JPS6130744A - 自動解析器における試料流の低イオン活性値測定方法およびその測定装置 - Google Patents

自動解析器における試料流の低イオン活性値測定方法およびその測定装置

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JPS6130744A
JPS6130744A JP8663485A JP8663485A JPS6130744A JP S6130744 A JPS6130744 A JP S6130744A JP 8663485 A JP8663485 A JP 8663485A JP 8663485 A JP8663485 A JP 8663485A JP S6130744 A JPS6130744 A JP S6130744A
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    • G01N27/416Systems
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は自動解析器による試料流内の低イオン活性値を
測定するための方法に係り、特に試藁を加えることによ
って試料流を調節し、かつ適切な校正物体を不要にする
ための装置に接続可能なシステムによってイオン濃度を
測定する低イオン活性値測定装置に関するものである。
従来の技術 この城の装置は、たとえば、水流内のナトリウムイオン
活性度または塩素イオン活性度を測、定するために使用
される。試料流における低イじるという制限がある。全
ての水性試料流中にはH+イオンとOH−イオンが存在
するので、正確な測定を可能にするためには、低陽イオ
ンと低陰イオンの電気化学定量前に条件剤によってpH
を調節することが重要である。酸を条件剤として添加す
ると試料流からOHが除去されてpHは低下し、塩基を
条件材として添加するとH十が試料流から除去されてp
Hは上昇する。
イオン活性度測定に使用される測定システム(このシス
テムは測定電極と基]Ig電極から成る)の零点と勾配
には長期間に渡ってドリフトが生じるので、規則的に校
正する必要がある。このドリフトは、たとえば、測定電
極の変化と基準電極の拡散電位の変化によって生じる。
周知の運出としては、測定すべきイオン活性度の範囲内
で校正が行われることである。
上述したこの種の公知の測定力法においては、測定ポン
プを内蔵する測定ユニットにより、試料流に添加される
校正溶液によって校正が行われ、測定すべき既知のイオ
ン濃度が試料流中に発生する。
測定ポンプは余分の不要な費用がかかることはともかく
として、高純度の水におけるlO以下の低イオン活性度
測定は困難であり、校正溶液の調整と測定ポンプの精度
が強く要求される。
発明の目的 本発明は、校正溶液も特殊な測定ポンプも必要としない
、試料流における低イオン活性値を測定するための方法
を提供しようとするものである。
この目的は、校正物体として測定すべき既知のイオン活
性度を不要にするための溶解性ガラスを用い基準濃度を
直接確立することによって達成される。
溶解性ガラスを使用し試料流における基準濃度を直接確
立することによって、校正溶液も測定ポンプも不要とな
り、かつ校正溶液を使用する場合に完全に除去できなか
った不純物反作用イオンの不要な移動による障害が除去
される。
さらに、本発明は前記方法を実行するための装置に関し
、この装置は測定セルと、この測定セルに接続され試料
流と試薬を挿入するための手段と、測定セルを校正する
装置によって構成されている。
本発明による装置は、校正装置が測定すべきイオンを除
去するための溶解性ガラスを試料流中に挿入するインサ
ートを有することを特徴とするものである。
実施例 以下に、本発明に係る方法と装置の実施例を図面を参照
しながら説明する。
第1図によれば、イオン活性値(この場合はNa+活性
値)をi!!I定するための装置は、測定部2と管路4
と5が導ひかれる混合部3を有する測定セル1かうなり
、管路4は試料流を搬送し、管路5は試料流を調整する
ための試薬(この場合はNa十測測定おけるアルカリ化
剤)を搬送する。
試料流用の管路4には、試料流の方向に沿って、試着流
用の入り部6、手動バルブ7、試料流においてノー圧を
確立するための圧力調整器8、所要の流量を確立するた
めのニードルバルブ9、流量計10、および必要に応じ
て装置を計量するためのバイパス13を通して試料流を
通流させる二つの復水器逆洗弁11と12が配設されて
いる。
バイパス13は、校正装置14、たとえば、即座にロッ
クする結合器15によりバイパス13に手動によって連
結できる校正カートリッジと、出口18に管路I7を通
して通じる復水器逆洗弁16を有する。
空気がアルカリ化剤用の管路5を通して吸入されNHO
Hを含何する容器20内のガラスフリット19を通過す
る。これにより空気はNHで飽和される。NHで飽和し
た空気は、アルカリ化剤を形成し、測定セルlの混合部
3内で管路4からの試料流のpHは10以上に上昇する
。試料流とNH,飽和空気はill!I定部2を通して
流れ、終局的には出口18に流れる。
測定セル1の測定部2は本質的にナトリウム測定電極と
Ag/Agcl基邸電極からなる測定素子を有する。試
料とNH3飽和空気との混合物は測定電極を通過し、基
準電極は適当な電解質たとえば固有濃度のKC7または
LiCj!中に浸漬されている。これらの二つの電極を
用いることによって、Na+イオンの電位測定が可能で
ある。
測定セル】は、本発明の主題を形成するものではないが
、1984年7月13日に本特許出願人によって並行出
願された「試料流における低イオン活性度[定装置」 
(スイス特許出M第3416/84−2号)に開示され
ている。
さらに、第】図に示すシステムはPOLYMETRON
社と補助のZELLWEGER社によって製造され世界
中で取引されている。
ナトリウム選択電極の変化と基準電極の拡散電位の変化
によって、測定素子の零点と勾配に長期間にわたるドリ
フトが起る。それ故、定期的に測定素子を校正する必要
がある。既知の理由に対して、校正は予め測定すべきナ
トリウム活性量の範囲近くで行われかつ校正溶液の準備
と試料流に対してそれを助けるための測定装置の精度が
強く要望されたので、今日まで適正な校正溶液によって
行われているが、高純度の水における10  オーダー
の低活性量測定は困難なものであった。
バイパス13に配置された校正装置によって、校正溶液
を必要とすることなく試料流において基′f5濃度を直
接確立することができ、不純物もしくは反作用イオンの
不要な移動による障害を避けることができる。
第2図によれば、校正装ff1i14は透明な物質たと
えばプレキシガラス製の校正カートリッジからなり、こ
の校正カートリッジは校正物体22を内蔵する部屋23
を有する。部屋23に嵌合するにあたって、校正カート
リッジ14は頂上部24および底部25を留し、それぞ
れその一つに(この場合は頂部24)が校正カートリッ
ジ14にねじ込まれる。第2図はねじ切りされていない
頂部24を示す。頂部24と底部25にはそれぞれ中心
穴26と27が設けられており、これらの中心穴26と
27にはアダプタコーン27が接合され、該アダプタコ
ーン27には即座にロックする結合器15(第1図)が
設けられている。各穴26と部屋23間には円板状のフ
ィルタ28が挿入されており、校正物体22が部屋23
から外部に逃げるのを防止している。頂部24と校正カ
ートリッジ14の残りの部分はシール29によってシー
ルされている。
校正物体22は微粒状または粒状の水溶性ガラスからな
り、この水溶性ガラスはナトリウムイオンを除去するも
のである。この種のガラスは、今日では医療用または対
候性塗料用として知られており、たとえば米国特許4,
350,675号において開示されている。この場合に
おいて、校正物体22として用いるガラスはナトリウム
ポリホスフェイトガラスであり、このガラスは、水性の
試、料と接触すると、既知の温度で流れ中の規定量のす
1−リウムを除去するものである。
試料流の流量は知られているので、この流れ内のナトリ
ウム濃度が規定される。この種のガラスは、出願人イン
ターナショナル・スタンダード・エレクトリカル社によ
って出願された英国特許出願(Ca’se Drake
−95)  「解析溶菌を調製するための水溶性成分」
に開示されている。
それ故、バイパス13を通して校正カートリッジ14を
試料流が通流すると、該試料流内で確立されたナトリウ
ムイオン活性度は温度、試料流および水溶性のナトリウ
ムポリフォスフェートガラスの組成に依存する。たとえ
ば、3.51/時間、20°Cで、次の成分、すなわち
CaO:50.4モル%、Na O: 2.5モル%、
PO:47.1モル%を有するガラスでは、Na十濃度
は3 pHbである。
即座にロックする結合器15により、所望の校正カート
リッジ14が手動によって接続される。校正を手動によ
って行う場合は、バイパス7に−お居て逆洗弁16、管
路17および出口部18は不要である。復水器逆洗弁1
1と12間の接続をブロックするように該逆洗弁11と
12を切換えると、試料流は校正カートリッジ14を通
して通流し、この校正が行われる。校正後に、逆洗弁1
1と12は適当な位置に切換られ、第1図のシステムは
測定準備を遂行する。
単一の校正カートリッジ14を用い、該校正カートリッ
ジ14に印字された適正なNa’−7l1度と温度曲線
によって、時間毎に校正を行うことができる。この校正
はさらにシステムのソフトウェアに組込むことができる
。測定素子の勾配を一定にし、校正カートリッジ14に
よって生産された濃度が試料濃度よりも50から100
倍であり、かつ温度と流量が特定のパラメータに対応す
るとき、校正カートリッジ14に印字された濃度は測定
素子の零点によって確立される。
この校正の精度は十分実用的であり、イオン交換カート
リッジによってナトリウムがゼロになるように試料流を
純粋にしそれから校正カートリッジ14を通して試料流
を通流させることにより校正精度を向上させることがで
きる。これによって表示された濃度は正確に合致する。
測定素子の勾配が再び確立されると、この勾配は異った
濃度の第2の校正カートリッジ14によって確立される
異った濃度の二つの校正カートリッジによる校正の相異
は選択的に使用され、この場合、バイパス13(第1t
図)は各々校正カートリッジ14を含む二つの平行な分
岐管を有する。公知の添加法に従ってマイクロコンピュ
ータにより零点と勾配を演算すれば、試料流の初期のN
a十を知らなくても校正を行うことができる。
マイクロコンピュータを使用することによって、校正処
理を自動化することが可能で、二つの異なる濃度の校正
カートリッジが充分に長い時間挿入される。バイパス1
3を第1図すなわち復水器逆洗弁】6と管路17が出口
部18に通じるようにすれば、自動校正にあたって有利
である。復水器逆洗弁11 、12および16は機械に
6よって作動できるとともにマイクロコンビュー夕によ
って制御することができる。校正方法は次の通りである
。システムの通常の測定モードでは逆洗弁11と12間
は接続されておらず、試料流の一部が逆洗弁11によっ
てバイパスを通流しカートリッジ14を通して流れるの
で、該カートリッジ14は乾燥せず、遅れることなく常
に校正準備状態にある。システムの測定モードにおいて
、逆洗弁16は校正ノJ−トリツジ14からの試料流の
一部を管路17を介して出口部  418に通流させる
この自動校正にあたって、ポリホスフェイトガラスを小
さな直方体チップにして、該チップが少し溶解して残っ
ている時に表面の変化が生じるようにすれば有利である
。ポリホスフェイトガラスを一つまたはそれ以上の小さ
なチューブによって構成し、該デユープを部屋23の軸
方向に配設してその囲りを試料流が外表面と内表面を流
れるようにすれば更に有利である。この場合、対応する
表面の変化により互に打消し合い表面積が一定に保持さ
れる。
上述の説明では、本発明による方法をNa″−解析器に
関lノで述べたが、これに限定されるものでなく、本発
明の方法は他の陽イオン活性度および陰イオン活性度測
定、および他の測定たとえば遊@Qた塩素の測定にも使
用可能であることは当業者にとって明白であり、かつ異
った組成の水溶性ガラスを使用することが必要である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による校正装置によりNa”活性度測定
システムのフローチャーl−を示し、第2図は第1図の
システムの校正@置の拡大断面間を示す。 4・・・管路、13・・・バイパス、14・・・インサ
ート(3!正カートリツジ)、15・・・結合器、17
・・・管路、18・・・出目部、22・・・溶解性ガラ
ス、23・・・部屋、24・・・頂部、25・・・底部
、26・・・開口、27・・・アダプタコーン、28・
・・フィルタ、29・・・シール。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試薬を添加して試料流を調整し、適正な校正物体を
    不要にするための装置に接続可能な測定システムによつ
    てイオン濃度を測定するイオン活性値測定方法において
    、校正物体(22)が測定すべきイオンの既知量の不要
    な溶解性ガラスであり、基準濃度が試料流において直接
    確立されることを特徴とする、自動解析器における試料
    流の低イオン活性値測定方法。 2 二つの異る濃度の校正物体(22)を使用すること
    を特徴とする、特許請求の範囲第1項記載の方法。 3 ナトリウムポリフォスフェートガラスをNa^+イ
    オンの活性値を測定するための溶解性ガラスとして使用
    することを特徴とする、特許請求の範囲第1項または第
    2項記載の方法。 4 ナトリウムポリフォスフェートガラスが次の混合物
    を有する特許請求の範囲第3項記載の方法: CaO:45ないし55モル%、Na_2O:0.5な
    いし10モル%、P_2O_5:45ないし55モル%
    。 5 測定セルと該測定セルに接続され試料流と試薬を導
    入するための手段と、測定セルを校正するための装置と
    からなり、校正装置(14)が、測定すべきイオンを不
    要にするための溶解性ガラス(22)を試料流中に入れ
    るインサート(14)を有することを特徴とする、特許
    請求の範囲第1項の方法を遂行するための装置。 6 試料流を導入するための手段(4)が試料流を通流
    できるバイパス(13)を有し、溶解性ガラス(22)
    を備えたインサート(14)が前記バイパス内に配置さ
    れていることを特徴とする、特許請求の範囲第5項記載
    の装置。 7 バイパス(13)が、それぞれ異つた濃度の溶解性
    ガラス(22)を備えた二つの平行な分岐を有すること
    を特徴とする、特許請求の範囲第6項記載の装置。 8 測定モードである時、試料流の少量がバイパス(1
    3)を通して流れ、該少量の試料流は管路(17)を通
    してバイパスから出口部(18)に導びかれることを特
    徴とする、特許請求の範囲第6または第7項記載の装置
    。 9 インサート(14)が、溶解性ガラス用の部屋(2
    3)と、該部屋に嵌合しそれぞれ試料流の通路用として
    の開口(26)を備えた頂部(24)と底部(25)を
    有することを特徴とする、特許請求の範囲第5〜第8項
    のいずれ一つによる装置。 10 各開口(26)が部屋(23)に対向する端部で
    円板状のフィルタ(28)によつてシールされ、該開口
    は他端部で即座にロックする結合器(15)と係合する
    ように設けられたアダプタコーン(27)に開通するこ
    とを特徴とする、特許請求の範囲第9項記載の装置。 11 部屋(23)が微粒子または粒状の溶解性ガラス
    (22)を含んでいることを特徴とする、特許請求の範
    囲第9項記載の装置。 12 部屋(23)が小チップの溶解性ガラス(22)
    を包含し、該チップの長さと幅が厚みに比べて大きいこ
    とを特徴とする、特許請求の範囲第9項記載の装置。 13 部屋(23)が小さい管からなる溶解性ガラスを
    包含し、該管は部屋の軸方向に配置されその外表面と内
    表面を試料流が流れることを特徴とする、特許請求の範
    囲第9項記載の装置。
JP8663485A 1984-07-18 1985-04-24 自動解析器における試料流の低イオン活性値測定方法およびその測定装置 Granted JPS6130744A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH3486/84-1 1984-07-18
CH3486/84A CH663667A5 (de) 1984-07-18 1984-07-18 Verfahren und vorrichtung zur messung geringer aktivitaetswerte von ionen eines probenstroms in einem analysenautomaten.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6130744A true JPS6130744A (ja) 1986-02-13
JPH047942B2 JPH047942B2 (ja) 1992-02-13

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ID=4257029

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JP8663485A Granted JPS6130744A (ja) 1984-07-18 1985-04-24 自動解析器における試料流の低イオン活性値測定方法およびその測定装置

Country Status (8)

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US (1) US4625543A (ja)
EP (1) EP0168551B1 (ja)
JP (1) JPS6130744A (ja)
AT (1) ATE47230T1 (ja)
AU (1) AU583039B2 (ja)
CH (1) CH663667A5 (ja)
DE (1) DE3573660D1 (ja)
DK (1) DK161723C (ja)

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DE3573660D1 (en) 1989-11-16
US4625543A (en) 1986-12-02
DK294085D0 (da) 1985-06-28
AU4200485A (en) 1986-01-23
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