JPS6150927A - 有機化合物合成装置 - Google Patents
有機化合物合成装置Info
- Publication number
- JPS6150927A JPS6150927A JP17307784A JP17307784A JPS6150927A JP S6150927 A JPS6150927 A JP S6150927A JP 17307784 A JP17307784 A JP 17307784A JP 17307784 A JP17307784 A JP 17307784A JP S6150927 A JPS6150927 A JP S6150927A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxygen
- complex
- catalyst
- organic compound
- concentration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J14/00—Chemical processes in general for reacting liquids with liquids; Apparatus specially adapted therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は有機化合物合成装置に係り、特に酸素錯体触媒
を用いて、有機化合物を酸化し、新たな有機化合物を高
収率で合成する装置に関する。
を用いて、有機化合物を酸化し、新たな有機化合物を高
収率で合成する装置に関する。
(従来の技術)
石油化学工業の基礎化学品としての、酢酸やアセトアル
デヒド、アセトン、メチルエチルケトン類は一般に高温
高圧下で合成されている。メチルエチルケトン(以下、
MEKと記す)を例にとると、MEKの合成は、濃硫酸
の存在下で水和反応による5ec−ブタノールを合成し
、このsec−ブクノールを触媒の存在下で、3atm
、450℃で脱水素を行なわせることにより製造されて
いる。この方法は反応工程が複雑なこと、濃硫酸を使用
するために装置腐食が激しいこと、副生成物が多いこと
等の欠点を有する。またPdCl2)Cu Cl 2を
濃塩酸に熔解した触媒を用いるツノカー法も120℃、
lQatmと高圧であり、濃塩酸使用のため装置腐食を
生じ、また塩化副生物が生じるという欠点がある。
デヒド、アセトン、メチルエチルケトン類は一般に高温
高圧下で合成されている。メチルエチルケトン(以下、
MEKと記す)を例にとると、MEKの合成は、濃硫酸
の存在下で水和反応による5ec−ブタノールを合成し
、このsec−ブクノールを触媒の存在下で、3atm
、450℃で脱水素を行なわせることにより製造されて
いる。この方法は反応工程が複雑なこと、濃硫酸を使用
するために装置腐食が激しいこと、副生成物が多いこと
等の欠点を有する。またPdCl2)Cu Cl 2を
濃塩酸に熔解した触媒を用いるツノカー法も120℃、
lQatmと高圧であり、濃塩酸使用のため装置腐食を
生じ、また塩化副生物が生じるという欠点がある。
このような問題を解決するために、本出願人は、特定の
遷移金属化合物とリンの誘導体から成る錯体化合物に酸
素を通気し酸素錯体となし、この錯体化合物に炭化水素
を通気して酸化することにより、低圧、低温下で新たな
有機化合物を合成する方法を提案した(特願昭59−3
8137号、特願昭59−122600号など)。
遷移金属化合物とリンの誘導体から成る錯体化合物に酸
素を通気し酸素錯体となし、この錯体化合物に炭化水素
を通気して酸化することにより、低圧、低温下で新たな
有機化合物を合成する方法を提案した(特願昭59−3
8137号、特願昭59−122600号など)。
これらの方法に用いる装置は、例えば第10図に示すよ
うに酸素吸収塔21、反応器3、触媒分離塔4の3主要
機器から構成されている。循環触媒液10は酸素吸収塔
2Iに送られ、空気配管20を通って塔下部から吹込ま
れる空気中の酸素を吸収し、酸素錯体触媒液となる。酸
素吸収塔21からの酸素錯体触媒は反応器3に送られ、
ここで原料炭化水素を酸化し、新しい有機化合物が合成
される。反応錯体触媒は触媒分離塔4に送られ、塔頂か
ら粗生成物が、および塔底から触媒液がそれぞれ取出さ
れ、触媒液は酸素吸収塔21へ再循環される。この際、
循環触媒中には気液平衡に基づく量の残存生成有機化合
物が含まれる。なお、図中、6は原料炭化水素配管、8
は凝縮器、9はリボイラー、10は循環触媒液の配管、
11は酸素錯体触媒液の配管、12は反応錯体触媒液の
配管、19はポンプ、22は排空気配管、23は冷却器
、24は流量制御機、25はブロアーである。
うに酸素吸収塔21、反応器3、触媒分離塔4の3主要
機器から構成されている。循環触媒液10は酸素吸収塔
2Iに送られ、空気配管20を通って塔下部から吹込ま
れる空気中の酸素を吸収し、酸素錯体触媒液となる。酸
素吸収塔21からの酸素錯体触媒は反応器3に送られ、
ここで原料炭化水素を酸化し、新しい有機化合物が合成
される。反応錯体触媒は触媒分離塔4に送られ、塔頂か
ら粗生成物が、および塔底から触媒液がそれぞれ取出さ
れ、触媒液は酸素吸収塔21へ再循環される。この際、
循環触媒中には気液平衡に基づく量の残存生成有機化合
物が含まれる。なお、図中、6は原料炭化水素配管、8
は凝縮器、9はリボイラー、10は循環触媒液の配管、
11は酸素錯体触媒液の配管、12は反応錯体触媒液の
配管、19はポンプ、22は排空気配管、23は冷却器
、24は流量制御機、25はブロアーである。
しかしながら、このような装置においては、酸素吸収塔
21で触媒中に残存している製品有機物、触媒中の軽質
成分が空気によりストリンピングを受け、排ガス22に
、少量ではあるが飛散するという問題がある。空気中の
これら飛散成分の濃度は非常に低いものであるが、空気
量が多いため、実装置においては無視できない量となり
、製品の回収率を悪化させている。またこれを防止する
ため、回収装置を設置することは濃度が低いために回収
率が悪く、経済的ではない。特に酸素錯体を生成する酸
素源として、空気を用いる場合には空気中のN2により
生成した有機化合物および触媒錯体液を構成する軽質の
溶媒が蒸気圧に応じて飛散し、1【1失となる。
21で触媒中に残存している製品有機物、触媒中の軽質
成分が空気によりストリンピングを受け、排ガス22に
、少量ではあるが飛散するという問題がある。空気中の
これら飛散成分の濃度は非常に低いものであるが、空気
量が多いため、実装置においては無視できない量となり
、製品の回収率を悪化させている。またこれを防止する
ため、回収装置を設置することは濃度が低いために回収
率が悪く、経済的ではない。特に酸素錯体を生成する酸
素源として、空気を用いる場合には空気中のN2により
生成した有機化合物および触媒錯体液を構成する軽質の
溶媒が蒸気圧に応じて飛散し、1【1失となる。
一方、本発明の目的有機化合物の重要なものの一つであ
るメチルエチルケトン(MEK)は、磁気テープの洗浄
剤、ニトロセルロースおよびアセチルセルロースの溶剤
、潤滑油の脱ろうプロセス等に使用され、さらには不飽
和ポリエステル樹脂の硬化剤、重合開始剤として多量に
生産されているメチルエチルケトンパーオキシドの原料
となるなど、化学工業における重要な中間製品である。
るメチルエチルケトン(MEK)は、磁気テープの洗浄
剤、ニトロセルロースおよびアセチルセルロースの溶剤
、潤滑油の脱ろうプロセス等に使用され、さらには不飽
和ポリエステル樹脂の硬化剤、重合開始剤として多量に
生産されているメチルエチルケトンパーオキシドの原料
となるなど、化学工業における重要な中間製品である。
従来、工業的に実施されているMEKの合成法は、1)
sec−ブタノールの脱水素法、2)1−ブテン酸化法
の2つに大別される。
sec−ブタノールの脱水素法、2)1−ブテン酸化法
の2つに大別される。
第11図に1)の脱水素法によりMEK合成プロセスの
フローシートを示す、この方法は、基本的にはn−ブテ
ンから゛濃硫酸の存在下で水和反応により5ec−ブタ
ノール(S B A)を合成し、さらにこれをZn−C
u系触媒を用いて430〜450℃、3atmで脱水素
する方式で、主として(1)水素添加工程(水添炉73
)、(2)イソブチン抽出分離工程(イソブチン抽出塔
75)、(3)イソブチン回収工程(イソブチン分離器
76、水和槽77)、(4)n−ブテン抽出工程(n−
ブテン抽出塔80)、(5)加水分解工程(分離器76
、水和槽77)、(6)SBA精製工程(SBAストリ
ッパ82)、(7)SBA脱水素工程(SBA精留塔8
5)、(8)MEK精製工程(M E K反応器86)
、(9)硫酸濃縮工程(同濃縮装置92)、の主に9工
程からなる。
フローシートを示す、この方法は、基本的にはn−ブテ
ンから゛濃硫酸の存在下で水和反応により5ec−ブタ
ノール(S B A)を合成し、さらにこれをZn−C
u系触媒を用いて430〜450℃、3atmで脱水素
する方式で、主として(1)水素添加工程(水添炉73
)、(2)イソブチン抽出分離工程(イソブチン抽出塔
75)、(3)イソブチン回収工程(イソブチン分離器
76、水和槽77)、(4)n−ブテン抽出工程(n−
ブテン抽出塔80)、(5)加水分解工程(分離器76
、水和槽77)、(6)SBA精製工程(SBAストリ
ッパ82)、(7)SBA脱水素工程(SBA精留塔8
5)、(8)MEK精製工程(M E K反応器86)
、(9)硫酸濃縮工程(同濃縮装置92)、の主に9工
程からなる。
なお、31はC4留分、32は水素、34は冷却器、3
8は水、39%イソブチン、41はブタン、43は脱ブ
テン塔、44はブテン、47は水素分離槽、48は第1
MEK精留塔、49は第2MEK楕留塔、50はSBA
、51はMEKを示す。
8は水、39%イソブチン、41はブタン、43は脱ブ
テン塔、44はブテン、47は水素分離槽、48は第1
MEK精留塔、49は第2MEK楕留塔、50はSBA
、51はMEKを示す。
しかしながら、本方法においては、(1)反応工程が多
く、複雑で、数多くの設備を有し、設置コストおよびユ
ーティリティが大きい、(2)反応が比較的高温、高圧
(水添炉:40〜70”CC120at、脱水素反応器
:430〜450℃、3atm)にて行なわれるため、
副生成物が多く、MEKのイソブチン抽出塔に導入され
るn−ブテンに対するMEKの収率が80%と低い、−
(3)濃硫酸を使用するため装置材料の腐食性等の課題
があるとされている。
く、複雑で、数多くの設備を有し、設置コストおよびユ
ーティリティが大きい、(2)反応が比較的高温、高圧
(水添炉:40〜70”CC120at、脱水素反応器
:430〜450℃、3atm)にて行なわれるため、
副生成物が多く、MEKのイソブチン抽出塔に導入され
るn−ブテンに対するMEKの収率が80%と低い、−
(3)濃硫酸を使用するため装置材料の腐食性等の課題
があるとされている。
一方、l−ブテン酸化法に関しては、水の存在下、塩化
パラジウム(以下、Pd (2)C1,と記す)により
、1−ブテンを酸化してMEKを合成し、還元された金
属パラジウム(以下pa (0)と記す)は塩化第2銅
(以下、Cu (2)l!。
パラジウム(以下、Pd (2)C1,と記す)により
、1−ブテンを酸化してMEKを合成し、還元された金
属パラジウム(以下pa (0)と記す)は塩化第2銅
(以下、Cu (2)l!。
と記す)により酸化再生され、さらに還元された 。
塩化第1洞(以下、Cu (1)C1>は濃塩酸の共存
下酸素酸化により再生するヘキスト・フッカ法がみるが
、本方式においても(1)濃塩酸を使用するため塩素化
合物が多量に副生され1、MEKの原料l−ブテンに対
する収率は75%と低い、(2)さらにC4留分のうち
、2−ブテンは全く酸化されない、(3)Pd (0)
を再生するために大量のCu (2)CIlzを使用す
る、(4)濃塩酸使用による高腐食性、等が課題とされ
ている。
下酸素酸化により再生するヘキスト・フッカ法がみるが
、本方式においても(1)濃塩酸を使用するため塩素化
合物が多量に副生され1、MEKの原料l−ブテンに対
する収率は75%と低い、(2)さらにC4留分のうち
、2−ブテンは全く酸化されない、(3)Pd (0)
を再生するために大量のCu (2)CIlzを使用す
る、(4)濃塩酸使用による高腐食性、等が課題とされ
ている。
以上の問題点を解決すべく、本出願人は先にMEK合成
法に関して、酸素分子が金属イオンに配位結合して酸素
錯体を形成し得る遷移金属錯体を少なくとも触媒成分の
1つとして、ブテンを配bj結合し、ブテン錯体を形成
し得る遷移金属錯体とからなる複合触媒を用い、水の存
在下、錯体生成によって活性化されたl−ブテンを酸化
し、温和な条件下でMEKを効率よく合成する方法を提
案したく特願昭59−38137号)。
法に関して、酸素分子が金属イオンに配位結合して酸素
錯体を形成し得る遷移金属錯体を少なくとも触媒成分の
1つとして、ブテンを配bj結合し、ブテン錯体を形成
し得る遷移金属錯体とからなる複合触媒を用い、水の存
在下、錯体生成によって活性化されたl−ブテンを酸化
し、温和な条件下でMEKを効率よく合成する方法を提
案したく特願昭59−38137号)。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明の目的は、前記酸素錯体の酸素源として純酸素ま
たは高濃度の酸素を用い、生成した含酸素有機化合物お
よび触媒液の逃失を最小限にするとともに、酸素濃度を
好適値に保って高収率で該有機化合物を合成する装置を
提供することにある。
たは高濃度の酸素を用い、生成した含酸素有機化合物お
よび触媒液の逃失を最小限にするとともに、酸素濃度を
好適値に保って高収率で該有機化合物を合成する装置を
提供することにある。
本発明の他の目的は、含酸素有機化合物(特にMEK)
の合成における反応工程を少なくし、低温、低圧下で効
率よく含酸素有機化合物を合成する装置を提供すること
にある。
の合成における反応工程を少なくし、低温、低圧下で効
率よく含酸素有機化合物を合成する装置を提供すること
にある。
(問題点を解決するための手段)
要するに本発明の第1は、酸素錯体生成のための酸素源
として高濃度の酸素、好ましくは純酸素を用い、酸素吸
収器内に錯体液と前記酸素を供給し、酸素錯体の生成に
伴う容器内圧力の低下を検知し、目的とする有機化合物
の生成に好適な酸素錯体濃度になるように反応器へ入る
酸素濃度を調整するようにしたものである。
として高濃度の酸素、好ましくは純酸素を用い、酸素吸
収器内に錯体液と前記酸素を供給し、酸素錯体の生成に
伴う容器内圧力の低下を検知し、目的とする有機化合物
の生成に好適な酸素錯体濃度になるように反応器へ入る
酸素濃度を調整するようにしたものである。
また本発明の第2は、酸素錯体形成のための酸素吸収塔
を省略し、酸化反応塔に純酸素または高濃度酸素を供給
し、酸素錯体の形成と同時に酸化反応を行なわせ、また
反応塔内の酸化反応を均一に行なわせるようにしたのも
である。″さらに本発明の第3は、含酸素有機化合物の
合成反応が一般に発熱反応であることから、反応塔を多
段または多塔に構成して各段(塔)に冷却手段を設けて
反応熱を逐次吸収するとともに、反応塔内に攪拌手段を
設けて反応温度を均一にするようにしたものである。
を省略し、酸化反応塔に純酸素または高濃度酸素を供給
し、酸素錯体の形成と同時に酸化反応を行なわせ、また
反応塔内の酸化反応を均一に行なわせるようにしたのも
である。″さらに本発明の第3は、含酸素有機化合物の
合成反応が一般に発熱反応であることから、反応塔を多
段または多塔に構成して各段(塔)に冷却手段を設けて
反応熱を逐次吸収するとともに、反応塔内に攪拌手段を
設けて反応温度を均一にするようにしたものである。
本発明に用いる全屈錯体触媒としては、酸素と配位結合
することにより酸素錯体を形成し得る鏡体(MmX n
−L 7りまたは/および原料有機化合物と配位結合
し、錯体を形成し得る錯体触媒(M’m’Xn’L’6
’)が用いられる(ここで、Mは周期律第1族、第■〜
■族または第1族の鉄族に属する遷移金属、XはCA−
1Br−1■−等のハロゲン、またはBF4−1PF≦
−1CH3COO−、co42−等の陰イオン、Lは有
機リン化合物、好ましくはリン酸、亜リン酸のアルコキ
シ、アルキルもしくはアミド誘導体、M′は周期律第■
族の白金族に属する遷移金属、L“はニトリル類、有機
フッ素化合物または有機リン化合物、m、m”、n、n
’は、前記遷移金属および陰イオンの原子価により定ま
る数、l、β“は配位数を示す)。
することにより酸素錯体を形成し得る鏡体(MmX n
−L 7りまたは/および原料有機化合物と配位結合
し、錯体を形成し得る錯体触媒(M’m’Xn’L’6
’)が用いられる(ここで、Mは周期律第1族、第■〜
■族または第1族の鉄族に属する遷移金属、XはCA−
1Br−1■−等のハロゲン、またはBF4−1PF≦
−1CH3COO−、co42−等の陰イオン、Lは有
機リン化合物、好ましくはリン酸、亜リン酸のアルコキ
シ、アルキルもしくはアミド誘導体、M′は周期律第■
族の白金族に属する遷移金属、L“はニトリル類、有機
フッ素化合物または有機リン化合物、m、m”、n、n
’は、前記遷移金属および陰イオンの原子価により定ま
る数、l、β“は配位数を示す)。
本発明の触媒系において、酸素錯体を形成し得る錯体触
媒としてのMmXn−L4におけるmとしては、周期律
第1族のCu、Ag、第■族のTi、、Zr、第■族の
■、Nb、第■族のCr−MOlW、第■族のMn、第
1族のFe、Co、Ni等の遷移金属が好ましく、Cu
(1) 、Ti (3) 、V (3)がより好ま
しい。またXとしてしまcg−1f3r−1■−のハロ
ゲン、BBF4−1PF −,504”−1CH3CO
O−等の陰イオンが好ましく、Cz−1Br−2■−が
より好ましい。配位子りとしては、リン酸の誘導体であ
るトリフェニルホスフィンオキシト、ヘキサメチルホス
ホルアミド、およびリン酸とメタノール、エタノール等
の反応からできるモノ、ジまたはトリエステル、さらに
、メチルホスホン酸ジメチル、ジメチルホスフィン酸メ
チル、あるいは亜リン酸の誘導体である、亜リン酸とメ
タノールエタノール等の反応からできるモノ、ジまたは
トリエステル、およびフェニル亜ホスホン酸エステル、
ジメチルホスフィン酸エステル、トリエチルホスフィン
、トリフェニルホスフィン等で代表される有機リン化合
物が好ましいものとして上げられ、特に、ヘキサメチル
ホスホルアミド(hmpa)が好ましい。
媒としてのMmXn−L4におけるmとしては、周期律
第1族のCu、Ag、第■族のTi、、Zr、第■族の
■、Nb、第■族のCr−MOlW、第■族のMn、第
1族のFe、Co、Ni等の遷移金属が好ましく、Cu
(1) 、Ti (3) 、V (3)がより好ま
しい。またXとしてしまcg−1f3r−1■−のハロ
ゲン、BBF4−1PF −,504”−1CH3CO
O−等の陰イオンが好ましく、Cz−1Br−2■−が
より好ましい。配位子りとしては、リン酸の誘導体であ
るトリフェニルホスフィンオキシト、ヘキサメチルホス
ホルアミド、およびリン酸とメタノール、エタノール等
の反応からできるモノ、ジまたはトリエステル、さらに
、メチルホスホン酸ジメチル、ジメチルホスフィン酸メ
チル、あるいは亜リン酸の誘導体である、亜リン酸とメ
タノールエタノール等の反応からできるモノ、ジまたは
トリエステル、およびフェニル亜ホスホン酸エステル、
ジメチルホスフィン酸エステル、トリエチルホスフィン
、トリフェニルホスフィン等で代表される有機リン化合
物が好ましいものとして上げられ、特に、ヘキサメチル
ホスホルアミド(hmpa)が好ましい。
一方、原料有機化合物の錯体を形成し得る錯体触媒(M
’m’Xn’l、’I!’)におけるM′としては、周
期律第■族の白金族に屈する遷移金属のうち、低原子価
イオンが好ましく、特にPd、ptが好ましい。また配
位子L°とじては、アセトニトリル、プロピオニトリル
ベンゾニトリル等のニトリル類、および上述の有機リン
化合物、さらにはフン化トルエン、ペンシトリフロライ
ド等の有機フン素化合物が好ましいものとしてあげられ
る。
’m’Xn’l、’I!’)におけるM′としては、周
期律第■族の白金族に屈する遷移金属のうち、低原子価
イオンが好ましく、特にPd、ptが好ましい。また配
位子L°とじては、アセトニトリル、プロピオニトリル
ベンゾニトリル等のニトリル類、および上述の有機リン
化合物、さらにはフン化トルエン、ペンシトリフロライ
ド等の有機フン素化合物が好ましいものとしてあげられ
る。
なお、反応系の溶媒としては、複合錯体を溶かすととも
に、生成する含酸素有機化合物、(例えばM E Kで
はす、p、79.5°C,/7601躇Hg)との分離
が容易であり、かつ、触媒溶液の粘度を下げ物質移動を
促進するものが好ましく、例えばヘプタン、トリエン、
メチルシクロヘキサン、エタノール、ジオキサン、プロ
ピレンカーボネート、クロロヘンゼン、N−メチルピロ
リドン、テトラ上1−ロフランなどの各種溶媒から選ば
れた少なくとも一種の溶媒またはこれらの混合物を用い
られる。配位子りまたはL°力9夜体の場合、そのもの
を溶媒として兼用することもできる。
に、生成する含酸素有機化合物、(例えばM E Kで
はす、p、79.5°C,/7601躇Hg)との分離
が容易であり、かつ、触媒溶液の粘度を下げ物質移動を
促進するものが好ましく、例えばヘプタン、トリエン、
メチルシクロヘキサン、エタノール、ジオキサン、プロ
ピレンカーボネート、クロロヘンゼン、N−メチルピロ
リドン、テトラ上1−ロフランなどの各種溶媒から選ば
れた少なくとも一種の溶媒またはこれらの混合物を用い
られる。配位子りまたはL°力9夜体の場合、そのもの
を溶媒として兼用することもできる。
次に本発明を図面によりさらに詳細に説明する。
第2図は、発明者等の実験により得た触媒溶液中の酸素
濃度と含酸素を機化合物(この場合はxrEK)の生成
速度の関係を示すものである。一般に酸化反応は破線a
に示すごとく、酸素濃度の上昇に伴い反応速度が上がる
のが普通であるが、酸素錯体触媒の場合は、反応速度に
ピークを持つ。
濃度と含酸素を機化合物(この場合はxrEK)の生成
速度の関係を示すものである。一般に酸化反応は破線a
に示すごとく、酸素濃度の上昇に伴い反応速度が上がる
のが普通であるが、酸素錯体触媒の場合は、反応速度に
ピークを持つ。
この現象は、酸素量が過剰となると酸素錯体を形成して
いる酸素が電子を移動させ、錯体との結合力を強め、他
の物質と酸素との反応をかえって回連にするためと考え
られる。このため、本発明においては、反応器に供給す
る鏡体触媒溶液中の酸素濃度を含酸素有機化合物の生成
に好適な濃度になるようにlla fiする制御機構を
設けている。
いる酸素が電子を移動させ、錯体との結合力を強め、他
の物質と酸素との反応をかえって回連にするためと考え
られる。このため、本発明においては、反応器に供給す
る鏡体触媒溶液中の酸素濃度を含酸素有機化合物の生成
に好適な濃度になるようにlla fiする制御機構を
設けている。
第3図は、酸素吸収塔における酸素分圧と酸素吸収速度
の関係を示す実験結果の一例を示すものである。今、吸
収圧力をlatmで行なう場合、純酸素ではCで示す僅
に対し、空気の場合、N2希釈により酸素分圧は115
であり、吸収速度もほぼ115となるため、酸素吸収器
は5倍の滞留時間が必要であり、またガス量も増加する
ため、多段の吸収塔となり、装置が大型化するか、また
は吸収塔の圧力を5倍とする必要がある。
の関係を示す実験結果の一例を示すものである。今、吸
収圧力をlatmで行なう場合、純酸素ではCで示す僅
に対し、空気の場合、N2希釈により酸素分圧は115
であり、吸収速度もほぼ115となるため、酸素吸収器
は5倍の滞留時間が必要であり、またガス量も増加する
ため、多段の吸収塔となり、装置が大型化するか、また
は吸収塔の圧力を5倍とする必要がある。
本発明においては、このような欠点をな(すために、酸
素吸収器に供給する酸素源として純酸素または空気より
も高濃度の酸素含有ガスを用いている。
素吸収器に供給する酸素源として純酸素または空気より
も高濃度の酸素含有ガスを用いている。
(実施例)
第1図は、本発明を実施するのに最も好適な具体例を示
したフローシートである。本装置は酸素吸収器2)酸化
反応器3、触媒分離塔4の3主要機器および付属設備か
ら成る。酸素吸収器2には、純酸素の配管およびその/
R@調整弁13が設けられている。この流量調整弁13
は、圧力制御機17により、酸素吸収器2の圧力を検出
し該圧力が所定範囲になるようにその流量が制御さ咋る
。酸素吸収器2の内部には1m、拌機5が設置され、酸
素と循環触媒液lOの混合を助け、酸素錯体の生成速度
を速めるようになっている。
したフローシートである。本装置は酸素吸収器2)酸化
反応器3、触媒分離塔4の3主要機器および付属設備か
ら成る。酸素吸収器2には、純酸素の配管およびその/
R@調整弁13が設けられている。この流量調整弁13
は、圧力制御機17により、酸素吸収器2の圧力を検出
し該圧力が所定範囲になるようにその流量が制御さ咋る
。酸素吸収器2の内部には1m、拌機5が設置され、酸
素と循環触媒液lOの混合を助け、酸素錯体の生成速度
を速めるようになっている。
また酸化反応器3に入る酸素錯体の濃度を所定の濃度に
調整するためにバイパスライン14を設け、反応器入口
の酸素錯体触媒の酸素濃度を酸素濃度制御機16により
検出し、好適濃度になるように流量調整弁13により調
整するようになっている。なお、図中、1は純酸素の供
給配管、6は原料炭化水素の供給配管、7は冷却コイル
、15は触媒液クーラー、1Bは温度制御機である。
調整するためにバイパスライン14を設け、反応器入口
の酸素錯体触媒の酸素濃度を酸素濃度制御機16により
検出し、好適濃度になるように流量調整弁13により調
整するようになっている。なお、図中、1は純酸素の供
給配管、6は原料炭化水素の供給配管、7は冷却コイル
、15は触媒液クーラー、1Bは温度制御機である。
本装置を用いた合成方法をメチルエチルケトンの合成を
例に説明する。本合成反応に使用する錯体触媒液ば、酸
素錯体を形成し得る遷移金属錯体として塩化第一銅(C
uC1)とリン酸の誘導体であるヘキサメチルホスホル
アミド(以下、hmpaと記す)との錯体CuC1−h
mp aを、またブテン(C4He )錯体を形成し得
る遷移金属錯体として塩化パラジウム(P d Cl
2 )とベンゾニトリ゛ル(以下phcnと記す)およ
びh m paから成る錯体PdCj!z ・phcn
−hmpaを含み、これに適量の水を加えたものである
。各装置内を循環使用される触媒液10は酸素吸収器2
に導かれ、容器内の1@酸素を吸収し酸素錯体含生成す
る。02錯体の生成反応は次のようである。
例に説明する。本合成反応に使用する錯体触媒液ば、酸
素錯体を形成し得る遷移金属錯体として塩化第一銅(C
uC1)とリン酸の誘導体であるヘキサメチルホスホル
アミド(以下、hmpaと記す)との錯体CuC1−h
mp aを、またブテン(C4He )錯体を形成し得
る遷移金属錯体として塩化パラジウム(P d Cl
2 )とベンゾニトリ゛ル(以下phcnと記す)およ
びh m paから成る錯体PdCj!z ・phcn
−hmpaを含み、これに適量の水を加えたものである
。各装置内を循環使用される触媒液10は酸素吸収器2
に導かれ、容器内の1@酸素を吸収し酸素錯体含生成す
る。02錯体の生成反応は次のようである。
2CuC1・hmpa+Q□
−(CuC1−hmpa) ・、Oz (酸素錯体
)錯体中の酸素は活性化されて酸化作用を有し、容器内
で酸素が吸収されるに伴い、容器内の酸素圧が低下する
。この圧力低下を検知すると、制御機17により、流量
fI11整弁13が作動し、吸収された酸素量が自動的
に補給される。酸素錯体となった触媒は酸素吸収器ぞの
塔底から抜出され、反応器3に送られ、ここで供給され
る原料炭化水素であるl−ブテン、と反応しMEKを生
成する。すなわち、酸化反応器3では1−ブテンはPd
C1゜・phcn−hmpaに吸収され、ブテン錯体が
形成される。
)錯体中の酸素は活性化されて酸化作用を有し、容器内
で酸素が吸収されるに伴い、容器内の酸素圧が低下する
。この圧力低下を検知すると、制御機17により、流量
fI11整弁13が作動し、吸収された酸素量が自動的
に補給される。酸素錯体となった触媒は酸素吸収器ぞの
塔底から抜出され、反応器3に送られ、ここで供給され
る原料炭化水素であるl−ブテン、と反応しMEKを生
成する。すなわち、酸化反応器3では1−ブテンはPd
C1゜・phcn−hmpaに吸収され、ブテン錯体が
形成される。
C4H8+PdCj!2 ・phcn−hmpa−eP
dcj’2−phcn−C4H[l +hmpaここで
ブテン錯体は水の存在下PdCj!2により酸化されM
EKが合成される。
dcj’2−phcn−C4H[l +hmpaここで
ブテン錯体は水の存在下PdCj!2により酸化されM
EKが合成される。
PdCj!2 ・phcn−C4H6+H206MET
(+Pd+2HC1+phcnブテンを酸化することに
より還元され、生成する全屈パラジウム(P d)はこ
の酸素錯体により酸化再生され、再びブテンの酸化剤と
して働く。
(+Pd+2HC1+phcnブテンを酸化することに
より還元され、生成する全屈パラジウム(P d)はこ
の酸素錯体により酸化再生され、再びブテンの酸化剤と
して働く。
Pd−1−% (CuCj!−hmpa)2 ・02+
’l HCl + p h c n + h m p
a−PdCj22・phcn−hmpa 十CuC1−hmpa このようにして酸素錯体が脱離したCuC6・h m
p aは、また次段で供給される酸素を吸収し、再、び
酸素錯体CuC1−hmpa−02が生成される。従っ
て酸化反応器では(1)〜(4)の反応かく、り返し行
なわれることなる。
’l HCl + p h c n + h m p
a−PdCj22・phcn−hmpa 十CuC1−hmpa このようにして酸素錯体が脱離したCuC6・h m
p aは、また次段で供給される酸素を吸収し、再、び
酸素錯体CuC1−hmpa−02が生成される。従っ
て酸化反応器では(1)〜(4)の反応かく、り返し行
なわれることなる。
酸化反応器3内における反応は、前述の第2図に示した
ように酸素錯体の濃度により反応速度が変わり、最適な
濃度が存在する。このため、前述のように酸素濃度制御
機16により反応器3人口の錯体触媒液の酸素濃度を検
出し、該濃度が好適値になるように弁13を調整し、酸
素吸収器2からの触媒液と分離塔4からの触媒液とを適
度に混合して反応器3に供給している。
ように酸素錯体の濃度により反応速度が変わり、最適な
濃度が存在する。このため、前述のように酸素濃度制御
機16により反応器3人口の錯体触媒液の酸素濃度を検
出し、該濃度が好適値になるように弁13を調整し、酸
素吸収器2からの触媒液と分離塔4からの触媒液とを適
度に混合して反応器3に供給している。
反応器3における反応は発熱反応であるため、温度制御
則18で温度が検出され、所定の温度を保つように冷却
コイル7により冷却される。生成MEKを含む触媒液1
2は触媒分離塔4に導かれ、粗生成物と触媒液とに分離
される。塔頂からの相MEKは、後続の精製工程で不純
物を除去され、製品MEKとなるが、この精製工程は従
来の技術により容易に達成できる。塔頂からMEKを除
去された触媒液は、塔底から排出され酸素吸収器2へ再
循環される。触媒分離塔4における分離は、気液平衡分
離によるもので、触媒液中には、生成MEKの一部が残
存することになるが、酸素吸収器2においては、密閉容
器内で触媒液が一定濃度で循環するのみで、MEKが排
ガス中に飛散することはなく、ロスとはならない。また
、従来、排空気中に飛散していた、触媒を構成するスル
ホラン・ヘンゾニl−リル等比較的軽質の成分のロスも
なくなり、補給の必要がなくなる。
則18で温度が検出され、所定の温度を保つように冷却
コイル7により冷却される。生成MEKを含む触媒液1
2は触媒分離塔4に導かれ、粗生成物と触媒液とに分離
される。塔頂からの相MEKは、後続の精製工程で不純
物を除去され、製品MEKとなるが、この精製工程は従
来の技術により容易に達成できる。塔頂からMEKを除
去された触媒液は、塔底から排出され酸素吸収器2へ再
循環される。触媒分離塔4における分離は、気液平衡分
離によるもので、触媒液中には、生成MEKの一部が残
存することになるが、酸素吸収器2においては、密閉容
器内で触媒液が一定濃度で循環するのみで、MEKが排
ガス中に飛散することはなく、ロスとはならない。また
、従来、排空気中に飛散していた、触媒を構成するスル
ホラン・ヘンゾニl−リル等比較的軽質の成分のロスも
なくなり、補給の必要がなくなる。
CuC7!の濃度は理論的には必要な0□濃度の2倍、
すなわち02 / Cu = 0.5であればよいが、
Oz/Cuの反応に対する影響を調べた結果を第5図に
示す。この図から遷移金泥化合物に対する反応開始時の
酸素錯体濃度(0□/ Cu )と酸素ベースで表わし
たMEK収率との関係は、0□/Cuがある程度大きく
なるとMEK収率は0□/Cuの上昇と共に著しく低下
することがわかる。
すなわち02 / Cu = 0.5であればよいが、
Oz/Cuの反応に対する影響を調べた結果を第5図に
示す。この図から遷移金泥化合物に対する反応開始時の
酸素錯体濃度(0□/ Cu )と酸素ベースで表わし
たMEK収率との関係は、0□/Cuがある程度大きく
なるとMEK収率は0□/Cuの上昇と共に著しく低下
することがわかる。
また、第6図は、上記と同一実験における酸素錯体濃度
(02/Cu)とMEKの反応速度の関係を示したもの
であるが、反応速度が最大になるためには02/Cuの
最適値が存在することが確認された。
(02/Cu)とMEKの反応速度の関係を示したもの
であるが、反応速度が最大になるためには02/Cuの
最適値が存在することが確認された。
以上2つの実験から明らかなように酸素錯体濃度は理論
値の02/Cu−0,5より低い最適値とすることが望
ましい。すなわち酸素濃度を理論値よりも低くすること
により、収率の向上、反応時間の短縮化による供給酸素
の低減、装置の小規模化を図れる等の利点の他、未反応
残存酸素により副生成物の生成を防ぐことができる。
値の02/Cu−0,5より低い最適値とすることが望
ましい。すなわち酸素濃度を理論値よりも低くすること
により、収率の向上、反応時間の短縮化による供給酸素
の低減、装置の小規模化を図れる等の利点の他、未反応
残存酸素により副生成物の生成を防ぐことができる。
上記第1図の実施例によれば、次の効果が得られる。(
1)生成化合物の酸素吸収器における飛散ロスがなく、
製品回収率が向上する。例えばMEKの場合、約0.2
%以上収率が向上する。この値は少ないようであるが、
長時間の運転では経済性には大きく影響する。(2)触
媒中のベンゾニトリル、スルホラン等の飛散ロスがなく
なり、補給が不要になる。例えば4万t1年間のMEK
生産設備では、初期充填触媒費用の約10%を年間、少
なくすることができる。(3)主要機器である酸素吸収
塔が、従来の空気酸化方法に比べ、約1/10以下に小
型化することができる。(4)反 ゛応益への酸素錯体
濃度を精度よく容易に制御することができ、反応速度を
大きくとり、反応器を小型にすることができる。(5)
運転制御が容易となる、等の利点を有する。
1)生成化合物の酸素吸収器における飛散ロスがなく、
製品回収率が向上する。例えばMEKの場合、約0.2
%以上収率が向上する。この値は少ないようであるが、
長時間の運転では経済性には大きく影響する。(2)触
媒中のベンゾニトリル、スルホラン等の飛散ロスがなく
なり、補給が不要になる。例えば4万t1年間のMEK
生産設備では、初期充填触媒費用の約10%を年間、少
なくすることができる。(3)主要機器である酸素吸収
塔が、従来の空気酸化方法に比べ、約1/10以下に小
型化することができる。(4)反 ゛応益への酸素錯体
濃度を精度よく容易に制御することができ、反応速度を
大きくとり、反応器を小型にすることができる。(5)
運転制御が容易となる、等の利点を有する。
本発明においては、酸素吸収器を設ける代わりに、酸化
反応器に直接、酸素を供給する機構を設け、装置の小型
化および酸化反応器の効率化を図ることができる。
反応器に直接、酸素を供給する機構を設け、装置の小型
化および酸化反応器の効率化を図ることができる。
すなわち、第1図に示す装置においては、別設置されて
いる酸素吸収塔は、必要製品量を得るために理論上必要
な酸素を酸素吸収塔で全て錯体化する必要がある。従っ
て反応塔においては、反応の進行によって触媒液中の0
□/ Cuが塔の位置で大きく異なり、塔中で常に最適
Oz/Cuを保つことは困難である。
いる酸素吸収塔は、必要製品量を得るために理論上必要
な酸素を酸素吸収塔で全て錯体化する必要がある。従っ
て反応塔においては、反応の進行によって触媒液中の0
□/ Cuが塔の位置で大きく異なり、塔中で常に最適
Oz/Cuを保つことは困難である。
このため、本発明では、酸素吸収塔をなくし、酸化反応
器3へ酸素37を多段供給することにより、設備を簡略
化することができる。すなわち、第4図に示すように、
酸化反応塔3に酸素を多段供給することにより、全体と
して同量の酸素を供給するとしても、1段当たりの酸素
量を少なくすることができ、また酸素錯体の反応により
酸素濃度が最適値よりも低くなった時にもその場で′f
!i量の酸素を供給し、第7図の実線に示すように従来
方法(同図中の一点鎖線)と比べて、反応塔内で最適な
02/Cuの範囲を保持することが可能となる。なお、
図中、6は原料有機化合物、4は触媒分離塔、8は凝縮
器、9はリボイラ、19はポンプ、31は酸素ガスであ
る。このように酸化反名器への多段酸素供給方式を用い
ることにより、反応速度が大きく、しかも高収率で製品
を得ることが可能になる。
器3へ酸素37を多段供給することにより、設備を簡略
化することができる。すなわち、第4図に示すように、
酸化反応塔3に酸素を多段供給することにより、全体と
して同量の酸素を供給するとしても、1段当たりの酸素
量を少なくすることができ、また酸素錯体の反応により
酸素濃度が最適値よりも低くなった時にもその場で′f
!i量の酸素を供給し、第7図の実線に示すように従来
方法(同図中の一点鎖線)と比べて、反応塔内で最適な
02/Cuの範囲を保持することが可能となる。なお、
図中、6は原料有機化合物、4は触媒分離塔、8は凝縮
器、9はリボイラ、19はポンプ、31は酸素ガスであ
る。このように酸化反名器への多段酸素供給方式を用い
ることにより、反応速度が大きく、しかも高収率で製品
を得ることが可能になる。
酸化反応塔への酸素(純酸素または高濃度酸素)の多段
供給に当たっては、反応塔の各部における酸化反応速度
がなるべく大きくなるように、または酸素錯体濃度が好
適範囲になるように、その供給量を制御することができ
る。
供給に当たっては、反応塔の各部における酸化反応速度
がなるべく大きくなるように、または酸素錯体濃度が好
適範囲になるように、その供給量を制御することができ
る。
上記実施例によれば、(1)酸素吸収塔を省略すること
ができ、設備コストを大幅に低減できる。
ができ、設備コストを大幅に低減できる。
(2)製品を高収率にて得ることができ、原料および酸
素供給量を節約することができる。(3)酸化反応速度
を大きくすることができ、酸化合成塔を小さくすること
ができる。(4)残存未反応酸素を低減でき、副生成物
の低減および触媒の劣化を防ぐことができる、等の利点
を有する。
素供給量を節約することができる。(3)酸化反応速度
を大きくすることができ、酸化合成塔を小さくすること
ができる。(4)残存未反応酸素を低減でき、副生成物
の低減および触媒の劣化を防ぐことができる、等の利点
を有する。
第8図は11本発明において、反応熱を吸収するために
、酸化反応装置を多塔に構成し、各塔毎に冷却装置を設
けた一実施例を示すMEK合成装置のフローシートであ
る。
、酸化反応装置を多塔に構成し、各塔毎に冷却装置を設
けた一実施例を示すMEK合成装置のフローシートであ
る。
MEK合成に用いる触媒成分としては、酸素錯体を形成
しiBる遷移全屈錯体として、塩化第一銅(Cu (1
)Cjりとリン酸の誘導体であるヘキサメチルホスホル
アミド(以下、h m p aと記す)との錯体Cu
(1)C1−hmp a、およびブテン(C4[−1e
)錯体を形成し得る遷移全屈錯体として塩化パラジウ
ム(Pd (2)CJ2) 、ベンゾニトリル(以下p
hcnと記す)およびh m paからなる錯体Pd
(2)C12−phcn−hmpaが使用される。
しiBる遷移全屈錯体として、塩化第一銅(Cu (1
)Cjりとリン酸の誘導体であるヘキサメチルホスホル
アミド(以下、h m p aと記す)との錯体Cu
(1)C1−hmp a、およびブテン(C4[−1e
)錯体を形成し得る遷移全屈錯体として塩化パラジウ
ム(Pd (2)CJ2) 、ベンゾニトリル(以下p
hcnと記す)およびh m paからなる錯体Pd
(2)C12−phcn−hmpaが使用される。
MEK合成塔45.47.48は多塔に設置され、それ
ぞれの塔の間に冷却器46が設置され、MEKを段階的
に冷却しながら生成させる(例えば第1合−塔45で全
反応の50%、第2合成塔47で30%、第3合成塔4
8で20%)。MEK 合成塔45.47、および48
としては攪拌式反応装置が用いられる。
ぞれの塔の間に冷却器46が設置され、MEKを段階的
に冷却しながら生成させる(例えば第1合−塔45で全
反応の50%、第2合成塔47で30%、第3合成塔4
8で20%)。MEK 合成塔45.47、および48
としては攪拌式反応装置が用いられる。
1−ブテンおよび2−ブテンを含むC4留分l 、は
液体の状態(40′Cの場合、約5atm以上)で第1
MEK合成塔45に導入され、即座にPd(2)C12
・phcn−hmpaに吸収され、ブテン錯体を形成す
る。
液体の状態(40′Cの場合、約5atm以上)で第1
MEK合成塔45に導入され、即座にPd(2)C12
・phcn−hmpaに吸収され、ブテン錯体を形成す
る。
c4H。
+pa (2)C12・phcn −hmpa−=Pd
(2) C1z ・phcn−C4H1B+ h m
p a MEK合成塔において、ブテン錯体は触媒液中の水より
次式のように酸化され、MEK (Cz HsCOCH
3)が合成される。このとき、ブテンの酸化反応は液−
液状態で行なわれる。
(2) C1z ・phcn−C4H1B+ h m
p a MEK合成塔において、ブテン錯体は触媒液中の水より
次式のように酸化され、MEK (Cz HsCOCH
3)が合成される。このとき、ブテンの酸化反応は液−
液状態で行なわれる。
Pd (2)C1z ・phcn−c4H6+H2O−
C2Hs C0CHコ +Pd (0) ↓+2H
Cjl+phcn また、ここで沈澱する全屈パラジウム(Pd(0))は
、酸素吸収塔43にて生成された酸素錯体により酸化さ
れ、再生される。
C2Hs C0CHコ +Pd (0) ↓+2H
Cjl+phcn また、ここで沈澱する全屈パラジウム(Pd(0))は
、酸素吸収塔43にて生成された酸素錯体により酸化さ
れ、再生される。
Pd (0)+’A (CuCj! Hhmpa) 2
・0゜+2HCIl+phcn+hmpa −Pd (2)C12・phcn−hmpa+Cu (
1) C1−hmp a +H20生成されたMEKは
、触媒液と共に脱離塔49、未反応のC4留分、 水および若干量の副生成物が触媒液との沸点差により蒸
発、分離され、精留塔51以下の精留系へ送られ、一方
、触媒液は塔底から酸素吸収塔43へ再循環される。
・0゜+2HCIl+phcn+hmpa −Pd (2)C12・phcn−hmpa+Cu (
1) C1−hmp a +H20生成されたMEKは
、触媒液と共に脱離塔49、未反応のC4留分、 水および若干量の副生成物が触媒液との沸点差により蒸
発、分離され、精留塔51以下の精留系へ送られ、一方
、触媒液は塔底から酸素吸収塔43へ再循環される。
酸素吸収塔43に再循環された触媒液は、下記に示す反
応により再生され、酸素錯体を生成する。
応により再生され、酸素錯体を生成する。
Cu (1)CI ・hmp a +!/1oz−’A
(Cu (1) C’J) 202会jar:貰:=
::コ;:ご二=: 利用して分離され(55は水、56はブテン、プまた共
沸混合物となるMEKと水については、第2MEK精製
塔52の中段から抽出され、分離器54で第3成分の添
加により水が分離され、最終的に第3 、M E K
精製塔53において、第3成分を蒸発、分離した後、塔
底から製品MEK58が取出される。
(Cu (1) C’J) 202会jar:貰:=
::コ;:ご二=: 利用して分離され(55は水、56はブテン、プまた共
沸混合物となるMEKと水については、第2MEK精製
塔52の中段から抽出され、分離器54で第3成分の添
加により水が分離され、最終的に第3 、M E K
精製塔53において、第3成分を蒸発、分離した後、塔
底から製品MEK58が取出される。
上記実施例によれば、ブテンをブテン錯体として液−液
状態で反応させることにより、ブテンを気体で導入する
気−液反応と比べ、反応器容積当たりの接触時間を大き
くとることができる。すなわち、気−液反応塔と比べ本
発明による液−液反応装置においては、MEK合成塔を
小さくすることができる。また、ブテンの酸化反応は発
熱反応であり、このためMEK合成塔を冷却する必要が
あるが、本発明においては、MEK合成塔を多段にに設
置し、各合成塔に冷却器6を設け、循環触媒液を一定温
度に冷却することにより、冷却水量の低減および触媒液
の温度上昇による劣化を防止することができる。
状態で反応させることにより、ブテンを気体で導入する
気−液反応と比べ、反応器容積当たりの接触時間を大き
くとることができる。すなわち、気−液反応塔と比べ本
発明による液−液反応装置においては、MEK合成塔を
小さくすることができる。また、ブテンの酸化反応は発
熱反応であり、このためMEK合成塔を冷却する必要が
あるが、本発明においては、MEK合成塔を多段にに設
置し、各合成塔に冷却器6を設け、循環触媒液を一定温
度に冷却することにより、冷却水量の低減および触媒液
の温度上昇による劣化を防止することができる。
本発明の他の実施例としては、中間に冷却器を取りつけ
た数基のMEK塔を設置する代わりに、第9図に示すよ
うにMEK合成塔63を1塔とし、塔中の液を多段に設
けられた冷却器65に循環して冷却することにより、温
度上昇を防ぐことも可能である。図中、41はC4留分
、62は酸素吸収触媒液、64はMEKと触媒液との混
合液である。
た数基のMEK塔を設置する代わりに、第9図に示すよ
うにMEK合成塔63を1塔とし、塔中の液を多段に設
けられた冷却器65に循環して冷却することにより、温
度上昇を防ぐことも可能である。図中、41はC4留分
、62は酸素吸収触媒液、64はMEKと触媒液との混
合液である。
上記実施例によれば、(1)n−ブテン(1−ブテンお
よび2−ブテン)からMEKを低温、低圧で、さらに効
率的に生成することができる。
よび2−ブテン)からMEKを低温、低圧で、さらに効
率的に生成することができる。
(2)反応工程も少な(、単純化でき、さらに装置もコ
ンパクト化され、装置コストを大幅に低減することがで
きる。
ンパクト化され、装置コストを大幅に低減することがで
きる。
本反応装置は、実施例に説明したMEK合成のみならず
、エチレンの酸化によるアセトアルデヒド合成、アセト
アニリドの酸化による酢酸合成、プロピレンの酸化によ
るアセトンの合成に使用することができ、同様の効果を
発揮する。
、エチレンの酸化によるアセトアルデヒド合成、アセト
アニリドの酸化による酢酸合成、プロピレンの酸化によ
るアセトンの合成に使用することができ、同様の効果を
発揮する。
(発明の効果)
本発明によれば、酸素錯体を用いて気質有機化合物を酸
化して新たな含酸素有機化合物を合成する装置において
、酸素錯体を好適酸素濃度下に制御し、または酸素を反
応塔に直接供給することにより、高収率で含酸素有機化
合物を合成することができ、また酸化反応塔を複数また
は多段に構成し、それぞれ冷却手段を設けることにより
、反応熱を吸収し、触媒の劣化を防止することができる
。
化して新たな含酸素有機化合物を合成する装置において
、酸素錯体を好適酸素濃度下に制御し、または酸素を反
応塔に直接供給することにより、高収率で含酸素有機化
合物を合成することができ、また酸化反応塔を複数また
は多段に構成し、それぞれ冷却手段を設けることにより
、反応熱を吸収し、触媒の劣化を防止することができる
。
第1図は、本発明の有機化合物合成装置の一実施例を示
す装置系統図、第2図は、触媒溶液中の酸素濃度とME
K生成速度との関係を示す図、第3図は、酸素分圧と酸
素吸収速度との関係を示す図、第4図は、酸素錯体の生
成と有機化合物の合成を一塔内で行なう本発明の有機化
合物合成装置の一実施例を示す装置系統図、第5図は、
反応開始時の酸素錯体濃度とMEK収率との関係を示す
図、第6図は、酸素錯体濃度とMEK生成反応速度との
関係を示す図、第7図は、第4図の反応装置を用いた場
合の反応時間と酸素錯体濃度との関係を示す図、第8図
は、本発明によるMEK合成装置の一実施例を示す装置
系統図、第9図は、本発明によるMEK合成塔の一実施
例を示す説明図、第10図は、酸素S1↑体を生成する
ための酸素源として空気を用いた有機化合物合成装置の
装置系統図、第11図は、従来のMEK合成装五装置例
を示す装置系統図である。 2・・・酸素吸収器、3・・・酸化反応器、4・・・触
媒分離塔、7・・・冷却コイル、8・・・凝縮器、9・
・・リボイラー、10・・・循環触媒液、11・・・酸
素錯体触媒液、12・・・反応錯体触媒液、13・・・
流量調整弁、14バイパスライン、16・・・酸素濃度
制?Ju機、17・・・圧力;I++J 1ritr機
、I8・・・温度制御機。 イし埋入 弁理士 川 北 武 長 第1図 9.リボイラー 第3図 02分圧(atm) 第4図 第5図 駁ナー揮膚友(02/CU) 第6図 第7図 第10図 8:;疑廂s16:鍼乗漢度榊j便代 9: リボイラー
す装置系統図、第2図は、触媒溶液中の酸素濃度とME
K生成速度との関係を示す図、第3図は、酸素分圧と酸
素吸収速度との関係を示す図、第4図は、酸素錯体の生
成と有機化合物の合成を一塔内で行なう本発明の有機化
合物合成装置の一実施例を示す装置系統図、第5図は、
反応開始時の酸素錯体濃度とMEK収率との関係を示す
図、第6図は、酸素錯体濃度とMEK生成反応速度との
関係を示す図、第7図は、第4図の反応装置を用いた場
合の反応時間と酸素錯体濃度との関係を示す図、第8図
は、本発明によるMEK合成装置の一実施例を示す装置
系統図、第9図は、本発明によるMEK合成塔の一実施
例を示す説明図、第10図は、酸素S1↑体を生成する
ための酸素源として空気を用いた有機化合物合成装置の
装置系統図、第11図は、従来のMEK合成装五装置例
を示す装置系統図である。 2・・・酸素吸収器、3・・・酸化反応器、4・・・触
媒分離塔、7・・・冷却コイル、8・・・凝縮器、9・
・・リボイラー、10・・・循環触媒液、11・・・酸
素錯体触媒液、12・・・反応錯体触媒液、13・・・
流量調整弁、14バイパスライン、16・・・酸素濃度
制?Ju機、17・・・圧力;I++J 1ritr機
、I8・・・温度制御機。 イし埋入 弁理士 川 北 武 長 第1図 9.リボイラー 第3図 02分圧(atm) 第4図 第5図 駁ナー揮膚友(02/CU) 第6図 第7図 第10図 8:;疑廂s16:鍼乗漢度榊j便代 9: リボイラー
Claims (7)
- (1)遷移金属化合物と有機リン化合物からなる錯体化
合物に酸素を通気して酸素錯体となす酸素吸収塔と、こ
の酸素錯体により原料有機化合物を酸化し、新たな有機
化合物を得る酸化反応塔とを有する有機化合物合成装置
において、前記酸化反応塔に導入される酸素錯体濃度を
検出し、該酸化反応に好適な酸素錯体濃度となるように
、該反応塔における酸素錯体の供給量を制御する手段を
設けたことを特徴とする有機化合物の合成装置。 - (2)特許請求の範囲第1項において、酸化反応塔を多
段または多塔に構成し、これらの間に冷却手段を設けて
反応熱を吸収するようにしたことを特徴とする有機化合
物合成装置。 - (3)遷移金属化合物と有機リン化合物からなる錯体化
合物に酸素を通気して酸素錯体となし、該酸素錯体によ
り原料有機化合物を酸化し、新たな有機化合物を得る有
機化合物合成装置において、前記酸素錯体の生成と該酸
素錯体による原料有機化合物の酸化反応を同一塔内で行
なうようにしたことを特徴とする有機化合物合成装置。 - (4)特許請求の範囲第3項において、酸素の供給を多
段で行なうことを特徴とする有機化合物合成装置。 - (5)特許請求の範囲第3項または第4項において、反
応塔内の酸素錯体濃度が好適範囲になるように、各段に
供給される酸素量を制御する手段を設けたことを特徴と
する有機化合物合成装置。 - (6)遷移金属化合物と有機リン化合物からなる錯体化
合物に酸素を供給して酸素錯体となす酸素吸収塔と、該
酸素錯体により原料有機化合物を酸化し、新な有機化合
物を得る酸化反応塔とを有する有機化合物合成装置にお
いて、前記酸化反応塔を多段または多塔に構成し、各段
または各塔に冷却手段を設けたことを特徴とする有機化
合物合成装置。 - (7)特許請求の範囲第6項において、酸化反応塔に導
入される酸素錯体濃度を検出し、該酸化反応に好適な酸
素錯体濃度となるように、該反応塔における酸素錯体の
供給量を制御する手段を設けたことを特徴とする有機化
合物合成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17307784A JPS6150927A (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 有機化合物合成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17307784A JPS6150927A (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 有機化合物合成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6150927A true JPS6150927A (ja) | 1986-03-13 |
Family
ID=15953778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17307784A Pending JPS6150927A (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 有機化合物合成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6150927A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6235244B1 (en) | 1998-12-14 | 2001-05-22 | Matrix Technologies Corp. | Uniformly expandable multi-channel pipettor |
WO2002081422A1 (de) * | 2001-04-09 | 2002-10-17 | Basf Aktiengesellschaft | Verfahren und vorrichtung zur zweistufigen herstellung von acrylsäure |
JP2013188741A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-09-26 | Hokkaido Univ | フロー型触媒反応装置 |
-
1984
- 1984-08-20 JP JP17307784A patent/JPS6150927A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6235244B1 (en) | 1998-12-14 | 2001-05-22 | Matrix Technologies Corp. | Uniformly expandable multi-channel pipettor |
WO2002081422A1 (de) * | 2001-04-09 | 2002-10-17 | Basf Aktiengesellschaft | Verfahren und vorrichtung zur zweistufigen herstellung von acrylsäure |
US7115775B2 (en) | 2001-04-09 | 2006-10-03 | Basf Aktiengesellschaft | Method and device for the two-step production of acrylic acid |
JP2013188741A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-09-26 | Hokkaido Univ | フロー型触媒反応装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4094737B2 (ja) | 酢酸からのアセトアルデヒドの製造方法およびこの製造方法に用いる触媒 | |
US4777287A (en) | Recycle of vaporized solvent in liquid phase oxidation of an alkyl aromatic | |
JPS6041056B2 (ja) | シクロヘキサンの酸化法 | |
US10035740B2 (en) | Multi-stage oxidative dehydrogenation process with inter-stage cooling | |
JPS6351353A (ja) | アクロレインへのプロピレン酸化反応およびアクリル酸へのアクロレイン酸化反応に対する無水稀釈剤法 | |
US5300684A (en) | Process for the fluidized bed oxidation of ethane to acetic acid | |
JP4746254B2 (ja) | プロピレンのヒドロホルミル化生成物ならびにアクリル酸および/またはアクロレインの製造法 | |
TWI606037B (zh) | 增加生產速率之醋酸製程 | |
CN111939915A (zh) | 由丙醛一步合成丙酸丙酯用催化剂及其方法 | |
PL178142B1 (pl) | Sposób wytwarzania wodoronadtlenku cykloheksylu oraz sposób rozpoczynania niekatalizowanego procesu utleniania cykloheksanu w procesie wytwarzania wodoronadtlenku cykloheksylu | |
US5278319A (en) | Process for the production of hydrocarbon partial oxidation products | |
EP1971566A1 (en) | A process for preparing high purity terephthalic acid | |
JPS6150927A (ja) | 有機化合物合成装置 | |
CN106999844B (zh) | 从含烃气体混合物中除去氧气 | |
EP2493840B1 (en) | Process for producing allyl acetate | |
US5534648A (en) | Process for continuously producing dimethyl carbonate | |
US8148570B2 (en) | Process for preparing vinyl acetate with utilization of the heat of reaction | |
JPH0257528B2 (ja) | ||
JP4134777B2 (ja) | 亜硝酸エステルの製法 | |
JPS59106441A (ja) | 脂肪族第3アミンの製造方法 | |
WO2013083513A1 (en) | Process for the production of a mixture comprising cyclohexanol and cyclohexanone | |
EP0155097A2 (en) | Process for producing methyl ethyl ketone | |
JPS6143131A (ja) | メチルエチルケトンの製造法 | |
JPS60233024A (ja) | 第3級ブチルアルコ−ルの製造方法 | |
EP4122908A1 (en) | Method for preparing isopropyl alcohol |