JPS6141440A - X線診断装置 - Google Patents

X線診断装置

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JPS6141440A
JPS6141440A JP16310984A JP16310984A JPS6141440A JP S6141440 A JPS6141440 A JP S6141440A JP 16310984 A JP16310984 A JP 16310984A JP 16310984 A JP16310984 A JP 16310984A JP S6141440 A JPS6141440 A JP S6141440A
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JP
Japan
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ray
sensor array
ray sensor
resolution
monitor
Prior art date
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Pending
Application number
JP16310984A
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English (en)
Inventor
博司 筒井
末喜 馬場
大森 康以知
理 山本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP16310984A priority Critical patent/JPS6141440A/ja
Publication of JPS6141440A publication Critical patent/JPS6141440A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はX線センサアレイを用いたX線診断装置に関す
るものである。
従来例の構成とその問題点 近年医用X線診断装置は被爆量の低減化と銀塩の消費量
増大に対する対策として、従来の銀塩フィルムを使用し
ないx想センサを用いたX線診断装置の開発が盛んにな
シ、X線センサとして電離箱、半導体、螢光体十フォト
ダイオード等が使用されつつある。X線診断の観点から
すると、2次元センサアレイに1回のX線照射を行ない
画像を得る方法が最も簡便な方法であるが、X、11セ
ンサの2次元アレイ化とセンナ出力の情報処理等が非常
に困難である。そこでX線センサを一列に並べた1次元
X線センサアレイが使用されておシ、この1次元X線セ
ンサアレイをスキャンし2次元X線画像を得る方法がと
られている。
この1次元X線センサアレイを駆動して2次元X線画像
を得る場合、検査内容により、例えば胃精密検診のよう
に、増影剤を飲下した後に種々の方向から撮影を行なう
場合、胃の位置確認、造影剤の量および位置等の最適状
態を確認するために、モニタによる監視が必要である。
ところが、1次元X線センサアレイを駆動して3へ 2次元X線画像を得る場合、センサアレイの個々の素子
の大きさを小さくし、画素数を増加させ、解像度を上げ
ると、信号処理をするデータ量の増加およびX線発生器
の容量に制約されて、短時間高速撮影が困難である。す
なわち上述したモニタによる撮影状態の監視が不可能で
ある。また通常の2次元X線画像の撮影によりモニタを
行ったのでは、撮影回数が多くなることにカリ、被爆線
量の低減にならない。
発明の目的 本発明は、X線診断において、高密度1次元X線センサ
アレイを用いて高分解能X線画像を得るとともに、撮影
の最適条件を得るだめの高速モニタ機能を合わせもつX
線診断装置を提供することを目的とする。
発明の構成 上記目的を達成するために、本発明のX線診断装置は、
ファンビームX線を発生するX線発生器とX線センサア
レイを備え、X線センサアレイの各素子の大きさに対応
した間隔でスキャンを行なう高分解能X線画像を得る通
常撮影と、データのサンプリング回数を減少し、より粗
い画面であるが、高速で且つ被爆線量を低減した高速モ
ニタ撮影を行なうよう構成したものである。
実施例の説明 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は本発明の一実施例におけるX線診断装置の構成図で
ある。X線発生器1から発生するファンビームX線2は
X線センサアレイ3により検出される。このファンビー
ムX線2の中に物体、例えば人体を配置すると、ファン
ビームX線2の物体を透過したX線陰影が得られ、この
ファンビームX線2とX線センサアレイ3をX線発生器
駆動部4およびX線センサアレイ駆動部6を用いて人体
にそって移動させると、2次元X線透過像が得らnる。
X線センサアレイ3からの出力信号を信号処理部5を通
して、メインコントローラ7によシ同期し、画像処理部
8を通してディスプレイ9に表示する。
第2図はX線発生器とX線センサの動作を示す5べ/ もので、X線発生器11からのファンビームX線12は
X線センサアレイ13にて検出される。ファンビームX
112を12′の位置に移動し、同時にX線センサアレ
イ13を13′の位置に移動させると、X線センサアレ
イ13と13′を含む平面の2次元平面データが得られ
る。X線センサアレイの個々のアレイをx1〜xn、デ
ータサンプリング位置を71〜7mとすると、データ量
、すなわち画素数はnXmとなる。
第3図は本発明の一実施例であるX線画像を得るための
データサンプリング状態を示すものである。aは高分解
能X線画像を得るためのデータサンプリングを示すもの
である。通常従来の診断用X線フィルムを用いた画像の
分解能は31I)(ラインベア/頗といわれており、同
等の分解能を得るためには、X線センサアレイの配列密
度を6個/闘にする必要がある。この配列密度で30m
×3ocrnの大きさのX線画像を得るには、X線セン
サアレイ数1,800個、データサンプリング回数1,
8o○回が必要である。この場合、撮影に所要する時間
は、X線センサアレイの1回のサンプリング時間を1m
5ecとすると全サンプリングに要する時間は1 m5
eCX 1800回” 1.8S13C必要である。現
実に1回のサンプリング時間1 m5eCという時間は
、データ伝送量および、1m5eC内の適当量X線爆射
量を得るためのX線発生器の能力を考慮すると、かなり
の困難を要する。このように高解像度X線画像撮影には
撮影時間に数秒を要し、リアルタイムに近いモニタは不
可能である。
第3図す、cは、本発明にもとづくモニタX線画像を得
るだめのデータサンプリングを示すものである。bはX
線センサアレイの個々の素子からのデータはそのまま伝
送するが、サンプリング回数を減らしてモニタを行なう
方法を示す。CはX線センサアレイの個々の素子からの
データについても、全素子からのデータを使用せず、等
間隔に間ケラ的にデータを読取シ、伝送を行なうことに
より、サンプリング回数の減少のみならず、データ数の
減少によ月よシ高速なモニタX線画像を得る方法を示す
7へ一/ Cはサンプリング回数およびデータをとる素子数を減少
し、短時間でモニタX線画像を得る方法である。前述の
高解像度X線画像撮影に比べ、サンプリング回数を1/
10.X線センサアレイからの1サンプリングにおける
データ数を1/10にすると、総データ数は1/10o
となり、画像処理の面からも容易になシ、モニタX線画
像として十分に機能する。
第4図は、第3図に示すa、b、cの方法に対応したデ
ィスプレイ方法である。図中dは第3図aと対応したも
ので、画素の大きさは個々の素子の大きさに対応するよ
うに表示される。
e、fはそれぞれ第3図す、cの方法をディスプレイ表
示したものである。
なお、第3図、第4図のモニタ方法以外に、e。
fのディスプレイ表示が得られる方法として、X線セン
サアレイを高速で動かしつつ、複数個のセンサからのデ
ータを加算し、かつ複数回のサンプリングデータを加算
して伝送することによシ、fと同様のモニタ画像を得る
ことができる。
第5図は、高解像度X線画像撮影とモニタX線画像撮影
における撮影条件の比較である。aは本発明のX線診断
装置による撮影中の模式図であり、X線発生器21から
発生するファンビームX線22の中に被検査体24を置
くと、X線センサアレイ23にX線による被検査体の投
影が得られる。この投影時のセンサ出力分布をす、cに
示す。bは高解像度X線画像撮影時のセンナ出力分布で
あり、得られる画像を高品位にするために、すなわち、
高い濃度分解能を得るために、X線センサアレイの個々
の素子がもつダイナミックレンジを十分に活用できるセ
ンサ出力が得られるように、入射X線強度を大きくした
状態である。CはモニタX線画像撮影時のセンサ出力分
布である。モニタ画像の役割は、高解像度および高濃度
分解能画像を得るための被検査体各部位の位置決めおよ
び撮影条件決定のためのモニタを行なうことであるから
、被爆線量はできうる限り低減する必要がある。そこで
Cに示すように、センサ出力分布の工。′を小さくし、
モニタ画像として満足できる範囲で最低9 A  ・ の被爆線量で撮影を行なう。
このように被爆線量を低減しつつ画像を得るには、X線
センサアレイの素子の特性に大きく左右される。X線セ
ンサの特性を決定する大きな要因は、検出感度とダイナ
ミックレンジである。本発明に用いることのできるX線
センサアレイのセンサとして、(1)シンチレータ+光
電子増倍管、(11)螢鏡体十フォトダイオード、01
1)半導体検出器があげられる。このうち(1)のシン
チレータ+光電子増倍管の組合せは、光電子増倍管の幾
何学的大きさによる制限から、高密度化ができない。(
11)の螢光体+フォトダイオードの組合せは、高密度
化が可能であるが、感度が低く、ダイナミックレンジが
2〜3桁とあまシ広くないために、モニタ画像用として
使用はできるが、被爆線量の低減という観点からはあま
り望ましくない。011)の半導体検出器には、St 
、Go、GaAs、CdTe、HgI等の放射線に感応
する半導体結晶がある。この中でSiはX線に対する吸
収が小さいので、高密度化して高解像度X線画像を得る
には感度上難がある。またGeは低温1゜ 冷却の必要がありセンサアレイ化に難がある。
GaAs 、 CdTe 、Hg IはX線に対する吸
収係数がSiの3o〜5Q倍であり、常温動作が可能で
あるだめに、高密度化が可能である。またダイナミック
レンジが1oあり、感度およびダイナミックレンジの点
から、本発明のX線診断装置に用いるX線センサアレイ
には最適の検出器である。
このようにGaAs 、 CdTe 、 Hg I等の
半導体検出器を用いれば、ダイナミックレンジが大きい
ために、第5図において説明した高分解能X線画像を得
る撮影条件の線量の1/1o〜1/100  の線量で
モニタX線画像を得ることができる。また、第3図。
第4図において説明したモニタX線画像撮影方法を合わ
せて用いれば、高解像度X線画像撮影に要する1/10
0〜1/1000の被爆線量でモニタX線画像1画像を
得ることができ、X線診断におけるモニタとして、十分
に機能するものである。
また本発明に用いるX線センサアレイの高速駆動には、
リニアDCモータ等を用いれば、距離30ffiの往復
路において約10回/secの駆動が可11 べ−7 能であシ、セミ動画モニタ用の駆動として用いることが
可能である。
発明の効果 以上のように本発明によれば、X線診断装置において、
高密度1次元X線センサアレイを用いて高分解能XM面
画像得るとともに、各センサ素子からのデータ伝送およ
びデータのサンプリング回数を減少することによシ撮影
時間を短縮した高速モニタX線画像を得ることができる
。またセンサ材料を選択することにより高分解能X線画
像撮影の1/100〜1/1000の被爆線量でモニタ
X線画像撮影が可能となり、胃精密検診時におけるよう
な長時間を有する検診においても、被爆量をあ1シ増加
せずにモニタX線画像撮影を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におけるX線診断装置の構成
図、第2図はX線発生器とX線センサの動作を示す図、
第3図はX線画像を得るだめのデータサンプリング状態
を示す図、第4図はディスプレイ方法を示す図、第5図
は高解像度X線画像撮影とモニタX線画像撮影における
撮影条件の比較を示す図である。 1.11.21・・・・・・X線発生器、2.12 、
22・・・−・・ファンビームXfm、3,13.23
・・・・・X線センサアレイ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 !    “  4 第2図 第3図 第4図 区          ( ヤへ←+J伜        ?・1訃石央ミ    
       6 〜1ζ−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ファンビームX線を発生するX線発生器と、X線を検出
    するX線センサアレイを備え、上記X線センサアレイを
    駆動して2次元X線像を撮影するX線受像装置において
    、撮影する平面全体にわたり、前記X線センサアレイの
    個々の素子の大きさに対応した高平面分解能の得られる
    高分解能画像撮影と、撮影する平面を適当な数で分割、
    サンプリングレ、X線照射強度、照射回数およびX線セ
    ンサアレイの測定回数を減少し、測定時間を短縮し、か
    つ照射線量を低減したモニタ撮影を行なうことを特徴と
    するX線診断装置。
JP16310984A 1984-08-02 1984-08-02 X線診断装置 Pending JPS6141440A (ja)

Priority Applications (1)

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JP16310984A JPS6141440A (ja) 1984-08-02 1984-08-02 X線診断装置

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JP16310984A JPS6141440A (ja) 1984-08-02 1984-08-02 X線診断装置

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JPS6141440A true JPS6141440A (ja) 1986-02-27

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ID=15767334

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JP16310984A Pending JPS6141440A (ja) 1984-08-02 1984-08-02 X線診断装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63181741A (ja) * 1987-01-23 1988-07-26 松下電器産業株式会社 X線透過像測定方法
JPH04220239A (ja) * 1990-02-27 1992-08-11 General Electric Co <Ge> 光検出器のアレイから画像データを読み出す方法及び画像検出器システム
KR20190111728A (ko) 2018-03-22 2019-10-02 쥬가이로 고교 가부시키가이샤 연속 가열 처리 장치 및 연속 가열 처리 장치의 개조 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52115682A (en) * 1976-03-24 1977-09-28 Jeol Ltd X-ray radiographic image taking apparatus
JPS58195870A (ja) * 1982-05-11 1983-11-15 Canon Inc 走査方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52115682A (en) * 1976-03-24 1977-09-28 Jeol Ltd X-ray radiographic image taking apparatus
JPS58195870A (ja) * 1982-05-11 1983-11-15 Canon Inc 走査方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63181741A (ja) * 1987-01-23 1988-07-26 松下電器産業株式会社 X線透過像測定方法
JPH04220239A (ja) * 1990-02-27 1992-08-11 General Electric Co <Ge> 光検出器のアレイから画像データを読み出す方法及び画像検出器システム
KR20190111728A (ko) 2018-03-22 2019-10-02 쥬가이로 고교 가부시키가이샤 연속 가열 처리 장치 및 연속 가열 처리 장치의 개조 방법

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