圧、(v
、)・・電圧検出点電圧。 (Y、)・・遮断電流コントロール電圧、(74)・・
負荷電流値電圧。
器の1実施例の回路図を示す。 (1)・・直流電圧可変電源、(2)・・直流電源、(
3)・・直流電圧可変電源C%+4)・・直流電圧可変
用IC作動用トランジスタ、(5)・・高圧出力遮断用
リレー、(6)・・a接点、(7)・・昇圧トランス、
(8)・・昇圧トランス駆動用アンプ、(9)・・マイ
ナス側、(ト)・・高圧整流用ダイオード。 (ロ)・・高電圧出力電子、斡・・プローブ、0・・ア
ース1i111N 子、α青・−平i!コンチンf 、
(イ)・・直流電圧出力電圧調整器、(7)・・電圧用
差動アンプ、α力・・出力電圧安定化抵抗、(ト)・・
高圧電圧計、に)・・直流高圧(電圧)検出点、(イ)
(ト)・・逆電圧阻止用ダイオード、@・・リレー駆動
電源、@e・リレーコントロールトランジスタ、に)・
・リレーコントロールス4’;t4−s(ハ)・・抵抗
、(2)・・!1断電流調整器、に)・・電流用差動ア
ンプ、に)・・高圧電流計、(ホ)・・直流高圧(電[
)検出点、に)・・オート・フランス切換スイッチ、C
31)・・過電流遮断側接点、(32)・・過電流遮断
用補助トランジスタ% (33)・・オートバランス側
接点、(I)・・直流高電圧発生回路、 (1)・・直
流高圧出力電圧安定回路%I・・直流高圧過電流遮断回
路、(ト)・・オートノ1ランス回路、(A)・・グラ
スライニング機器、(A)・・・母材、cA)・・グラ
スライニング面、 (vθ・・コントロール電圧、(v
、)・・電圧検出点電圧。 (Y、)・・遮断電流コントロール電圧、(74)・・
負荷電流値電圧。
Claims (3)
- (1)直流電圧可変電源を昇圧トランスの1次側に接続
し通電を昇圧トランス駆動アンプにより断続して昇圧ト
ランスの2次側に発生したパルス電圧を整流して得る直
流高電圧をプローブ部に等いてグラスライニング面のピ
ンホールに火花放電させるようにした装置に対し、直流
高圧出力電圧安定回路と、直流高圧過電流しゃ断回路と
を設けたことを特徴とするグラスライニング面のピンホ
ール検知器。 - (2)直流高圧過電流しゃ断回路の途中から直流高圧出
力電圧安定回路に向つて切換えるオートバランス切換ス
イッチを設けてオートバランス回路を構成し、それによ
り無負荷時の定電圧維持と放電負荷時の定電流維持とを
両立させて自動制御されるようにした特許請求の範囲第
1項記載のグラスライニング面のピンホール検知器。 - (3)オートバランス切換スイッチをプローブ部に付設
した特許請求の範囲第2項記載のグラスライニング面の
ピンホール検知器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18152584A JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18152584A JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6157850A true JPS6157850A (ja) | 1986-03-24 |
JPH0332019B2 JPH0332019B2 (ja) | 1991-05-09 |
Family
ID=16102285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18152584A Granted JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6157850A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02136234A (ja) * | 1988-11-16 | 1990-05-24 | Mitsubishi Kasei Corp | 耐食性材料を被覆した金属製機器 |
JPH0469563A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Kuwabara Yasunaga | 被膜欠陥検査方法と装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101663077B1 (ko) * | 2014-11-28 | 2016-10-06 | 한영만 | 도금하고자 하는 제품의 전처리장치 |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP18152584A patent/JPS6157850A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02136234A (ja) * | 1988-11-16 | 1990-05-24 | Mitsubishi Kasei Corp | 耐食性材料を被覆した金属製機器 |
JPH0469563A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Kuwabara Yasunaga | 被膜欠陥検査方法と装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0332019B2 (ja) | 1991-05-09 |
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