JPS6146501A - 位置決め方法及びその装置 - Google Patents

位置決め方法及びその装置

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JPS6146501A
JPS6146501A JP16787384A JP16787384A JPS6146501A JP S6146501 A JPS6146501 A JP S6146501A JP 16787384 A JP16787384 A JP 16787384A JP 16787384 A JP16787384 A JP 16787384A JP S6146501 A JPS6146501 A JP S6146501A
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JP
Japan
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saddle
positioning
program control
origin
moving
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JP16787384A
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Inventor
Susumu Takezawa
竹沢 享
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Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
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Publication date
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/401Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
    • G05B19/4015Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes going to a reference at the beginning of machine cycle, e.g. for calibration

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
  • Numerical Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本願の発明は、半導体ウェハーのダイシング加工、スラ
イシング加工、a気ヘッドの溝入れ加工等に用いられる
グイサー、スライサー、或は半導体ウェハーの研削加工
に用いられるグラインダー等の精密加工装置におけ、る
テーブル、サドル、工具等の移動部材の位置決め方法及
びその装置に関する。
詳細にば、前記精密加工装置がプログラム制御によって
操作されるものであっ−て、前記移動部材の加工位置の
割出し位置決め、切削送シ、切込送シ等の作動を行う際
に、前記移動部材を位置決め操作する位置決めプログラ
ム制御を開始する時点での移動部材の位置を高精度の繰
返し精度で設定し、かつ移動部材の位置決めを高精度の
繰返し精度で行い得る、テーブル、サドル、工具等の位
置決め方法及びその装置に関する。
(従来の技術) グイサー、スライサー、或はグラインダー等の精密加工
装置がプログラム制御によって操作されるものであって
、テーブル、サドル、工具等の移動部材の加工位置の割
出し位置決め、切削送シ。
切込送シ等の作動を行う際に、前記移動部材を位置決め
操作する位置決めプログラム制御を移動部材の原点位置
で開始するようにした位置決め技術が公知である。
前記位置決め技術は、位置決めプログラム制御を終了す
る毎に、移動部材を原点位置に復帰させ、次の位置決め
プログラム制御を移動部材が復帰停止している原点位置
で開始するようにしたものである。この様にすることに
よって1位置決めプロし、異積誤差を防止し得るもので
ある。しかしながら、移動部材が復帰停止する位置は、
移動部材の駆動装置或は機械の剛性等に基く誤差によっ
て、原点位置から偏倚しており、しかも、復帰毎に前記
誤差が変動するため、原点位置からの偏倚が一定してい
ない。従って、位置決めプログラム制御を開始する時点
における移動部材の位置は、原点位置ではなく、原点位
置から偏倚した停止位置となυ、高精度の繰返し精度で
設定し難い。更に、その結果2位置決めプログラム制御
によって移動部材の位置決めを高精度の繰返し精度で行
い鍾いという問題点があった。
例えば、複数の溝を平行に加工する際に、撫加工材を載
置するテーブルを具備したサドルの割出し位置決めを行
う精密加工装置において説明す名。
前記精密加工装置は、サドルと、該サドルを移動スるD
Cサーボモータとボールネジとを具備する駆動装置と、
該駆動装置をプログラム制御する0、1μmの高分解能
を有するインクリメンタル方式のリニヤスケールを具備
するクローズトループフィードバックサーボ系を組み込
んだプログラム。
制御装置と、原点位置に設置され、サドルが復帰しサド
ルが到達することによってD’0サーボモータを停止す
る信号を発生する繰返し精度0.1μm以下の原点検知
器とを具備して成るものである。
前記精密加工装置におけるサドルの割出し位置決めは、
次のように行われる。
始動スイッチをオンすると、プログラム制御装置によっ
てDCサーボモータが駆動を開始し1サドルが停止位置
から移動を開始する。同時に、クローズトループフィー
ドバックサーボ系が作動を開始する。即ち、サドルの移
動量を直接計測し、該計測値をフィードバックしてDC
サーボモータの駆動を制御するりニヤスケールは、前回
の割出し位置決め作動における計測値が解消されると共
に、新しく計測開始状態に設定される。
以降、サドルは、リニヤスケールによる計測値をフィー
ドバック量とするプログラム制御によって、移動動作と
停止動作とを繰返しながら、加工すべき被加工材の溝に
対応して順次割出し位置決めされる。前記所定の割出し
位置決めが完了するとサドルは原点位置に復帰し、サド
ルが原点検知器に到達すると原点検知器から発生される
停止信号によってDoササ−ボモータが停止される。D
Cサーボモーメが停止されるとサドルも停止されるが、
サドルが停止する時、制動誤差、ボールネジのバックラ
ッシュ等の駆動装置に基く誤差9機械の剛性に基く誤差
等が生じるため、サドルは原点検知器が設置された原点
位置よυ偏位した位置に停止する。
次に、新しい被加工材に溝加工する際、サドルの割出し
位置決めL前回と同様に行われるが、サ  ゛ドルが原
点位置に復帰し停止する位置は、前回の場合と必ず1も
一致するとは限らない。
以上において、サドルのプログラム制御による割出し位
置決めは、割出し位置決めを完了する毎にサドルが原点
位置に復帰し、プログラム制御開始時点にリニヤスケー
ルが新しく計測開始状態に設定されるので、リニヤスケ
ールに基〈計測WA差が累積されることを防止し得る。
しかしながら、クローズトループフィードバックサーボ
系の作動を開始する時点、即ちリニヤスケールを新しく
計測開始状態に設定する時点、におけるサドルの停止位
、置が、原点位置よシ偏倚した位置であう、シかも毎回
具った位置であるので、前記割出し位置決めを高精度の
繰返し精度で行い難いという問題点がある。即ち、サド
ルの停止位置が、原点検知器の繰返し精度が0.1μm
以下という高精度であるにも拘らず、原点位置から0.
005〜0.01mm偏倚するため、サドルの移動量を
直接計測、シ、該計測値をフィードバックしてDCサー
ボモータの駆動を制御するリニアスケールが0.1μm
の高分解能を有するものではあるが、サドルの割出し位
置決めを0.1μm程度の繰返し精度で行い得ないとい
う問題点があった。
(発明の目的) 本願の発明の目的は、前記従来の問題点を解消すべく、
プログラム制御によって位置決めする技術において、移
動部材を位置決め操作する位置決めプログラム制御を開
始する時点での移動部材の位置を、制動誤差、送シネジ
のバックラッシュ等の移動部材の駆動装置に基く誤差或
は機械の剛性に基く誤差等によシ原点位置から偏倚して
いる移動部材の停止位置の影響を受けないように、高精
度の繰返し精度で設定すると共に、位置決めプログラム
制御による移動部材の位置決めを高精度の繰返し精度で
行い得る位置決め方法及びその装置を提供することにあ
る。
(発明の構成) 本願の発明は、前記目的を達成すべく、移動部材を、第
1原点位置から移動し、位置決めプログラム制御によっ
て位置決めを完了した後、第1原点位置に復帰し停止す
るようにプログラム制御によって位置決めする技術にお
いて、移動部材が第1原点位置から移動を開始した後、
移動部材の移動方向前方、即ち位置決めプログラム制御
により移動部材の位置決めを行う領域、に向って移動す
る時に通過する特定の位置、即ち第2原点位置、に到達
した時点で位置決めプログラム制御を開始するようにし
たことを特徴とする位置決め方法及びその装置であって
、位置決めプログラム制御を開始する時点における移動
部材の位置は、移動部材の停止位置及び第1原点位置と
無関係に特定されると共に、移動部材が実際に到達する
位置であ 。
ることがら駆動装置或は機械等に基く誤差の影響を受け
ることなく特定されるので、高精度の繰返し精にで設定
され得る。しかも、位置決めプログラム制御による移動
部材の位置決めは、移動部材を第1原点位置から移動を
開始させると共に、位置決めプログラム制御を開始する
時点の移動部材の位置が第2原点位置に特定されるので
、高精度の繰返し精度で行い得る。
即ち、本願の第1の発明の構成は、移動部材を。
第1原点位置から移動し、位置決めプログラム制御によ
る位置決めを完了した後、第1原点位置に復帰し停止す
るようにプログラム制御する位、置決め方法において、
移動部材が第1原点位置から移動を開始した後、移動部
材の移動方向前方に向って移動する時に通過する第2原
点位置に到達した時点で位置決めプログラム制御を開始
するようにしたことを特徴とする位置決め方法である。
本願の第2の発明は、前記第1の発明を実施する装置に
関するものであって、その構成は、移動部材を、第1原
点位置から移動し、位置決めプログラム制御による位置
決めを完了した後、第1原点位置に復帰停止するよ5I
ICプログラム制御する位置決め装置において、移動部
材が到達することによって移動部材を停止する信号を発
生し、かつ移動部材が移動部材の移動方向後方に向って
移動する時に作動するようにプログラム制御される第1
原点検知手段を第1原点位置に設けると共に、移動部材
が到達することによって位置決めプログラム制御を開始
する信号を発生し、かつ移動部材が移動部材の移動方向
前方に向って移動する時に作動するようにプログラム制
御される第2の原点検知手段を第2原点位置に設けて成
ることを特徴とする位置決め装置である。
(実施例) 本願の発明を、本願の第2の発明の実施例によつて詳細
に説明する。
第1図は、本願の第2の発明の実施例の概略側面図、第
2図は、実施例の要部拡大斜視図で、サドルの割出し位
置決めのための構成を示す。第3図は、第2図の概略側
面図で、第1の原点検知器と第2の原点検知器との関連
配置を示す。
第1図により1本実施例の精密加工装置の全体構成を説
明する。
1は切削加工位置に応じてX矢印方向(以下Y軸方向或
はサドルの移動方向と称す)に割出し位置決めされるサ
ドル、2は、該サドル1上に載置され、被加工材Wに加
工される溝の長さに応じてX矢印方向(紙面に垂直な方
向であシ、以下X軸方向と称す)に切削送シされるテー
ブル、3は、被加工材Wに加工される溝の深さに応じて
2矢印方向(以下Z軸方向と称す)に切込み送シされる
回転砥石、4は、前記のサドル1.テーブル2及び回転
砥石3を夫々Y軸方向、X軸方向及びZ軸方向に作動す
るようにプログラム制御するプログラム制御装置である
。5は、DCサーボモータで原点検知器で第1原点位置
に設置され、サドル1が到達することによってサドル1
を停止する信号、即ちDCサーボモータ5を停止する信
号、を発生し、かつサドルlがサドル1の移動方向後方
、即ちX矢印方向における右方向、に向って移動する時
に作動するようにプログラム制御されている。7は、第
2の原点検知器で、第2原点位置に設置されサドル1が
到達することによって位置決めプログラム制御、即ちイ
ンクリメンタル方式のリニアスケール8を具備したクロ
ーズトループフィードバックサーボ系による制御(別途
後述する)、を開始する信号を発生し、かつサドル1が
サドル1の移動方向前方、即ちX矢印方向における左方
向、に向って移動する時に作動するようにプログラム制
御されている。8は、インクリメンタル方式のリニアス
ケールで、サドル1の移動量を直接計測し、該計測値を
フィードバック量としてDCサーボモータを制御するク
ローズトループフィードバックサーボ系を構成するもの
である。9は、サドル1の案内部材、10は、ベッドで
ある。
第2図により、サドル1をY軸方向に割出し位置決めす
るだめの構成を具体的に説明する。
DCサーボモータ5は、プログラム制御装置4によって
駆動され、ボールネジ51を介してサドルlをY軸方向
に移動する駆動装置である。第1の原点検知器6は、フ
ォトセンサーであシ、第1の取付板63を介してサドル
1に固定された遮光板61とベッドlOに固定された光
学検知部62とから収り、サドル1がサドル1の移動方
向後方、即ちX矢印方向における右方向、に向って移動
する時に、遮光板61が光学検知$62に到達すること
によってDCサーボモータを停止する信号を発生し、プ
ログラム制御装置4に伝達する。第2の原点検知器7は
、0.1μm以下の繰返し精度を有する磁気近接センサ
ーであって、第2の取付板73を介してサドル1に固定
された発磁体71とベラ)10に固定された磁気検知部
72とから成り、サドル1がサドル1の移動方向前方、
即ちX矢印方向における左方向、に向って移動する時に
、発磁体71が磁気検知部72に到達することによって
インクリメンタル方式のリニアスケール8を具備したク
ローズトループフィードバックサーボ系による制御を開
始する信号を発生し、プロゲラ・ム制御装置4に伝達す
る。インクリメンタル方式やリニアスケール8は、0.
1μmの高分解能を有するものであり、サドル1に固定
されたスケール部81とベッド10に固定された計測部
82とから成り、前記第2の原点検知器7からの信号に
よって、計測部82は、前回の割出し位置決め作動にお
ける計測値が解消されて新しく計測開始状態に設定され
る。又、計測部82の計測値をフィードバック量として
DCサーボモータ5を制御するクローズトループフィー
ドバックサーボ系を構成する。
第3図により、第1の原点検知器6と第2の原点検知器
7との関連配置を説明する。
サドル1上における第1の原点検知器6の遮光板61と
第2の原点検知器70発磁体71との間隔l、は、ベッ
ド10上における第1の原点検知器6の光学検知部62
と第2の原点検知器7の磁気検知部72との間隔!2よ
りも小さく設定されている。従って、遮光板61が光学
検知部62に到達し−サドルlが第1の原点検知器6の
位置に停止している状態において、図に示すように、発
磁体71は、光学検知部62と磁気検知部72との間に
臨むように位置している。
本実施例の精密加工装置において、被加工材に複数の溝
を平行に加工する場合を例として、サドル10割出し位
置決め方法及びその装置の作用を説明する。
始動スイッチ(図示せず)をオンすると、プログラム制
御装置4が作動を開始する。先ず、DC3サーボモータ
5が駆動し、ボールネジ51を介してサドル1がサドル
lの移動方向前方に極く低速でかつ定速で移動される。
サドル1が移動され、第2の原点検知器7の発磁体71
が磁気検知部72によって検知される位置、即ち第2原
点位置、に到達すると、磁気検知部72が発生する信号
によって、サドル1を割出し位置決め操作する位置決め
プログラム制御が開始する。即ち、クローズトループフ
ィードバック系を構成するリニアスケール8が作動を開
始し、その計測部82は、前回の割出し位置決め作動に
おける計測値が解消されて新しく計測開始状態に設定さ
れる。リニアスケール8は、その計測部82がスケール
部81を介してサドル1の移動量を計測し、その計測値
が所定量に達すると、DCサーボモータ5を停止し、被
加工材Wの第1番目の溝に対応した位置にサドル1を位
置決めする。しかる後、回転砥石3を溝の切込み深さに
応じて2軸方向に切込み送りし、テーブル2をX軸方向
に切削送りして、前記第1の溝を加工する。加工終了後
、回転砥石3を被加工材Wに接触し食い位置に上昇し、
テーブル2をX軸方向に後退させ元の位置に戻す。次に
D(3サーボモータ5が駆動されサドル1が移動される
。サドル1の移動量をリニヤスケール8によって前記と
同様に計測し、その計測値が所定量に達するとDCサー
ボモータ5を停止し、被加工材Wの第2番目の溝に対応
した位置にサドル1を位置決めする。前記第2番目の溝
は、前記第1番目の溝と同様に加工される。第3番目以
降の溝についても、前記第1番目の溝を加工する場合と
同様にプログラム制御によって順次行われる。
最後の溝の加工が終了すると、サドル1はプログラム制
御によりサドル1の移動方向後方に移動される。第1の
原点検知器6の遮光板61が光学検知部62に到達し検
知されると、DCサーボモータ5を停止する信号が発信
される。D(3サーボモータ5が停止されると、サドル
1は、第1の原点検知器6の遮光板61が光学検知部6
2が設置されている第1原点位置に位置するよう、停止
する。
次に、新しい被加工材Wをテーブル2に載置した後、始
動スイッチをオンすると、サドル1が極〈低速でかつ定
速で移動を開始する。第2の原点検知器70発磁体71
が磁気検知部72に到達し検知されると、リニアスケー
ル8が作動を開始し、割出し位置決めが行われ、以後、
プログラム制御によって、前記被加工材Wと同様に溝加
工が行われる。
以上において、サドル1に固定した第2の原点検知器7
の発磁体71が磁気検知部72に到達し検知される時点
、即ちサドル1が第2原点位置に到達した時点、におい
て、サドル1を割出し位置決めするクローズトループフ
ィートノくツクサーボ糸のリニアスケール8が作動を開
始するので、サドル1の割出し位置決めを開始する時点
にサドル1が到達する位置は、常に第2原点位置に特定
される。
従って、サドル1の割出し位置決めを開始する時点での
サドル1の位置は、ボールネジ51の〕くツクラッシュ
等の駆l装置に基く誤差或は機械の剛性に基〈誤差等の
影響を受けず、しかもサドル1の停止位置の影響を受け
ることなく、高精度の繰返し精度で設定し得る。又、そ
の結果、サドル1の割出し位置決めは、リニアスケール
を具備するクローズトループフィードバックサーボ系に
よって、高精度の繰返し精度で行い得る。
又、リニアスケール8は、第2の原点検知器7からの信
号によって、前回の割出し位置決め作動における計測値
が解消されて新しく計測開始状態に設定されるので、計
測誤差が累積されることなく作動される。
なお、本実施例において、第2の原点検知器7に0.1
μm以下の繰返し精度を有する磁気近接センサーを用い
、リニアスケールが0.1μmの高分解能を有するもの
であることから、サドル1の割出し位置決めは、0.1
μm程度の繰返し精度で行い得た。
又、第1の原点検知器6は、サドル1の停止位置を設定
し、プログラム制御装置4の作動を停止するものである
が、サドル1を割出し位置決めするリニアスケール8の
作動を開始すると共にその時点のサドル1の位置を特定
する第2の原点検知器7に比べて、高い繰返′し精度の
ものでなくてもよい。
更に、第1の原点検知器6の光学検知部62と第2の原
点検知器7の磁気検知部72との間隔12け、サドル1
0割出し位置決めの能率上3sw以下ましい。
本実施例において、サドル1の移動方向の後方に第1の
原点検知器6を、同じく前方に第2の原点検知器7を間
隔を置いて配置し、プログラム制御装置4が作動を開始
するとサドル1は第1の原点検知器6の位置、即ち第1
原点位置からサドル1の移動方向の前方に向って移動し
、第2の原点検知器7を極〈低速でかつ定速で通過し得
るように構成されているが、次の二変形例のように構成
してもよい。
第1変形例は、第1の原点検知器6と第2の原点検知器
7とをサドル1の移動方向に垂直な同一平面内に間隔を
置いて配置し、プログラム制御装置4が作動を開始する
と、サドル1は、第1の原点検知器6の位置からサドル
1の移動方向の後・方に向って少し移動した後、向きを
変えてサドル1の移動方向の前方に向って移動し、第2
の原点検知器7を極〈低速でかつ定速で通過し得るよう
に構成されたものである。
第2変形例は、サドル1の移動方向の前方に第1の原点
検知器6を、同じく後方に第2の原点検知器7を間隔を
置いて配置し、プログラム制御装置4が作動を開始する
とサドル1は、第1の原点検知器6め位置からサドル1
の移動方向の後方に向って移動し、第2の原点検知器7
を通過した後、向きを変えてサドル1の移動方向の前方
に向って移動し、第2の原点検知器7を極く低速でかつ
定速で通過し得るように構成されたものである。
前記両変形例のように構成することによって、被加工材
をテーブル上に着脱し易い位置に応じて、サドル1の停
止位置を自由に選択し得る。
なお、以上の実施例において、サドル1が第2の原点検
知器7を通過する速度は、前記検知器7の有する繰返し
精度に影響を与え力いようにするために、0.1〜10
mIZsecに設定されるが、0.3〜3wI/sec
に設定されることが好ましい。
又、各加工工程毎における前記速度のバラツキは、サド
ル1が第2の原点検知器7に到達した後、リニアスケー
ル8が計測を開始される状態に設定されるまでに要する
時間に基き生じるサドル1の第2の原点検知器7か♂偏
倚が、第2の原点検知器7の繰返し精度に影響を与えな
いようにするために、±30%以内に設定されるが、±
5%以内に設定されることが好ましい。
(発明の効果) 本願の発明は、位置決めプログラム制御を開始する時点
における移動部材の到達する位置が、移動部材が復帰停
止する第1原点位置とは別の位置、即ち第2原点位置に
設定されているので、従来のもののように、制動誤差、
送シネジのバックラッシュ等の移動部材の駆動装置に基
く誤差或は機械の剛性に基く誤差等により第1原点位置
から偏倚した移動部材の停止位置の影響を受けることな
く、前記移動部材の到達する位置を高精度の繰返し精度
で設定し得る。又、その結果、位置決めプログラム制御
による移動部材の位置決めを高精度の繰返し精度で行い
得る。
又、位置決めプログラム制御を開始する時点における移
動部材の到達する位置が、移動部材が第1原点位置から
移動を開始した後、移動部材が移動部材の移動方向前方
に移動している時に通過するようにプログラム制御され
ているので、機械上第1原点位置及び第2原点位置の配
置は自由に選択し得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本願の第2の発明の実施例の概略側面図、第
2図は第1図の要部拡大斜視図、第3図は第2図の概略
側面図である。 1・・・サドル、     2・・・テーブル。 3・・・回転砥石、    4・・・プログラム制御装
置。 5・・・D(3サーボモータ、6・・・第1の原点検知
器。 7・・・第2の原点検知器。 8・・・インクリメンタル方式のリニアスケール。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)移動部材を、第1原点位置から移動し、位置決め
    プログラム制御による位置決めを完了した後、第1原点
    位置に復帰し停止するようにプログラム制御する位置決
    め方法において、移動部材が第1原点位置から移動を開
    始した後、移動部材の移動方向前方に向つて移動する時
    に通過する第2原点位置に到達した時点で位置決めプロ
    グラム制御を開始するようにしたことを特徴とする位置
    決め方法。
  2. (2)移動部材を、第1原点位置から移動し、位置決め
    プログラム制御による位置決めを完了した後、第1原点
    位置に復帰し停止するようにプログラム制御する位置決
    め装置において、移動部材が到達することによつて移動
    部材を停止する信号を発生し、かつ移動部材が移動部材
    の移動方向後方に向つて移動する時に作動するようにプ
    ログラム制御される第1原点検知手段を第1原点位置に
    設けると共に、移動部材が到達することによつて位置決
    めプログラム制御を開始する信号を発生し、かつ移動部
    材が移動部材の移動方向前方に向つて移動する時に作動
    するようにプログラム制御される第2の原点検知手段を
    第2原点位置に設けて成ることを特徴とする位置決め装
    置。
JP16787384A 1984-08-13 1984-08-13 位置決め方法及びその装置 Pending JPS6146501A (ja)

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JP16787384A JPS6146501A (ja) 1984-08-13 1984-08-13 位置決め方法及びその装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5286863A (en) * 1991-08-22 1994-02-15 Ciba-Geigy Corporation Oxidation process for preparing quinacridone pigments

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US5286863A (en) * 1991-08-22 1994-02-15 Ciba-Geigy Corporation Oxidation process for preparing quinacridone pigments

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