JPS61500261A - フッ素陰イオン導電性ガラス - Google Patents

フッ素陰イオン導電性ガラス

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JPS61500261A
JPS61500261A JP58503823A JP50382383A JPS61500261A JP S61500261 A JPS61500261 A JP S61500261A JP 58503823 A JP58503823 A JP 58503823A JP 50382383 A JP50382383 A JP 50382383A JP S61500261 A JPS61500261 A JP S61500261A
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バクラドゼ ゲオルギイ バレルヤノビチ
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インステイテユト キベルネテイキ アカデミイ ナウク グルジンスコイ エスエスエ−ル
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/14Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 フッ素陰イオン導電性ガラス 詳しく述べるとフッ素陰イオン導電性(anionicconductivit y for fluorine )ガラスに係る。
(従来技術の説明〕 電流輸送プロセスにおいて陰イオン、とシわけフッ素イオンの本質的なそして場 合によっては優先的な関与によって特徴づけられる従来開発されたハロゲン化物 含有ガラスの大部分はガラス形成剤として無水リン酸(P2O5)を含む。それ らの基本的な不利は例えばガラス状炭素から作成した特別の坩堝を用いる必要お よびガラス状炭素坩堝で溶解する場合厳しく制御された溶解雰囲気、例えば、0 .003%よシ多くない酸素含分の乾燥アルゴン雰囲気の創出の必要性と結びつ いたガラス形成処理条件の複雑さにある。溶解処理は白金坩堝でも実施し得るが 、この坩堝は2〜5回の溶解サイクルの後破壊する。
ガラス形成剤として酸化物5102およびB2O3を含む系でハロゲン化物含有 ガラスを製造することはいくらか容易でるる。こうして、ケイ酸ナトリウム−ホ ウ素およびホウ酸ナトリウムへロダン化物含有ガラスの合成は窒素雰囲気(ゲー ジ圧0.3〜O15気圧)の透明石英坩堝および白金容器のそれぞれを使用する 必要がある。しかしながらこれらの系ではアルカリイオンの存在およびハロゲン イオンの高い揮゛発性のために優先的な陰イオン導電性を保証することは不可能 である。
ガラス形成酸化物として5i02を含みアルカリを含まない鉛含有ガラスが従来 知られておシ、フッ素陰イオン導電性を示す。
しかしながらこの組成物は高い熱膨張率の値(約200×10−7℃−1)を有 し、そのことが溶融物の固化の際に物品にクラックが発生する可能性が高いため にガラスの製造を阻害する。
最後にPbO,Fおよびガラス形成剤としての5i02を含むフッ素陰イオン導 電性を有するガラス組成物が従来知られている。これらの組成物はガラス製造工 業において慣用の方法に従ってコランダム坩堝で溶解する。
この組成物は次の成分組成〔質量%〕を有する0pbo ’ so、oo〜81 .02 F O,76〜 6.15 Si02 19.24〜12.83 これらは良好な溶解特性(溶解温度750〜850℃ンを有しかつそれらは15 0X10−7℃−1を超えないツクが発生しない。しかしながら、これらのタイ プのガラスの体積抵抗率が二指変化すると同時に熱膨張係数の40×10−7℃ −1変化を生じ、したがってそれらの焼結の結果として適合した接合(junc tion )の製造を不可能にし、それがとシわけ焼結ガラスブロックを有する 電気信号デバイダの製造を阻害する。
(発明の開示〕 本発明は、体積抵抗率が二指変化しても熱膨張係数の差が5X10−7℃−1よ シ大きくないことを保証するような組成を有する、フッ素陰イオン導電性ガラス を提供することに向けられている。
本発明のこの目的は、PbO1Fおよびガラス形成剤を含むフッ素陰イオン導電 性を有するガラスにおいて、ガラス形成剤として酸化ホウ素(B2O5)を下記 の成分組成(質量%〕で用いることによって達成される。
PbO86,0〜87.0 F 3.5〜0.5 8205 10.5〜12.5 本発明による組成物の利点は体積抵抗率が二指変化した場合に熱膨張係数の変化 が5X10−7℃−1よシ大きくないことにある。
(好ましい態様〕 本発明によるフッ素陰イオン導電性を有する組成物は、体積電気抵抗率が二指変 化した場合に一定の熱膨張率の値(5X10””℃−1の範囲内〕を示すことを 特徴とし、質量%で下記の成分を含む。
PbO86,0〜87.0 F 3.5〜0.5 820310.5〜12.5 成分の含有量が上記の限界から外れるとガラスの熱膨張率の相違が5XIQ−7 ℃−1を超えてしまう。
このガラスはガラス製造工業に於いて慣用の手法によって製造する。
本発明をさらに良く理解するためにその態様を示すいくつかの例を以下に説明す る。
例1 フッ素陰イオン導電性を有するガラスは下記組成(質量%)を有する。
PbO87,0 FO15 B203 12.5 このガラスは次のような仕方で製造する。
上記出発成分からバッチを用意し、コランダム坩堝に入れた。溶解);j700 Cの温度で行った。溶融ガラスを金型に流し込み、マツフル炉で・45分間25 0℃の温度で熱処理し、次いでガラスを室温まで冷却した。このガラスの特性は 後出の表に示す。
例2 フッ素陰イオン導電性を有するガラスは次の組成(質量%〕を有する。
Pb0 、 86.5 F2.l 8203 11.4 このガラスは前の例1に記載したのと同様の手順にしたがって調製するが、溶解 温度は670℃である。このガラスの特性は後出の表に示す。
例3 フッ素陰イオン導電性を有するガラスは次の組成〔質量%〕を有する。
PbO86,0 F3.5 B203 10.5 このガラスは例1および例2に記載したのと類似の仕方で製造したが、溶解温度 は650℃でらった。
このガラスの特性は下記表に示す。
上記の例で製造したガラスの特性は、一般的に受けいられている手順に従って実 施した測定に基づくものを、下記表に示す。
例 熱膨張係数 100℃に於ける体積抵抗草屋 αXIOn−ρv100℃、 オーム’m1 134 8.5X10” 2 134 7、lX1010 3 139 5.6X109 全ての例で製造したガラスは体積膨張率が二指変化した場合に一定の熱膨張係数 値(sxlo−’℃−1の範囲内〕を示す。
(産業上の利用分野〕 フッ素陰イオン導電性を有するガラスは電気信号のデバイダ、電気的真空装置の 製造における接合、工業用電気絶縁材、および光学の用途に用いることができる 。
国際調査報告

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.酸化鉛(PbO)、フッ素(F)およびガラス形成剤を含んでなるフッ素陰 イオン導電性ガラスにおいて、ガラス形成剤として下記の成分組成(質量%)て 酸化ホウ素(B2O3)を用いることを特徴とするフッ素陰イオン導電性ガラス 。 pbO    86.0〜87.0 F3     5〜0.5 B2O3   10.5〜12.5
JP58503823A 1983-10-31 1983-10-31 フッ素陰イオン導電性ガラス Granted JPS61500261A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/SU1983/000040 WO1985001934A1 (en) 1983-10-31 1983-10-31 Glass having anion-type conductivity through fluorine

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JPS61500261A true JPS61500261A (ja) 1986-02-20
JPH0355424B2 JPH0355424B2 (ja) 1991-08-23

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US (1) US4649126A (ja)
JP (1) JPS61500261A (ja)
AU (1) AU563892B2 (ja)
BR (1) BR8307759A (ja)
DE (1) DE3390544T1 (ja)
FI (1) FI75557C (ja)
GB (1) GB2158821B (ja)
NL (1) NL8320367A (ja)
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