JPS6139554A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
- Publication number
- JPS6139554A JPS6139554A JP15875784A JP15875784A JPS6139554A JP S6139554 A JPS6139554 A JP S6139554A JP 15875784 A JP15875784 A JP 15875784A JP 15875784 A JP15875784 A JP 15875784A JP S6139554 A JPS6139554 A JP S6139554A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- main surface
- semiconductor device
- chip
- heat sink
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明は樹脂封止型半導体装置に係り、発熱を伴カう
半導体装置や電子装置であり、特に複数のパワトランジ
スタを放熱板を備えた樹脂封止型半導体装置の構造に関
する。
半導体装置や電子装置であり、特に複数のパワトランジ
スタを放熱板を備えた樹脂封止型半導体装置の構造に関
する。
[発明の技術的背景とその問題点コ
従来、例えばパワトランジスタのように動作時に発熱の
大きい半導体装置では、第3図に示されるように半導体
素子(101)は放熱板(102)に接着層(103)
を介して直接にマウントされている。しかし、近年アレ
イ化やモジュール化が進み、例えば第4図に示す回路の
ように、3素子または4素子(104,104・・・)
を1パツケージ(105)に収めたパワトランジスタア
レイ等が作られるようじなつ友。この場合、回じ金属放
熱板上に2素子以上のパワトランジスタを取着けること
はトランジスタのコレクタな短絡させてしまうので好ま
しくなく、各コレクタ間で絶縁をとる必要がある。そこ
で第5図に示すように、リードフレームの素子配設ベッ
ド(106)にマウントされた半導体素子(101)が
、絶縁樹脂層(107)を介して銅層が被着されこの銅
層に写真蝕刻形成された回路パターン形状の銅層(10
8)を有するアルミニウムの放熱基板(109) <;
、前記素子配設ベッド(106)を介してはんだマウン
トされたものがある。また、上記放熱基板にメタライズ
されたセラミック基板を用いたものもある。
大きい半導体装置では、第3図に示されるように半導体
素子(101)は放熱板(102)に接着層(103)
を介して直接にマウントされている。しかし、近年アレ
イ化やモジュール化が進み、例えば第4図に示す回路の
ように、3素子または4素子(104,104・・・)
を1パツケージ(105)に収めたパワトランジスタア
レイ等が作られるようじなつ友。この場合、回じ金属放
熱板上に2素子以上のパワトランジスタを取着けること
はトランジスタのコレクタな短絡させてしまうので好ま
しくなく、各コレクタ間で絶縁をとる必要がある。そこ
で第5図に示すように、リードフレームの素子配設ベッ
ド(106)にマウントされた半導体素子(101)が
、絶縁樹脂層(107)を介して銅層が被着されこの銅
層に写真蝕刻形成された回路パターン形状の銅層(10
8)を有するアルミニウムの放熱基板(109) <;
、前記素子配設ベッド(106)を介してはんだマウン
トされたものがある。また、上記放熱基板にメタライズ
されたセラミック基板を用いたものもある。
なお、(105)は注型樹脂(パッケージ)である。
上記構造はいずれも放熱ΔF板を用いるため高価につく
欠点がある。そこで、第6図に示すように素子配設ペッ
ド(116)と絶縁間隔を保持させて金属放熱板(11
9)を対向させ、この非対向側主面を露出させて樹脂注
型を施して構成される構造が案出された。これによると
高価な放熱基板を用いないので廉価にできるが、素子配
設ペッドと金属放熱板との対向面間の樹脂注型の際に、
この注型樹脂(105)が四方から流れ込むので空気や
ガスを閉じこめ気泡となって残る。
欠点がある。そこで、第6図に示すように素子配設ペッ
ド(116)と絶縁間隔を保持させて金属放熱板(11
9)を対向させ、この非対向側主面を露出させて樹脂注
型を施して構成される構造が案出された。これによると
高価な放熱基板を用いないので廉価にできるが、素子配
設ペッドと金属放熱板との対向面間の樹脂注型の際に、
この注型樹脂(105)が四方から流れ込むので空気や
ガスを閉じこめ気泡となって残る。
この傾向は索子配設ペッドが広い程、また、絶縁間隔が
狭い程発生しやすく、絶縁耐圧を劣化させる要因となる
ので、これを防止するために絶縁間隔を広く設けると放
熱特性に悪影響を及ばず等の問題があった。
狭い程発生しやすく、絶縁耐圧を劣化させる要因となる
ので、これを防止するために絶縁間隔を広く設けると放
熱特性に悪影響を及ばず等の問題があった。
[発明の目的]
この発明は上記従来の問題点を改良し、充填樹脂によっ
て絶縁耐圧および放熱特性の向上がはかれる構造の樹脂
封止型半導体装置を提供する。
て絶縁耐圧および放熱特性の向上がはかれる構造の樹脂
封止型半導体装置を提供する。
[発明の概要]
この発明の樹脂封止部半導体装tは半導体素子をマウン
トするチップペッドに絶縁間隔をもって金属の放熱板を
対向配置し、かつ、仁の放熱板と前記チップペッドとの
間に樹脂注型を施して封止されるものにおいて、放熱板
の対向側主面に注型樹脂の流入方向を限定する複数の溝
が設けられていることを特徴とする。
トするチップペッドに絶縁間隔をもって金属の放熱板を
対向配置し、かつ、仁の放熱板と前記チップペッドとの
間に樹脂注型を施して封止されるものにおいて、放熱板
の対向側主面に注型樹脂の流入方向を限定する複数の溝
が設けられていることを特徴とする。
[発明の実施例]
以下にこの発明を1実施例の樹脂封止型半導体装置につ
き第1図および第2図を参照して詳細に説明する。なお
、従来と変らない部分については図中に同じ符号を付け
て示し、説明を省略する。
き第1図および第2図を参照して詳細に説明する。なお
、従来と変らない部分については図中に同じ符号を付け
て示し、説明を省略する。
図におけるチップペッド(106)はエツチング等によ
りパターニングされた0、 5 ms #Lの鋼材で形
成され、その上面に半導体素子(101)が高融点はん
だ(融点300〜350℃)でマウントされている。
りパターニングされた0、 5 ms #Lの鋼材で形
成され、その上面に半導体素子(101)が高融点はん
だ(融点300〜350℃)でマウントされている。
次に、上記チップペッドの半導体素子マウント面と反対
側主面(下面)に所定の絶縁間隔を保って対向配置され
たアルミニウムの放熱板(1)で1例えばその2誼厚板
をプレス打抜き形成し、かつチップペッド(106)と
対向する側の主面c図の上面)(1a)に一定方向の複
数構(2,2・・・)が刻設されている。この溝の形成
はプレス、コイニング等によって施され、その溝深さは
一例として0.3〜0.05鴎で良い結果が得られた。
側主面(下面)に所定の絶縁間隔を保って対向配置され
たアルミニウムの放熱板(1)で1例えばその2誼厚板
をプレス打抜き形成し、かつチップペッド(106)と
対向する側の主面c図の上面)(1a)に一定方向の複
数構(2,2・・・)が刻設されている。この溝の形成
はプレス、コイニング等によって施され、その溝深さは
一例として0.3〜0.05鴎で良い結果が得られた。
次に、注型樹脂の例えばMP−4000(商品名、日東
電工社製)の熱伝導性樹脂を用い、放熱板のチップペッ
ドと非対向工面(lb)を除き樹脂注型な施して半導体
装置の形成が達成される。
電工社製)の熱伝導性樹脂を用い、放熱板のチップペッ
ドと非対向工面(lb)を除き樹脂注型な施して半導体
装置の形成が達成される。
[発明の効果]
この発明によれば、まず、放熱板(−銅張りアルミニウ
ム基板やセラミック基板のような絶縁基板を用いないの
で、工程を簡略化できる上に、放熱板の部品コストが低
数で製品のコストダウンにつながる利点がある。
ム基板やセラミック基板のような絶縁基板を用いないの
で、工程を簡略化できる上に、放熱板の部品コストが低
数で製品のコストダウンにつながる利点がある。
次には、工程が簡略化されることから工程が自動化しや
すく、量産に適する。
すく、量産に適する。
さらに、樹脂成形時に気泡の発生を防止できて絶縁耐圧
をAC5KV以上確保でき、併せて優れた放熱特性を得
ることができるなどの顕著な効果がある0
をAC5KV以上確保でき、併せて優れた放熱特性を得
ることができるなどの顕著な効果がある0
第1図はこの発明の1実施例にかかり、図(−)はマウ
ントを示す上面図、図(b)は図(−3のAA線に沿う
断面図、図(C)は放熱板を説明するための一部を示す
斜″a図、第2図はパッケージ内の配置を示す回路図、
第3図以降は従来例を示し、第3図は断面図、第4図は
パッケージ内の配置を示す回路図。 1に5図において図<a)はマウントを示す上面図1図
(b)は図(、)のλ人腺に沿う断面図、第6図は別の
従来例を第5図(b)に準じて示す断面図である。 l 金属放熱板 1g 金属放熱板の上面(チップペッドとの
対同面) 1b 金属放熱板の下面(露出面)2
金属放熱板上面の溝 101 半導体素子 105 成型樹脂(パッケージ) −116
チップペッド 第 1 図 第 2 図 第3図 第 4 図 t0If/鉢
ントを示す上面図、図(b)は図(−3のAA線に沿う
断面図、図(C)は放熱板を説明するための一部を示す
斜″a図、第2図はパッケージ内の配置を示す回路図、
第3図以降は従来例を示し、第3図は断面図、第4図は
パッケージ内の配置を示す回路図。 1に5図において図<a)はマウントを示す上面図1図
(b)は図(、)のλ人腺に沿う断面図、第6図は別の
従来例を第5図(b)に準じて示す断面図である。 l 金属放熱板 1g 金属放熱板の上面(チップペッドとの
対同面) 1b 金属放熱板の下面(露出面)2
金属放熱板上面の溝 101 半導体素子 105 成型樹脂(パッケージ) −116
チップペッド 第 1 図 第 2 図 第3図 第 4 図 t0If/鉢
Claims (1)
- リードフレームのチップペッドにおける半導体チップ
配設主面と反対側主面に対向し絶縁間隔を保持して配置
された放熱板と、前記放熱板の非対向面を除きリードフ
レームのリードと、半導体チップとを一体に樹脂封止し
た樹脂封止型半導体装置において、放熱板がチップペッ
ドと対向する側の主面に樹脂封止における樹脂の流入方
向に沿う溝が設けられていることを特徴とする樹脂封止
型半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15875784A JPS6139554A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15875784A JPS6139554A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6139554A true JPS6139554A (ja) | 1986-02-25 |
Family
ID=15678674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15875784A Pending JPS6139554A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6139554A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62183130A (ja) * | 1986-02-06 | 1987-08-11 | Nippon Denso Co Ltd | 樹脂封止による半導体装置の製造方法 |
US6002173A (en) * | 1991-12-20 | 1999-12-14 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | Semiconductor device package with metal-polymer joint of controlled roughness |
KR100859137B1 (ko) * | 2006-04-05 | 2008-09-19 | 샤프 가부시키가이샤 | 반도체 발광 장치 |
WO2016128231A1 (en) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Power module |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP15875784A patent/JPS6139554A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62183130A (ja) * | 1986-02-06 | 1987-08-11 | Nippon Denso Co Ltd | 樹脂封止による半導体装置の製造方法 |
US6002173A (en) * | 1991-12-20 | 1999-12-14 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | Semiconductor device package with metal-polymer joint of controlled roughness |
KR100859137B1 (ko) * | 2006-04-05 | 2008-09-19 | 샤프 가부시키가이샤 | 반도체 발광 장치 |
WO2016128231A1 (en) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Power module |
CN107210273A (zh) * | 2015-02-12 | 2017-09-26 | 丹佛斯硅动力有限责任公司 | 功率模块 |
US10403566B2 (en) | 2015-02-12 | 2019-09-03 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Power module |
CN107210273B (zh) * | 2015-02-12 | 2020-03-27 | 丹佛斯硅动力有限责任公司 | 功率模块 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3469017A (en) | Encapsulated semiconductor device having internal shielding | |
KR0156622B1 (ko) | 반도체 패키지,리드프레임 및 제조방법 | |
KR102405276B1 (ko) | 반도체 패키지 및 이의 제조방법 | |
JP2770947B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
JPS60137042A (ja) | 樹脂封止形半導体装置 | |
JPH06151657A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPS6139554A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH09199629A (ja) | 半導体装置 | |
JPH08213547A (ja) | 半導体装置 | |
KR900001984B1 (ko) | 수지봉합형 반도체장치 | |
JPH04249353A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH0773122B2 (ja) | 封止型半導体装置 | |
JP2564771B2 (ja) | 放熱板付き半導体装置及びその製造方法 | |
JP2795063B2 (ja) | 混成集積回路装置 | |
JPH0922970A (ja) | 電子部品 | |
JP2819282B2 (ja) | 半導体パッケージおよびその製造方法 | |
JPH0563113A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPS61168926A (ja) | 樹脂基板 | |
JPS63190363A (ja) | パワ−パツケ−ジ | |
JPH0617249U (ja) | 半導体装置 | |
JPS6151427B2 (ja) | ||
KR20120117483A (ko) | 전력 반도체 패키지 및 그 제조방법 | |
KR20010057046A (ko) | 캐비티를 갖는 패키지 기판 | |
JPS61270850A (ja) | 半導体チツプ実装用パツケ−ジ | |
JP2504262Y2 (ja) | 半導体モジュ―ル |