JPS6139522A - 平坦なタ−ゲツト及び凹状のタ−ゲツトを有するマグネトロンスパツタリング装置 - Google Patents

平坦なタ−ゲツト及び凹状のタ−ゲツトを有するマグネトロンスパツタリング装置

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JPS6139522A
JPS6139522A JP10416685A JP10416685A JPS6139522A JP S6139522 A JPS6139522 A JP S6139522A JP 10416685 A JP10416685 A JP 10416685A JP 10416685 A JP10416685 A JP 10416685A JP S6139522 A JPS6139522 A JP S6139522A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、一般にマグネトロンス・母ツタリング装置に
関し、特に、平坦な放出面を有する第1のターゲット及
び凹状放出表面を有する第2のターゲットを有するマグ
ネトロンス/4’ツタリング装置に関するものである。
従来技術 マグネトロンス・ぐツタ装置が、排気チェンバ内の交差
する電界と磁界とによって特徴づけられる。
この排気チェンバには、アルがンのような不活性のイオ
ン化可能のガスが導入される。そのガスは、電界によっ
てイオン化される。磁界は、イオン化したガスを限定す
る。イオン化したガスは、原子を放出するターゲット構
造物の近傍でプラズマを形成する。原子は、被加工物上
に入射する。被加工物は、コーティング処理での基板で
あシ、或いは原子によってエツチングされ得るものであ
る。
一般に、磁界は永久磁石構造物によって形成され、電磁
石装置はこの目的のために使用されている。
コーティングを行う上で、マグネトロンスノクツタリン
グ装置は、しばしば電子集積回路型ディバイスの製造に
おいて金属を付着させるために使用される。磁気ディス
ク装置のために用いられる型の高密度磁気ディスクの製
造において、磁性体を付着させることもまだ周知である
従来技術のマグネトロンスノやツタリング装置において
は、基板に亘って一様なコーティングの厚さが、コーテ
ィング中に基板を移動させることによって得られた。基
板を移動させることは更に、最適のステップ力/9レッ
ジ(5tep  coverge )すなわち、あるコ
ーティングから他のコーティングへの段階的移動を行う
助けとなる。もちろん、スノfツタ装置の動作中に基板
を移動させるのには、多くの問題がある。異なる物質、
特に合金にするのが困難でl)又は不可能な物質、すな
わち、単一のターゲット上に存在するのに適合しない物
質、を共著させることもまた、ある場合には所望される
。あらゆる場合に、可能な限り速い速度でス・9ツタ装
置を動作させることが、所望されている。
従って、本発明の目的は新規で改良されたマグネトロン
スパッタリング装置を提供することである0 本発明の他の目的は、比較的大きなターゲット領域から
放出される材料が広範囲な被加工物に一様に入射するマ
グネトロンス/’Pツタリング装置を提供することであ
る。
更に、本発明の他の目的は、比較的高速度の動作速度の
新規でi良されたマグネトロンス・リタリング装置を提
供することである。
更に、本発明の他の目的は、被加工物を移動させること
なく広範囲な被加工物にステツブ力・ぐレッジを行うこ
とができる新規で改良されたス・fツタリング装置を提
供することである。
発明の概要 本発明に従うと、ターゲット組立体からの物質を被加工
物上へとス)J?シタ−さぜるためのマグネトロン真空
ス・ぜツタリング装置は、平坦な物質放出面を最初に有
する第1のターゲット及び凹状の放出面を最初に有する
第2のターゲットを有するターゲット手段を含んセいる
。その真空ス・9ツタリング装置は、排気された空間に
イオン化可能なガスを供給するガス源を含んでいる。こ
の空間はターゲット組立体と被加工物との間の空間で、
その被加工物上にターゲット組立体からの原子がコ)(
coat)され、又はエッチ(etch)される。イオ
ン化を行う電界がその排気空間にガスを供給する。その
電界によってイオン化されたガスに対して限定を行う磁
界が、第1及び第2のターゲットの放出表面の近傍に形
成される。ターゲットは、放出材料(物Jr!t)が第
1のターゲットの凹状放出表面外側から、平坦な放出面
に対してある角度でスフ4ツタ−されるように取り付け
られる。
電界を形成し、磁界を限定するための手段が、第1及び
第2のターゲットの放出面の僅か上にイオン化されたガ
ス内に分離した第1及び第2の放電を形成する。各々の
放電は、第1及び第2のターゲットを、装置のアノード
組立体に対して異なる負の高電位にバイアスすることに
よって形成される。第1及び第2の放電は、第1及び@
2の調節可能な電磁石源をそれぞれ含む第1及び第2の
磁気回路により第1及び第2のターゲット上にそれぞれ
限定される。磁−片組立体は、第1及び第2の電磁石源
から第1及び第2のター’I’ y トに磁束をそれぞ
れ結合する。
本発明はスパッタリング装置に関するものであるが、そ
れはターゲット自体に、特に好適実施例としては円錐台
によって画成される凹状表面を有するターガント組立体
に応用できるものである。
その好適実施例において、凹状表面は円錐の底面に対し
てほぼ45°という角度に傾けられている。
その角度というのは、広い領域のターグットに対して優
れたステツブ力パレッジを行えるモノトわかった。この
第2のターグットは、半径R2の円周を有する平坦な放
出面を最初に有する第1のターゲット素子とともに使用
される。凹状表面はR5及びR3の内径及び外径をそれ
ぞれ有する。ここで、これら半径はR2< R3< R
4である。好適には、第1のターグットはリング状であ
り、その平坦な放屁面はR1の内径を有する環状のもの
である。ここでR+ < Rtである。
従って、本発明の他の目的は、スパッタリング装置に対
する新規で改良されたターガント組立体を提供すること
である。
央に、本発明の他の目的は、物質を一様に広い領域から
広い領域の被加工物ヘスバッタさせ、固定被加工物上に
ステノプカパレノジを達成できる新規で改良されたター
ガント組立体を提供することである。
一対のターガント組立体を含むターガント組立体は新規
ではないと思われるが、その従来技術の構造物は2つの
同一平面上にあるターガント組立体を含んでいる。本発
明により、広い領域に亘って物質をより一様に付着させ
ることができ、6インチ(15,24LM)のような広
い領域に亘って改良されたステッノカパレッノを行うこ
とができる。
これは、凹状及び平坦な粒子放出表面を組み合わせたた
めである。ステッグカパレッノは、特に被加工物の外側
部分において改良される。
本発明の上記及び他の目的、特徴及び利点は、以下の特
定の実施例の詳細な説明を、添付の図面とともに考慮す
ることによシ明らかになるであろう。
第1図の概略図を参照すれば、マグネトロンス/IPツ
タリング装置11が、真空チェンバ12を含むように図
示されている。真空チェンバ12は、包囲されたス・母
ツタコーティング処理又は付着(depositing
 )容積13を含む。処理容積13では、被加工物14
が、在来の手段(図示せず)によって固定して取り付け
られている。・詳細な説明では被加工物14はコート(
被覆)されるべき基板であるが、本発明は被加工物から
物質をエツチングするのにも適用できることを理解すべ
きである。代表的に、基板14は、例えば、4乃至6イ
ンチ(10,16crn乃至15.24 cm )の比
較的大きな直径を有する集積回路の一部である。その基
板14上には、物質が、ステッグカパレッジに対して付
着する。かかる場合では非磁性体が、基板上に付着する
しかしながら、本発明は、例えば磁気ディスク装置のよ
うな装置を形成するために磁性体を基板14上に付着さ
せるのに応用できる。第2図乃至第4図に関連して説明
される特定の構造物の一定の変形が、一般に磁性体の付
着のために最適の結果をもたらすのに必要である。磁性
体のスパッタリングのための各ターグットが、非磁性金
属ボルダ上に取シ付けられた比較的薄い磁気ス) IJ
ツノを含む。磁気ストリップは、4分の1インチ(0,
63cIn)と2分の1インチ(1,27rrn)との
間で、比較的薄く、磁力線は、これらのストリップによ
って実質的に影響を受けない。磁性体は、その磁性体を
貫通する磁束に対する磁性体の作用を最小にすべく飽和
される。異なる物質の層が、第1図で図示する装置によ
って、カソード組立体15のためのターダット物質を適
切に選択することによって基板14上に付着され得る。
装置11が、電気的にアースされた、高い導電率を有す
る金属製物質から成る外部ハウジング16を含む。ハウ
ジング16は、アノード組立体の一部であり、基板14
と同心の軸線を有し、史にターケ0ットカソード組立体
15と同軸線の円筒として一般に形成される。カソード
組立体15内のターグットは、直流電源18によってア
ースに対して負の高圧電位に維持される。
プラズマをカソード組立体15付近の処理容積13内に
形成するために、不活性ガス11代表的にアルゴンが、
加圧不活性が電源19から処理容積へ供給される。処理
容積は、真空ポンプ20によって排気される。ガス源1
9と真空ボンf20とを組み合わせて、例えば7ミリト
ルの比較的低い圧力で処理容積13を維持する。
図示された実施例で、カソード組立体15は2つのター
グツト素子22及び23を有する。ターグツト素子22
及び23は平坦な環状原子放出面24及び凹状原子放出
面25をそれぞれ有する。
凹状原子放出面25は、ディスク形のターグツト素子2
2の縦軸線に直角の底辺26を有する円錐台の側面とし
て成形される。面24が、底辺26に対して45°の角
度でその長さ全体に亘って傾斜される。ターグツト素子
22及び23は、互いに同心であり、基板14の軸線2
7に沿って一致する軸線を有する。ターグツト素子22
及び23の特定の形状については、第2図乃至第4図に
関連して以下に詳/14JIに説明する。
分離プラズマ放電が、形成されて、ターダノト素子22
及び23上に限定される。分離放電は、トロイダル電磁
石コイル29及び3oがら得られた磁界に応答して(好
適には鉄の)磁極片組立体28によってターグツト素子
22及び23に結合した分離可変磁界によって限定され
る。磁極片28並びにコイル29及び3oは軸1tJj
!27に対し軸対称でほつ同心であり、フィル30はコ
イル29の外側に設置でれる。
磁極片組立体28は、軸#i!27に関して直角に配置
されたディスク形のペース32を含む。ペース32は、
中心スタッド33並びにリング34及び35と連結して
いる。スタット033は軸線27に沿って伸長し、リン
グ34及び35け1lll線27と同心である。スタッ
ド及び各リングは、く−ス32から基板14に向かって
縦軸線方向く伸長する。スタッド33はコイル290円
筒状空間の中心に設置され、リング34はコイル29 
、!: :rイル30との間に伸長している。リング3
5は、コイル30及びターrノド素子23の外側にある
。す/ダ35は、軸線27に直角に、内方に向いた7ラ
ンノ36を含む。リング34は環状ターグツト素子22
の外径及びターrノド素子23の下方面に近接し、中心
のスタッド33はター’t’ y ト素子22の内径に
近接している。
独立に制御された別々の電流が、直流電源37及び38
によって電磁石コイル29及び30にそれぞれ供給され
る。電源37及び38は制御装置39から得られた信号
に応答して別々に制御され、ターゲット索子22及び2
3が使用中に浸食されるとき、コイル29及び30に供
給された電流は放電インピーダンスを比較的一定に維持
すべく変化する。
分離放電を形成するために、直流電源18が、異なる負
の直流高圧レベル−El及び−Ebでターダット素子2
2及び23を・それぞれ維持する。磁極片組立体28の
詳細な構造並びに直流電力をターダット素子22及び2
3へ供給するだめの詳細な構造については、第2図乃至
第4図に関連して以下に説明する。
一般に、コイル29及び30並びに磁極片組立体28に
供給される直流電流は、ターグツト素子22及び23内
に磁束線を形成する。この磁束線は、放出面24と交差
し、はぼ垂直の第1の方向で、例えば、上方に、その放
出面の外径の近傍で環状放出面24の境界を通って通過
する。同一の磁束は、はぼ垂直の第2の方向で、例えば
、放出面24の内径の近傍で放出面24を通過する。同
様に、放出面25の外径の近傍で軸線27に向って放出
面25を通過する磁束はまた、ターj” y ト素子2
3の内径のところに戻る。これによシ、分離プラズマ放
電が放出表面24及び25の上方に保持され、ターグツ
ト素子22及び23の浸食グロフィールはタ r/Fの
放出表面上に集中する。
放出面24及び25によって画成される境界を横断する
磁力線の間の角度は磁極組立体28によって非常に低く
維持されて、その結果磁界は放出面24及び25に亘っ
て非常に一様になる。fライマ密度を放出面24及び2
5のすぐ上で全体に亘って可能な限り一様に維持して、
放出面を一様に浸食し、以て、放出物質によってターゲ
ット自己遮蔽(self−shadowing )を誘
導する「V−」形浸食プロフィールとなる傾向を最小に
する。自己遮蔽とは、ターゲットから放出され又はスノ
クツタされた物質がターゲット上に集まり、ターゲット
から基板に向けて更に物質が進行するのを妨げる傾向を
有する現象である。
コイル29によって磁極片組立体28に形成され、結合
した磁界は、磁束による第1の磁気回路を形成する。第
1の磁気回路内の磁束は、軸線方向にスタッド33に沿
って、そこからターゲット素子22を通って軸線方向で
巨つ半径方向に、更に放出面24よシわずかに上を通る
。ターゲット素子22及び放出面24よりすぐ上の空間
から、磁束は、リング34へ軸線方向で且つ半径方向に
、そこからリング34に沿ってペース32へ軸線方向に
進む。ベース32により、第1の磁気回路は、スタッド
33へ半径方向に戻る磁束によって完全なものとなる。
電磁石30によって形成される磁束は、第2の磁気回路
を形成する。第2の磁気回路内の磁束は、リング35を
通って軸線方向に進み、そこからフランツ36を通って
ターゲット素子23へ半径方向に眩む。磁束は、ターゲ
ット素子23内で放出面25よりわずかに上を通り、そ
こからリング34へ進む3、リング34により、磁束は
、ペース32へ軸方向下方へ進み、ベース32で磁束は
、リング35へ半径方向外方へ進み、第2磁気回路が完
全なものとなる。電磁石29及び300巻き方向並びに
電源37及び38によって電磁石に供給される電流の極
性は、リング34での第1及び第2磁気回路の磁束が反
対方向となって、(1)リング34を形成する磁性体の
飽和を回避し、(2)カソード組立体15の大きさ及び
重量を減少し、(3)効率を改良するようKしたもので
ある。
ターゲット素子22及び23が磁性体であると十分な電
流が、1π源37及び38によって電磁石29及び30
に供給されて磁気ターゲット素子を飽和させ、周縁の磁
界はターゲット素子より上に存在して放出面22及び2
3よりすぐ上のグラズマを限定する。
ターゲット素子22及び23は、互いに関連付けて設置
され、そして基板14からの間隔をあけて配置され、物
質を基板表面に亘って一様に被覆可能にする。放出面2
4及び25からの相対的ス・母ツタ速度は、装置11の
動作の中に電源37及び38を制御することによって調
整されて、ターゲット素子22及び23の放出面24及
び25が浸食するときに基板14の異なる部分への一様
な付着が維持される。
ターゲット素子22及び23は、第2図乃至第4図に関
して詳細に以下で説明する方法で、磁極片組立体28と
同様に冷却される。ターゲット素子22及び23を冷却
する同一の構造物は、電源18からターゲット素子22
及び23へ直流動作電圧を印加する。冷却液体を磁極片
組立体28へ供給する構造はまた、磁極片組立体を支持
する。
第2図乃至第4図において、カソード組立体15が詳細
に図示されている。第2図の断面図は、第2図と第3図
の比較かられかるとおり第3図の点線2−2によって示
されるかなり迂回した径路に沿っているもので、そのよ
うな断面図はカソード組立体15の最も重要な特徴をよ
り容易かつ明らかに説明するだめのものである。
ディスク状ターゲット素子22が、平面で環状の放出面
24を有し、更に先がとがった内側半径41を有する。
その内側半径41は、放出面24に平行で、反対側の面
42に向って軸線27から外方へと広がっていくもので
ある。ターゲット22の外側周囲は、軸線方向に伸長す
る切片壁43を有する。その切片43は、半径方向に伸
長するリム44と同様に平面42と交差する。リム=1
4は、放出面24及び平面42に平行になっている。放
出面24とリム44との間には、斜面qbi旬杉戟され
ている。軸線方向に伸長する切片壁43上には、2つの
直径方向で対置する切取片46があり、各々が、非磁性
ピンを収納するために平行六面体に成形されている。非
磁性ビンは、所定の位置にターゲット素子22を保持す
るのを助ける。好適に切取切片46内に収納されるピン
は、ベリリウム銅合金で形成される。
ターゲット素子23は、ベース47及び円筒状側壁48
を有し、凹状放出面25を有するリングとして形成され
ている。ベース47及び側壁48は、それぞれ軸線27
に直角で且つ軸線27に平行である。凹状放出面25は
、ベース47及び側壁48に関して放出面の長さ全体に
亘って45’傾けられている円錐台の側面として形成さ
れている。
短い第24−ス26が、軸線27から最も遠く離れた放
出面25の頂端と側壁48との間にある。
側壁48での直径方向で対置する切取部49が、非磁性
ベリリウム銅合金のピンを2収納し、ターゲット素子2
3を所定の位置で保持する。
クーケ°ット素子22及び23は、半径R1を有する平
面環状放出面24の外径が傾斜した放出面25の内径R
5よりも小さくなるよう形状付けられる。
もちろん、放出面25の外径R4は半径R5よりも大き
く、放出面24の内径R1は半径R1よυも小さい。
第2図に示されているように、磁極片組立体28は個々
の構造物を含み、そのため、中心磁極片スタット33、
中間磁極片リング34及び外側磁極片リング35がベー
ス32にネジ51によυ取シ付は固定されている。コイ
ル29及び3oは、ベース32に取り付けられ、電流が
同等の接触組立体52によって電源37及び38からそ
れらコイルに供給される。
第2図に示されているように、組立体52の1つが内部
壁土に比較的JJLい、金属コーティング54を有する
電気絶縁スリーブ53を含んでいる。そノ、(リ−f 
53 Kは、金属製の平坦なワッシャ56を支える金属
製ネジ55がねじ込まれている。ターミナルラグ(図示
せず)がネジ550頭部とワッシャ56との間のリード
線に接続され、電源37のターミナルに接続される。そ
のラグをス・fツタリング装置の残部から電気的に絶縁
するために、誘電体ワッシャ57がワッシャ56とスリ
ーブ53の先端面との間に挿入されている。
所望の磁界の形を形成することを助けるため忙、中心磁
極片スタッド33は円筒形状であり、それは上方で内側
に傾斜した部分を有し、それには非磁性の金属製(好適
にはアルミニウム)がかぶせられている。スタッド33
の上方部は、ターゲット素子22の内表面44の傾斜角
と同じ角度で、軸1IJ27に関して傾斜している。表
面41及びスタッド33の上方部が同じ角度に傾斜して
いるので、それらの間に一定の間隔が形成され、放出面
24を横断し、一定の磁界を形成する仁とに役立つ0 リング34は、軸線27と平行な上方及び下方部分を含
み、そして軸線27に関して外側に傾斜した内壁を有す
る中心部分を含んでいる。従って、リング34の内壁は
コイル3oによって形成される磁界をリングに集中化で
きるように、リングのf方部分よシも僅かに大きな直径
を有している。
リング35は長さ全体にわたって実質的に一定な厚さの
壁を有する。リング35の上方部には内側に伸張するフ
ランツ36があり、その7ランノは、金属製の非磁性(
好適にはアルミニウム)のネジ63によって所定の位置
VC保持された、2っの分離しているが接触した磁極片
、すなわち内側磁極片インサート61と外側磁極片シー
ルド62から形成されている。インサート61及びシー
ルド62の内側面とターグツト23の外壁48との間に
間隔が設けられ、それによりターゲット素子と磁極片と
の間に空間が形成される。
中間リング34からの磁束を両ターrット23及び23
に結合させるために、中央の磁極片インサート64は、
金属製非磁性(好適にはアルミニウム)のネジによって
、中間リングの上端面に取シ付けられている。磁極片6
4は、それとターゲット素子22及び23の向い合った
面45及び47との間に一定の空間を形成できるような
形状をしている。このため、磁極片インサート64は外
側にチー・母−が付けられた円筒状の壁65を含み、そ
の壁65はターグツト44の平面の下の一平面から磁極
片インサートの先端に伸びている。磁極片64の先端は
ターゲット素子23の底面47に平行に位置し、平坦な
環状面によって画成されている。面66は、軸線27か
ら半径方向外側に向って放出面25とターゲット素子2
3の平坦な面47とが交差するところの外側の点から半
径方向で面47の長さのほぼ+の点へと伸びている。そ
の形状は、磁極片インサート64とターゲット素子23
及び23の各々との間に一定の空隙を形成する。
ターゲット素子(陰極)22及び23はアースされた磁
極片組立体28に対して異なる負の高電位に維持されて
いる。すなわち、ターゲット素子22は−E、に、ター
ゲット素子は−Ebの電位に維持されている。ターゲッ
ト素子22及び23と隣接した磁極片素子、すなわち中
心磁極片33上のアルミニウム製キャッグ69との間の
空隙、中心磁極片インサート64、並びに外側磁極片イ
ンサート及びシールド62のために、電気力線は空−隙
にそってターゲットを貫通する。
ターゲット素子22は軸線方向に伸びた金属製の非磁性
(好適には銅)管71によって−Eaの電位となってい
る。その管71は、軸線27と一致する軸線を有する金
属製の非磁性(好適には銅)リング72と機械曲目、っ
11f気的に連結されている。
リング72はまた、ターゲット素子の交差する水平及び
垂直に伸びた平面42.43及び44と接触することに
よってターゲット素子の下面を支持している。ターゲッ
ト素子を所定の位1直に保持するだめに切片46と係合
する同じ非磁性ピンを収納するようにリング72に切抜
きが形成されている。リング72及び平面42は、ター
ゲット素子22の外端からその中心に向って平面42の
半径のほぼXの距離まで相互に接する。
管71はベース32を貫通するが、軸線方向に伸張した
誘ML体スリーブ73によシそこから電気的に絶縁され
る。リング72の近傍の管71の末端は、誘電体ス<−
?74のようなスリーブにより、そして金属製の非磁性
(好適にはステンレススチール)バルクヘッド75によ
り順に支えられている。そのヘッド75は磁極片33と
中間磁極片34との間に半径方向に伸長し、連結されて
いる。ラグ(図示せず)は銅製の管71にわたって整合
し、!J  (”Wに、そしてDCtl源18の電圧タ
ーミナルE1に順に接続されている。
軸線27の両側におけるターゲット素子22の部分は、
非磁性の金属性ネジ76がねじ込まれる軸線方向に螺刻
された穴を■する誘電体スタッド275によって支持さ
れている。ネジ76はスタッド275を所定の位置に保
持するためにヘッド75内の同様の螺刻された穴の中に
伸びている。
スタッド275は、そのスタッドと近接した金属製部分
との間で絶縁が破壊されるのを妨げするために役立つ、
半径方向に伸長し、軸線方向に間隔があけられたスロッ
ト77を有している。スロット77は、ターゲット素子
22及び23からの金属粒子について高いフロー(fl
ow)インピーダンスを有し、その金属粒子ガスロット
に移動することを妨げ、従ってスタッドの電気杷は特性
を保存する。スタッド275は更に半径方向に伸長した
そロット78を含み、その中にリング72の底面に対し
て水平に伸長した支持シコルグー79を取り込んでいる
。前述したように、ターゲツト素子221d: 持され、同じ構造物によりアース導体及びターゲット素
子から電気的に絶縁されている。
ターゲット素子22の支持構造物はまた、ターゲットを
冷却することができる。この目的のために、リング72
は、管71の内部と連通し、流体が流れることができる
一対の環状の軸線方向に伸長したスロット81及び82
を有している。管71の内部に供給される冷却流体(好
適には水)ガスロット81及び82の中を流れ、リング
72の全周囲を冷却する。スロット81及び82はリン
グ72の全体にそって垂直に伸びている。スロット81
及び82の中の水は、管71に隣接した銅製管70(第
3図)を通ってスロットから流出する。
銅製リング72の底面に取り付けられた環状ガスタッド
84は、スロット81及び82の全体を、それらスロッ
トと装置の残部との間を液密とするために、管71及び
70が連結されているところを除いて覆う。管70は管
71と同様にベース32を貫通しているが、スリーブ7
3と同じスリーブによってベースから電気的絶縁されて
いる。
電源−Ebに電気的に接続されたターゲット素子23は
機械的に支持され、ターゲット素子22に対して説明し
てきたことを同じようにして冷却される。特に、ターゲ
ット素子23は軸線方向に伸長した銅製の管85及び8
6に電気的に接続され、その管85及び86はペース3
2を貫通して伸びているが、誘電体スリーブ87によっ
てペースから電気的に絶縁されている。電流が銅製管8
5からリング88に流れる。そのリング88は、ターゲ
ット素子230円筒状壁48及び平坦面47と接触し、
保持している。リング88は、ターゲット素子を適所に
保持するために切取部49と係合する同じ非磁性ピンを
収納するための小さな切取部を有している。リング88
は、軸線方向に伸長した誘電体スリーブ91及び92に
よって装置の残部に機械的に支持され、電気的に絶縁さ
れている0 スリーブ91は鋼製の管85が貫通して伸びる中央穴を
有している。スリーブ91は、金属製で非磁性(好適に
はステンレススチール)のバルクヘッド93に対し下方
で接するショルダーを有している。そのヘッドは中間磁
極片34と外側磁極片35との間に半径方向に伸び、機
械的に接続されている。
バルクヘッド93の内部壁にそって、冷却流体が以下で
説明するように循環する環状チャネル94が設けられて
いる。リング支持スリーブ92は、銅製リング88の内
側に伸張したフランジ96を収納し支持する。スリーブ
92はまた、スリーブ又はスタッド7−5上の同様のス
ロット77と同じ機能を果たす、半径方向に伸長したス
ロット97を有している。
ターゲット素子23を冷却するために、リング88は、
管85及び86の内部と連通し、流体が流れることがで
きる軸線方向に伸長した一対の環状スロット98及び9
9を有している。スロット98及び99は、リング72
のスロット81及び82に対して説明したのと同様K 
17ング88の全体にわたって垂直に伸びている。スロ
ット98及び99は環状ガスタッド101FCより液と
なる。
ガスケット101は、スロット98及び99が管85及
び86の内部と連通している領域を除いて、リング88
の下面と接して、半径方向に伸長している。
高電位ターゲット素子22及び23とカソード組立体1
5の、周囲を囲む電気的にアースされた部分との間に比
較的一定の電界を維持するために、金Fr、r% ’I
Jで非磁性(好適にはアルミニウム)の環状スペーサ1
03及び104が設けられている。内側ス(−サ103
は金IAMで非磁性のネジ304によって・9ルクヘツ
ド75に取り付けられ固定されている。ス(−サ103
は、中央磁極片33の僅かに外側から中間磁極片34の
僅かに内側へ半径方向に伸長している。スペーサ104
は、中間磁極片34の外壁と整合した位置から磁極片3
bの内壁の僅か内側の位置へ半径方向に伸長している。
ス(−サ103及び104とその隣接した部分との間に
は一定の間隙が存在し、高電位放電を最小化し、装置の
寿命を長くする。
効率を最大にするだめに、磁極片組立体28並びにター
グツト要素22及び23を有するターグツト組立体は冷
却される。磁極片組立体28を冷却するために、中央磁
極片33は軸線方向及び半径方向に伸びた穴107.1
08及び109を有している。半径方向に伸びた穴10
9は磁極片33の先端近傍、すなわちターグット22の
近傍にちる。穴107及び10Bはペース32を貫通し
て伸びた管111及び112によって、水供給源及び水
溜めに連結されている。磁極片34を冷却するために、
その中に軸線方向に伸びた穴113及び114が設けら
れている。それら穴113及び114は、ペース32を
貫通して水供給源及び水溜めへと伸長した管115及び
116にそれぞれ連結されている。バルクヘッド97に
隣接した穴1130宋肩に、外側に伸長した通路117
がある。冷却流体がその通路を通って穴113と環状流
体通路94との間を流れる。これにより、冷却流体は、
磁極片34を冷却するために、磁極片34の周囲を囲む
ように流れる。外側磁極片35を冷却することは、その
大部分が露出し、カソード組立体15の中央から遠いた
めに必要ない。
動作において、ターグツト22及び23は、物質がそれ
らからス・ヂッタされたときに消散する放電力による熱
で膨張する。ターゲット素子22及び23の膨張によシ
、ターグツトと支持リング72及び88との間の接触が
より強くなる。そのため、ターゲット素子22及び23
とリング72と98との間ではそれぞれ気密となり、タ
ーゲット素子とリングの間でよりよい熱伝導が行われ、
これにより、ターゲット素子からリングへの熱伝導にお
ける冷却効率が高まる。
ターゲット素子23及び24の上方の空間、及びカソー
ド組立体15と基板14との間で、ノ4ルクヘッド75
及び93でプラズマ放電が限定されるところの領域では
高度め真空が維持される。°・クルクヘッドを貫通して
適合した全ての要素は0リング121によってヘッド内
の壁において密封される。例えば、絶縁スリーブ74及
び91は、0リング121によってヘッド75及び94
においてそれぞれ密封される。
カソード組立体15は、軸線方向に隔設され、半径方向
に伸長した取付け7ランジ211及び212によってチ
ェンバに固着されている。それら7ランノ2.11及び
212は磁極片35の外側壁に固定されている。適正な
密封を行うために、フランツ211はOリング213を
支えるためのスロットを有している。rf 遮蔽214
はフランツ211の他のスロット内に配装置されている
。フランツ212はチェンノぐ16と接触するOリング
を収納するだめの溝を有している。
本発明の好適実施例が説明され図示されているが、説明
し図示した好適実施例の細部での変形が特許請求の範囲
で画成される本発明の思想及び範囲から逸脱することな
く行なわれ得ること社、明らかであろう。例えば、DC
グラズマ励起電界はRF場によって置換することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の好適実施例に従うス・センタリング
装置の概略図である。 第2図は、本発明の好適実施例に従う、第3図の2−2
線にそった磁気回路及び冷却構造物を含むターグツト組
立体の断面図である。 第3及び第4図は、第2図に示した組立体の各平面図及
び底面図である。 〔主要符号の説明〕 11・・・マグネトロンスノやツタリング装置12・・
・真空チェンバ     13・・・処理容積14・・
・被加工物       15・・・カソード組立体2
2.23・・・ターゲット素子 24・・・環状原子放
出面25・・・凹状の原子放出面   28・・・磁極
片組立体29.30・・電磁石     32・・・ベ
ース33・・スタッド       34.35・・・
リング36・・・7ランノ 特許出願人  パリアン・アソシエイツ・インコーホレ
イテッド 、::一子、。 代理人 弁理士竹内澄夫:゛−゛ −′I=− Iヒー FT蓼ノ 手続補正書動式) 昭和60年9月4日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、平坦な物質放出面を最初に有する第1のターゲット
    及び凹状の放出面を最初に有する第2のターゲットを有
    するターゲット手段から物質を被加工物へとスパッタさ
    せる真空スパッタリング装置であって、 a)排気されるターゲットと被加工物との間の空間にイ
    オン化可能なガスを供給する手段と、b)空間内のガス
    に対してイオン化電界を形成する手段と、 c)第1及び第2のターゲットの放出面の近傍に電界に
    よってイオン化されたガスに対して限定する磁界を形成
    する手段と、 d)放出物質が、第1のターゲットの外側にある凹状の
    放出面から平坦な放出面に対してある角度でスパッタさ
    れるようにターゲットを取り付ける手段と、 から成る装置。 2、特許請求の範囲第1項に記載された装置であって、 前記電界形成手段及び限定磁界形成手段が、第1及び第
    2のターゲットの放出面から僅かに上のイオン化された
    ガスに分離した第1及び第2の放電を発生する手段を有
    し、 該分離放電発生手段が、第1及び第2のターゲットの上
    のガスに対して分離した第1及び第2のイオン化電界を
    それぞれ形成する手段、並びに第1及び第2のターゲッ
    トの放出面の近傍に電界によってイオン化されたガスに
    対して限定する異なった磁界を形成する手段を有し、前
    記限定磁界形成手段が、第1及び第2のターゲットをそ
    れぞれ貫通する第1及び第2の磁気回路を有し、 該第1及び第2の磁気回路が、第1及び第2の磁界発生
    源、並びに該第1及び第2の磁界発生源から第1及び第
    2のターゲットに磁束を結合する磁極片組立体をそれぞ
    れ有するところの装置。 3、特許請求の範囲第2項に記載された装置であって、 前記第1及び第2の磁界発生源の相対強度を調節する手
    段を更に含むところの装置。 4、特許請求の範囲第3項に記載された装置であって、 前記磁界発生源が電流発生源に応答して調整可能な別個
    の電磁石であるところの装置。 5、物質を被加工物上へ衝突させる真空スパッタリング
    装置であって、 a)平坦な物質放出面を最初に有する第1のターゲット
    及び凹状の放出面を最初に有する第2のターゲットを有
    する、物質をスパッタリングするターゲット手段であっ
    て、 放出物質が、第1のターゲットの外側にあ る凹状の放出面から平坦な放出面に対してある角度でス
    パッタされるように、第1及び第2のターゲットが配置
    されるところのターゲット手段と、 b)排気されるターゲットと被加工物との間の空間にイ
    オン化可能なガスを供給する手段と、c)第1及び第2
    のターゲットの放出面の近傍に電界によってイオン化さ
    れたガスに対して限定する磁界を形成する手段と、 から成る装置。 6、特許請求の範囲第5項に記載された装置であって、 前記平坦な放出面が内径及び外径をそれぞれR_1及び
    R_2とする環状の形状を有し、前記凹状の放出面が前
    記環状の平坦な放出面の縦軸線に関して対称であり、内
    径をR_3、外径をR_4とし、 ここでR_2<R_2<R_3<R_4であるところの
    装置。 7、特許請求の範囲第6項に記載された装置であって、 前記凹状の表面が円錐台の側面によって画成されるとこ
    ろの装置。 8、特許請求の範囲第7項に記載された装置であって、 前記凹状の表面が前記平坦な放出面に関して約45°に
    傾斜しているところの装置。 9、特許請求の範囲第7項に記載された装置であって、 前記電界形成手段及び限定磁界形成手段が、第1及び第
    2のターゲットの放出面から僅かに上のイオン化された
    ガスに分離した第1及び第2の放電を発生する手段を有
    し、 該分離放電発生手段が、第1及び第2のターゲットの上
    のガスに対して分離した第1及び第2のイオン化電界を
    それぞれ形成する手段、並びに第1及び第2のターゲッ
    トの放出面の近傍に電界によってイオン化されたガスに
    対して限定する異った磁界を形成する手段を有し、 前記限定磁界形成手段が、第1及び第2のターゲットを
    それぞれ貫通する第1及び第2の磁気回路を有し、 該第1及び第2の磁気回路が、第1及び第2の磁界発生
    源、並びに該第1及び第2の磁界発生源から第1及び第
    2のターゲットに磁束を結合する磁極片をそれぞれ有す
    るところの装置。 10、特許請求の範囲第9項に記載された装置であって
    、 前記第1の磁気回路が、磁束を第1のターゲットの半径
    R_1に結合する、軸線にそって軸線方向に伸長した第
    1の磁極片を有し、 前記第2の磁気回路が、磁束を第2のターゲットの半径
    R_4に結合する、その軸線と同中心の第2の環状磁極
    片を有し、 前記第1の磁気回路が磁束を第1のターゲットの半径R
    _1に結合する第1の磁極片手段を含み、前記第1の磁
    気回路が磁束を第2のターゲットの半径R_3に結合す
    る第2の磁極片手段を含むところの装置。 11、特許請求の範囲第6項に記載された装置であって
    、 前記電界形成手段及び磁界限定手段が、第1及び第2の
    ターゲットの放出面から僅かに上のイオン化されたガス
    に分離した第1及び第2の放電を発生する手段を有し、 該分離放電発生手段が、第1及び第2のターゲットの上
    のガスに対して分離した第1及び第2のイオン化電界を
    それぞれ形成する手段、並びに第1及び第2のターゲッ
    トの放出面の近傍に電界によってイオン化されたガスに
    対して異なる限定磁界を形成する手段を有し、 該磁界限定手段が、第1及び第2のターゲットをそれぞ
    れ貫通する第1及び第2の磁気回路を有し、 該第1及び第2の磁気回路が、第1及び第2の磁界発生
    源、並びに該第1及び第2の磁界発生源から第1及び第
    2のターゲットに磁束を結合する磁極片をそれぞれ有す
    るところの装置。 12、特許請求の範囲第11項に記載された装置であっ
    て、 前記第1の磁気回路が、磁束を第1のターゲットの半径
    R_1に結合する、軸線にそって軸線方向に伸長した第
    1の磁極片を有し、 前記第2の磁気回路が、磁束を第2のターゲットの半径
    R_4に結合する、その軸線と同中心の第2の環状磁極
    片を有し、 前記第1の磁気回路が磁束を第1のターゲットの半径R
    _1に結合する第1の磁極片手段を含み、前記第1の磁
    気回路が磁束を第2のターゲットの半径R_3に結合す
    る第2の磁極片手段を含むところの装置。 13、特許請求の範囲第5項に記載された装置であって
    、 前記凹状の表面が前記平坦な放出面に関して一定の角度
    で傾斜を付けられた直線の断面縁を有するところの装置
    。 14、特許請求の範囲第13項に記載された装置であっ
    て、 前記一定角度が約45°であるところの装置。 15、特許請求の範囲第5項に記載された装置であって
    、 前記平坦な放出面が円形周囲を有し、そして前記放出面
    と直角となる交軸を有し、 前記凹状の表面が前記平坦な放出面の交軸と一致する軸
    線を有する円錐台の側面によつて画成されるところの装
    置。 16、平坦な放出面を最初に有する第1のターゲット素
    子と凹状の放出面を最初に有する第2のターゲット素子
    とから成り、 前記第1及び第2のターゲットの幾何学的形状がそれら
    が真空中にあるときに、スパッタリング物質を第1のタ
    ーゲットの外側にある凹状の放出面から平坦な放出面に
    対してある角度でスパッタされるものとなるところの、
    真空スパッタリング装置のためのターゲット組立体。 17、特許請求の範囲第16項に記載されたターゲット
    組立体であって、 前記平坦な放出面が円形の周囲を有し、その放出表面と
    交差する軸を有し、 前記凹状の表面が、前記平坦な放出面の交軸と一致する
    軸線を有する円錐台の側面により画成されるところのタ
    ーゲット組立体。 18、特許請求の範囲第17項に記載されたターゲット
    組立体であって、 前記凹の表面が約45°傾斜しているところのターゲッ
    ト組立体。 19、特許請求の範囲第11項に記載されたターゲット
    組立体であって、 前記円形の周囲の半径がR_2で、 前記凹状の内径及び外径がそれぞれR_3及びR_4で
    あり、 ここでR_2<R_3<R_4であるところのターゲッ
    ト組立体。 20、特許請求の範囲第19項に記載されたターゲット
    組立体であつて、 前記第1のターゲットがリング状で、 前記平坦な放出面が内径をR_1とする環状のもので、 ここでR_1<R_2であるところのターゲット組立体
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