JPS61292510A

JPS61292510A - プリント回路板の自動光学検査

Info

Publication number: JPS61292510A
Application number: JP61138402A
Authority: JP
Inventors: リチャード　エル　ラビンガー; ネイテイル　エフ　チンネリノ; チモシー　イー　ブライアント
Original assignee: BIJIYONETEIKUSU CORP
Current assignee: BIJIYONETEIKUSU CORP
Priority date: 1985-06-17
Filing date: 1986-06-16
Publication date: 1986-12-23
Also published as: EP0206709A2; IL79097A0; EP0206709A3

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の要約］プリント回路板などを自動検査する装置につき開示する
。カメラは補完的な微細および粗大傷検出器に対し実時
間で走査されたプリント回路板の表面のビデオデータを
供給して、それぞれ所定寸法未満またはそれより大きい
傷を検出する。

［産業上の利用分野］本発明は、プリント回路板などを自動光学検査するため
の装置に関するものである。

［従来の技術］プリント回路板は典型的にはガラス繊維またはマイラ　
で作成された基板からなり、その表面には導電体である
金属線が形成され、これらを使用して各種の回路素子を
相互連結しかつ／または外部回路に接続する。集積回路
工業に歩調を合せるためその形状寸法、すなわち金属線
とこれら金属線間の間隔は極めて小さい寸法（たとえば
０．００５インチ）に狭められている。プリント回路板
の加工技術は著しく進歩しているが、プリント回路板の
数％は各種の傷が幾つか存在するため製造ラインから除
去される。たとえばプリント回路板は狭すぎる線および
／または間隔、短絡、開口、ピンホールσビ′を有する
ことがあり、それらのいずれもプリント回路板を使用し
えないものにする。極め°て小さい寸法に関するため、
この種の傷の肉眼検出は技術的に有効でなく、また経済
上実用的でない。したがって、プリント回路板の検査法
における自動化が、マイクロ電子工業の分野で必須要件
となっている。

プリント回路板を検査するには、現在各種の技術が存在
している。この種の１つの技術は基準比較技術であって
、試験プリント回路板をメモリに記憶された完全マスタ
ーと比較することである。

この技術は、存在しうる仝ゆる傷を検出する能力を有す
る。しかしながら、この能力を実現するには極めて大き
いメモリ容量と、極めて高いデータ比率と、比較される
試験画像とマスター画像との間の極めて良好な整合性と
を必要とするる。したがって、この種の装置を使用して
、存在しうる全ゆる傷を検出するのは経済上不可能であ
る。

プリント回路板における傷を検査する他の技術はルール
技術であって、それぞれ特定種類の傷を示す複数のルー
ルアルゴリズムにしたがいプログラミングされたロジッ
ク列に対し試験回路板の表面を“示すビデオ情報を与え
ることである。これらのロジック列は、１個もしくはそ
れ以上の傷の存在を決定するためのビデオデータを解読
する。しかしながら、この種の技術は、全てのルールを
満たしかつしたがって検出されないような多数の欠陥が
存在する場合に制約される。たとえば、完全短絡、すな
わち金属線間もしくはトレース間における形状寸、法に
等しいまたはそれより大きい幅の金属線は、プリント回
路板における典型的な特徴として解釈されるので、全て
のルールを満たしかつ検出されない。

［発明が解決しようとする問題点］したがって本発明の目的は、上記欠点を解消するプリン
ト回路板の検査装置を提供するにある。

［問題点を解決するための手段１本発明を実施する際、ビデオカメラはプリント回路板の
照明された表面を走査して、たとえばプリント回路板の
表面に形成された回路パターンにおける金属導体線およ
び狭すぎる間隔、短絡、開放回路などの傷を検査する。

ビデオカメラは定期的に増感されて、走査した表面を示
すビデオ情報を受入れると共に、それぞれ走査線を構成
するそのビデオ内容を除去にする。ビデオプロセッサは
ビデオデータの各走査線を、それぞれ走査されている映
像要素もしくはピクセルを示す各ビットのデジタル流に
変換する。ビデオプロセッサの出力は微細傷検出器に供
給されて、最小形状の寸法（すなわちラインもしくは間
隔の幅）を検出すると共に、粗大傷検出器にも供給され
て最小形状寸法に等しいまたはそれより大きい傷を検出
する。

本発明の独特な補完方式で微細傷検出器および粗大傷検
出器を使用することにより、記憶されたマスター画像に
対する基準比較技術のメモリ量、データ割合および極め
て正確な整合要求が著しく減少し、かつ成る種の傷を検
出しえないルール技術に関連する問題が解消される。

プリント回路板を検査テーブル上に載置すれば、製造の
際にプリント回路板の各隅部に位置する基準マークの位
置を検出しかつ記録することにより、カメラと試験中の
プリント回路板との整列が得られる。このデータを、記
憶されたマスターの基準マークに関する予め記録された
位置と比較して情報を与え、この情報をコンピュータ制
御下で使用して、プリント回路板とカメラとをＸおよび
ｙサーボによりＸ方向およびｙ方向に整列させる。所望
ならば、θサーボを使用して、第２Ｂ図に示しかつ後期
に説明するように、試験回路板を回転整列させることも
できる。この同じ情報を使用して、メモリに記憶された
基準もしくはマスター画像からの試験プリント回路板画
像の歪み程度を決定することもできる。プリント回路板
の歪みが所定の基準内であれば、この歪みを補償するの
に必要な歪み補正パラメータを計算して補正を行なう。

プリント回路板の歪みが所定の許容範囲外であれば、こ
のプリント回路板を排除する。同じ情報を使用して、試
験プリント回路板画像を記憶されたマスター画像と整合
させ、走査プリント回路板の表面を示す実時間における
カメラで与えられたデータを、記憶されたマスタープリ
ント回路板の正確なデータと比較する。

［実　施　例］以下、添付図面を参照して本発明を実施例につき説明す
る。

第１図を参照して、本発明によるプリント回路板検査装
置１０のブロック図を示す。カメラ１１（これは電荷結
合素子（ＣＯＤ）列とすることができる）を、検査すべ
きプリント回路板１２の表面に隣接配置する。カメラ１
１（ＣＣＤ列１１とも称する）を、検査すべきプリント
回路板１２に対し相対移動ざぜる。カメラ１１またはプ
リント回路板のいずれかを移動部材としうるが、ここで
は説明の目的でカメラ１１を移動部材として選択した。

検査すべきプリント回路板の表面寸法およびＣＣＤ列の
長さに応じて、検査すべき表面は１回の走査活動で走査
することができ、或いは検査中の全表面を観察するには
２回以上の走査を必要とすることもある。

第２Ａ図および第２Ｂ図を参照して説明すれば、′コン
ピュータ制御されるｘ、ｙおよびθサーボはカメラ１１
の走査機能を制御する。

本発明に使用する種類のＣＣＤ列は、直線配置された複
数の感光素子を備える。実用的な実施例において、００
０列は２０４８個の感光素子を有する線状列であり、長
さ１．０２４インチでおる。この種のＣＣＤ列はフェア
チャイルドＣＣＤ　１４３としてフェアチャイルド社か
ら入手できる。これら条件下において、ＣＣＤ列中の各
感光（ピクセル）素子は０．０００５　Ｘ　Ｏ，０００
５平方インチであり、この列はその全長にわたり２０４
８個の映像素子もしくはピクセルを解像することができ
る。それより多数もしくは少数の感光素子を有する００
０列も、勿論、所用の解像程度および所望の走査列に応
じて使用することができる。

周知のように、ＣＣＤ列は増感状態を有し、その間にこ
の列は観察したビデオデータを記録し、さらに移動状態
をも有して、その間にビデオデータを移動させて処理す
る。この増感およびＣＣＤ列からのデータの移動は、後
記するように調時クロック制御の下におかれる。表面を
検査するには、増感およびＣＣＤ列からのビデオデータ
の移動は多数回で行なわねばならない。たとえば、１．
０２４ｘ　１．０２４インチの表面をできるだけ高い解
像度で観察することが望ましければ、それぞれ０．００
０５ｘ　Ｏ，０００５平方インチの２０４８個の感光素
子を有するＣＣＤ列を増感させかつ走査の際に２０４８
回除去せねばならない。たとえば、この特定実施例にお
いては、全表面を観察するのに２０４８本の走査線を要
する。したがって、各走査線につきＣＣＤ列は、２０４
８個のピ、クセルを示すアナログ信号を出力する。

検査すべき表面がｙ方向に１．０２４インチを越えれば
、観察されている表面を完全走査するには２回以上の走
査を必要とする。

本発明で利用する画像形成を行なう際、ＣＣＤ列１１を
増感させかつデータをそこから各走査線につき移動させ
、これをピクセルクロツタ速度で行なう。露出パルスは
、ＣＣＤ列１１に蓄積された電荷をＣＣＤ列１１に含ま
れる移動レジスタまで転送し、移動レジスタクロツタは
このビデオデータを０００列１１から転送する。露出パ
ルスが各ライン毎に１回生ずる一方、２０４８個のピク
セルクロックが各走査線毎に生ずる。

光源１３は、プリント回路板１２の表面をこの回路板が
カメラまたはＣＣＤ列１１によって走査される際に照明
する。光源１３は平滑な金属表面の回路板に対し垂直な
光線を有しかつ／または光源は光線をプリント回路板に
対し傾斜角度で指向させて不規則な銅表面および基板縁
部を適切に照明する。

垂直光線は、平滑な銅表面からＣＣＤ列へ高反射信号を
与える。角度をつけて指向された光線は暗視野画像を与
える。

アナログ型であるカメラもしくはＣＣＤ列１１の出力を
ビデオプロセッサ１４に供給する。ビデオプロセッサ１
４は、各走査線におけるピクセルを示すＣＣＤ列１１か
らのアナログビデオ信号を、各走査線において０００列
により観察されたピクセルをそれぞれ示す一連のＱおよ
び１から構成されたデジタル信号に変換する。

ざらに、ビデオプロセッサ１４は、カメラ１１における
ＣＣＤ列を構成する２０４８個の検出素子のそれぞれに
つきゲインおよびオフセット補正を行なう。

ゲイン補正は、均一の明視野を観察している間に列にお
ける２０４８個の検出器のそれぞれの応答性を基準化す
ることにより行なわれる。オフセット補正は、暗視野（
レンズキャップを装着）を観察している間に２０４８個
の検出器のそれぞれにおける片寄り（典型的にはＯボル
トに対する）を基準化して行なわれる。ゲインおよびオ
フセット補正に対する検出値（全部で２０４８）を、内
部バス２２によりインタフエ７ス２０を介して制御プロ
セッサ２４中へ読込む。次いで、制御プロセッサ２４は
、ゲインおよびオフセット補正につき計算を行なう。次
いで、補正値（すなわちゲインにつき２０４８およびオ
フセットにつき２０４８　）をビデオプロセッサのゲイ
ンおよびオフセットＲＡＭ　（ビデオプロセッサ１４内
に位置する’）　　（２０４８Ｘ　８−ビット）中へそ
れぞれ書込む。

ゲイン補正はＣＯＤの不均一性を補償するだけでなく、
焦点平面から見た照明の不均一性をも補償する。

試験画像を観察している間、ビデオプロセッサ１４は各
ピクセルにつき実時間でゲインおよびオフセット補正を
行ない、次いでアナログビデオを画成すると共に、二進
化したピクセルビデオを出力する。閾値は基板と銅との
間の画像の転移点を規定しくまたはその逆の場合もある
）、さらに制御プロセッサ２４を介して負荷することも
できる。

ビデオプロセッサ１４の出力を基準検出器１５と微細傷
検出器１６とに接続する。

基準検出器１５は、試験中の回路板における基準マーク
の位置を検出する。マスター画像が形成された際に予め
記録された位置と対比して、これらマークの位置は基準
と試験画像との正確な整合を可能にする。さらに、最小
形状寸法より大き゛い回路板歪みによる試験画像の不整
合が検出され、これは試験中の回路板を排除するのに充
分である。

歪みまたは他の原因による最小形状寸法より小さい不整
合は、下記するような基準位置の測定を用いて補償する
ことができる。

基準位置検出は、実時間の試験基準画像を同様な記憶基
準画像と相関させて行なわれる。検出を行なう際、対応
のｘ、ｙ位置が記憶される。試験基準画像は、ビデオプ
ロセッサ１４のピクセルビデオ出力から基準検出器１５
内で生ずる。記憶基準画像は、制御プロセッサ２４から
内部バス２２およびインタフェース２０を介して基準検
出器１４中へ導入することができる。Ｘ、ｙ位置のデー
タは、位置バス３２を介し位置決定用装置２１から基準
検出器１５に入力される。かくして、ビデオプロセッサ
１５からの試験画像と位置決定装置２１からのその対応
する位置データとが、基準の検出および位置につきプリ
セットされる。

次いで、基準位置データを制御プロセッサ２４中に読込
んで、基準と試験画像とを整合させるのに必要な歪み補
正計算（相関）を行ない、かつ回路板の不整合試験を行
なうと共に、全回路板にわたって走査すべき各ストリッ
プにつき出発位置を決定する。要するに、これは試験画
像から基準画像への直線的二次元行列変換よりなり、試
験回路板における歪みを補償する。

微細傷検出器１６は、典型的には寸法１６ｘ　１６ピク
セルよりなる画像ウィンドーを形成し、これを使用して
微細像を検出する。多数の特定微細像は欠陥マスクによ
り微細傷検出器で検出することができ、これはＰＡＬデ
バイス（プログラマブル・アレー・ロジック・デバイス
）によって行なわれる。

これらの傷を、内部バスによりインタフェース２゜を介
して制御プロセッサ２４に供給する。

メモリアドレス発生器１８はカメラ１１と基準バッフ１
メモリ、１９とに接続された出力を有する。基準バッフ
ァメモリ１９は粗大傷検出器１７に接続される。

ビデオプロセッサ１４と微細傷検出器１６と粗大傷検出
器１７と基準検出器１５とメモリアドレス発生器１８と
基準バッフ７メモリ１９とは全て、インタフェース２０
を介しコンピュータバス２２に接続される。

位置決定装置２１はカメラ１１に機械接続されて、カメ
ラ１１をＸ、Ｙおよび（所望ならば）θ方向へ移動させ
る。位置決定装置２１はコンピュータバス２２に接続さ
れ、かつこのコンピュータバス２２を介してランダムア
クセスメモリ２３と制御プロセッサ２４とキーボード２
５とディスクメモリ２６とプリンタ２７とに接続される
。

ざらに、位置決定装置２１は、結晶オシレータ２８から
入力を受入れる。結晶オシレータ２８は調時信号を調時
板２９を介して調時バス３０へ供給し、この調時バスは
カメラ１１に対する接続部を有する。がくして、調時板
２９は、ピクセルクロックを含む調時信号をカメラ１１
へ供給する。この装置に加えうる他のカメラ／チャンネ
ルモジュールを調時バス３０に接続す、ることもできる
。

位置決定装置２１は、その出力を基準検出器１５とメモ
リアドレス発生器１８に接続する。

プリント回路板を走査する際に必要とされる出力ビデオ
信号を供給するには、ＣＯＤカメラ１１はピクセルクロ
ックと露出パルス入力との両者を必要とする。ピクセル
クロック入力は、結晶クロック２８により駆動される調
時板２９を介してカメラ１１に供給される。露出パルス
入力は、メモリアドレス発生器１８を介してカメラ１１
に供給される。これらの露出パルスはメモリアドレス発
生器１８においてピクセルピッチに等しい正確な空間間
隔で発生し、かくして運動方向（Ｘ方向）に適正な線間
隔（典型的には０．５ミル）を与える。メモリアドレス
発生器１８は位置決定バス３２を介し位置決定装置２１
により供給される入力Ｘ位置の関数としてこれらの露出
クロックを出力する。これはテーブル検索操作を行なっ
てメモリアドレス発生器１８で行なわれ、その入力アド
レスはＸ位置の電流値でありかつその単一ビット出力は
対応の露出パルスとなる。検索テ・−プルはＲＡＭであ
って、そのアドレス間隔は検査されているプリント回路
板のＸディメンションに相当し、かつその単一ビット出
力は露出パルスに相当するー。歪み補正アルゴリズム（
制御プロセッサ２４により実行される）は、どの位置で
露出パルスが生ずるかを決定すると共に、これらの位置
（アドレス）における露出パルスビットをＲＡＭ２３に
記憶する。これらの位置は、基準画像につき測定された
マークに対する試験回路板における基準マークの位置を
計測しかつ試験画像から基準画像への線状二次元行列変
換を行なって決定される。

露出パルスは、カメラがＸ方向に移動している際、内部
２４０，０００ｘ　１−ビットＲＡＭを読取ることによ
り、メモリアドレス発生器１８にて発生する。

この移動カメラのＸ位置は直接にこのＲＡＭをアドレス
する。この実施例においては２４インチの移動にわたり
２４０．０００個のエンコーダクロック（１インチ当り
１０，０００個）に相当する２４０．０００個の位置も
しくはアドレスが存在する。このＲＡＭの単一ビット出
力をロジックｒ１Ｊとして読取ると適性位置に露出パル
スが発生する一方、ロジックｒＯＪの読取りはそのアド
レスにて露出パルスが発生しないことを意味する。運動
方向くＸ方向）において、０．５ミルのピクセル対ピク
セル間隔の場合、正確に２４インチの移動にわたり最大
４８．０００個の露出パルスが生じうろことに注目され
る。

ざらに、走査する前かつ試験画像対基準画像の位置の基
準計測により試験回路板の歪みを決定した後、必要とさ
れる歪み補償された４８．０００個の露出パルスを制御
プロセッサ２４によりＲＡＭの２４０、０００アドレス
間賠でその適性位置にロジック「１」として書込みうろ
ことが注目される。

ｘ−ｙ位置決定装置におけるエンコーダクロックは位置
決定バス３２における位置データ出力を発生するよう使
用する基礎クロックであり、位置バスはメモリアドレス
発生器１８を介して露出パフレスを発生する。− Ｘカメラ位置出力は、カメラがＯから最大２４インチま
で移動する際に、Ｘ軸起点（位置カウンタはＯにクセ１
ツトされている）からのＸエンコーダクロツタを計数す
ることにより発生する。このカウンタは、カメラが方向
変化したことを工″ンコーダが検知した際に計数し始め
る。露出パルスとピクセルクロックとをカメラ１１にお
けるＣＣＤで同期させるには、エンコーダクロックを結
晶クロック２８を介して位置決定装置２１で同期させる
。

この同期は、たとえば第３図に示したようなフリップ−
フロップの適当な配置を用いるなど多数の方法で行なう
ことができる。比較的低周波のエンコーダクロックは、
それよりずっと高周波のピクセルクロツタによって図示
したようにクロックすることができる。この配置は得ら
れた同期エンコーダクロックのジッタを１つのピクセル
クロック期間内に維持し、この期間は露出パルス１個当
り約−２０４８個のピクセルクロックに対比して小さい
。

次いで、この露出パルスは前記したように、これらの同
期エンコーダクロックから生ずる。

前記したように、試験されている回路板の周辺部に位置
する基準マークを示すカメラ１１からのビデオ入力を受
入れた基準検出器１５は、位置決定装置２１からの入力
をも有する。位置決定装置２１からの入力は、試験され
ているプリント回路板における基準マークの実時間ｘ、
ｙ座標位置をその検出時点にて基準検出器１５により与
える。これらの座標位置ＸおよびｙはＲＡＭ２３に記憶
されて、基準マークの正確なＸおよびＹ座標位置を決定
すべく使用される。これは、ＸおよびＹオフセット並び
に走査ヘッドとプリント回路板１２の軸線との間の角度
°を決定して位置決定装置２１をカメラ１１およびプリ
ント回路板１２に対しｘ、ｙおよびθ（所望ならば）方
向で互いに整列させた後、カメラ１１によるプリント回
路板１２の走査を可能にする。これらの基準計測値を使
用して、記憶マスターとカメラ１１により与えられる試
験プリント回路板画像との間に存在しうる回路板歪みの
程度を計測することもできる。この歪み測定はＸおよび
Ｙ軸の歪み補正を行なって、基準画像と試験画像との間
の適正な整列もしくは整合を維持することを可能にする
。

歪みが所定量より大きければ、回路板は排除される。

上記したように、本発明による傷検出装置の特徴はルー
ルアルゴリズムを用いる微細傷検出器と粗大傷検出器と
を補完的に使用することであり、試験板を記憶マスター
と比較する。本発明を実施する際、独特な微細傷検出装
置を独特な粗大傷検出装置および不整合／歪み補正装置
と組合せる。

これらの傷検出装置および不整合／歪み補正方式は、本
出願人による「プリント回路板の微細傷検出器」、「プ
リント回路板検査の粗大傷検出器」および「不整合／歪
み補正方式」と題する各米国特許出願明細書に充分開示
されており、上記「プリント回路板の検査の粗大傷検出
器」に使用される基準および試験パッチの比較技術に関
し参考のためここに引用する。

しかしながら、本発明を一層良く理解する目的で、以下
、微細および粗大傷検出方式につき簡単に説明する。

微細傷検出器１６は線／間隔の称呼寸法より小さい寸法
の傷を検出す゛る一方、粗大傷検出器は線／間隔の称呼
寸法より大きいまたはそれに等しい傷を検出する。微細
な傷はルール・アルゴリズムを用いて検出される一方、
粗大な傷は試験画像と基準もしくはマスク画像との比較
技術を用いて検出される。

微細傷検出器１６は、ビデオプロセッサ１４から１ビツ
ト定聞化ビデオおよびクロックを受信する。

これは全回路板にわたり１６Ｘ　１６ピクセルの連続パ
ッチを観察することにより傷を検索する。勿論、１６Ｘ
１６ピクセルバツチは、任意のｎｘｎピクセルまで拡大
することもできる。これらパッチは、それぞれｒｎＪ遅
延ラインにそれぞれ続く「ｎ」ビットのシフトレジスタ
の同等な蛇紋接続を介して形成される。

各遅延ラインは、２０４８ピクセルの走査線に等しい。

高速度のＶＬＳＩ　　ＲＡＭを使用して遅延ライン機能
を生ぜしめ、全チップカウントを効率的に最小化させる
。形成された情報を、所定のルールアルゴリズムにした
がってプログラミングされたロジック列へ入力として供
給し、プリント回路板における各種の傷を検出する。

粗大傷検出器１７は、整合した試験パッチと基準パッチ
との間の差を比較することにより粗大傷を検出する。重
なった１６Ｘ　１６ピクセル試験パツチを、微細傷検出
器１６における１６本のビデオ遅延ラインから発生させ
る。［本出願人による「微細傷Ｐ。

Ｃ０検出器」を参照］。かくして、粗大傷検出器１７に
て再び１６本のビデオ遅延ラインを重複させる代りに、
これらの同じラインを直接使用して１６Ｘ１６ビツトパ
ツチを与えることができる。これらを、メモリアドレス
発生器１８により供給された歪み補正アドレスを有する
マスタメモリから発生する１６×１６ピクセル基準バツ
チと比較する。このアドレスは、位置決定装置２１を介
し走査器の実時間ＸおよびＹ位置の関数として発生する
。

微細傷もしくは粗大傷を検出する際は常に、割込みを発
生させてこれをコンピュータバス２２を介し制御プロセ
ッサ２４へ移送する。傷゛の種類および位置をディスク
メモリ２６に記憶させると共に、プリンタ２７によって
印刷することができる。

オペレータがキーボード２５を使用して微細傷検出器１
６のロジック列をプログラミングし、かつ傷検出などに
おける許容／排除の閾値を確定することができる。

メモリアドレス発生器１８は歪み補正アドレスを基準バ
ッファメモリ１９に供給して基準パッチを生ぜしめ、こ
れらをその対応する試験パッチに適切に整合させる。歪
み補正アドレスは、位置決定装置２１からの実時間座標
入力の関数として発生され、ざらに予め計測されかつコ
ンピュータバス２２を介しメモリアドレス発生器１８に
入力された歪みデータの関数として発生する。カメラ１
１に対するＸ座標方向の歪み補正された露出パルスもメ
モリアドレス発生器１８により発生され、試験パッチを
基準パッチに対し適切に整合させると共に同期させる。

ざらに、ビクセルゲートもメモリアドレス発生器１８に
より発生して、ｙ座標に沿ったこれらパッチの適切な整
合および同期を行なう。

上記の説明は、カメラ１１による１回の走査が検査中の
プリント回路板の全表面を観察する状態を前提とする。

プリント回路板の表面を走査するのに２回以上のカメラ
１１の走査を必要とする場合は、プリント回路板１２を
減圧テーブルの上に載置し、かつカメラ１１および光源
１３をコンピュータ制御サーボによりプリント回路板に
往復走査させ、カメラ１１を第２Ａ図に示したようにＸ
、Ｙ平面でプリント回路板１２に対し移動させる。この
場合、試験中のプリント回路板を整列させるための基準
の検出は、カメラを回路板の周辺部に走査させて行なわ
れる。

このようにして、基準マークの位置が検出されかつ記録
される。このデータから、制御プロセッサ２４はプリン
ト回路板１２とカメラ１１とをＸ、Ｙお゛よびθ（所望
ならば）方向にそれぞれＸ、Ｙおよびθサーボ３１．２
１および３３を介して整列させる（これらは位置決定装
置２１内に第２Ａ図および第２Ｂ図に示したように含ま
れる）。

往復走査に際し、１個のみの傷検出カメラ／チャンネル
モジュールが示されている。しかしながら、ざらにカメ
ラ／チャンネルモジュールを並列して追加することによ
り、瞬間的な視野および出力を増大させることもできる
。したがって、この範囲内においてカメラ／チャンネル
の視野は、全回路板を検査するのに１回のみの走査を必
要とするプリント回路板の全幅を網羅する。このような
装置（これは実際上、第１図を参照して上記した装置で
ある）において、カメラ１１は単一ユニットであるが、
隣接関係で２個もしくはそれ以上のＣＣＤ列で構成する
こともできる。

第２Ａ図および第２Ｂ図はカメラ移動を制御する配置を
示しており、この場合走査カメラ１１の位置および速度
が示されている。一般的に、第２Ａ図および第２Ｂ図は
カメラ１１を往復移動させる制御配列を示している。し
かしながら、この制御装置は、Ｙ方向を示すデータを省
略して非往復走査に容易に適用することもできる。

第２Ａ図および第２Ｂ図において、モータ３１．３２お
よび３３（これらは第１図の位置決定装置２１に含まれ
る）を接続してカメラをＸ、Ｙおよびθ（所望ならば）
方向に駆動させる。さらに、モータ３１．３２お・よび
３３のそれぞれはタコメータを備えて、それぞれＸ、Ｙ
およびθ（所望ならば）方向におけるカメラ１１の速度
を示す信号Ｘ−ＶＥＬ。

Ｙ−ＶＥＬおよびθ−ＶＥＬをそれぞれ示す。ざらに、
位置エンコーダ３４．３５および３６をカメラ１１に接
続して、仝ゆる時点におけるカメラ１１の瞬間的位置を
示す出力を供給する。

カメラ１１を、第２Ｂ図に示したようなりＣ電源によっ
て「パワニアツブ」させる。カメラ１１は調時ボード２
９からその入力ビクセルクロツタ（ＰＣ）を受入れて、
これを結晶クロック２８から垂ぜしめる。カメラ１１に
対する露出パルス入力は、第１図に示したようにメモリ
・アドレス発生器１８により供給する。ピクセルビデオ
を、カメラ１１から出力同期クロックφ８およびＰＣと
共に出力する。

初期の整列に際し、カメラ１１はθ（所望に応じ）で整
列して、直線列（Ｘ軸に沿った２０４８個の検出素子）
がＸ軸に対し直交する。これは、モータタコメータ３３
とエンコーダ３６とからなる「θ」サーボによって行な
われる。モータ３３のためのθ−駆動入力は位、置決定
装置２１により供給され、そのサーボ制御はそれぞれモ
ータ／タコメータ３３とθエンコーダ３６とから位置決
定゛装置２１に入力されたθ−エンコーダ角度信号を使
用する。θ誤差がＯまで低下すると、カメラは適切に整
列する。

第２Ａ図に示したように、ｙ軸に沿って走査す゛る前に
カメラ１１をｙ軸に沿って位置決定し、そのＣＣＤ列を
走査すべきＸストリップに沿って図示したようにセンタ
リングする。これは、モータタコメータ３２とエンコー
ダ３５とからなるＹ位置サーボおよび位置決定装置２１
によって行なわれる。モータタコメータ３２に対するｙ
−駆動入力は位置決定装置２１により供給され、そのサ
ーボ制御はそれぞれモータ／タコメータ３２およびエン
コーダ３５からのｙ−速度およびｙ−エンコーダクロッ
ク（カメラ１１のｙ位置を決定するために使用する）の
フィードバック信号を使用して、カメラ１１をｙ方向で
適切に位置決定する。

カメラ１１がＸおよびｙ方向に適切に位置決定された後
、第２Ａ図に示したようにｙ軸に沿ってストリップを、
走査させることができる。これは、Ｘ−サーボをｙ軸に
沿って一定速度で駆動することにより行なわれる。Ｘ−
サーボはモータ／タコメータ３１とエンコーダ３４と位
置決定装置２１とから構成される。モータタコメータ３
１のためのＸ−駆動は、位置決定装置２１により行なわ
れる。それぞれ。

モータタコメータ３１およびエンコーダ３４からのＸ−
速度およびＸ−エンコーダ出力は位置決定装置２１に入
力されて、サーボループを完結する。かくして、カメラ
１１はｙ軸に沿って一定速度で走査することにより、活
動ストリップの端部が検出されるまで、典型的には０．
５ミル間隔にてビデオのラインを発生する。Ｘ−エンコ
ーダクロックを計数してＸ位置データが得られる。カメ
ラを駆動させる露出（φ８）パルスは、上記したように
Ｘ−位置データから得られる。

ストリップが走査された後、カメラ１１をｙ−サーボに
よりｙ軸に沿って再位置決定し、そのＣＣＤ列を第２Ａ
図に示したように隣接する連続ストリップ（ただしｙ方
向での僅かな重複部を除く）にセンタリングさせる。次
いで、Ｘサーボがｙ軸（二拾って走査するが、これは上
記したサーボとは反対方向である。この過程を、全回路
板がＸ方向およびｙ方向の両者で往復走査されるまで反
復する。

［発明の効果］以上、本発明によれば、プリント回路板の表面に形成さ
れた狭すぎる金属線および間隔、短絡、開放回路などの
傷をビデオカメラの走査によって従来技術の欠点なしに
検査することができる。

以上、本発明を実施例につき説明したが、本発明の思想
および範囲内において多くの設計変更をなしうろことが
当業者には了解されよう。

【図面の簡単な説明】第１図は本発明によるプリント回路板検査装置のブロッ
ク図、第２Ａ図はカメラ制御系の平面図、第２Ｂ図はカメラ制御系の正面図、第３図はクロック同期配置を示すブロック図である。１０・・・装置　　　　　　　　１１・・・カメラ１２
・・・プリント回路板　　　１３・・・光源１４・・・
プロセッサ　　　　　１５．１６．１７・・・検出器１
８・・・発生器　　　　　　　１９・・・メモリ２０・
・・インタフェース　　　２１・・・位置決定装置２２
・・・コンピュータバス　　２３・・・メモリ２４・・
・制御プロセッサ　　　２５・・・キーボード２６・・
・ディスクメモリ　　　２７・・・プリンタ２８・・・
オシレータ　　　　　２９・・・調時板３０・・・バス３１．３２．３３・・・モータ３４．３５．３６．３７・・・エンコーダＦＩＧ、　、
？ｇ手続補正書（自発昭和６１年　９月１７日

Claims

【特許請求の範囲】

（１）プリント回路板の表面に形成された金属線および
／またはその間の間隔における傷を決定する装置におい
て、表面を観察すると共にこの観察された表面を示すビデオ
データを出力として供給するカメラ手段と、前記カメラ手段に接続されて前記金属線および／または
間隔における所定寸法未満の傷を検出する第１傷検出手
段と、前記カメラ手段に接続されて前記金属線および／または
間隔における所定寸法に等しいまたはそれより、大きい
傷を検出する第２傷検出手段とからなることを特徴とす
る傷の決定装置。
（２）第１傷検出手段は、カメラ手段により観察された
表面の金属線および／または間隔における１個もしくは
それ以上の種類の傷を検出するようプログラミングした
ロジック列手段を備える特許請求の範囲第１項記載の装
置。
（３）第２傷検出手段は、検査しているプリント回路板
のマスターを記憶するメモリ手段と、ビデオデータと前
記記憶マスターとを比較してビデオカメラにより観察さ
れた表面の金属線および／または間隔における傷を検出
する比較手段とを備える特許請求の範囲第２項記載の装
置。
（４）カメラ手段に接続されてこのカメラ手段をプリン
ト回路板の表面に対し往復して走査するモータ手段と、前記モータ手段に接続されて前記カメラ手段を各走査前
に走査の方向に整列させる手段とをさらに備える特許請
求の範囲第３項記載の装置。
（５）基準プリント回路板の隅部またはその他の領域に
おける基準マークの座標位置を記憶するメモリ手段と、検査すべき各プリント回路板の周辺に沿ってカメラ手段
を走査させることにより各検査操作前に前記試験プリン
ト回路における前記基準マークの座標を得るモータ手段
と、記憶された座標をカメラ手段により供給された座標と比
較して前記記憶された基準プリント回路板に対する前記
試験プリント回路板の歪み測定値を与えるプロセッサ手
段とをさらに備える特許請求の範囲第４項記載の装置。
（６）プロセッサ手段は歪みが所定量を越えた際に指示
を与えると共に、このプロセッサ手段は前記歪みが前記
所定量より低い際に基準プリント回路板に対する試験プ
リント回路板の歪みを補償する特許請求の範囲第５項記
載の装置。
（７）プリント回路板の表面をその走査に際し照明する
照明手段をさらに備え、この照明手段はプリント回路板
に対し垂直配置された第１光源手段と、前記プリント回路板に対し傾斜角度で光を指向させるよ
う配置した第２光源手段とからなる特許請求の範囲第６項記載の装置。
（８）カメラ手段は、直線配置された複数の電荷結合素
子の列からなる特許請求の範囲第７項記載の装置。
（９）カメラ手段は、１回の通過でプリント回路板を走
査するのに充分な長さの隣接関係で複数の電荷結合素子
の列を備える特許請求の範囲第７項記載の装置。
（１０）複数の電荷結合素子の列の各組につき第１およ
び第２傷検出手段の組を備える特許請求の範囲第９項記
載の装置。
（１１）プロセッサ手段は、走査の際にカメラ手段から
得られたビデオデータをメモリ手段から出力されたデー
タと整合させる手段を備えて、試験プリント回路板を示
すビデオデータを基準プリント回路板を示すメモリから
のデータと整合させる、特許請求の範囲第６項記載の装
置。
（１２）プロセッサ手段は、走査の際にカメラ手段から
得られたデオデータをメモリ手段から出力されたデータ
と整合させる手段を備えて、試験プリント回路板を示す
ビデオデータを基準プリント回路板を示すメモリからの
データと正確に整合させる特許請求の範囲第１０項記載
の装置。