JPS6143652B2 - - Google Patents
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- JPS6143652B2 JPS6143652B2 JP4820580A JP4820580A JPS6143652B2 JP S6143652 B2 JPS6143652 B2 JP S6143652B2 JP 4820580 A JP4820580 A JP 4820580A JP 4820580 A JP4820580 A JP 4820580A JP S6143652 B2 JPS6143652 B2 JP S6143652B2
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- Japan
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- pressing member
- gas
- auxiliary pressing
- sealed chamber
- helium
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- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 63
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 25
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 25
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 19
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- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 16
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は冷却ユニツト等の冷媒流路中に冷媒ガ
スの漏れ箇所があるか否かを検査するために用い
られるヘリウムテストの検査ガス封入装置に関す
る。
スの漏れ箇所があるか否かを検査するために用い
られるヘリウムテストの検査ガス封入装置に関す
る。
例えば冷蔵庫において、冷却ユニツトに極めて
微量の冷媒ガスの漏れ(以下ガスリークと称す
る)があつても長期使用中に冷却能力が著しく低
下する。このガスリークが需要者の手元で発見さ
れたときはその修理が極めて困難でありその経費
も高い。また、冷蔵庫の需要者に対する保証期間
も長くなつていることを考え合わせるとガスリー
クに対してはきわめて高い信頼性が要求される。
従つて製造段階でのガスリーク検査は極めて重要
な検査項目の一つである。長い保証期間中に定格
冷却能力を維持するにはガスリーク検出精度が極
めて高いことが必要である他、生産ラインでの冷
却ユニツトの1台当り10秒程度と云う生産速度に
見合う迅速な検査処理能力も要求される。
微量の冷媒ガスの漏れ(以下ガスリークと称す
る)があつても長期使用中に冷却能力が著しく低
下する。このガスリークが需要者の手元で発見さ
れたときはその修理が極めて困難でありその経費
も高い。また、冷蔵庫の需要者に対する保証期間
も長くなつていることを考え合わせるとガスリー
クに対してはきわめて高い信頼性が要求される。
従つて製造段階でのガスリーク検査は極めて重要
な検査項目の一つである。長い保証期間中に定格
冷却能力を維持するにはガスリーク検出精度が極
めて高いことが必要である他、生産ラインでの冷
却ユニツトの1台当り10秒程度と云う生産速度に
見合う迅速な検査処理能力も要求される。
この要求を満たすものとして本出願人は冷媒流
路にヘリウムガスを封入した冷却ユニツトを密閉
室内に収容し、これを排気系統によつて真空排気
しながらその排出気体中に含むヘリウムガスを検
出器によつて検出する方式を開発し、すでにその
出願を完了した。
路にヘリウムガスを封入した冷却ユニツトを密閉
室内に収容し、これを排気系統によつて真空排気
しながらその排出気体中に含むヘリウムガスを検
出器によつて検出する方式を開発し、すでにその
出願を完了した。
そこで本発明の目的は、検出媒体であるところ
のヘリウムガスを、冷却ユニツトを密閉室へ収容
する行程でその冷媒流路内に封入でき、且つ検出
処理後は該ヘリウムガスをその場で回収できて検
査処理能力の一層の向上を図り得ると共にヘリウ
ムガスの使用量も削減でき、しかもこの場合でも
密閉室内にガスがガス給排に際して漏れ出ること
を確実に防止できて高精度検出能力を維持できる
ヘリウムリークテストの検査ガス封入装置を提供
するにある。
のヘリウムガスを、冷却ユニツトを密閉室へ収容
する行程でその冷媒流路内に封入でき、且つ検出
処理後は該ヘリウムガスをその場で回収できて検
査処理能力の一層の向上を図り得ると共にヘリウ
ムガスの使用量も削減でき、しかもこの場合でも
密閉室内にガスがガス給排に際して漏れ出ること
を確実に防止できて高精度検出能力を維持できる
ヘリウムリークテストの検査ガス封入装置を提供
するにある。
以下本考案の一実施例について図面を参照しな
がら説明する。1はベルジヤ(Bell Jar)であ
り、これは図に示す如く、略釣鐘状をなし、その
下端開口部2が設置台3の上面にシール部材4を
介して気密に当接することによつて密閉室5を形
成する降下位置と内部が大気に開放される上昇位
置との間で空圧シリンダ6によつて上下動され
る。7は冷却ユニツト即ち被検体であつて、冷蔵
庫の冷凍室用冷却器8及び冷蔵室用冷却器9から
成る。この被検体7は設置台3に載置され、次に
ベルジヤ1が降下されることによつて密閉室5内
に収容される。ベルジヤ1によつて形成される密
閉室5内に連通するように前記設置台3に開口1
0を形成している。この開口10には粗排気用の
真空ポンプ11に通じた粗排気系統12と、他の
真空ポンプ13に通じたテスト用排気系統14と
を夫々弁15,16を介して連通させてある。1
7はテスト用排気系統14に弁18を介して連通
されたヘリウムガス検出器である。
がら説明する。1はベルジヤ(Bell Jar)であ
り、これは図に示す如く、略釣鐘状をなし、その
下端開口部2が設置台3の上面にシール部材4を
介して気密に当接することによつて密閉室5を形
成する降下位置と内部が大気に開放される上昇位
置との間で空圧シリンダ6によつて上下動され
る。7は冷却ユニツト即ち被検体であつて、冷蔵
庫の冷凍室用冷却器8及び冷蔵室用冷却器9から
成る。この被検体7は設置台3に載置され、次に
ベルジヤ1が降下されることによつて密閉室5内
に収容される。ベルジヤ1によつて形成される密
閉室5内に連通するように前記設置台3に開口1
0を形成している。この開口10には粗排気用の
真空ポンプ11に通じた粗排気系統12と、他の
真空ポンプ13に通じたテスト用排気系統14と
を夫々弁15,16を介して連通させてある。1
7はテスト用排気系統14に弁18を介して連通
されたヘリウムガス検出器である。
次に検出媒体であるヘリウムガスを被検体7に
封入するための接続部材19について第2図によ
り説明する。20は設置台3の下面に取付けた筒
状ケースで、密閉室5内に開口するように設置台
3に形成した透孔即ち挿入口部21と連通する空
洞部22を形成しており、この空洞部22の上部
に径小室部23を形成している。24は内部にガ
ス給排通路25を形成した押圧部材で、前記空洞
部22内に前記挿入口部21との対向方向で移動
可能となるようにパツキング26を介して気密に
挿入しており、常にはばね27によつて上昇付勢
されている。28は前記径小室部23内に嵌合さ
れた弾力性あるリング状の第一のシール部材、2
9は押圧部材24の上端面部分の凹所内に嵌合さ
れた上記同様の第二のシール部材であつて、これ
ら両シール部材28,29間に弾性材製の筒状の
補助押圧部材30を上下移動可能に設けている。
31は補助押圧部材30の内部空間に一端が連通
され他端が筒状ケース20外に導出された排気導
管である。さて、37は構造の詳細を省略してい
るが、前記ガス給排通路25の下端に通結された
連結管体で、これには夫々弁32,33を介して
ヘリウムガス封入装置であるところのガス供給機
34及びガス回収機35を連結している。
封入するための接続部材19について第2図によ
り説明する。20は設置台3の下面に取付けた筒
状ケースで、密閉室5内に開口するように設置台
3に形成した透孔即ち挿入口部21と連通する空
洞部22を形成しており、この空洞部22の上部
に径小室部23を形成している。24は内部にガ
ス給排通路25を形成した押圧部材で、前記空洞
部22内に前記挿入口部21との対向方向で移動
可能となるようにパツキング26を介して気密に
挿入しており、常にはばね27によつて上昇付勢
されている。28は前記径小室部23内に嵌合さ
れた弾力性あるリング状の第一のシール部材、2
9は押圧部材24の上端面部分の凹所内に嵌合さ
れた上記同様の第二のシール部材であつて、これ
ら両シール部材28,29間に弾性材製の筒状の
補助押圧部材30を上下移動可能に設けている。
31は補助押圧部材30の内部空間に一端が連通
され他端が筒状ケース20外に導出された排気導
管である。さて、37は構造の詳細を省略してい
るが、前記ガス給排通路25の下端に通結された
連結管体で、これには夫々弁32,33を介して
ヘリウムガス封入装置であるところのガス供給機
34及びガス回収機35を連結している。
次に上記構成の作用について説明する。先ずガ
スリーク検査のために被検体7を設置台3上に設
置する。この際に被検体7の冷媒流路(冷媒管)
の非閉鎖端からの延出管部36を挿入口部21に
挿入しながら該管部36を第一のシール部材2
8、補助押圧部材30及び第二のシール部材29
に一連に貫通させて前記ガス給排通路25に対し
て連通状態にさせる。この状態になると、押圧部
材24が常時ばね27によつて上昇付勢されてい
るので、その上昇移動力が第二のシール部材29
及び補助押圧部材30を介して第一のシール部材
28にも加わり、これによつて両シール部材2
8,29は圧縮変形を受けるので延出管部36の
周囲に気密に圧接する。この状態で弁32を開い
てガス供給機34からヘリウムガスを被検体7の
冷媒流路内に所定量供給し弁32を閉じる。これ
に前後してベルジヤ1を降下させて密閉室5を閉
じ、次に弁15を開いて粗排気系統12により密
閉室5内を所定の圧力に低下するまで真空排気す
る。次いで弁16を開いてテスト用排気系統14
によつて密閉室5内を高真空状態に更に真空排気
しこの状態で弁18を開いてその排出気体の一部
をヘリウムガス検出器17に導いてここでヘリウ
ムガスの存在、即ちガスリークの存在を検出す
る。この検出完了後、図示しない大気開放弁を開
いて密閉室5内を大気圧に回復させベルジヤ1を
上昇させる。これと同時に弁33を開いて被検体
7の冷媒流路内のヘリウムガスをガス回収機35
によつて吸引し回収する。これによつて冷媒流路
からヘリウムガスが完全に除去された後弁33を
閉じ、被検体7を取り去る過程でその延出管部3
6を接続部材19から抜き去る。
スリーク検査のために被検体7を設置台3上に設
置する。この際に被検体7の冷媒流路(冷媒管)
の非閉鎖端からの延出管部36を挿入口部21に
挿入しながら該管部36を第一のシール部材2
8、補助押圧部材30及び第二のシール部材29
に一連に貫通させて前記ガス給排通路25に対し
て連通状態にさせる。この状態になると、押圧部
材24が常時ばね27によつて上昇付勢されてい
るので、その上昇移動力が第二のシール部材29
及び補助押圧部材30を介して第一のシール部材
28にも加わり、これによつて両シール部材2
8,29は圧縮変形を受けるので延出管部36の
周囲に気密に圧接する。この状態で弁32を開い
てガス供給機34からヘリウムガスを被検体7の
冷媒流路内に所定量供給し弁32を閉じる。これ
に前後してベルジヤ1を降下させて密閉室5を閉
じ、次に弁15を開いて粗排気系統12により密
閉室5内を所定の圧力に低下するまで真空排気す
る。次いで弁16を開いてテスト用排気系統14
によつて密閉室5内を高真空状態に更に真空排気
しこの状態で弁18を開いてその排出気体の一部
をヘリウムガス検出器17に導いてここでヘリウ
ムガスの存在、即ちガスリークの存在を検出す
る。この検出完了後、図示しない大気開放弁を開
いて密閉室5内を大気圧に回復させベルジヤ1を
上昇させる。これと同時に弁33を開いて被検体
7の冷媒流路内のヘリウムガスをガス回収機35
によつて吸引し回収する。これによつて冷媒流路
からヘリウムガスが完全に除去された後弁33を
閉じ、被検体7を取り去る過程でその延出管部3
6を接続部材19から抜き去る。
このように本装置によれば、被検体7を密閉室
5内へ収容する過程でその冷媒流路内に検出媒体
であるヘリウムガスを封入でき、且つ検出完了後
はその場でヘリウムガスを回収できるので、その
検査処理能力を向上でき、且つヘリウムガスの使
用量を削減できる。これに対して、従来から有る
一般的方法を採用すると、冷媒流路にガスを注入
する手段と、これを密封する端末処理手段と、そ
のガス封入状態の被検体を密閉室に収容しての検
査処理後に封止端部を切断してガスを除去する手
段とを要し極めて複雑な取扱いを要する欠点があ
ると共にガスの回収作業も極めて困難であると云
う欠点を招来する。
5内へ収容する過程でその冷媒流路内に検出媒体
であるヘリウムガスを封入でき、且つ検出完了後
はその場でヘリウムガスを回収できるので、その
検査処理能力を向上でき、且つヘリウムガスの使
用量を削減できる。これに対して、従来から有る
一般的方法を採用すると、冷媒流路にガスを注入
する手段と、これを密封する端末処理手段と、そ
のガス封入状態の被検体を密閉室に収容しての検
査処理後に封止端部を切断してガスを除去する手
段とを要し極めて複雑な取扱いを要する欠点があ
ると共にガスの回収作業も極めて困難であると云
う欠点を招来する。
また、本発明においては、ヘリウムガスの封入
及び除去が密閉室形成部分で行なわれるもので、
このときに接続部材から密閉室5内へガス漏れが
あると誤判定の要因となりガスリークの高精度検
出が不能になるおそれがあるが、シール部材2
8,29は押圧部材24及び補助押圧部材30に
よる押付け力によつて弾性変形して冷媒流路の延
出管部36に密着するからガス給排通路25から
挿入口部21を介して生じる密閉室5内へのガス
漏れを効果的に防止でき、しかも、第二のシール
部材29に損傷を生じてこれによりガス漏れを生
じたときは第一のシール部材28が密閉室5内へ
のガス漏れを防止し、且つこれとは逆のこともま
た実現される。従つて、接続部材19から密閉室
5内への信頼性の高いガス漏れ防止効果が得られ
るのでガスリークの高精度検出能力を容易に維持
できる。また、実施例では排気導管31を設けて
いるので、第二のシール部材29にその損傷によ
つてガス漏れを生じてもこれを大気中に容易に排
出でき、密閉室5内へのガス侵入をより効果的に
防止できる。
及び除去が密閉室形成部分で行なわれるもので、
このときに接続部材から密閉室5内へガス漏れが
あると誤判定の要因となりガスリークの高精度検
出が不能になるおそれがあるが、シール部材2
8,29は押圧部材24及び補助押圧部材30に
よる押付け力によつて弾性変形して冷媒流路の延
出管部36に密着するからガス給排通路25から
挿入口部21を介して生じる密閉室5内へのガス
漏れを効果的に防止でき、しかも、第二のシール
部材29に損傷を生じてこれによりガス漏れを生
じたときは第一のシール部材28が密閉室5内へ
のガス漏れを防止し、且つこれとは逆のこともま
た実現される。従つて、接続部材19から密閉室
5内への信頼性の高いガス漏れ防止効果が得られ
るのでガスリークの高精度検出能力を容易に維持
できる。また、実施例では排気導管31を設けて
いるので、第二のシール部材29にその損傷によ
つてガス漏れを生じてもこれを大気中に容易に排
出でき、密閉室5内へのガス侵入をより効果的に
防止できる。
本発明は以上のように高精度検査処理能力を一
層向上できる上にヘリウムガスの使用量も削減で
きるヘリウムリークテストの検査ガス封入装置を
提供することができる。
層向上できる上にヘリウムガスの使用量も削減で
きるヘリウムリークテストの検査ガス封入装置を
提供することができる。
第1図は本発明の一実施例における検査装置部
分を示す配置構成図、第2図はその接続部材部分
を示す縦断面図である。 図中、5は密閉室、7は被検体(冷却ユニツ
ト)、17はヘリウムガス検出器、19は接続部
材、20は筒状ケース、21は挿入口部、22は
空洞部、24は押圧部材、25はガス給排通路、
28,29は第一、第二のシール部材、30は補
助押圧部材、36は延出管部である。
分を示す配置構成図、第2図はその接続部材部分
を示す縦断面図である。 図中、5は密閉室、7は被検体(冷却ユニツ
ト)、17はヘリウムガス検出器、19は接続部
材、20は筒状ケース、21は挿入口部、22は
空洞部、24は押圧部材、25はガス給排通路、
28,29は第一、第二のシール部材、30は補
助押圧部材、36は延出管部である。
Claims (1)
- 1 冷媒流路内にヘリウムガスを加圧封入した冷
却ユニツトを密閉室内に収納してこの密閉室内を
真空排気し排気気体中のヘリウムガスを検出する
ものにおいて、密閉室に配置された前記冷却ユニ
ツトの冷媒流路の延出管部を挿入させるように密
閉室側に形成された挿入口部と、この挿入口部を
介して前記密閉室に連通する空洞部を有する筒状
ケースと、この筒状ケースの空洞部内に移動可能
に配設された筒状の補助押圧部材及びこの補助押
圧部材のその移動方向の両端部分に配設されて前
記延出管部により前記補助押圧部材と共に貫通さ
れる第一及び第二のシール部材と、前記空洞部内
に摺動自在設けられ前記第一,第二のシール部材
及び補助押圧部材の3者を前記挿入口部方向に押
圧して前記挿入口部に挿入された前記延出管部に
気密に圧接するようにばね力を受けて前記両シー
ル部材を押圧変形させる押圧部材とを具備し、前
記押圧部材に前記両シール部材を貫通した状態の
前記延出管部の先端に連通するガス給排通路を形
成してなるヘリウムリークテストの検査ガス封入
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4820580A JPS56143941A (en) | 1980-04-11 | 1980-04-11 | Inspecting-gas sealing device for helium leak test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4820580A JPS56143941A (en) | 1980-04-11 | 1980-04-11 | Inspecting-gas sealing device for helium leak test |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56143941A JPS56143941A (en) | 1981-11-10 |
JPS6143652B2 true JPS6143652B2 (ja) | 1986-09-29 |
Family
ID=12796877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4820580A Granted JPS56143941A (en) | 1980-04-11 | 1980-04-11 | Inspecting-gas sealing device for helium leak test |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56143941A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58225337A (ja) * | 1982-06-25 | 1983-12-27 | Toshiba Corp | リ−クテスト方法およびその装置 |
CN107091716A (zh) * | 2017-04-13 | 2017-08-25 | 深圳市卓誉自动化科技有限公司 | 一种用于检测电池密封性的真空氦检装置和方法 |
JP7209992B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2023-01-23 | 伸和コントロールズ株式会社 | 三方弁装置のリークの有無を検査する検査装置及び検査方法 |
-
1980
- 1980-04-11 JP JP4820580A patent/JPS56143941A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56143941A (en) | 1981-11-10 |
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