JPS61279673A - 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 - Google Patents
対向タ−ゲツト式スパツタ装置Info
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- JPS61279673A JPS61279673A JP12062185A JP12062185A JPS61279673A JP S61279673 A JPS61279673 A JP S61279673A JP 12062185 A JP12062185 A JP 12062185A JP 12062185 A JP12062185 A JP 12062185A JP S61279673 A JPS61279673 A JP S61279673A
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- substrate
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[技術分野]
本発明は一組のターゲットを所定間隔隔てて対面させ、
その側方に配した基板上に薄膜を形成するようにした対
向ターゲット式スパッタ装置に関 ゛し、更に
詳しぐは形成される薄膜のIll厚分布の調
□整が容易で艮時間均−膜厚の薄膜が広11基板上に
を形成できる対向ターゲット式スパッタ装置に
関す :′る。
その側方に配した基板上に薄膜を形成するようにした対
向ターゲット式スパッタ装置に関 ゛し、更に
詳しぐは形成される薄膜のIll厚分布の調
□整が容易で艮時間均−膜厚の薄膜が広11基板上に
を形成できる対向ターゲット式スパッタ装置に
関す :′る。
[従来技術]
上述の対向ターゲット式スパッタ装置は、「応用物理]
第48巻(1979)第6号P558〜p 559゜特
開昭57−158380号公報等で公知の通り、陰極と
なる一対のターゲットをそのスパッタ面が空間を□ 隔てて平行に対面するように設けると共に、該ス
゛バッタ面に垂直な方向の磁界を発生する磁界発生
手段を設け、前記ターゲット間の空間の側方に配した基
板上に膜形成するようになしたスパッタ装 置で
、高速・低温の膜形成ができる上、磁性材料 ”
□にも適用できる非常に優れたものである。
第48巻(1979)第6号P558〜p 559゜特
開昭57−158380号公報等で公知の通り、陰極と
なる一対のターゲットをそのスパッタ面が空間を□ 隔てて平行に対面するように設けると共に、該ス
゛バッタ面に垂直な方向の磁界を発生する磁界発生
手段を設け、前記ターゲット間の空間の側方に配した基
板上に膜形成するようになしたスパッタ装 置で
、高速・低温の膜形成ができる上、磁性材料 ”
□にも適用できる非常に優れたものである。
また、その実用化を目的に、特開昭58−189370
号公報、特開昭58−189371号公報等でその改善
が提案されている。
号公報、特開昭58−189371号公報等でその改善
が提案されている。
[問題点]
本発明者らは、対向ターゲット式スパッタHaの前述の
特長に注目し、磁気記録媒体の製造への適用を検討して
きた。この方法は、特開昭59−53680号公報に開
示の巾の広い長方形のターゲットと移送ローラとを組合
せた対向ターゲット式スパッタ装置に数100mという
ような長尺のボ1ノエステルフィルム等の可撓性の基板
をロール状にして装填し、長時間連続して該基板を移送
しつつその上に所定の磁性薄膜を形成して磁気記録媒体
を連続生産するものである。
特長に注目し、磁気記録媒体の製造への適用を検討して
きた。この方法は、特開昭59−53680号公報に開
示の巾の広い長方形のターゲットと移送ローラとを組合
せた対向ターゲット式スパッタ装置に数100mという
ような長尺のボ1ノエステルフィルム等の可撓性の基板
をロール状にして装填し、長時間連続して該基板を移送
しつつその上に所定の磁性薄膜を形成して磁気記録媒体
を連続生産するものである。
長方形のターゲットを用いる場合、ターゲットの基板に
面した辺の長さaが他の辺の長さbよりも大きくなるよ
う設計されているのが普通である。
面した辺の長さaが他の辺の長さbよりも大きくなるよ
う設計されているのが普通である。
この場合、基板上における巾方向の膜厚分布は必ずしも
充分なものではなかった。
充分なものではなかった。
第5図にターゲットの形状すなわちターゲットの基板に
面した辺Aの長さaと他の辺Bの長さbとの比α−a/
bと、前述の長尺のフィルム上での巾方向の膜厚分布と
の関係を示す。
面した辺Aの長さaと他の辺Bの長さbとの比α−a/
bと、前述の長尺のフィルム上での巾方向の膜厚分布と
の関係を示す。
本実験は、辺Bの長さbを一定とし、辺Aの長さaをシ
ールドカバーによって調節し、連続して移送された基板
上の膜厚を測定、プロットしたちので、横軸は長尺の基
板の巾方向の中心Oからの距離をターゲットの辺の長さ
aで規格化した数値、縦軸は基板上に堆積された薄膜の
膜厚を基板の中心Oの膜厚で規格化した数値である。
ールドカバーによって調節し、連続して移送された基板
上の膜厚を測定、プロットしたちので、横軸は長尺の基
板の巾方向の中心Oからの距離をターゲットの辺の長さ
aで規格化した数値、縦軸は基板上に堆積された薄膜の
膜厚を基板の中心Oの膜厚で規格化した数値である。
第5図から明らかなように、基板上の膜厚分布はターゲ
ットの比α(a/b )が大きくなるにつれて悪くなる
。従って、生産性向上の要請から巾の広い基板を用いる
場合には、ターゲットの基板に面する辺Aを広げると同
時に辺B側も大きくする必要があり、装置が大型化する
という問題があ :る。
1さらに以下の別の問題も
ある。すなわち、上述 [□ の通りフィルムの広巾化に対応してターゲットの巾を広
げる必要があるが、そのスケールアップに’) t+%
T幾0h゛の問題点がある・広巾化に対応した
:□ ターゲットの構造は小さなターゲットを用いて予
1備実験を行いその形状と併せて推定することが酋i
通行われているが、装置全体のシステムを考える場合必
ずしも容易ではない。例えば特開昭59−531380
号公報に開示の如くフィルムを移送しつつ連続的にスパ
ッタリングするような場合、対向ターゲット式スパッタ
装置においてはその効率を最高に発揮させるためには2
つのロールの間にターゲットを設置し、その両側から飛
来するスパッタ粒子をフィルム上に堆積させる必要があ
る。かかる装置においては一旦設計が完了すれば2つの
ロール間の距離は固定してしまう。したがってターゲッ
トの幾何学的形状は一義的に決めておく必要がある。し
かしスパッタリングにおける放電特性(電圧−電流)、
ターゲット効率(エロージョン分布)、WA膜厚分布ど
はターゲットの形状、構造などに依存し小さなターゲッ
トからの推測が困難であり、スケールアップに際しては
、設備設首後試行錯誤でターゲット構造の手直し、作り
かえを余儀なくされることがしばしば生じていた。
ットの比α(a/b )が大きくなるにつれて悪くなる
。従って、生産性向上の要請から巾の広い基板を用いる
場合には、ターゲットの基板に面する辺Aを広げると同
時に辺B側も大きくする必要があり、装置が大型化する
という問題があ :る。
1さらに以下の別の問題も
ある。すなわち、上述 [□ の通りフィルムの広巾化に対応してターゲットの巾を広
げる必要があるが、そのスケールアップに’) t+%
T幾0h゛の問題点がある・広巾化に対応した
:□ ターゲットの構造は小さなターゲットを用いて予
1備実験を行いその形状と併せて推定することが酋i
通行われているが、装置全体のシステムを考える場合必
ずしも容易ではない。例えば特開昭59−531380
号公報に開示の如くフィルムを移送しつつ連続的にスパ
ッタリングするような場合、対向ターゲット式スパッタ
装置においてはその効率を最高に発揮させるためには2
つのロールの間にターゲットを設置し、その両側から飛
来するスパッタ粒子をフィルム上に堆積させる必要があ
る。かかる装置においては一旦設計が完了すれば2つの
ロール間の距離は固定してしまう。したがってターゲッ
トの幾何学的形状は一義的に決めておく必要がある。し
かしスパッタリングにおける放電特性(電圧−電流)、
ターゲット効率(エロージョン分布)、WA膜厚分布ど
はターゲットの形状、構造などに依存し小さなターゲッ
トからの推測が困難であり、スケールアップに際しては
、設備設首後試行錯誤でターゲット構造の手直し、作り
かえを余儀なくされることがしばしば生じていた。
本発明は前述のターゲットの形状と膜厚分布に関する知
見を背景にしてなされたものであり、その目的とすると
ころは、前述の長尺かつ広1わの基板上に形成した膜の
巾方向膜厚分布の改善を可能とする装置を提供すること
にある・更1・本発明 iの他の目的はスケール
アップの容易な広巾に対応 1ト したターゲット構造を提供することにある。
見を背景にしてなされたものであり、その目的とすると
ころは、前述の長尺かつ広1わの基板上に形成した膜の
巾方向膜厚分布の改善を可能とする装置を提供すること
にある・更1・本発明 iの他の目的はスケール
アップの容易な広巾に対応 1ト したターゲット構造を提供することにある。
1゜
[発明の構成]
(上述の目的は、以下の本発明により達成される。
(上述の目的は、以下の本発明により達成される。
tすなわち、本発明は、陰極となるターゲット
をそのスパッタ面が空間を隔てて平行に対面するよう
I・こ に設けると共に、該スパッタ面に垂直な方向の111:
・ 界を発生する磁界発生手段を設け、前記ターゲラ
[。
をそのスパッタ面が空間を隔てて平行に対面するよう
I・こ に設けると共に、該スパッタ面に垂直な方向の111:
・ 界を発生する磁界発生手段を設け、前記ターゲラ
[。
1、)□(7) ml力、□1□。よう、1 ;し
た基板上に膜形成覆るようになした対向ターゲ
1yF′に’;1.t<y’)V″i!′″5°’Tz
’#ikg 1y“″1前面を基板に面する辺側にお
いて2つ以上の区画 [1i: に分割するシールド部材が前記ターゲットの前方
)[1 に配置されかつターゲット背面の該シールド部材
i:の対応する位置にも磁界発生手段を設けたことを
:、。
た基板上に膜形成覆るようになした対向ターゲ
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いて2つ以上の区画 [1i: に分割するシールド部材が前記ターゲットの前方
)[1 に配置されかつターゲット背面の該シールド部材
i:の対応する位置にも磁界発生手段を設けたことを
:、。
!1′
特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置である。
1第1図は、本発明に係わる対向ターゲット構造
1′の説明図、第2図は長尺のフィルムの両面に
効率良く連続的に膜形成するに適した対向ターゲラ1一
式スバッタ装置の構成図、第3図は本発明に係るターゲ
ット部の拡大図である。
1第1図は、本発明に係わる対向ターゲット構造
1′の説明図、第2図は長尺のフィルムの両面に
効率良く連続的に膜形成するに適した対向ターゲラ1一
式スバッタ装置の構成図、第3図は本発明に係るターゲ
ット部の拡大図である。
第1図から明らかな通り、本装置は前述の特開[57−
158380号公報等で公知の対向ターゲット式スパッ
タ装置と基本的に同じ構成となっている。
158380号公報等で公知の対向ターゲット式スパッ
タ装置と基本的に同じ構成となっている。
すなわち、図において10は真空槽、20は真空槽10
を排気する真空ポンプ等からなる排気系、30・は真空
槽10内に所定のガスを導入して真空槽10内の圧力を
10−1〜10’Torr程度の所定のガス圧力に設定
するガス導入系である。
を排気する真空ポンプ等からなる排気系、30・は真空
槽10内に所定のガスを導入して真空槽10内の圧力を
10−1〜10’Torr程度の所定のガス圧力に設定
するガス導入系である。
そして、真空槽10内には、図示の如く真空槽10の側
板11.12に絶縁部材13.14を介して固着された
ターゲットホルダー15.16により1対の基板40に
面する辺が長い長方形のターゲットT1.T2が、その
スパッタされる面TIS、T2Sを空間を隔てて平行に
対面するように配設しである。そしてターゲットT+
、T2とそれに対応するターゲットホルダー15.16
は、冷却バイブ151. 161を介して冷却水により
ターゲットT+ 、T2 、磁界発生手段の永久磁石1
52,162が冷却される。磁石152、162の詳細
は後述するが、その基本構成は従来と同様ターゲットT
+ 、T2を介してN極、S極が対抗するように設けた
ものであり、従って磁界φは図示のようにターゲットT
+ 、T2に垂直な方向に、かつターゲット間のみに形
成される。
板11.12に絶縁部材13.14を介して固着された
ターゲットホルダー15.16により1対の基板40に
面する辺が長い長方形のターゲットT1.T2が、その
スパッタされる面TIS、T2Sを空間を隔てて平行に
対面するように配設しである。そしてターゲットT+
、T2とそれに対応するターゲットホルダー15.16
は、冷却バイブ151. 161を介して冷却水により
ターゲットT+ 、T2 、磁界発生手段の永久磁石1
52,162が冷却される。磁石152、162の詳細
は後述するが、その基本構成は従来と同様ターゲットT
+ 、T2を介してN極、S極が対抗するように設けた
ものであり、従って磁界φは図示のようにターゲットT
+ 、T2に垂直な方向に、かつターゲット間のみに形
成される。
なお、17.18は絶縁部材13.14及びターゲット
ホルダー15.16をスパッタリング時のプラズマ粒子
から保護するためとターゲット表面以外の部分の異常放
電を防止するためのステンレス鋼等の導電材からなるシ
ールドカバー、17a、 18aはターゲットT+ 、
T2の前方に配置された同じく導電材からなる本発明の
シールド部材で従来の第4図の如きターゲットT+ 、
T2の周囲に沿った単なる矩形枠に替えて第3図に示す
構成となっている。
ホルダー15.16をスパッタリング時のプラズマ粒子
から保護するためとターゲット表面以外の部分の異常放
電を防止するためのステンレス鋼等の導電材からなるシ
ールドカバー、17a、 18aはターゲットT+ 、
T2の前方に配置された同じく導電材からなる本発明の
シールド部材で従来の第4図の如きターゲットT+ 、
T2の周囲に沿った単なる矩形枠に替えて第3図に示す
構成となっている。
すなわちターゲットTI(T2)の夫々の前方にターゲ
ットTI(T2)を基板40に面する側の長辺Aにおい
て三区画19a、 19b、 19cに分割する梯子
□状枠体のシールド板17a(18a>とし、
その各区 □画19a、 19b、 19cの
辺Cと辺dの寸法比C/dを小さくし、基板の膜厚分布
を改善している。なお、図はシールド部材17a(18
a)をシールドカバー17(18)に一体内に取着した
ものを示したが別体であっても良い。
ットTI(T2)を基板40に面する側の長辺Aにおい
て三区画19a、 19b、 19cに分割する梯子
□状枠体のシールド板17a(18a>とし、
その各区 □画19a、 19b、 19cの
辺Cと辺dの寸法比C/dを小さくし、基板の膜厚分布
を改善している。なお、図はシールド部材17a(18
a)をシールドカバー17(18)に一体内に取着した
ものを示したが別体であっても良い。
さらに第3図に示すシールド部材17a(18a)の内
ターゲットTI(T2)に直面する区画辺部はスパッタ
リング時に飛来する粒子によって加熱されるため図示の
板状体に替えて水冷可能な金腐管を用いることが望まし
い。
ターゲットTI(T2)に直面する区画辺部はスパッタ
リング時に飛来する粒子によって加熱されるため図示の
板状体に替えて水冷可能な金腐管を用いることが望まし
い。
そしてターゲットTI(T2)の裏面には前述の磁石1
52 (162)が以下のように配置されている。すな
わち、磁石152(1G2)は第3図(b+に示すよう
に梯子状枠体構造のシールド板17a(18a )の枠
全体に厘って、各枠辺に磁極N(S)が対向するように
配置される。具体的には、シールド板17a (18a
)の外枠辺及び三区画19a、19b、19cに区画
する仕切辺の仝辺に沿って、磁石152 (IO2)(
7)N (S)極がシールド板17a(18a>に面す
るように磁石152(162)は配置される。
52 (162)が以下のように配置されている。すな
わち、磁石152(1G2)は第3図(b+に示すよう
に梯子状枠体構造のシールド板17a(18a )の枠
全体に厘って、各枠辺に磁極N(S)が対向するように
配置される。具体的には、シールド板17a (18a
)の外枠辺及び三区画19a、19b、19cに区画
する仕切辺の仝辺に沿って、磁石152 (IO2)(
7)N (S)極がシールド板17a(18a>に面す
るように磁石152(162)は配置される。
また、磁性薄膜が形成される長尺の基板40を保持する
基板保持手段41は、真空槽10内のターゲラ
゛トT1.T2の側方に設けである。基板保持手段4
1は、図示省略した支持ブラケットにより夫々回
□転自在かつ互いに軸平行に支持された、ロール状
の基板40を保持する繰り出しロール41aと、支持ロ
ール41bと、巻取O−ル41cとの3個のロール
□からなり、基板40をターゲットT+ 、第2
図の空間に対面するようにスパッタ面TIS、T2Sに
対し工略直角方向に保持するように配しである。従って
基板40は巻取ロール41cによりスパッタ面Tl5I
T2Sに対して直角方向に移動可能である。なお、支持
ロール41bはその表面温度が調節可能となっている。
基板保持手段41は、真空槽10内のターゲラ
゛トT1.T2の側方に設けである。基板保持手段4
1は、図示省略した支持ブラケットにより夫々回
□転自在かつ互いに軸平行に支持された、ロール状
の基板40を保持する繰り出しロール41aと、支持ロ
ール41bと、巻取O−ル41cとの3個のロール
□からなり、基板40をターゲットT+ 、第2
図の空間に対面するようにスパッタ面TIS、T2Sに
対し工略直角方向に保持するように配しである。従って
基板40は巻取ロール41cによりスパッタ面Tl5I
T2Sに対して直角方向に移動可能である。なお、支持
ロール41bはその表面温度が調節可能となっている。
一方、スパッタ電力を供給する直流電源からなる電力供
給手段50はプラス側をアースに、マイナス側をターゲ
ットT+ 、T2に夫々接続する。従って電力供給手段
50からのスパッタ電力は、アースをアノードとし、タ
ーゲットT+ 、T2をカソードとして、アノード、カ
ソード間に供給される@なお、プレスパッタ時基板40
を保護するため、基板40とターゲットT1.T2との
間に出入するシャッター(図示省略)が設けである。
給手段50はプラス側をアースに、マイナス側をターゲ
ットT+ 、T2に夫々接続する。従って電力供給手段
50からのスパッタ電力は、アースをアノードとし、タ
ーゲットT+ 、T2をカソードとして、アノード、カ
ソード間に供給される@なお、プレスパッタ時基板40
を保護するため、基板40とターゲットT1.T2との
間に出入するシャッター(図示省略)が設けである。
以上の通り、前述の特開昭57−158380号公報の
ものと基本的には同じ構成であり、公知の通り高速低温
スパッタが可能となる。すなわち、ターゲットT+ 、
T2間の空間に、磁界の作用によりスパッタガスイオン
、スパックにより放出されたγ電子等が束縛され高密度
プラズマが形成される。
ものと基本的には同じ構成であり、公知の通り高速低温
スパッタが可能となる。すなわち、ターゲットT+ 、
T2間の空間に、磁界の作用によりスパッタガスイオン
、スパックにより放出されたγ電子等が束縛され高密度
プラズマが形成される。
従って、ターゲットT+ 、T2のスパッタが促進され
て前記空間より析出量が増大し、基板40上への堆積速
度が増し高速スパッタが出来る上、基板40がターゲッ
トT+ 、T2の側方にあるので低温スパッタも出来る
。
て前記空間より析出量が増大し、基板40上への堆積速
度が増し高速スパッタが出来る上、基板40がターゲッ
トT+ 、T2の側方にあるので低温スパッタも出来る
。
ところで、前述の通りターゲットT1.T2はシールド
部材17a、18aとその背後の磁石によって区画19
a、19b、19cに分割されテイルノテ区画19a。
部材17a、18aとその背後の磁石によって区画19
a、19b、19cに分割されテイルノテ区画19a。
19b、19cが独立したターゲットと同様に作用し、
各区画19a、19b、19cは第5図の夫々の辺の比
に対応する膜厚分布を持つことになり、全体としてこれ
らが重ね合さったものとなり、基板40の巾方向に広範
囲に亙って均一膜厚が得られる。
各区画19a、19b、19cは第5図の夫々の辺の比
に対応する膜厚分布を持つことになり、全体としてこれ
らが重ね合さったものとなり、基板40の巾方向に広範
囲に亙って均一膜厚が得られる。
さらに本ターゲット構造は基本的には区画19a。
19b、19cの独立したターゲットを連接したもので
あるため、放電特性、ターゲット効率、エロージョン分
布なども、第6図(Jに示すように各区画19a、 1
9b、 19cに対応した独立のターゲットを連接した
ものと等価となり、スケールアップに対して区画19a
、 19b、 19cに対応した小さいターゲットのデ
ータを加算することにより全体特性が正確に予測できる
ので、広巾への対応が容易となる。
あるため、放電特性、ターゲット効率、エロージョン分
布なども、第6図(Jに示すように各区画19a、 1
9b、 19cに対応した独立のターゲットを連接した
ものと等価となり、スケールアップに対して区画19a
、 19b、 19cに対応した小さいターゲットのデ
ータを加算することにより全体特性が正確に予測できる
ので、広巾への対応が容易となる。
なお、上述の例において、ターゲットT+ 。
T2も区画19a、19b、19c k一応シテ分割ス
ルト、各区画19a、 19b、 19cの独立性が高
くなる一方、小面積のターゲットの組合せで広巾のター
ゲットが構成でき、ターゲット製作が容易で、コスト的
に非常に有利となる。
ルト、各区画19a、 19b、 19cの独立性が高
くなる一方、小面積のターゲットの組合せで広巾のター
ゲットが構成でき、ターゲット製作が容易で、コスト的
に非常に有利となる。
又、第2図は、具体例に用いた長尺フィルムの基板40
の両面に効率良く連続製膜するに好適な、対向ターゲッ
ト式スパッタ装置の例である。シールドカバー、wi界
光発生手段前述の第3図の構成と同じのターゲットT+
、T2の両側に支持ロール41bを配した構成になっ
ている。図において42は基板移送のフリーロール、4
3は基板40の張力を制御するための張力制御ロールで
周知の両側のフリーロールとの間隔を調整できるダンサ
−ロール方式とし、積極駆動される繰り出しロール41
a。
の両面に効率良く連続製膜するに好適な、対向ターゲッ
ト式スパッタ装置の例である。シールドカバー、wi界
光発生手段前述の第3図の構成と同じのターゲットT+
、T2の両側に支持ロール41bを配した構成になっ
ている。図において42は基板移送のフリーロール、4
3は基板40の張力を制御するための張力制御ロールで
周知の両側のフリーロールとの間隔を調整できるダンサ
−ロール方式とし、積極駆動される繰り出しロール41
a。
2個の支持ロール41b1巻取ロール41cの間に配置
し、これらロール間の張力バランスを調整し、安定した
基板走行を確保するようになっている。
し、これらロール間の張力バランスを調整し、安定した
基板走行を確保するようになっている。
なお図の60は高分子樹脂フィルムを基板とした場合等
に設けられるヒータ、グロー放電手段等の前処理、後処
理用装置、70はスパッタ粒子の飛散を防止するカバー
である。以上の構成から、安定した基板走行が確保され
ると共に、非常にターゲットの使用効率の良い連続両面
製膜が可能である。
に設けられるヒータ、グロー放電手段等の前処理、後処
理用装置、70はスパッタ粒子の飛散を防止するカバー
である。以上の構成から、安定した基板走行が確保され
ると共に、非常にターゲットの使用効率の良い連続両面
製膜が可能である。
以下、具体例により上述の点を説明する。
第6図は、第2図の対向ターゲット式スパッタ装置によ
りポリエステルフィルムを基板とし、ターゲットにCO
・Crを用い、co−Crの磁性薄膜を形成した場合の
結果で、基板の巾方向の膜 ゛厚分布を示す。
りポリエステルフィルムを基板とし、ターゲットにCO
・Crを用い、co−Crの磁性薄膜を形成した場合の
結果で、基板の巾方向の膜 ゛厚分布を示す。
図の(ωが第3図に示す3等分割の :実施例、
比較例として第4図に示す従来のシール 1ド
カバーおよび磁石配置を用いた場合の結果を第
)i′ 6図+toに破線で示す。横軸は基板の巾方向の中心
)Oからの距離を、縦軸は中心0における膜厚
で規 。
比較例として第4図に示す従来のシール 1ド
カバーおよび磁石配置を用いた場合の結果を第
)i′ 6図+toに破線で示す。横軸は基板の巾方向の中心
)Oからの距離を、縦軸は中心0における膜厚
で規 。
枯化した膜厚値を示す。
。□よ1.−ケラtl[a、 b ffi a= 96
0.、 fb−130#lIで、三区分のシールド
部材の各区分の )ト 開口部寸法はc= 300履、 d= 130#11
1で得られた 1′ ものである。
i′袈 この図から明らかなように膜厚分布は実施例で
1は各区分の膜厚分布P+ 、P2 、P3を加算した
iものとなり、大巾に改善され、基板中9o
oImにお [いて、膜厚分布が110%の範
囲にはいる巾は、従 [*(7)660”′″′
800″吋む°6・ 1以上の通り、本発明
は基板の巾方向に長い長方 :゛形ターゲット
に特に効果を有するものであるが、その他の形状のター
ゲットの場合にも適用できる ;1.1・ ことは本発明の趣旨から明らかである。
(また本発明の実施例によればスパッタリング時の
放電特性は開口部が300a*X 130mの従来型
のターゲットを用いた場合とほぼ同じであり、本発明の
ターゲット構造を用いれば広巾化等のスケールアップへ
の対応は容易である。また巾が広くなるほど効果が大ぎ
い。
0.、 fb−130#lIで、三区分のシールド
部材の各区分の )ト 開口部寸法はc= 300履、 d= 130#11
1で得られた 1′ ものである。
i′袈 この図から明らかなように膜厚分布は実施例で
1は各区分の膜厚分布P+ 、P2 、P3を加算した
iものとなり、大巾に改善され、基板中9o
oImにお [いて、膜厚分布が110%の範
囲にはいる巾は、従 [*(7)660”′″′
800″吋む°6・ 1以上の通り、本発明
は基板の巾方向に長い長方 :゛形ターゲット
に特に効果を有するものであるが、その他の形状のター
ゲットの場合にも適用できる ;1.1・ ことは本発明の趣旨から明らかである。
(また本発明の実施例によればスパッタリング時の
放電特性は開口部が300a*X 130mの従来型
のターゲットを用いた場合とほぼ同じであり、本発明の
ターゲット構造を用いれば広巾化等のスケールアップへ
の対応は容易である。また巾が広くなるほど効果が大ぎ
い。
このように本発明によれば、対向ターゲット式スパッタ
装置において、連続する長尺フィルム上の巾方向に均一
な膜厚を有する薄膜を形成することが出来る。
装置において、連続する長尺フィルム上の巾方向に均一
な膜厚を有する薄膜を形成することが出来る。
第1図は本発肌に係わる対向ターゲット式スパッタ装置
の説明図、第2図は基板の両面に連続製膜するのに適し
た対向ターゲット式スパッタ装置の説明図、第3図は第
1図の装置のターゲット部の拡大図、第4図は従来のシ
ールドカバーの説明図、第5図はターゲットの形状と基
板巾方向の膜厚分布の関係を示すグラフ、第6図は実施
例および比較例の実施結果を示すグラフである。・10
:真空槽、 T+ 、T2 :ターゲット、17a、
18a:シールド部材、 40:基板、50:電源 特許出願人 帝 人 株 式 会 礼 式 理 人 弁理士 前 1) 純 博第
11図 名 +10
の説明図、第2図は基板の両面に連続製膜するのに適し
た対向ターゲット式スパッタ装置の説明図、第3図は第
1図の装置のターゲット部の拡大図、第4図は従来のシ
ールドカバーの説明図、第5図はターゲットの形状と基
板巾方向の膜厚分布の関係を示すグラフ、第6図は実施
例および比較例の実施結果を示すグラフである。・10
:真空槽、 T+ 、T2 :ターゲット、17a、
18a:シールド部材、 40:基板、50:電源 特許出願人 帝 人 株 式 会 礼 式 理 人 弁理士 前 1) 純 博第
11図 名 +10
Claims (1)
- 陰極となるターゲットをそのスパッタ面が空間を隔てて
平行に対面するように設けるとともに、該スパッタ面に
垂直な方向の磁界を発生する磁界発生手段を設け、前記
ターゲット間の空間の側方に該空間に対面するように配
置した基板上に膜形成するようになした対向ターゲット
式スパッタ装置において、前記ターゲットの前面を基板
に面する辺側において、2つ以上の区画に分割するシー
ルド部材が前記ターゲットの前方に配置されるとともに
、ターゲット裏面の磁界発生手段が前記シールド部材に
対応する位置に配置されたことを特徴とする対向ターゲ
ット式スパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12062185A JPS61279673A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12062185A JPS61279673A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61279673A true JPS61279673A (ja) | 1986-12-10 |
Family
ID=14790764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12062185A Pending JPS61279673A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61279673A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63149376A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-06-22 | Toshiba Corp | スパツタリング装置 |
JP2016003354A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 住友金属鉱山株式会社 | 長尺樹脂フィルムの表面処理装置 |
-
1985
- 1985-06-05 JP JP12062185A patent/JPS61279673A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63149376A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-06-22 | Toshiba Corp | スパツタリング装置 |
JP2016003354A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 住友金属鉱山株式会社 | 長尺樹脂フィルムの表面処理装置 |
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