JPS6136259B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6136259B2
JPS6136259B2 JP54039817A JP3981779A JPS6136259B2 JP S6136259 B2 JPS6136259 B2 JP S6136259B2 JP 54039817 A JP54039817 A JP 54039817A JP 3981779 A JP3981779 A JP 3981779A JP S6136259 B2 JPS6136259 B2 JP S6136259B2
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JP
Japan
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retries
retry
temperature
information processing
processing device
Prior art date
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Expired
Application number
JP54039817A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS55134453A (en
Inventor
Megumi Uchino
Nobutaka Nomura
Junji Kitamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS55134453A publication Critical patent/JPS55134453A/en
Publication of JPS6136259B2 publication Critical patent/JPS6136259B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は再試行制御方式に係り、更に詳しく言
えば情報処理装置においてその環境条件が変動す
ることに起因して発生する誤りに対する再試行制
御方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a retry control method, and more particularly to a retry control method for errors occurring in an information processing apparatus due to changes in its environmental conditions.

既知の情報処理装置において論理動作に何らか
の誤りが検出されたとき、誤動作の性質によつて
正しい論理動作を行なわせる様にやり直したり、
命令の実行を停止したりする様な所謂誤り制御が
よく知られている。また、論理回路の誤りを検出
するためには論理機能に必要とされる以外の余分
の論理を追加し、冗長度を持せる必要がある。一
般的には、コード化された情報にパリテイビツト
を付加し奇偶検査によつて誤りを検出すること
や、コード化された情報にハミングコードを付加
し、誤り検出、誤り訂正することが行なわれてい
る。
When some kind of error is detected in the logical operation of a known information processing device, it may be necessary to redo the operation to perform the correct logical operation depending on the nature of the malfunction.
So-called error control, which halts the execution of instructions, is well known. Furthermore, in order to detect errors in the logic circuit, it is necessary to add extra logic other than that required for the logic function to provide redundancy. Generally, parity bits are added to coded information to detect errors using an odd-even check, or Hamming codes are added to coded information to detect and correct errors. There is.

論理動作の誤りには、再現性のある誤り
(solid error)と再現性のない誤り(intermittent
error)とがあり、頻度としては後者の方がはる
かに多いことが知られている。この再現性のない
誤りが発生する原因は極めて多く、非同期的信号
に対する不確定な論理動作、外来ノイズ、部品の
信頼性の欠陥などがあげられる。これらを原因と
する誤動作に対しては、同じ処理動作をもう一度
やり直せば正しく実行し、何ら障害とはならな
い。この様なことから誤動作に対しては再試行す
ることが一般に行なわれている。再試行のやり方
としては、処理サイクルの再試行、或いは命令の
再試行の2つが考えられるが、いずれにしても再
試行の制御を行なうとすれば、次の様な機能が必
要とされる。即ち第1には再試行制御情報を保持
すること、つまり再試行可能/不可能の表示、再
試行開始点の表示、退避データ等を保持すること
である。第2には再試行回数を計数すること、つ
まり再試行を行つたときその回数を数え、再試行
回数がある回数に達しても正しい結果が得られな
いときには再試行動作を打ち切ることである。第
3には再試行後の割込みである。
Errors in logical behavior include solid errors and intermittent errors.
It is known that the latter is far more common. There are numerous causes for this non-reproducible error, including uncertain logic operations on asynchronous signals, extraneous noise, and defects in component reliability. For malfunctions caused by these, if the same processing operation is repeated again, it will be executed correctly and will not cause any trouble. For this reason, it is common practice to retry in case of malfunction. There are two ways to retry: processing cycle retry or instruction retry. In either case, if retry is to be controlled, the following functions are required. That is, the first step is to hold retry control information, that is, to hold an indication of whether retry is possible or not, an indication of a retry starting point, saved data, etc. The second step is to count the number of retries, that is, count the number of retries, and abort the retry operation if a correct result cannot be obtained even after reaching a certain number of retries. The third is an interrupt after a retry.

従来の情報処理装置においては、前述の繰り返
すべき最大の再試行回数は当該装置の定格、信頼
性等から算出されて固定化しているのが常であ
る。つまり情報処理装置を設計する段階で再試行
回数の上限値は決定されている。
In conventional information processing devices, the maximum number of retries to be repeated is usually calculated and fixed based on the rating, reliability, etc. of the device. In other words, the upper limit of the number of retries is determined at the stage of designing the information processing device.

一方、情報処理装置が誤りを起す原因として
は、前述した不確定な論理動作、外来ノイズ、部
品の信頼性等のほかに、温度、湿度等々の環境条
件に起因する場合も多い。情報処理装置のみなら
ず一般的に電子装置には、当該装置が適正に動作
するために種々の環境条件を考慮してその定格が
決められている。つまり、情報処理装置はその周
囲環境の条件が定格から外れるに従つて誤りを起
す確率が高くなるわけである。
On the other hand, causes of errors in information processing devices are often caused by environmental conditions such as temperature and humidity, in addition to the aforementioned uncertain logic operations, external noise, and reliability of parts. 2. Description of the Related Art Ratings of not only information processing devices but also electronic devices in general are determined in consideration of various environmental conditions in order for the device to operate properly. In other words, the probability that an information processing device will make an error increases as the surrounding environment conditions deviate from the specifications.

固定化されている再試行回数の上限値まで再試
行を行なわせ、それでも正常に動作が行なわれな
いときには、再試行失敗として処理動作を停止さ
せることが一般的に行なわれている。従つて、前
述の如く情報処理装置における環境条件が悪化し
たために発生した誤りに対しても所定回数再試行
して処理動作を停止させてしまうことになる。処
理動作を停止させることは、その後の保守作業に
相当の時間を要することから、できるだけ避けた
方がよい。
Generally, retries are performed up to a fixed upper limit of the number of retries, and if the operation is still not performed normally, the processing operation is stopped as a retry failure. Therefore, even if an error occurs due to deterioration of the environmental conditions in the information processing apparatus as described above, the processing operation will be retried a predetermined number of times and the processing operation will be stopped. Stopping the processing operation requires a considerable amount of time for subsequent maintenance work, so it is better to avoid it as much as possible.

この種の解決手段として、従来、誤り検出後所
定回数再試行し、それでも正常でなければ、電源
電圧、周波数等の運転条件を変化させ、再度所定
回数再試行する様な制御方式が提唱されている。
然るに、誤りは環境条件が悪化して発生したの
か、或いは正常の環境下で論理動作が不確実に動
作して発生したのか、その原因が現在の技術にお
いては明確に把握できないので、不用意に運転条
件を変ることは余り好ましくない。
Conventionally, as a solution to this problem, a control method has been proposed that retries a predetermined number of times after detecting an error, and if it is still not normal, changes the operating conditions such as power supply voltage and frequency, and retries the predetermined number of times. There is.
However, with current technology, it is not possible to clearly determine whether errors occur due to worsening environmental conditions or because logical operations operate unreliably under normal circumstances. It is not very desirable to change the operating conditions.

他の解決手段として、環境条件が悪化した場
合、再試行回数を増し、再試行によつてできるだ
け正常動作に戻ることを期待し、もつて装置の処
理動作を停止し、最悪の事態を避けるという技術
も提唱し得る。
Another solution is to increase the number of retries when environmental conditions deteriorate, hoping that the retries will restore normal operation as much as possible, and then halting the equipment's processing operations to avoid the worst-case scenario. Technology can also be proposed.

本発明の目的は、所定回数再試行しても誤りが
回復しないと見做して、装置の処理動作を停止さ
せるという事態をできる限り避け得る再試行制御
方式を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a retry control method that can avoid as much as possible the situation where the processing operation of the apparatus is stopped because it is assumed that the error will not be recovered even after retrying a predetermined number of times.

本発明の他の目的は、情報処理装置の稼動し得
る環境条件を決める少なくとも1つの物理的変量
が変動することに応じて再試行回数を自動的に設
定し、不用意に処理動作を停止させる確率を低
め、情報処理装置全体としての稼動率を向上させ
得る再試行制御方式を提供することにある。
Another object of the present invention is to automatically set the number of retries in response to changes in at least one physical variable that determines the environmental conditions under which an information processing device can operate, thereby preventing processing operations from being stopped inadvertently. It is an object of the present invention to provide a retry control method that can lower the probability and improve the operating rate of the information processing device as a whole.

本発明の更に他の目的は、特に情報処理装置内
における温度の変動によつて起る処理動作の誤り
を救済し得る再試行制御方式を提供することにあ
る。
Still another object of the present invention is to provide a retry control method capable of relieving errors in processing operations caused particularly by temperature fluctuations within an information processing apparatus.

斯かる本発明の目的は以下に述べる構成によつ
て達成される。本発明の対象とする情報処理装置
は公知の演算処理装置、主記憶装置だけでなく、
磁気デイスク装置の様な情報記憶装置や入出力装
置等々種々の処理装置が含まれる。本発明は、再
試行制御の対象とする情報処理装置において誤り
の発生頻度を変化させる物理的諸変量に応じて再
試行回数を設定する。そして誤り検出手段によつ
て誤りが検出されたとき、多くともこの設定され
た回数まで再試行動作を行なうものである。前記
物理的諸変量とは、情報処理装置が適正に稼動す
るための環境条件を要因とする諸変量及び時間的
変量である。一般的に情報処理装置にはそれが適
正に動作するための定格が決められている。環境
条件を要因とする定格としては温度、湿度等があ
げられる。即ちこれらの要因が定格としている限
界値に近づき及びその限界を越えるに従つて誤り
の発生頻度は高くなる。また、情報処理装置に電
源投入した直後は誤りの発生頻度が高く、時間の
経過とともにその頻度は低くなると言える。而し
て前述の様な物理的諸変量の変化に応じて再試行
回数を増加又は減少する様に設定し、多くともこ
の設定された回数まで再試行を行なわせれば不用
意に誤りが回復しないと見做して装置の処理動作
を停止させるという事態を回避することができ
る。
The object of the present invention is achieved by the configuration described below. Information processing devices targeted by the present invention include not only known arithmetic processing devices and main storage devices, but also
It includes various processing devices such as information storage devices such as magnetic disk devices and input/output devices. The present invention sets the number of retries in accordance with physical variables that change the frequency of error occurrence in an information processing device that is subject to retry control. When an error is detected by the error detection means, the retry operation is performed up to the set number of times at most. The physical variables are variables and temporal variables that are caused by environmental conditions for proper operation of the information processing device. In general, information processing equipment has a rating determined for proper operation. Ratings based on environmental conditions include temperature, humidity, etc. That is, as these factors approach and exceed their rated limit values, the frequency of error occurrence increases. Furthermore, it can be said that the frequency of errors occurring is high immediately after the information processing device is powered on, and the frequency decreases as time passes. Therefore, if the number of retries is set to increase or decrease according to changes in physical variables as described above, and retries are performed up to the set number of times at most, errors will not be recovered inadvertently. It is possible to avoid a situation in which the processing operation of the apparatus is stopped due to the assumption that the

本発明は情報処理装置における種々の環境条件
を要因とする物理的諸変量の変化に応じて再試行
回数を設定することができる。例えば温度変化に
応じて再試行回数を設定する場合には、情報処理
装置内の最も温度の影響を受けやすい場所に設置
された温度検出手段と、該温度検出手段によつて
検出された温度に対応して再試行回数を導出する
ための温度/再試行回数の変換手段と、該変換手
段より導出された再試行回数をセツトする再試行
カウンタを具備する。誤り検出手段によつて誤り
が検出された場合、再試行動作が行なうが、この
動作は多くとも該再試行カウンタにセツトされた
再試行回数まで繰り返される。而して温度変化に
応じて再試行回数を設定しているので、例えば定
格限界近くまで温度が変化したとしてもそれに応
じて再試行回数を増加させれば、この再試行によ
つて誤りを回復させる確率が高くなる。
The present invention can set the number of retries in accordance with changes in physical variables caused by various environmental conditions in the information processing device. For example, when setting the number of retries according to temperature changes, the temperature detection means installed at the location most susceptible to temperature effects within the information processing device and the temperature detected by the temperature detection means may be used. Correspondingly, there is provided a temperature/retry number conversion means for deriving the number of retries, and a retry counter for setting the number of retries derived from the conversion means. If an error is detected by the error detection means, a retry operation is performed, and this operation is repeated up to the number of retries set in the retry counter at most. Since the number of retries is set according to temperature changes, for example, even if the temperature changes to near the rated limit, if the number of retries is increased accordingly, errors can be recovered by this retry. The probability of doing so increases.

後述する磁気デイスク装置を例とした実施例の
説明においては、温度変化に応じて再試行回数を
設定しているが、本発明の最も顕著な効果を得る
ことが期待される。尚、温度に限らず種種の物理
的諸変量をデイジタル量で検出する場合には問題
ないが、アナログ量で検出する場合には公知のア
ナログ/デイジタル変換が必要とされる。
In the description of the embodiment using a magnetic disk device as an example, which will be described later, the number of retries is set according to temperature changes, and it is expected that the most significant effect of the present invention will be obtained. There is no problem when detecting not only temperature but also various physical variables as digital quantities, but when detecting as analog quantities, known analog/digital conversion is required.

また、時間的経過に伴つて再試行回数を設定す
る場合には、電源投入と共に計時動作を開始する
計時カウンタと、時間/再試行回数の変換手段を
具備し、該変換手段より導出される再試行回数を
前記再試行カウンタにセツトするものである。そ
の後の構成及び動作については前述と同様であ
る。誤りの発生の頻度は時間的経過と共に低くな
るのが一般的であり、前記変換手段にはその旨の
時間/再試行回数を設定しておく必要がある。好
しくは一定時間経過した後には再試行回数は変化
させなくてもよい。
In addition, when setting the number of retries with the passage of time, a time counter that starts timing operation when the power is turned on, and a time/number of retries conversion means are provided, and the retries derived from the conversion means are provided. The number of attempts is set in the retry counter. The subsequent configuration and operation are the same as described above. Generally, the frequency of error occurrence decreases with the passage of time, and it is necessary to set a time/retry count to that effect in the conversion means. Preferably, the number of retries does not need to be changed after a certain period of time has elapsed.

本発明は温度、時間だけでなく種々の物理的諸
変量の変化に応じて再試行回数を設定することが
できる。
The present invention can set the number of retries according to changes in various physical variables as well as temperature and time.

本発明の他の構成によれば、物理的諸変量を検
出する複数の検出手段と、夫々検出された諸変量
を対応する再試行回数に変換する複数の変換手段
と、夫々の変換手段から導出される再試行回数の
うち最大のものを選択する手段と、該最大の再試
行回数をセツトする再試行カウンタを具備する。
ここで、複数の検出手段は同種の物理的諸変量例
えば同一装置内に取り付けられた複数の温度検出
手段であつてもよく、また異種の物理的諸変量例
えば同一装置内に取り付けられた温度、湿度、振
動等の複数種の物理的諸変量の検出手段であつて
もよい。而して、環境条件を決める1又は複数の
要因による物理的諸変量の変動のうち最悪のもの
について再試行回数を設定することが可能とさ
れ、不用意に処理動作を停止させることを防止
し、情報処理装置全体としての稼動率を向上させ
ることがきる。
According to another configuration of the present invention, a plurality of detection means for detecting physical variables, a plurality of conversion means for converting each detected variable into a corresponding number of retries, and a means for selecting the maximum number of retries, and a retry counter for setting the maximum number of retries.
Here, the plurality of detection means may be a plurality of temperature detection means installed in the same device for the same kind of physical variables, or may be a plurality of temperature detection means installed in the same device, or may be a plurality of temperature detection means installed in the same device. It may be a means for detecting multiple types of physical variables such as humidity and vibration. Therefore, it is possible to set the number of retries for the worst fluctuations in physical variables due to one or more factors determining environmental conditions, and prevent the processing operation from being stopped inadvertently. , it is possible to improve the operating rate of the information processing device as a whole.

以下、図面を参照して本発明の実施例を詳述す
る。第1図は本発明をフロツピーデイスク装置に
適用した場合のブロツク図である。フロツピーデ
イスク装置は温度変化の影響を受けやすく、特に
磁気書込み/読取りを行なう場合に温度変化によ
つて誤りを起すことが多い。従つて本発明をフロ
ツピーデイスク装置に適用することは好しい。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram when the present invention is applied to a floppy disk device. Floppy disk devices are sensitive to temperature changes and are often prone to errors due to temperature changes, especially when performing magnetic writing/reading. Therefore, it is preferable to apply the present invention to a floppy disk device.

フロツピーデイスク装置の構成は知られてい
る。フロツピーデイスク装置は概略、デイスク制
御部1、デイスク駆動部2及びフロツピーデイス
ク3より構成される。デイスク制御部1は公知の
主メモリ4に接続されると共に、本発明による再
試行設定回路5に接続される。デイスク駆動部2
には温度検出器6が設けられる。尚再試行設定回
路5及び温度検出器6の詳細な構成については後
述される。
The construction of floppy disk devices is known. The floppy disk device is generally composed of a disk controller 1, a disk drive section 2, and a floppy disk 3. The disk control section 1 is connected to a known main memory 4 and to a retry setting circuit 5 according to the present invention. Disk drive unit 2
A temperature detector 6 is provided. The detailed configuration of the retry setting circuit 5 and the temperature detector 6 will be described later.

デイスク制御部1はデイスク駆動部2にデイス
ク制御信号8を送り、データバス9を介して、フ
ロツピーデイスク3にデータを書き込み及び読み
出しを行なう。更に主メモリ4に対してはメモリ
制御信号7を送り、データバス9を介してデータ
を書き込み及び読み出しを行なう。
The disk control section 1 sends a disk control signal 8 to the disk drive section 2, and writes and reads data to and from the floppy disk 3 via the data bus 9. Furthermore, a memory control signal 7 is sent to the main memory 4, and data is written and read via a data bus 9.

デイスク制御部1、再試行設定回路5、温度検
出器6の構成及びそれらに関連した構成は第2図
を参照して説明される。デイスク駆動部2は、該
駆動部2がフロツピーデイスク3上をアドレス指
定するとき、読出し/書き込みをするとき、フア
ンクシヨン指定をするとき等の種々の処理動作を
するときに本来の動作最適温度と周囲温度との差
が大きくなるに従つて上記動作に誤りが発生する
確率が高くなる。
The configurations of the disk controller 1, retry setting circuit 5, temperature detector 6, and related configurations will be explained with reference to FIG. The disk drive unit 2 maintains its original optimum operating temperature when performing various processing operations such as addressing, reading/writing, and function specification on the floppy disk 3. As the difference from the ambient temperature increases, the probability that an error will occur in the above operation increases.

この様なことから温度検出器6のサーミスタ2
1はデイスク駆動部2の最も温度の影響を受けや
すい箇所例えば、磁気ヘツドや各種センサの近傍
に設置される。このデイスク装置の温度の定格を
10〜50℃とし、動作最適温度を30℃とすれば、最
適温度30℃と実際に検出された温度との差が大き
くなる程、誤り発生頻度は高くなる。従つて、本
実施例における温度検出器6は、最適温度を設定
する基準温度設定回路22と、サーミスタ21よ
り検出された実際の温度と該設定回路22からの
最適温度との差を検出する温度差検出回路23を
有する。温度検出器6から出力される温度検出信
号11は再試行設定回路5の変換器24に送られ
る。本例の場合、温度検出信号11は厳密に言え
ば温度差検出信号と言うことができる。尚、図示
されていないが、温度に限らず検出される物理的
諸変量がアナログ量である場合には、検出信号1
1が変換器24に入力される前段にて公知のアナ
ログ/デイジタル変換器を設けなければならない
ことは言うまでもないことである。
For this reason, the thermistor 2 of the temperature detector 6
Reference numeral 1 is installed at a location of the disk drive section 2 that is most susceptible to temperature effects, for example, near the magnetic head and various sensors. What is the temperature rating for this disk device?
If the temperature is 10 to 50°C and the optimum operating temperature is 30°C, the greater the difference between the optimum temperature of 30°C and the actually detected temperature, the higher the frequency of error occurrence. Therefore, the temperature detector 6 in this embodiment includes a reference temperature setting circuit 22 that sets the optimum temperature, and a temperature sensor that detects the difference between the actual temperature detected by the thermistor 21 and the optimum temperature from the setting circuit 22. It has a difference detection circuit 23. The temperature detection signal 11 output from the temperature detector 6 is sent to the converter 24 of the retry setting circuit 5. In this example, the temperature detection signal 11 can be strictly speaking a temperature difference detection signal. Although not shown in the figure, if the physical variables to be detected other than temperature are analog quantities, the detection signal 1
It goes without saying that a known analog/digital converter must be provided before the signal 1 is input to the converter 24.

本実施例において、変換器24は温度差/再試
行回数変換のための変換テーブルを有し、該変換
テーブルは書替え可能なメモリにて構成される。
この変換テーブルに記憶される温度差/再試行回
数の関係は例えば第4図に示される。即ち、温度
差が大きくなる程再試行回数は多くなる様に設定
される。例えば温度差が13℃であれば再試行回数
「16」が再試行回数信号34として変換器24よ
りアンドゲート25に出力される。アンドゲート
25には更にデイスク制御部1から初期開始信号
35が入力され、この信号をタイミングとして前
記再試行回数信号34は再試行カウンタ26にセ
ツトされる。初期開始信号35はまた実行カウン
タ27に入り、この実行カウンタ27の内容をリ
セツトする。実行カウンタ27は判定要求信号1
0がデイスク制御部1より到来する毎にプラス
“1”される。判定要求信号10は再試行動作が
繰り返される毎に発せられ、実行カウンタ27は
実際に行なわれる再試行の回数を計数をすること
になる。
In this embodiment, the converter 24 has a conversion table for temperature difference/retry count conversion, and the conversion table is configured with a rewritable memory.
The relationship between temperature difference/number of retries stored in this conversion table is shown in FIG. 4, for example. That is, the number of retries is set to increase as the temperature difference increases. For example, if the temperature difference is 13° C., the number of retries “16” is outputted from the converter 24 to the AND gate 25 as the number of retries signal 34. An initial start signal 35 is further inputted to the AND gate 25 from the disk control section 1, and the retry count signal 34 is set in the retry counter 26 using this signal as a timing. The initial start signal 35 also enters the execution counter 27 and resets its contents. Execution counter 27 receives judgment request signal 1
Every time 0 arrives from the disk control unit 1, it is incremented by 1. The determination request signal 10 is issued every time a retry operation is repeated, and the execution counter 27 counts the number of retries that are actually performed.

比較器28は再試行カウンタ26の内容と実行
カウンタ27の内容を比較する。比較器28の出
力はアンドゲート30、及びインバータ31を介
してアンドゲート32に入力される。これらアン
ドゲート30,32にはまた前記判定要求信号1
0を遅延回路29で遅延した信号が夫々入力され
る。而して比較器28にて両カウンタの内容が一
致すれば異常終了信号38を、一致しなければ再
試行信号37を夫々デイスク制御部1に転送す
る。
Comparator 28 compares the contents of retry counter 26 and execution counter 27 . The output of the comparator 28 is input to an AND gate 32 via an AND gate 30 and an inverter 31. These AND gates 30 and 32 also have the judgment request signal 1
A signal obtained by delaying 0 in a delay circuit 29 is inputted. If the contents of both counters match in the comparator 28, an abnormal end signal 38 is transmitted to the disk controller 1, and if they do not match, a retry signal 37 is transmitted to the disk controller 1, respectively.

デイスク制御部1において、再試行信号37は
前述の初期開始信号35と共にオアゲート43に
入力され、動作指示制御回路41を起動する。動
作指示制御回路41は例えばフロツピーデイスク
3へのデータの書き込み或いは読み出しを制御す
るために動作指示信号47をデイスク駆動部2に
対して発する。誤り検出器42はデイスク駆動部
2から送られて来る動作結果信号48によつて起
動され、フロツビーデイスク3から読み出された
データの誤り検出をする。誤り検出の方法は公知
のバリテイチエツク方法、CRC(サイクリツク
リダンダンシー チエツク)チエツク方法等に
よる。誤り検出器42の出力である誤り信号49
はアンドゲート44、及びインバータ45を介し
てアンドゲート46に与えられる。またこれらア
ンドゲート44,46には前記動作結果信号48
が入力される。誤り検出器42において誤りが検
出されると誤り信号49が出力され、動作結果信
号48によつてアンドゲート44が開かれ、判定
要求信号10が発せられる。判定要求信号10が
発せられると実行カウンタ27の値をプラス
“1”して前述の処理を行なう。一方、誤りが検
出されなければ、インバータ45を介してアンド
ゲート46が動作結果信号48によつて開かれ、
正常終了信号50が発せられる。この信号50が
出力されると次の処理動作に移る。
In the disk control section 1, the retry signal 37 is input to the OR gate 43 together with the above-mentioned initial start signal 35, and the operation instruction control circuit 41 is activated. The operation instruction control circuit 41 issues an operation instruction signal 47 to the disk drive unit 2 in order to control writing or reading of data to or from the floppy disk 3, for example. The error detector 42 is activated by the operation result signal 48 sent from the disk drive unit 2 and detects errors in data read from the floppy disk 3. The error detection method is based on a known validity check method, CRC (cyclic redundancy check) check method, or the like. Error signal 49 which is the output of error detector 42
is applied to an AND gate 46 via an AND gate 44 and an inverter 45. Further, these AND gates 44 and 46 are provided with the operation result signal 48.
is input. When an error is detected in the error detector 42, an error signal 49 is output, an AND gate 44 is opened by the operation result signal 48, and a determination request signal 10 is issued. When the determination request signal 10 is issued, the value of the execution counter 27 is incremented by "1" and the above-described processing is performed. On the other hand, if no error is detected, the AND gate 46 is opened by the operation result signal 48 via the inverter 45;
A normal completion signal 50 is issued. When this signal 50 is output, the process moves to the next processing operation.

この様な構成において、温度検出器6によつて
温度差例えば13℃が検出されると、その温度に応
じて変換器24より再試行回数「16」が出力さ
れ、初期開始信号35によつて再試行カウンタ2
6にセツトされる。
In such a configuration, when the temperature detector 6 detects a temperature difference of, for example, 13°C, the converter 24 outputs the number of retries "16" according to the temperature, and the initial start signal 35 outputs a retry count of "16". retry counter 2
It is set to 6.

一方、制御部1の誤り検出器42によつてフロ
ツピーデイスク3からの読み出しデータに誤りが
検出されると、アンドゲート44を介して判定要
求信号10を出力し、実行カウンタ27の値にプ
ラス“1”する。1回目の試行が誤りあれば、該
実行カウンタ27にはまず「1」がセツトされ
る。而して、再試行カウンタ26の内容即ち
「16」と実行カウンタ27の内容即ち「1」が比
較される。この場合不一致なのでアンドゲート3
0を介して再試行信号37を出力し、制御部1内
の動作指示制御回路41に転送する。動作指示制
御回路41はデイスク駆動部2に対して当該デー
タを再度読み出すための動作指示信号47を与え
る。これによつて読み出されたデータは誤り検出
器42において再度誤り検出される。以後、前述
と同様の動作を繰り返す。そして複数個の再試行
動作の結果、実行カウンタ27と再試行カウンタ
26との夫夫の値が一致すると異常終了信号38
を出力し、再試行動作が失敗した旨を知らせる。
勿論、両カウンタ26,27の値が一致する以前
の再試行動作中に誤り検出器42において誤りが
検出されなくなつた場合には正常終了信号50を
出力し、次の処理に移る。
On the other hand, when the error detector 42 of the control unit 1 detects an error in the data read from the floppy disk 3, it outputs the judgment request signal 10 via the AND gate 44, and adds the value of the execution counter 27. Make “1”. If the first attempt is incorrect, the execution counter 27 is first set to "1". Thus, the content of the retry counter 26, ie, "16", and the content of the execution counter 27, ie, "1" are compared. In this case, there is a mismatch, so AND gate 3
A retry signal 37 is outputted via 0 and transferred to the operation instruction control circuit 41 in the control section 1. The operation instruction control circuit 41 provides the disk drive unit 2 with an operation instruction signal 47 for reading out the data again. The data thus read out is again subjected to error detection by the error detector 42. Thereafter, the same operations as described above are repeated. As a result of a plurality of retry operations, if the values of the execution counter 27 and the retry counter 26 match, an abnormal end signal 38
is output to notify that the retry operation failed.
Of course, if the error detector 42 no longer detects an error during the retry operation before the values of both counters 26 and 27 match, the normal end signal 50 is output and the process moves on to the next process.

この様に本実施例によればサーミスタ21の検
出する温度の変化に応じて再試行回数を設定する
ことができる。尚、叙上の実施例においては変換
器24から出力される再試行回数は初期開始信号
35にて再試行カウンタ26にセツトされるとし
て説明したが、再試行回数を再試行カウンタ26
にセツトする変形例として、一定周期毎に行なう
こと、或いは中央処理装置又は端末制御装置等の
上位装置からの指示によつて行なうこと更には再
試行回数を変化させる程の温度変化が起る毎に行
なうこと等があげられる。例えば、一定周期毎に
行なう場合には、第2図の初期開始信号35の代
りに一定周期毎に信号を発する発振器の出力をア
ンドゲート25に加えればよい。勿論、比較器2
8における比較動作に際しての再試行カウンタ2
6からの読み出し動作と上記書き込み動作とが同
時に行なわれない様に、例えば読み出し時には上
記書き込み動作を禁止する様な公知のゲート手段
を付加することが必要とされる。
In this manner, according to this embodiment, the number of retries can be set according to the change in temperature detected by the thermistor 21. In the above embodiment, the number of retries outputted from the converter 24 was explained as being set in the retry counter 26 by the initial start signal 35, but the number of retries outputted from the converter 24 was set in the retry counter 26.
As a modification, it can be set at regular intervals, or by instructions from a higher-level device such as a central processing unit or terminal control unit, or every time a temperature change that changes the number of retries occurs. Examples include things to do. For example, in the case of performing the process at regular intervals, the output of an oscillator that emits a signal at regular intervals may be applied to the AND gate 25 instead of the initial start signal 35 shown in FIG. Of course, comparator 2
Retry counter 2 during comparison operation in 8
In order to prevent the read operation from 6 and the write operation from occurring at the same time, it is necessary to add a known gate means to inhibit the write operation during read, for example.

第2図に示した実施例における他の変形例とし
ては、次の様なものがあげられる。即ち第2図の
変換器24内の温度差/再試行回数の変換テーブ
ルの構成を第4図の様にしたが、例えば、定格か
ら決められ得る温度の上限と下限とを設定してお
き、温度検出器によつて検出された温度が上記上
限、下限の範囲から外れた場合のみ再試行回数を
変える様に前記変換器を構成してもよい。
Other modifications of the embodiment shown in FIG. 2 include the following. That is, the configuration of the conversion table for the temperature difference in the converter 24 in FIG. 2/the number of retries is made as shown in FIG. 4, but for example, the upper and lower limits of temperature that can be determined from the rating are set, The converter may be configured to change the number of retries only when the temperature detected by the temperature detector deviates from the upper and lower limits.

第3図は本発明の第2の実施例を説明するため
のブロツク図である。本実施例は装置に電源投入
してからの時間的経過に伴つて再試行回数を可変
制御するものである。即ち、時間検出回路51
は、電源投入信号54によつてリセツトされ計数
動作をする計時カウンタ53と、該計時カウンタ
53に一定周期のパルス信号を送る発振器52を
具備する。そして、該カウンタ53の出力は第2
図の変換器24に送られる。その他の構成につい
ては第2図と同様の構成であるが、変換器24内
の変換テーブルの構成が前述した実施例のものと
は異なる。つまり、電源投入直後は末だ定常状態
に達していないので、初期の過渡的誤りが起りや
すい。従つて、これら誤りを再試行動作によつて
できるだけ救うために、電源投入直後は再試行回
数を多くし、その後時間経過と共に再試行回数を
漸減させ、一定時間経過後は一定にする様に前記
変換テーブルの時間/再試行回数を設定する。本
実施例の動作等については前述した実施例と同様
であるのでその説明は省略する。
FIG. 3 is a block diagram for explaining a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the number of retries is variably controlled as time passes after the device is powered on. That is, the time detection circuit 51
includes a time counter 53 that performs a counting operation upon being reset by a power-on signal 54, and an oscillator 52 that sends a pulse signal of a constant period to the time counter 53. Then, the output of the counter 53 is the second
The signal is sent to the converter 24 shown in the figure. The rest of the structure is the same as that in FIG. 2, but the structure of the conversion table in the converter 24 is different from that of the embodiment described above. In other words, since the steady state has not yet been reached immediately after the power is turned on, initial transient errors are likely to occur. Therefore, in order to eliminate these errors as much as possible through retry operations, the number of retries is increased immediately after the power is turned on, and then the number of retries is gradually decreased as time passes, and after a certain period of time, the number of retries is kept constant. Set the conversion table time/retry count. The operation of this embodiment is the same as that of the previously described embodiment, so the explanation thereof will be omitted.

この様に第2の実施例によれば、前述した実施
例の様に特別な検出器を設けることもなく、タイ
マー等の簡単な構成によつて安価に実現できる。
In this way, according to the second embodiment, there is no need to provide a special detector unlike the above-mentioned embodiments, and it can be realized at low cost with a simple configuration such as a timer.

本発明は温度、湿度だけでなく装置の誤動作を
引き起す種々の環境条件における物理的諸変量を
検出することにより、その検出値に応じて再試行
回数を可変制御することが可能である。それには
例えば振動、明るさ等が更にあげられる。公知の
光学的文字読取装置においては発光源からの光を
帳票にあて、この帳票からの反射光を解読するこ
とにより文字を認識している。然るに発光源の寿
命、発光源へ印加される電圧異常等によつて文字
認識に誤りが生ずる。従つて発光源からの光量を
検出することによつてその検出値に応じ再試行回
数を可変制御できる。
The present invention is capable of variably controlling the number of retries in accordance with the detected values by detecting not only temperature and humidity but also various physical variables in various environmental conditions that cause malfunctions of the device. Further examples include vibration, brightness, etc. In a known optical character reading device, characters are recognized by shining light from a light emitting source onto a form and deciphering the light reflected from the form. However, errors in character recognition may occur due to the lifespan of the light emitting source, abnormalities in the voltage applied to the light emitting source, and the like. Therefore, by detecting the amount of light from the light emitting source, the number of retries can be variably controlled in accordance with the detected value.

第5図は本発明の更に他の実施例を説明するた
めのブロツク図である。本実施例は同一装置内に
複数の検出器を備え、これらの検出器からの検出
値によつて再試行回数を可変制御するものであ
る。図において、温度検出器55、光量検出器5
6、湿度検出器57は夫々同一装置内の温度、光
量、湿度等の影響を受け易い箇所に設置される。
勿論、同一装置内に温度の影響を受け易い箇所が
多数ある場合、又は温度のみの影響しか考えられ
ない場合には上記検出器を適宜な数だけ設置すれ
ばよい。これら検出器55,56,57からの検
出値は夫々変換器58,59,60に送られる。
尚、アナログ量で検出されるものについては変換
器に送られる前にアナログ/デイジタル変換され
ていることが必要である。変換器58,59,6
0は夫々検出値を再試行回数に変換するための変
換テーブルを具備している。変換器58は温度/
再試行回数の変換を行ない、変換器59は光量/
再試行回数の変換を行ない、変換器60は湿度/
再試行回数の変換を夫々行なう。変換器58,5
9,60から出力される再試行回数は対応するレ
ジスタ61,62,63に夫々セツトされる。最
大値検出回路64はレジスタ61,62,63の
内容のうち最大のものを検出する。この検出回路
64は公知の論理的組合せ回路によつて容易に構
成し得る。検出回路64にて検出された最大の再
試行回数はレジスタ65にセツトされる。レジス
タ65にセツトされている再試行回数は初期開始
信号35によつて信号34として読み出され、ア
ンドゲート25を介して、第2図の再試行カウン
タ26にセツトされる。尚、その他の構成及び動
作については第2図に示したものと何ら変る所が
ないので説明は省略する。
FIG. 5 is a block diagram for explaining still another embodiment of the present invention. In this embodiment, a plurality of detectors are provided in the same device, and the number of retries is variably controlled based on the detection values from these detectors. In the figure, a temperature detector 55, a light amount detector 5
6. The humidity detectors 57 are installed at locations within the same device that are easily affected by temperature, light intensity, humidity, etc.
Of course, if there are many locations within the same device that are easily affected by temperature, or if only the influence of temperature can be considered, an appropriate number of the above-mentioned detectors may be installed. Detected values from these detectors 55, 56, 57 are sent to converters 58, 59, 60, respectively.
Note that for the detected analog quantity, it is necessary to convert it from analog to digital before sending it to the converter. Converter 58, 59, 6
0 is provided with a conversion table for converting each detected value into the number of retries. Transducer 58 converts temperature/
The converter 59 converts the number of retries, and the converter 59 converts the amount of light/
The converter 60 converts the number of retries and converts the humidity/
The number of retries is converted respectively. converter 58,5
The retry counts output from 9 and 60 are set in corresponding registers 61, 62, and 63, respectively. The maximum value detection circuit 64 detects the maximum value among the contents of the registers 61, 62, and 63. This detection circuit 64 can be easily constructed using a known logical combinational circuit. The maximum number of retries detected by the detection circuit 64 is set in the register 65. The number of retries set in register 65 is read out as signal 34 by initial start signal 35, and is set in retry counter 26 in FIG. 2 via AND gate 25. Note that the other configurations and operations are the same as those shown in FIG. 2, so explanations will be omitted.

この様な実施例によれば、同一装置内の最悪の
環境条件に応じて再試行回数を設定することが可
能であり、装置全体としての稼動率を向上させる
ことができる。
According to such an embodiment, it is possible to set the number of retries according to the worst environmental condition within the same device, and it is possible to improve the operating rate of the device as a whole.

以上本発明の幾つかの実施例について説明した
が、本発明はこの他にも本発明の趣旨を逸脱しな
い範囲において種々変形して実施され得ることは
明らかであろう。例えば、前述した第2の実施例
においては、電源投入信号によつて計時動作を開
始する旨述べた。しかし所定箇所に設置された情
報処理装置は一般的に動作開始初期においては誤
動作を起し易いので装置が動作を開始してから所
定ケ月又は数日間は再試行回数を多く設定してお
き、一定期間経過後には漸減する様に変換手段を
構成することは容易である。これは情報処理装置
が具備しているタイマーを利用して容易に達成さ
れ得る。
Although several embodiments of the present invention have been described above, it will be obvious that the present invention can be implemented with various modifications without departing from the spirit of the present invention. For example, in the second embodiment described above, it has been stated that the time measurement operation is started in response to a power-on signal. However, information processing equipment installed in a designated location is generally prone to malfunctions in the early stages of operation, so the number of retries is set to a large number for a designated number of months or several days after the equipment starts operating. It is easy to configure the conversion means so that it gradually decreases after a period of time has elapsed. This can be easily achieved using a timer included in the information processing device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明をフロツピーデイスク装置に実
施した場合の具体例を示すブロツク図、第2図は
フロツピーデイスク装置における再試行回数の設
定及び再試行動作を説明するためのブロツク図、
第3図は再試行回数を時間的経過に従つて設定す
る実施例を説明するためのブロツク図、第4図は
第2図における変換器の詳細を示す図、第5図は
本発明の他の実施例を示すブロツク図。 符号の説明、1…デイスク制御部、2…デイス
ク駆動部、3…フロツピーデイスク、5…再試行
設定回路、6…温度検出器、26…再試行カウン
タ、42…誤り検出器。
FIG. 1 is a block diagram showing a specific example of the present invention implemented in a floppy disk device, and FIG. 2 is a block diagram for explaining the setting of the number of retries and the retry operation in the floppy disk device.
FIG. 3 is a block diagram for explaining an embodiment in which the number of retries is set according to the passage of time, FIG. 4 is a diagram showing details of the converter in FIG. 2, and FIG. FIG. Explanation of symbols: 1... Disk control unit, 2... Disk drive unit, 3... Floppy disk, 5... Retry setting circuit, 6... Temperature detector, 26... Retry counter, 42... Error detector.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 誤りを検出したとき、該誤りの発生頻度を変
化させる物理的諸変量に基づいて再試行回数を決
定して再試行を行なわせる情報処理装置におい
て、前記物理的諸変量を検出する手段と、該検出
手段によつて検出された物理量に対応して再試行
回数を設定するための物理量/再試行回数変換手
段と、該変換手段より導出される再試行回数をセ
ツトする再試行カウンタを有し、前記情報処理装
置において誤りが検出されたとき、多くとも前記
再試行カウンタにセツトされた回数まで再試行を
行なうことを特徴とする再試行制御方式。 2 前記物理量/再試行回数変換手段は、前記情
報処理装置の定格に基づいて決められ得る物理的
諸変量の上限及び下限を設定し、前記検出手段に
よつて検出された物理的諸変量が該上限又は下限
から外れたときにのみ再試行回数を多くする様に
変換せしめることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の再試行制御方式。 3 前記物理的諸変量は、情報処理装置の誤り発
生の原因となる環境条件において変動する温度で
あり、前記検出手段は温度検出器と、前記情報処
理装置が最も適正に稼動する状態における温度と
該温度検出器にて検出される温度との差を求める
手段を有し、前記変換手段は温度差/再試行回数
の変換テーブルを有することを特徴とする特許請
求の範囲第2項記載の再試行制御方式。 4 前記変換テーブルは、温度差が大きくなる程
再試行回数が多くなる如く設定されることを特徴
とする特許請求の範囲第3項記載の再試行制御方
式。 5 前記物理的諸変量は、情報処理装置の誤り発
生の原因となる時間的変数であり、前記検出手段
は、該時間的変数を計数する計時カウンタを有
し、前記変換手段は該計時カウンタの値に対応し
た時間/再試行回数の変換テーブルを有すること
を特徴とする特許請求の範囲第2項記載の再試行
制御方式。 6 前記計時カウンタは前記情報処理装置の電源
投入と同時に計数動作を開始し、前記変換テーブ
ルは、電源投入直後に再試行回数を多くし、その
後時間経過とともに再試行回数を漸減させ、一定
時間経過後には再試行回数を一定にする如く設定
されることを特徴とする特許請求の範囲第5項記
載の再試行制御方式。
[Scope of Claims] 1. In an information processing device that, when an error is detected, determines the number of retries based on physical variables that change the frequency of occurrence of the error and performs a retry, physical quantity/retry number converting means for setting the number of retries corresponding to the physical quantity detected by the detecting means, and setting the number of retries derived from the converting means. 1. A retry control method comprising a retry counter, and when an error is detected in the information processing device, retrying is performed at most up to the number of times set in the retry counter. 2. The physical quantity/retry number conversion means sets upper and lower limits of physical variables that can be determined based on the rating of the information processing device, and the physical variables detected by the detection means correspond to the upper and lower limits of the physical variables. 2. The retry control method according to claim 1, wherein the retry control method is configured to increase the number of retries only when the number of retries is outside an upper limit or a lower limit. 3. The physical variables are temperatures that fluctuate under environmental conditions that cause errors in the information processing device, and the detection means includes a temperature detector and a temperature sensor that detects the temperature under which the information processing device operates most appropriately. 2. The retry system according to claim 2, further comprising means for determining a difference between the temperature detected by the temperature detector, and the converting means having a conversion table of temperature difference/number of retries. Trial control method. 4. The retry control method according to claim 3, wherein the conversion table is set such that the number of retries increases as the temperature difference increases. 5. The physical variables are temporal variables that cause errors in the information processing device, the detection means has a time counter that counts the temporal variables, and the conversion means has a time counter that counts the time variables. 3. The retry control system according to claim 2, further comprising a time/retry count conversion table corresponding to the value. 6. The time counter starts counting operation at the same time as the information processing device is powered on, and the conversion table increases the number of retries immediately after the power is turned on, and then gradually decreases the number of retries as time passes, 6. The retry control method according to claim 5, wherein the number of retries is set to be constant thereafter.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04169752A (en) * 1990-10-31 1992-06-17 Kyocera Corp Solar heat collecting device

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JPS4847238A (en) * 1971-10-15 1973-07-05

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