JPS6136923Y2

JPS6136923Y2 -

Info

Publication number: JPS6136923Y2
Application number: JP17509478U
Authority: JP
Priority date: 1978-12-18
Filing date: 1978-12-18
Publication date: 1986-10-25
Also published as: JPS5590941U

Description

【考案の詳細な説明】【産業上の利用分野】

本考案は、乾燥機に装備されて穀物等の被乾燥
物の含水率を自動的に測定する含水率自動測定装
置において、停電等により乾燥機が停止した際の
再運転後の初めての含水率自動測定で未熟米の影
響を阻止する未熟米抑制装置に関するものであ
る。

【従来の技術】

従来、含水率自動測定装置は、乾燥中の被乾燥
物の含水率検出値が設定された目標値に対してど
れだけ差異があるかを比較して、次回測定までの
時間間隔を定めるようにしている。

【考案が解決しようとする問題点】

ところで、このような形式のものにおいて、乾
燥がかなり進んだ過程で停電その他の条件により
乾燥機が停止した場合に、再運転後の初めの含水
率自動測定で平均より登熟の遅れた未熟米を試料
として採取し、これの含水率を測定したときは、
次回測定までの時間間隔が長過ぎるようなことに
なり、乾燥機の過乾燥、延いてはそれによつて生
じる品質の劣化を生じることがあつた。そこで、未熟米抑制装置が提案されたのである
が、従来のものは、乾燥開始の際の電源投入時に
未熟米を抑制するためのフラグはリセツトされて
おり、測定された水分の平均値が所定の値以下に
なるとフラグがセツトされ、次回の測定値に対し
未熟米を対象とした異常な測定値をカツトする等
の方法で、未熟米の影響を阻止するようになつて
いる。従つて、乾燥のはじめから作動したままであれ
ば、乾燥終了間近になる頃の数度の測定において
フラグがセツトされ、以後適正な測定が期待され
る。しかるに、停電後の再乾燥運転の際の電源投
入時には初回測定に対してフラグがリセツトされ
ていて未熟米の抑制が行われないので、未熟米の
影響を受け易く、その結果、直ちに乾燥の仕上り
に大きい影響を及ぼしていた。

【問題点を解決するための手段】

本考案は、このような事情に鑑みて提案された
もので、乾燥が終了間近になつての停電後の再運
転の際にも、未熟米を確実に抑制するように改良
した含水率自動測定装置における未熟米抑制装置
を提供するものである。この目的のため本考案は、乾燥開始の際の電源
を投入する始動時には含水率に関係なく未熟米を
抑制するためのフラグをセツトして強制的に未熟
米抑制回路を作動させるようにし、このときフラ
グがセツトされる平均値に対し抑制される水分値
は僅かに高く設計しておき、高水分籾の乾燥のよ
うに始動時にすべてが抑制を超える含水率値の場
合は、始動時の測定の平均値がフラグをセツトす
る値を超えることでそのフラグはリセツトするよ
うに構成したことを特徴とする。

【実施例】

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。第１図は穀物乾燥機を用いて籾を乾燥する際の
乾燥時間と含水率の関係を示し、この乾燥機に用
いられる含水率自動測定装置の電気回路を第２図
に示す。この第２図において、符号１は籾を圧砕
して電気抵抗を測定し、この抵抗に反比例した信
号を発生する測定機、２は積分回路、３は測定レ
ベル比較回路、４は測定間隔制御回路、５は測定
回数計数回路、６は測定フラグ回路、７は２秒ク
ロツクパルス発生回路、８は二段カツトオフフラ
グ回路、９は測定タイマー回路、１０は未熟米抑
制回路、１１は未熟米抑制フラグ回路、１２は停
止回路である。測定機１では、試料皿が待機位置にあり、その
位置で待機リミツトスイツチWTLSが開いてい
る。試料皿は、試料を採取するためモータの作動
により前進し、前進端でリミツトスイツチFWLS
を開き停止するようになつている。更に、一定時
間後、モータが逆転し、後退端でリミツトスイツ
チBWLSを開くようになつている。乾燥開始に際して電源が投入（第４図のスター
ト）されると、INIT信号によりNORゲートＧ−
１を介して測定回数計数回路５のカウンタＣ１が
セツトされ、カウント１１にセツトされる。それ
により出力QDが高レベル（以下Ｈと称す）とな
りAUTO信号が発生する。このAUTO信号は、
自動測定中を示す信号であり、測定回数計数回路
５へのカウント許可、積分回路２への積分許可、
測定フラグ回路６への停止解除等の指令信号とし
て作用する。またカウント１１にセツトするの
は、以後12，13，14，15，０と計数して５回の測
定が済むまでAUTO信号をＨに保つためであ
る。一方信号により測定フラグ回路６のフ
リツプフロツプFF−１をクリヤし、その出力Ｑ
は低レベル（以下Ｌと称す）になる。試料皿は待
機位置にあるので、リミツトスイツチWTLSは開
き、FWLS，BWLSは閉じている。ゲートＧ−Ａ
にはAUTO信号のＬレベル（低レベル）により
禁止されているので、ゲートＧ２の出力はハイレ
ベルである。従つて、ゲートＧ３はオンとなり、
モータ正転用リレーFWDが作動し、モータが正
転し、試料皿が前進し乾燥機内に入る。前進端で
リミツトスイツチFWLSが押されて開くと、ゲー
トＧ−２の入力がＨとなり、その出力がＬとな
り、ゲートＧ−３が禁止され、リレーFWDが不
作動となつてモータが停止する。一方、リミツトスイツチFWLSの作動により、
負入力ORゲートＧ−４の出力がＨとなり、イン
バータＩ−１を介して遅延カウンタＣ−２のクリ
ヤを解除し、1.75秒クロツクパルス発生回路７の
自走発振器Ｂ−１の出力Ｑから出力される1.75秒
クロツクパルスを計数し始める。この1.75秒クロ
ツクパルスは、主に後述の積分回路２の積分時間
を規制するために設定されたパルス信号である。
カウント８（16秒経過）になると、カウンタＣ−
２の出力QDがＨとなり、ゲートＧ−５の入力が
共にＨになるので、その出力はＬとなる。16カウ
ント（32秒経過）目で前記出力QDがＬになる
と、ゲートＧ−５の出力はＨになり、測定フラグ
回路６のフリツプフロツプFF−１の出力ＱはＨ
となり、出力はＬとなる。リミツトスイツチ
BWLSは閉じているので、ゲートＧ−６は入力が
共にＨとなり、オンとなつてリレーBAKが作動
してモータが逆転し、試料皿は後退し始める。こ
のように、試料皿が前進して停止した後、一定時
間（32秒経過）後に後退させるのは、その間に試
料皿上に試料を確実に採取するためである。試料皿の後退により、リミツトスイツチFWLS
が閉じ、遅延カウンタＣ−２をクリヤする。試料
皿の後退端でリミツトスイツチBWLSが作動して
開くと、ゲートＧ−６が禁止され、リレーBAK
が不作動となり、モータが停止すると同時に、電
極間で試料が圧砕される。同時に、前記のリミツ
トスイツチFWLSが開いた時と同様に、遅延カウ
ンタＣ−２は1.75秒クロツクパルス発生回路７の
出力パルスをカウントし始める。カウンタＣ−２が８カウント（16秒経過）する
と、その出力QDはＨとなり、出力QAはＬとな
る。一方、リミツトスイツチBWLSは開いている
ので、３入力NANDゲートＧ−７の入力が共にＨ
となり、その出力はＬとなり、スイツチ回路Ｓ−
１を作動させ、スイツチSW−１を閉じる。従つ
て、つまり、試料が圧砕されて、16秒経過後の測
定機１の出力が十分安定した時点で積分回路２
は、その出力の積分を開始する。カウンタＣ−２が８カウント（16秒経過）する
と、出力Ｑ_DはＨになり、３入力NANDゲートＧ
−８の入力条件が整い、その出力はＬとなる。こ
の出力Ｌは、１回の測定が終了したことを示すも
ので、その信号は、ゲートＧ−９を介して測定フ
ラグ回路６のフリツプフロツプFF−１をリセツ
トし、モータ正転用リレーFWDが作動し、モー
タが再び正転し、試料皿が前進し始める。また、
その信号は、測定回数計数回路５のカウンタＣ−
１に入り、１カウント計数し、カウント１２にな
り、１回目の測定を終了する。上記カウントと同時に、カウンタＣ−２の出力
Ｑ_B，Ｑ_CがＬとなり、ゲートＧ−７の出力がＨに
なり、スイツチSW−１が開き、１回目の積分は
終る。試料皿が前進すると、リミツトスイツチ
BWLSが閉じ、カウンタＣ−２は再びクリヤされ
る。試料皿の前進途中において、待機リミツトス
イツチWTLSを開き、ゲートＧ−Ａへの入力はＨ
となるが、AUTO信号によりゲートＧ−Ａは禁
止されたままなので、モータは停止しない。即
ち、上記カウンタＣ−１は、測定回数の計数用
に、上記カウンタＣ−２は、ゲートＧ−７，Ｇ−
８に接続して積分回路２、測定計数回路５、測定
フラグ回路６等の動作タイミング信号を出力する
ためにそれぞれカウント動作を行う。以上の作動が繰り返され、測定の回数が計数回
路５のカウンタＣ−１で計数され、５回目の測定
終了時にカウントＯに戻り、出力QDはＬとな
る。これにより、AUTO信号によるゲートＧ−
Ａの禁止が解け、リミツトスイツチWTLSが開い
た時、ゲートＧ−Ａの出力がＬとなり、ゲートＧ
−２を介してゲーＧ−３が禁止され、リレー
FWDが不作動となり、試料皿はリミツトスイツ
チWTLSのところで停止する。以上の５回の各測定による測定値の積算値は、
比較回路３で比較レベルと比較される。比較回路
３には、３個の比較回路Ｆ−１，Ｆ−２，Ｆ−３
が設けられ、Ｆ−１が最も比較レベルが低く、こ
れが目標値となり、一方、Ｆ−３，Ｆ−２は、Ｆ
−１よりも高くなるように抵抗R₁，R₂，R₃から
なる分圧回路により互いに所定間隔をおいて上下
に設定されている。積算された電圧は抵抗R₄，
VR₁，R₅の分圧回路により各比較回路の反転入力
に供給される。更に、比較回路３の各比較レベル
となる基準電圧は、抵抗R₁，R₂，R₃の分圧回路
に直列接続するロータリースイツチRSにより抵
抗VR₂の値を変えることにより変えることができ
る。即ち、使用者が目標含水率値を選択設定する
には、ロータリースイツチRSによりVR₂を変え
ることによつて、各比較回路の比較レベル全体を
上下に変更できるようになつている。従つて、積分回路２で積分された電圧は、比較
回路で比較されるが、積算が進むにつれて、比較
回路Ｆ−１により順次Ｆ−２，Ｆ−３へと基準電
圧に達していき、積算値が各基準電圧より高くな
ると、各回路の出力はＬレベルになる。この場
合、水分が多ければ、Ｆ−３までＬになるが、含
水率が低ければ、Ｆ−３またはＦ−２はＬになら
ずＨのままとなる。例えば、Ｆ−３は水分18％以
下でそれぞれＨになり、Ｆ−２は16.3％以下で、
Ｆ−１は15％以下でＨになる。各比較回路の出力
は、測定間隔制御回路４のカウンタＣ−３の入力
Ｂ，Ｃ，Ｄに加えられており、測定回数計数回路
５のカウンタＣ−１のキヤリー出力CAがＬにな
るとロードされ、入力Ｂ，Ｃ，Ｄに応じたカウン
トにロードされる。カウンタＣ−３は、7.5分ク
ロツクパルス発生回路Ｂ−２のパルスを計数し、
カウント１５からＯに戻る際に、キヤリー出力
CAがＬになる。例えば、Ｆ−３の出力がＨにな
る18％以下になると、カウント８で64分、Ｆ−３
とＦ−２がＨになればカウント１２で32分、全部
Ｈではカウント１４で16分にそれぞれロードされ
るようになつてる。従つて、その時の水分に応じ
て時間が設定され、その時間が経過するとキヤリ
ー出力CAにより、カウンタＣ−１が再びロード
され、次の測定を開始する。次に、水分が目標値以下に達すると、比較回路
Ｆ−１まで全て出力がＨとなる。この時のＦ−１
の出力（出力COFFとする）は、二段カツトオフ
フラグ回路８の初段のフリツプフロツプFF−２
の入力Ｄに印加され、測定回数計数回路５のキヤ
リー出力CAのＨにより、ゲートＧ−１０を経て
フリツプフロツプFF−２を作動させ、出力Ｑが
Ｈになり、乾燥が目標値に達したことを記憶す
る。次に、16分後に測定が再開され、５回測定が行
なわれたとき、その積算値が再び目標値を割つて
いると、二段カツトオフフラグ回路８の次段のフ
リツプリツプFF−３の入力Ｄに、出力COFFと
初段フリツプフロツプFF−２の出力Ｑが印加さ
れているので、測定回数計数回路５のキヤリー出
力CAにより、フリツプフロツプFF−３が動作す
る。そして、その出力により燃料リレーFUEL
が作動し、燃料が止められる。続いて４分後にタ
イマＢ−２の出力Q₉のＬによりゲート−１１が
オンとなり、送風機リレーFANが作動し、送風
機が止まり乾燥が終る。同時に測定間隔制御回路
４をクリヤし、自動測定機能が停止する。最初に目標設定値に達し、次に再度測定を行な
つた時、乾燥むら等によりその目標値に達してい
ない時は出力信号COFFはＬで、２段目のフリツ
プフロツプFF−３の入力ＤがＬなので、停止信
号が現われず、再び測定待を繰返すことになる。
この時、フリツプフロツプFF−２の出力Ｑがゲ
ートＧ−１２を介してカウンタＣ−３のＢ入力に
印加されているので、出力信号COFFがＬである
にもかかわらず、次回の測定は約15分後に行われ
るようにロードされる。また、再測定の含水率が
更に大きく、カウンタＣ−３の入力ＣがＬの時
は、若しＢ入力に出力COFFのみが加えてあれ
ば、Ｂ入力もＬなので約60分後に再測定されるよ
うようロードされることになるのであるが、Ｂ入
力にFF−２の出力Ｄが加えられているので約45
分にロードされ、その時間経過後に再測定が行わ
れる。また比較回路Ｆ−２がＨ（16.3％以下）になれ
ば、未熟米抑制フラグ回路１１のフリツプフロツ
プFF−４のＤ入力がＨであり、測定回数計数回
路５のカウンタＣ−１のキヤリー出力CAがＨに
変わるときFF−４の出力はＬとなる。そして
この出力はダイオードを介してAMP−３の非反
転入力のプルアツプを解除し、AMP−３はAMP
−１に対する振幅抑制フイードバツク回路として
動作する。この場合の振幅抑制値は上記16.3％よ
り僅か高い水分値の例えば16.5％に設計されてお
り、次回の５回測定時に16.5％以上の積算を行わ
ないようにしている。かくして乾燥開始の際の電源投入時には未熟米
抑制フラグ回路１１のフリツプフロツプFF−４
がセツトされ、その出力は、Ｌになつて未熟米
抑制回路１０で最初の測定値はすべて振幅抑制を
受けることになる。そしてこのとき、測定値がす
べて16.3％以上の高水分であれば、５回の測定の
平均は16.3％以上になつて比較回路Ｆ−２の出力
がＬとなり、フリツプフロツプFF−４はリセツ
トされる。以上に説明した第２図に基く乾燥開始から乾燥
終了までの機能、動作は、第４図のフロートチヤ
ートにより、より明確に説明されている。また、上記の機能、動作を、さらにわかり易く
集約化して示した第３図のブロツク図において第
２図との関係を説明すると、含水率測定部は、測
定機１、リミツトスイツチWTLS，FWLS，
BWLS、測定間隔制御回路４、測定回数計数回路
５、測定フラグ回路６、1.75秒クロツクパルス発
生回路７、ゲートＧ１〜Ｇ１０、リレーFWD，
BAKなどからなり、未熟米抑制回路は同回路１
０からなるものである。平均値算出部は、積分回
路２、スイツチ回路Ｓ−１からなり、目標含水率
設定部は、ロータリーリレースイツチRSおよび
抵抗VR２からなり、比較部は、測定レベル比較
回路３からなり、また未熟米抑制フラグ回路は、
同回路１１からなるものである。また乾燥機停止
部は、二段カツトオフフラグ回路８、リレー
FUEL，FANなどからなるものである。このブ
ロツク図によれば、本考案の構成、機能、動作等
がより容易に理解できる。

【考案の効果】

以上の説明から明らかなように本考案による
と、電源を投入した始動時未熟米抑制フラグ回路
１１のフリツプフロツプFF−４がセツトされ
て、必ず未熟米抑制回路１０で最初の測定値の振
幅抑制が行われるので、乾燥がかなり進んだ過程
で停電等により乾燥機が停止した後の再運転時に
も、未熟米による影響が確実に阻止される。ま
た、初めて運転し含水率が高い場合や、乾燥初期
に停電して再運転時の含水率が高い場合には、初
回測定時に未熟米抑制フラグ回路１１のフリツプ
フロツプFF−４がリセツトされ次回からは抑制
作用を行わないので、次回測定からは時間間隔が
２時間にもなり得て、測定時間間隔が無用に短か
くなることを防ぐ。

【図面の簡単な説明】

第１図は籾の乾燥時間と含水率の関係を示す線
図、第２図は本考案による一実施例を示す回路
図、第３図は同ブロツク図、第４図は同フローチ
ヤートである。１……測定機、２……積分回路、３……測定レ
ベル比較回路、４……測定間隔制御回路、５……
測定回数回路、６……測定フラグ回路、７……
1.75秒クロツクパルス発生回路、８……二段カツ
トオフフラグ回路、９……測定タイマー回路、１
０……未熟米抑制回路、１１……未熟米抑制フラ
グ回路、１２……停止回路。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

予め定められた周期で被乾燥穀物の含水率値を
複数回測定し、これらの含水率値をそれぞれ出力
する測定部と、この測定部のそれぞれの出力を入
力し、その平均値を算出してこの平均値を出力す
る平均値算出部と、使用者によつて目標含水率値
が設定され、かつその設定値を出力する目標含水
率設定部と、この目標含水率設定部の出力と平均
値算出部の出力とを比較し、両者の差が所定値以
下になつたときに第１の信号を、また平均値算出
部の出力が目標含水率設定部の出力以下になつた
ときに第２の信号をそれぞれ出力する比較部と、
該比較部の第２の信号を入力して乾燥機停止信号
を出力する乾燥機停止部と、乾燥開始の際に発生
する電源投入信号を入力した初回測定時または前
記比較部の第１の信号を入力たときに入力制限信
号を出力する未熟米抑制フラグ回路と、前記測定
部と平均値算出部の間に接続され、かつ前記記憶
部の入力制限信号を入力したときに作動して測定
部の出力を前記目標含水率設定部の出力に対し所
定値内に制限する制限部とを設けたことを特徴と
する含水率自動測定装置における未熟米抑制装
置。