JPS6133091A - 表面疵位置を決定する方法及び装置 - Google Patents
表面疵位置を決定する方法及び装置Info
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- JPS6133091A JPS6133091A JP15405784A JP15405784A JPS6133091A JP S6133091 A JPS6133091 A JP S6133091A JP 15405784 A JP15405784 A JP 15405784A JP 15405784 A JP15405784 A JP 15405784A JP S6133091 A JPS6133091 A JP S6133091A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被検査物体の表面の疵位置を決定するための
方法および装置に関するものである。
方法および装置に関するものである。
各種材料または製品の品質管理上１表面の状態を検査す
る必要がある。たとえば、鋼材のｉ１！１造過程におけ
るビレット表面の疵の有無は、その後の加工過程はもと
より最終製品の品質にも大きな影響を５えるため、ｒａ
実に検出し適当な処置がなされなければならない。その
ため、各種の非破壊検査が行われている。例えば、鋼材
の非破壊検査を行う場合は、非検査物表面に螢光磁粉液
を撒布し。
る必要がある。たとえば、鋼材のｉ１！１造過程におけ
るビレット表面の疵の有無は、その後の加工過程はもと
より最終製品の品質にも大きな影響を５えるため、ｒａ
実に検出し適当な処置がなされなければならない。その
ため、各種の非破壊検査が行われている。例えば、鋼材
の非破壊検査を行う場合は、非検査物表面に螢光磁粉液
を撒布し。
磁化することによって表面疵部に螢光磁粉模様を発生せ
しめ、その後紫外線灯にて照射した際に疵部位に生ずる
付着磁粉の発する螢光により疵の存在を検出するものが
知られている。かかる検査において、疵部位の決定を肉
眼で監視するのは、疲労や不注意により看過する事態も
多く、高速かつ大量の検査を行う用途においては限界が
ある。そのため、テレビカメラのような適当な撮像装置
を用いて自動的に探傷する各種の装置及び方法が提案さ
れている。さらに、このような自動探傷では、まず非検
査物体表面からの信号を適当に処理して本来の傷信号と
雑音とを分離し、この出力の有無から疵の存在を決定し
、その後マーキング装置や自動庇取り装置を作動せしめ
、単なる検査にとどまらず事後処理を行う構成が必須と
なる。この場合、疵を検出した位置と事後処理を行う位
置との間に、送り機構による滑りや遊び等に起因して被
検査物体の相対的移動が生ずる可能性があり。
しめ、その後紫外線灯にて照射した際に疵部位に生ずる
付着磁粉の発する螢光により疵の存在を検出するものが
知られている。かかる検査において、疵部位の決定を肉
眼で監視するのは、疲労や不注意により看過する事態も
多く、高速かつ大量の検査を行う用途においては限界が
ある。そのため、テレビカメラのような適当な撮像装置
を用いて自動的に探傷する各種の装置及び方法が提案さ
れている。さらに、このような自動探傷では、まず非検
査物体表面からの信号を適当に処理して本来の傷信号と
雑音とを分離し、この出力の有無から疵の存在を決定し
、その後マーキング装置や自動庇取り装置を作動せしめ
、単なる検査にとどまらず事後処理を行う構成が必須と
なる。この場合、疵を検出した位置と事後処理を行う位
置との間に、送り機構による滑りや遊び等に起因して被
検査物体の相対的移動が生ずる可能性があり。
常に適切な事後処理が行われているとはいえなかった。
これは、検出された疵位置の決定の段階で一部機械的要
素を介在せしめるため、所要時間が問題となりさらに誤
差が大きくなる成分を内在していることに起因するもの
である。
素を介在せしめるため、所要時間が問題となりさらに誤
差が大きくなる成分を内在していることに起因するもの
である。
本発明の目的は、被検査物体の軸方向に沿った疵の位置
並びにこの軸と交差する方向の位置共に全て電気的信号
処理のみで決定することができる被検査物体の表面の疵
位置を決定するための方法および装置を提供することを
目的とする。
並びにこの軸と交差する方向の位置共に全て電気的信号
処理のみで決定することができる被検査物体の表面の疵
位置を決定するための方法および装置を提供することを
目的とする。
この目的は、特許請求の範囲に記載の方法、すなわら、
（ａ）被検査物体表面をテレビカメラにより撮像し、撮
像されたビデオ信号を処理して２値化回路により疵信号
を取り出し、（ｂ）前記ビデオ信号から垂直同期パルス
及び水平同期パルスを同期分離し、これら分離された垂
直同期パルスを起点とし゛ζ水平同期パルスを計数して
所望位置の２値化された水平走査線を決定し、（Ｃ）水
平走査周波数のＮ４ｆ４のクロック周波数を前記特定の
水平同期パルスの立上がり又は立下がりに同期させて発
振せしめ、該クロック周波数をＮ分周し、（ｄ）前記Ｎ
分周されたＮ個の出力のそれぞれと前記疵信号との論理
積出力を求め、該論理積出力の存否に応じて被検査物体
表面の疵位置を決定する方法によって達成される。
（ａ）被検査物体表面をテレビカメラにより撮像し、撮
像されたビデオ信号を処理して２値化回路により疵信号
を取り出し、（ｂ）前記ビデオ信号から垂直同期パルス
及び水平同期パルスを同期分離し、これら分離された垂
直同期パルスを起点とし゛ζ水平同期パルスを計数して
所望位置の２値化された水平走査線を決定し、（Ｃ）水
平走査周波数のＮ４ｆ４のクロック周波数を前記特定の
水平同期パルスの立上がり又は立下がりに同期させて発
振せしめ、該クロック周波数をＮ分周し、（ｄ）前記Ｎ
分周されたＮ個の出力のそれぞれと前記疵信号との論理
積出力を求め、該論理積出力の存否に応じて被検査物体
表面の疵位置を決定する方法によって達成される。
また、この方法を有利に実施するためには、同じく特許
請求の範囲に記載の構成を有する装置。
請求の範囲に記載の構成を有する装置。
すなわち、（ａ）被検査物体の表面を撮像するためのテ
レビカメラ、（ｂ） 前記テレビカメラのビデオ信号
を処理して２値化された疵信号を取り出すための２値化
回路、（Ｃ） 前記ビデオ信号から垂直同期パルス及
び水平同期パルスを分離し、これら分離された垂直同期
パルスを起点として水平同期パルスを計数して所望位置
の２値化された水平走査線を決定するための同期分離回
路、（ｄ）水平走査周波数のＮ倍のクロック周波数を前
記特定の水平同期パルスの立上がり又は立下がりに同期
させて発振せしめ、該クロック周波数をＮ分周するため
の発振器およびＮ進カウンタ、（ｅ）前記Ｎ進カウンタ
の出力のそれぞれを一方の入力とし他方の入力に共通し
て前記疵信号が印加されるＮ個のアンド回路、を具備す
る装置を使用することができる。
レビカメラ、（ｂ） 前記テレビカメラのビデオ信号
を処理して２値化された疵信号を取り出すための２値化
回路、（Ｃ） 前記ビデオ信号から垂直同期パルス及
び水平同期パルスを分離し、これら分離された垂直同期
パルスを起点として水平同期パルスを計数して所望位置
の２値化された水平走査線を決定するための同期分離回
路、（ｄ）水平走査周波数のＮ倍のクロック周波数を前
記特定の水平同期パルスの立上がり又は立下がりに同期
させて発振せしめ、該クロック周波数をＮ分周するため
の発振器およびＮ進カウンタ、（ｅ）前記Ｎ進カウンタ
の出力のそれぞれを一方の入力とし他方の入力に共通し
て前記疵信号が印加されるＮ個のアンド回路、を具備す
る装置を使用することができる。
本発明にかかる方法又は装置によれば、純粋に電気的な
、したがって比較的簡単かつ廉価な装置による信号処理
によって、被検査物体表面に疵位置を正確に対応せしめ
て決定することができ、従来の装置または方法のような
誤差の発生が防止できる。したがって、疵に対する爾後
の処理又は対応が適切に行い得る利点が得られる。
、したがって比較的簡単かつ廉価な装置による信号処理
によって、被検査物体表面に疵位置を正確に対応せしめ
て決定することができ、従来の装置または方法のような
誤差の発生が防止できる。したがって、疵に対する爾後
の処理又は対応が適切に行い得る利点が得られる。
以下、実施例を示す添付図を参照して本発明を開示する
。
。
第２図は１本発明対象におりる機器配置の例を示すもの
である。被検査物体の例であるビレ・ノドＢは矢印Ａの
ように移動する。ビレットＢは上流の螢光磁わ〕脂布器
Ｓにより被検査物表面に螢光磁粉撒布を行い９次いで着
磁装置Ｍにより表面全体にわたり一様に磁化される。こ
の着磁装置Ｍよりも下流には紫外線を照射する光源Ｉ７
及びテレビカメラＣを含む暗箱りがビレットを自由に通
過せしめることができる態様で配設される。テレビカメ
ラＣのレンズ部分には適当な光学特性のフィルタＦが配
設され、所望波長を通過せしめるように構成される。
である。被検査物体の例であるビレ・ノドＢは矢印Ａの
ように移動する。ビレットＢは上流の螢光磁わ〕脂布器
Ｓにより被検査物表面に螢光磁粉撒布を行い９次いで着
磁装置Ｍにより表面全体にわたり一様に磁化される。こ
の着磁装置Ｍよりも下流には紫外線を照射する光源Ｉ７
及びテレビカメラＣを含む暗箱りがビレットを自由に通
過せしめることができる態様で配設される。テレビカメ
ラＣのレンズ部分には適当な光学特性のフィルタＦが配
設され、所望波長を通過せしめるように構成される。
テレビカメラＣで撮像した信号は、適当な疵信号レベル
で信号検出を行う疵位置検出回１？３１Ｄに導かれる。
で信号検出を行う疵位置検出回１？３１Ｄに導かれる。
この疵位置検出回路［Ｄには、所定のクロック信号を印
加するための発振器Ｏ８Ｃが接続される。
加するための発振器Ｏ８Ｃが接続される。
疵位置検出回！？８ＩＤの出力は、疵長さ検出及び遅延
回路ＴＤを介して適当な処理装置Ｔに伝達される。この
処理装置Ｔとしては１例えばマーキング装置、自動価数
り装置又は記憶装置等が考えられる。
回路ＴＤを介して適当な処理装置Ｔに伝達される。この
処理装置Ｔとしては１例えばマーキング装置、自動価数
り装置又は記憶装置等が考えられる。
第１図は２本発明にかかる疵位置決定の機能を説明する
ためのブロック図である。テレビカメラ１で得られた信
号は、増幅器２で適当なレベルにビデオ増幅された後２
分される。一方では、信号処理回路３を経た後２値回路
４で疵信号を取り出す。この疵信号は、後述するアンド
回路ＡＮＤの一方の端子に導かれる。
ためのブロック図である。テレビカメラ１で得られた信
号は、増幅器２で適当なレベルにビデオ増幅された後２
分される。一方では、信号処理回路３を経た後２値回路
４で疵信号を取り出す。この疵信号は、後述するアンド
回路ＡＮＤの一方の端子に導かれる。
２分された他方の信号は、同期分離回路５により同期分
離され、垂直同期回路６及び水平同期口１ｉ！８−７に
至る。この垂直同期回路６によって得られた垂直同期パ
ルスを起点として水平同期回路７によって得られた水平
同期パルスを、水平同期計数回路８によって計数（カウ
ント）する。その結果所定の水平走査線が得られる。な
お、この水平同期計数回路８は、後述するように、誤差
を減少するためにｍ本の走査線を（ｑると都合がよいた
め。
離され、垂直同期回路６及び水平同期口１ｉ！８−７に
至る。この垂直同期回路６によって得られた垂直同期パ
ルスを起点として水平同期回路７によって得られた水平
同期パルスを、水平同期計数回路８によって計数（カウ
ント）する。その結果所定の水平走査線が得られる。な
お、この水平同期計数回路８は、後述するように、誤差
を減少するためにｍ本の走査線を（ｑると都合がよいた
め。
ｍ回路によって構成される。このようにして得られた走
査線信号は２次いで走査線分割回路９に供給される。
査線信号は２次いで走査線分割回路９に供給される。
一方、走査線信号は１通常の１５．７５ ｋｌｌｚの場
合。
合。
６３．５μｓであるから、これをＮ分割５例えば１０分
割すると、 ６．３５μｓとなる。このような１０分割
をするには、 １５７．５ ｋｌｌｚの周波数が必
要となる。
割すると、 ６．３５μｓとなる。このような１０分割
をするには、 １５７．５ ｋｌｌｚの周波数が必
要となる。
そこで、かかる周波数の整数倍の発振器１０を設け、該
発振器］０の出力を分周器１１により分周して前述の周
波数を得る。このようにして得られた周波数を適当なデ
コーダー１２において所望数に分割する。このようなデ
コーダーとしては、Ｎ段のシフトレジスタやバイナリカ
ウンタ等を使用することができる。
発振器］０の出力を分周器１１により分周して前述の周
波数を得る。このようにして得られた周波数を適当なデ
コーダー１２において所望数に分割する。このようなデ
コーダーとしては、Ｎ段のシフトレジスタやバイナリカ
ウンタ等を使用することができる。
このようにして得られたＮ段の出力を、先に得られてい
る走査線信号を分割するために、走査線分割回路９に供
給する。したがって、走査線は。
る走査線信号を分割するために、走査線分割回路９に供
給する。したがって、走査線は。
全体の長さがＮに分割される。このように分割された走
査線信号は、アンド回［ｉ＠ＡＮＤの他方の端子に印加
され、前述の疵信号との論理積出力が得られる。
査線信号は、アンド回［ｉ＠ＡＮＤの他方の端子に印加
され、前述の疵信号との論理積出力が得られる。
第３図は２本発明にかかる疵位置決定の原理を説明する
ための模式図で、説明の便宜上１本の走査線をＮ＝１０
分割する例を示すものである。左端の信号処理のための
２値化回路は、第１図の参照符号３に相当するものであ
る。この疵信号は。
ための模式図で、説明の便宜上１本の走査線をＮ＝１０
分割する例を示すものである。左端の信号処理のための
２値化回路は、第１図の参照符号３に相当するものであ
る。この疵信号は。
図下側の１０個のアンド回路ＡＮＤｏ ＋ ・・・・
・＾ＮＤ９のそれぞれの第１の端子に接続される。この
アンド回路は、前述のようにＮ分割数に対応するもので
ある。これら各アント′回路ＡＮＤｏ ＋ ・・・
＾ＮＤ、のそれぞれの第２の端子には１例えば第４図の
ようなデコーダ１２の例であるシフ１−レジスタの各出
力ＱＯ＋ ・・ ０９が印加される。その結果、各各
アンド回路ＡＮＤｏ ＋ ・・・ ＡＮＤ９からは、
疵信号と各出力ＧＯ＋ ・・・ ０９との論理積出力
が得られる。これは、とりもなおさず１本の走査線をＮ
等分しておき、そのいずれの位置に疵信号が存在するか
を示すことになる。
・＾ＮＤ９のそれぞれの第１の端子に接続される。この
アンド回路は、前述のようにＮ分割数に対応するもので
ある。これら各アント′回路ＡＮＤｏ ＋ ・・・
＾ＮＤ、のそれぞれの第２の端子には１例えば第４図の
ようなデコーダ１２の例であるシフ１−レジスタの各出
力ＱＯ＋ ・・ ０９が印加される。その結果、各各
アンド回路ＡＮＤｏ ＋ ・・・ ＡＮＤ９からは、
疵信号と各出力ＧＯ＋ ・・・ ０９との論理積出力
が得られる。これは、とりもなおさず１本の走査線をＮ
等分しておき、そのいずれの位置に疵信号が存在するか
を示すことになる。
第３図の上側には、前述のようにして特定された１本の
走査線が示される。この走査線は２両端の水平同期パル
ス間が、前述のように６３．５μｓである。これをＮ−
１０等分した信号口０．・・・ ０９はそれぞれ６．３
７μｓとなる。例えば第１の疵信号に、は４番目の領域
に、そして第２の疵信号に２は、６番目の領域に、それ
ぞれ属することがわかる。その結果、疵信号の位置は純
電気的に正確に決定される。
走査線が示される。この走査線は２両端の水平同期パル
ス間が、前述のように６３．５μｓである。これをＮ−
１０等分した信号口０．・・・ ０９はそれぞれ６．３
７μｓとなる。例えば第１の疵信号に、は４番目の領域
に、そして第２の疵信号に２は、６番目の領域に、それ
ぞれ属することがわかる。その結果、疵信号の位置は純
電気的に正確に決定される。
このように決定された疵の位置を表す出力は。
第２図に示した疵長さ検出及び遅延回路ＴＤを介して適
当な処理装置Ｔに伝達される。この処理装置Ｔとしては
２例えば疵位置を表示するためのマーキング装置、さら
に自動的に疵部分を除去する自動庇取り装置又は疵位置
を適当な媒体に記憶しておき爾後の試料とするだめの記
憶装置等が考えられる。
当な処理装置Ｔに伝達される。この処理装置Ｔとしては
２例えば疵位置を表示するためのマーキング装置、さら
に自動的に疵部分を除去する自動庇取り装置又は疵位置
を適当な媒体に記憶しておき爾後の試料とするだめの記
憶装置等が考えられる。
なお１本実施例では、走査線分割数Ｎとして。
１０をとったが、精度向上のために１０以上の数値を採
用し得ることばいうまでもない。また、誤差を少なくす
るために１ｍ本の走査線を使用しているが、当然、この
本数も任意に選定し得るものである。
用し得ることばいうまでもない。また、誤差を少なくす
るために１ｍ本の走査線を使用しているが、当然、この
本数も任意に選定し得るものである。
ここに好適な実施例を取り上げ本発明を開示しく１１）
たが２本発明の範囲内において多くの変形または変更が
可能であることは明らかであろう。
可能であることは明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
第１図は２本発明を実施するための回路のブロック図、
第２図は１本発明対象の全体の構成を示す略図、第３図
は２本発明の詳細な説明するための模式図、そして第４
図は１本発明に使用するデコーダとしてのシフトレジス
タの例を示すものである。 図中の主な参照符号の対応は以下の通り。 Ｓ：螢光磁粉撒布器 Ｍ：磁化器 Ｄ：暗箱 Ｃ：テレビカメラド：フィルタ
し：紫外線灯 ■Ｄ：疵位置検出回路 ＴＤ：遅延回路Ｏ３Ｃ：発振器
Ｔ：処理装置Ｂ：被検査物体（ビレット）
第２図は１本発明対象の全体の構成を示す略図、第３図
は２本発明の詳細な説明するための模式図、そして第４
図は１本発明に使用するデコーダとしてのシフトレジス
タの例を示すものである。 図中の主な参照符号の対応は以下の通り。 Ｓ：螢光磁粉撒布器 Ｍ：磁化器 Ｄ：暗箱 Ｃ：テレビカメラド：フィルタ
し：紫外線灯 ■Ｄ：疵位置検出回路 ＴＤ：遅延回路Ｏ３Ｃ：発振器
Ｔ：処理装置Ｂ：被検査物体（ビレット）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）被検査物体の表面疵位置を決定する方法において、 （ａ）被検査物体表面をテレビカメラにより撮像し、撮
像されたビデオ信号を処理して２値化回路により疵信号
を取り出し、 （ｂ）前記ビデオ信号から垂直同期パルス及び水平同期
パルスを同期分離し、これら分離された垂直同期パルス
を起点として水平同期パルスを計数して所望位置の２値
化された水平走査線を決定し、（ｃ）水平走査周波数の
Ｎ倍のクロック周波数を前記特定の水平同期パルスの立
上がり又は立下がりに同期させて発振せしめ、該クロッ
ク周波数をＮ分周し、 （ｄ）前記Ｎ分周されたＮ個の出力のそれぞれと前記疵
信号との論理積出力を求め、 該論理積出力の存否に応じて被検査物体表面の疵位置を
決定することを特徴とする方法。 ２）被検査物体の表面疵位置を決定する装置において、 （ａ）被検査物体の表面を撮像するためのテレビカメラ
と、 （ｂ）前記テレビカメラのビデオ信号を処理して２値化
された疵信号を取り出すための２値化回路と、（ｃ）前
記ビデオ信号から垂直同期パルス及び水平同期パルスを
分離し、これら分離された垂直同期パルスを起点として
水平同期パルスを計数して所望位置の２値化された水平
走査線を決定するための同期分離回路と、 （ｄ）水平走査周波数のＮ倍のクロック周波数を前記特
定の水平同期パルスの立上がり又は立下がりに同期させ
て発振せしめ、該クロック周波数をＮ分周するための発
振器およびＮ進カウンタと、（ｅ）前記Ｎ進カウンタの
出力のそれぞれを一方の入力とし他方の入力に共通して
前記疵信号が印加されるＮ個のアンド回路と、 を具備することを特徴とする装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15405784A JPS6133091A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 表面疵位置を決定する方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15405784A JPS6133091A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 表面疵位置を決定する方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6133091A true JPS6133091A (ja) | 1986-02-15 |
Family
ID=15575964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15405784A Pending JPS6133091A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 表面疵位置を決定する方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6133091A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01174722A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-11 | Eitetsu Rin | 地中アンカーの回収方法とそのための分離装置 |
| US5859632A (en) * | 1994-07-14 | 1999-01-12 | Seiko Epson Corporation | Power circuit, liquid crystal display device and electronic equipment |
| US5929847A (en) * | 1993-02-09 | 1999-07-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Voltage generating circuit, and common electrode drive circuit, signal line drive circuit and gray-scale voltage generating circuit for display devices |
| KR100564259B1 (ko) * | 2003-12-22 | 2006-03-29 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 영상처리방법을 이용한 온라인 봉강재 표면시험검사장치 |
| US7629950B2 (en) | 2005-05-02 | 2009-12-08 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Gamma reference voltage generating circuit and flat panel display having the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5611897A (en) * | 1979-07-10 | 1981-02-05 | Toshiba Electric Equip | High frequency lighting device for metal halide lamp |
-
1984
- 1984-07-26 JP JP15405784A patent/JPS6133091A/ja active Pending
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