JPS6139943U - ウエハ検査装置 - Google Patents

ウエハ検査装置

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JPS6139943U
JPS6139943U JP12438984U JP12438984U JPS6139943U JP S6139943 U JPS6139943 U JP S6139943U JP 12438984 U JP12438984 U JP 12438984U JP 12438984 U JP12438984 U JP 12438984U JP S6139943 U JPS6139943 U JP S6139943U
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JP
Japan
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wafer inspection
inspection
inspection equipment
wafer
cartridge
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JP12438984U
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JPH0331080Y2 (ja
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哲也 渡邊
正義 鈴木
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日立電子エンジニアリング株式会社
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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
  • Controlling Sheets Or Webs (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Feeding Of Articles By Means Other Than Belts Or Rollers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】 第1図は本考案のウエハ検査装置の1実施例を示す平面
図である。 第2図は上記実施例におけるウエハの搬送経路の説明一
である。 第3図乃至第6図は同じく作用説明図である。 第7図は従来のウエ・・検査装置の1例を示す平面図、
第8−は同じくウエハ搬送経路の説明図である。 1,1′・・・カートリッジ、1a・・・ローダ、2・
・・ウエハ、3,3′・・・XYテーブル、4・・・搬
送機構、5,5′・・・プツシャ、6・・・試料台、7
・・・ストツパ、8・・・プツシャ、9.9’・・・不
良ウエハカートリッジ、9a・・・アンローダ、10・
・・搬入用搬送機構、11・・・搬出用搬送機構、12
・・・分岐返送コンベア。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ウエハ検査用のXYテーブルと、カートリッジに収納さ
    れた多数のウエハを1枚すね順次に前記XYテーブルに
    搬入する為のローダと搬送機構、及び検査済みウエハを
    該XYテーブルから搬出する為の搬送機構ち、ウエノ・
    を収納するアン西−ダと、険査結果によって搬出された
    検査済みウエハを検査結果に基づいて分類する手段とを
    備え、検査合格品を前記のカートリッジに収納し極査不
    合格品を排除するように構成したウエハ検査装置におい
    て、前記のXYテーブルに未検査ウエハを搬入する方向
    と、検査済みウエハを搬出する方向との為す角度を18
    0゜以外の角度としたことを特徴とするウエハ検査装置
JP12438984U 1984-08-16 1984-08-16 ウエハ検査装置 Granted JPS6139943U (ja)

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JP12438984U JPS6139943U (ja) 1984-08-16 1984-08-16 ウエハ検査装置

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JP12438984U JPS6139943U (ja) 1984-08-16 1984-08-16 ウエハ検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS6139943U true JPS6139943U (ja) 1986-03-13
JPH0331080Y2 JPH0331080Y2 (ja) 1991-07-01

Family

ID=30683115

Family Applications (1)

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JP12438984U Granted JPS6139943U (ja) 1984-08-16 1984-08-16 ウエハ検査装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752147A (en) * 1980-09-16 1982-03-27 Mitsubishi Electric Corp Measuring and sorting device for electric characteristics of semiconductor element
JPS5768044A (en) * 1980-10-15 1982-04-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd Supplying device for semiconductor element

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752147A (en) * 1980-09-16 1982-03-27 Mitsubishi Electric Corp Measuring and sorting device for electric characteristics of semiconductor element
JPS5768044A (en) * 1980-10-15 1982-04-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd Supplying device for semiconductor element

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Publication number Publication date
JPH0331080Y2 (ja) 1991-07-01

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