JPS6146078A - 半導体圧力センサ−の製法 - Google Patents

半導体圧力センサ−の製法

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JPS6146078A
JPS6146078A JP16758884A JP16758884A JPS6146078A JP S6146078 A JPS6146078 A JP S6146078A JP 16758884 A JP16758884 A JP 16758884A JP 16758884 A JP16758884 A JP 16758884A JP S6146078 A JPS6146078 A JP S6146078A
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JP
Japan
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forming
diaphragm
layer
silicon nitride
pressure sensor
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Pending
Application number
JP16758884A
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English (en)
Inventor
Takashi Tawara
傑 田原
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Nippon Gakki Co Ltd
Original Assignee
Nippon Gakki Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/84Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体圧力センサーの製法に関し、特に、ダイ
ヤフラム型半導体圧力センサーの製法に関する。
[従来の技術とその問題点コ 圧力センサーの1種としてダイヤフラム型半導体圧力セ
ンサーが知られている。第2図は典型的なダイヤフラム
型半導体圧力センサーの一例を示す。感圧素子を構成す
る半導体基板、例えばN型シリコン基板21はその表面
に例えばP型拡散層からなる抵抗値の等しいゲージ抵抗
層(ピエゾ抵抗素子)を4つ備え、これらはホイートス
トーンブリッジを形成している。シリコン基板21の裏
面は薄肉化されてダイヤフラム22が形成されており、
導圧管23から圧が導入されるとダイヤフラム22が歪
むため、ゲージ抵抗の抵抗値が変化する。このとき、ブ
リッジに定電圧または定電流を印加してお番ブば加えら
れた圧力に応じてブリッジの不平If圧がセンサー出力
として検出される。
この種の圧力レンサーにおいては、感圧素子である半導
体基板21の肉厚部分が台座24にはんだ付けされる。
感圧素子21を台座24にはんだ付けるためには肉厚部
分の裏面をメタライズする金属層を設ける必要があるが
、従来の製法では、2r導体基板の裏面をエツチングし
てダイヤフラムを形成した後に所定部分のメタライズを
行っていた。この場合、ダイヤフラムを形成した半導体
基板の裏面に金属を蒸着し、裏面にフォトレジストを塗
布し、マスク合せ等を行って不要部の蒸着金属を除去す
るという特殊な操作が必要で、しかも製造ブ0セスが煩
雑であるため生産性が著しく低かった。
また、化学エツチング法により半導体基板をエツチング
してダイヤスラムを形成するには、エツチング液として
アルカリ(K OH’)水溶液が用いられているが、こ
のときのマスク材料としては二酸化シリコン(S i 
02 ) F+’Aと窒化シリコン(Si  N  あ
るいはSi XN、)膜が知られている。アルカリ中で
は窒化シリコンの方が酸化シリコンに比ベエツヂング速
度が格段に遅いのでマスク材料としては窒化シリコン膜
が1交れている。
しかし、従来、エツチングマスクとしての窒化シリコン
膜は高1ffl(800℃程度)において気相成長法に
より形成されていたため、シリコン等の半導体基板と窒
化シリコンとの熱膨張係数の差に起因する窒化シリコン
膜の残留応力が大きくなり、その結果、シリコン基板の
そりが大きくなって感圧素子としての特性が悪影響を受
けたり、窒化シリコン膜にクラックが生じ易いなどの難
点があった。そのため得られた窒化シリコン膜をそのま
まエツチングマスクとして使用するのは問題があった。
また、窒化シリコン膜にはピンホールが生ずるが、その
点でも上記の膜はそのままではエツチングマスクとして
は問題があった。エツチングマスクとしては問題があっ
た。
さらに、従来の製法では、感圧素子のメタライズした肉
厚部分を台座にはんだ付けするのにベレット状のはんだ
を用いて行っていたが、はんだ層が厚くなり易く、しか
もその厚さのバラツ片が大きいために得られる圧力セン
サーの温度特性が良好でないという欠点があった。
そこで本発明の目的は、ダイヤフラム型半導体圧力セン
サーの簡便な製法であって、感圧素子特性を損わず、か
つクラックのない窒化シリコン膜を形成でき、さらに該
窒化シリコン膜を特定全屈によりメタライズすることに
よりエツチングマスクとしても、感圧素子を台座へはん
だ付けする手段としても好適な金属層の線形酸を実現で
°ぎる方法を提供することにある。本発明の別の目的は
、薄くて均一な厚さを有するはんだ層を設けることがで
きるダイヤフラム型半導体圧力センサーの製法を提供す
ることにあり、それにより圧力センサーの温度特性を改
良することである。
[問題点を解決するための手段] 本発明によると、半導体基板の表面にゲージ抵抗層を形
成し、裏面をエツチングすることによりダイヤフラムを
形成する工程を有するダイヤフラム型半導体圧力センサ
ーの製法であって、(A)  半導体基板の裏面にプラ
ズマCVD法により窒化シリコン膜を形成する工程と、
(8)  前記窒化シリコン膜の上にチタン、ニッケル
および金の蒸着膜をこの順序で形成する工程と、 (C)  半導体基板の裏面に形成された、窒化シリコ
ン/チタン/ニッケル/金からなる四重層にダイヤフラ
ムパターンを形成する工程と、(D)  前記パターン
形成した四f41iをエツチングマスクとして化学エツ
チング法によりダイヤフラムを形成する工程とを具備し
、前記チタン/ニッケル/金の金属層を台座へのはんだ
付けに利用することを特徴とする圧力センサーの製法が
提供される。
また、本発明によると、さらに、前述の(A)〜(D)
の工程を具備する手心体圧力センサーの製法であって、
(D)工程の後に、 (E)  前記四重層の上に、台座との接着に利用する
はんだ層を電気メッキ法により形成する工程と、 を具備する製法も提供される。
[実施例] 次に、第1図に即して本発明の一実施例を説明する。第
1図において(a)→(b)の各図に製造プロセスの順
序にしたがった各工程を表す。
第1に、第1図(a)において、半導体基板例えばn型
シリコン基板1の表面にホウ素を拡散させてゲージ抵抗
2を形成し、一方シリコン基板1の裏面にはプラズマC
VD法によって窒化シリコン膜3を成長させる。次に、
該窒化シリコン膜の上に、Ti、NiおよびAUの各蒸
着層4,5および6をこの順序で形成する。
次に、第1図(b)に示すように、窒化シリコン/Au
 /N+ /Tiの四ff1l19をフォトエツチング
法によりダイヤフラムパターンに応じてエツチングし、
パターンを形成する。
第3の工程として、第1図(C)に示すように、化学エ
ツチング法で裏面をエツチングしてダイヤフラム7を形
成する。
このにうに作製した感圧素子は、肉厚部8に設けられて
いるAU /Ni /Tiの金属層を従来のごとくベレ
ット状のはんだを用いて台座に接着することができるし
、好ましくは次のように電気メッキによってはんだ層を
形成する。
ずなわら、第1図1)に示すようすに、電気メッキ法に
よって窒化シリコン/Ti /Ni /AL+の四重膜
の上にはんだ層9を形成する。こうして形成されるはん
だ層9は均一な厚さを有し、しかも薄い層として形成す
ることができ、次工程で台座へのはんだ付けに利用され
る。
[発明の効果] 本発明の製法は、半導体基板の裏面にダイヤフラムパタ
ーン状に窒化シリコン/チタン/ニッケル/金の四重層
を形成した(A−C)Iに、これをエツチングマスクと
してダイヤフラムを形成するものであるため、製造プロ
セスが簡略化されており、生産性向上への寄与は大ぎい
。また、エツチングマスクの基層となる窒化シリコン層
はプラズマCVD法により形成されるので形成時の温度
が比較的低温(約300℃)であるため形成される窒化
シリコン層の残留応力は小さい。そのため感圧素子特性
がこの残留応力に影響されることはほとんどないので素
子特性が向上する。また、窒化シリコン層にはクラック
が生じ難いのでエツチングマスク材としての性能が高ま
る。また、形成された窒化シリコン層がたとえピンホー
ルを有し ′ていてもこの層はメタライズされて、前記
四iRIiMとしてマスクの働きをするため、ピンホー
ルは何ら悪影響を及ぼさない。また、メタライズに用い
られたチタン/ニッケル/金の3層のうちチタンは活性
が高いために窒化シリコン層に強固に結合して一体化す
る作用あり、金はニッケルのはんだに対するなじみを高
めてはんだ付けを容易にする1仙きがある。その結果、
本発明の製法に形成される窒化シリコン/チタン/ニッ
ケル/金からなる四重層は、化学エツチングに対ダるマ
スク材として優れていると同時に、半導体基板と強固に
一体化していて、しかもはんだ付【プに極めて好適なも
のとなっている。
また゛電気メッキによりはんだ層を形成することにより
はんだ層を薄く、かつ均一な厚さで形成でき、センサー
の温度特性が向上し、従来はんだ居の厚さのバラツキに
起因していた特性のバラツキを低減できる。なお、はん
だ層の厚さの制御は電気メッキの時間、電流を変えるこ
とで容易に行うことができる上、コストの点でもペレッ
ト状のはんだを用いる場合より有利である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の製法を工程順に説明する図で、(a
)〜(d)の各図は縦断面を示ず。 第2図は、ダイヤフラム型圧力センサーの一例を示す断
面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板の表面にゲージ抵抗層を形成し、裏面
    をエッチングすることによりダイヤフラムを形成する工
    程を有するダイヤフラム型半導体圧力センサーの製法で
    あって、 (A)半導体基板の裏面にプラズマCVD法により窒化
    シリコン膜を形成する工程と、 (B)前記窒化シリコン膜の上にチタン、ニッケルおよ
    び金の蒸着膜をこの順序で形成する工程と、 (C)半導体基板の裏面に形成された、窒化シリコン/
    チタン/ニッケル/金からなる四重層にダイヤフラムパ
    ターンを形成する工程と、 (D)前記パターン形成した四重層をエッチングマスク
    として化学エッチング法によりダイヤフラムを形成する
    工程とを具備し、前記チタン/ニッケル/金の金属層を
    台座へのはんだ付けに利用することを特徴とする半導体
    圧力センサーの製法。(2)半導体基板の表面にゲージ
    抵抗層を形成し、裏面をエッチングすることによりダイ
    ヤフラムを形成する工程を有するダイヤフラム型半導体
    圧力センサーの製法であって、 (A)半導体基板の裏面にプラズマCVD法により窒化
    シリコン膜を形成する工程と、 (B)前記窒化シリコン膜の上にチタン、ニッケルおよ
    び金の蒸着膜をこの順序で形成する工程と、 (C)半導体基板の裏面に形成された、窒化シリコン/
    チタン/ニッケル/金からなる四重層にダイヤフラムパ
    ターンを形成する工程と、 (D)前記パターン形成した四重層をエッチングマスク
    として化学エッチング法によりダイヤフラムを形成する
    工程と、 (E)前記四重層の上に、台座との接着に利用するはん
    だ層を電気メッキ法により形成する工程と、 を具備することを特徴とする半導体圧力センサーの製法
JP16758884A 1984-08-10 1984-08-10 半導体圧力センサ−の製法 Pending JPS6146078A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6490242B1 (en) 1997-04-29 2002-12-03 Brian T. Bonn Disk cartridge with dual housing structure

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