JPS61279673A - 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 - Google Patents

対向タ−ゲツト式スパツタ装置

Info

Publication number
JPS61279673A
JPS61279673A JP12062185A JP12062185A JPS61279673A JP S61279673 A JPS61279673 A JP S61279673A JP 12062185 A JP12062185 A JP 12062185A JP 12062185 A JP12062185 A JP 12062185A JP S61279673 A JPS61279673 A JP S61279673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
substrate
targets
film
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12062185A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Sugiyama
杉山 征人
Hiroshi Aoyanagi
宏 青柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teijin Ltd filed Critical Teijin Ltd
Priority to JP12062185A priority Critical patent/JPS61279673A/ja
Publication of JPS61279673A publication Critical patent/JPS61279673A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は一組のターゲットを所定間隔隔てて対面させ、
その側方に配した基板上に薄膜を形成するようにした対
向ターゲット式スパッタ装置に関     ゛し、更に
詳しぐは形成される薄膜のIll厚分布の調     
□整が容易で艮時間均−膜厚の薄膜が広11基板上に 
    を形成できる対向ターゲット式スパッタ装置に
関す     :′る。
[従来技術] 上述の対向ターゲット式スパッタ装置は、「応用物理]
第48巻(1979)第6号P558〜p 559゜特
開昭57−158380号公報等で公知の通り、陰極と
なる一対のターゲットをそのスパッタ面が空間を□ 隔てて平行に対面するように設けると共に、該ス   
  ゛バッタ面に垂直な方向の磁界を発生する磁界発生
手段を設け、前記ターゲット間の空間の側方に配した基
板上に膜形成するようになしたスパッタ装    置で
、高速・低温の膜形成ができる上、磁性材料    ”
□にも適用できる非常に優れたものである。
また、その実用化を目的に、特開昭58−189370
号公報、特開昭58−189371号公報等でその改善
が提案されている。
[問題点] 本発明者らは、対向ターゲット式スパッタHaの前述の
特長に注目し、磁気記録媒体の製造への適用を検討して
きた。この方法は、特開昭59−53680号公報に開
示の巾の広い長方形のターゲットと移送ローラとを組合
せた対向ターゲット式スパッタ装置に数100mという
ような長尺のボ1ノエステルフィルム等の可撓性の基板
をロール状にして装填し、長時間連続して該基板を移送
しつつその上に所定の磁性薄膜を形成して磁気記録媒体
を連続生産するものである。
長方形のターゲットを用いる場合、ターゲットの基板に
面した辺の長さaが他の辺の長さbよりも大きくなるよ
う設計されているのが普通である。
この場合、基板上における巾方向の膜厚分布は必ずしも
充分なものではなかった。
第5図にターゲットの形状すなわちターゲットの基板に
面した辺Aの長さaと他の辺Bの長さbとの比α−a/
bと、前述の長尺のフィルム上での巾方向の膜厚分布と
の関係を示す。
本実験は、辺Bの長さbを一定とし、辺Aの長さaをシ
ールドカバーによって調節し、連続して移送された基板
上の膜厚を測定、プロットしたちので、横軸は長尺の基
板の巾方向の中心Oからの距離をターゲットの辺の長さ
aで規格化した数値、縦軸は基板上に堆積された薄膜の
膜厚を基板の中心Oの膜厚で規格化した数値である。
第5図から明らかなように、基板上の膜厚分布はターゲ
ットの比α(a/b )が大きくなるにつれて悪くなる
。従って、生産性向上の要請から巾の広い基板を用いる
場合には、ターゲットの基板に面する辺Aを広げると同
時に辺B側も大きくする必要があり、装置が大型化する
という問題があ    :る。           
             1さらに以下の別の問題も
ある。すなわち、上述    [□ の通りフィルムの広巾化に対応してターゲットの巾を広
げる必要があるが、そのスケールアップに’) t+%
 T幾0h゛の問題点がある・広巾化に対応した   
 :□ ターゲットの構造は小さなターゲットを用いて予   
 1備実験を行いその形状と併せて推定することが酋i
通行われているが、装置全体のシステムを考える場合必
ずしも容易ではない。例えば特開昭59−531380
号公報に開示の如くフィルムを移送しつつ連続的にスパ
ッタリングするような場合、対向ターゲット式スパッタ
装置においてはその効率を最高に発揮させるためには2
つのロールの間にターゲットを設置し、その両側から飛
来するスパッタ粒子をフィルム上に堆積させる必要があ
る。かかる装置においては一旦設計が完了すれば2つの
ロール間の距離は固定してしまう。したがってターゲッ
トの幾何学的形状は一義的に決めておく必要がある。し
かしスパッタリングにおける放電特性(電圧−電流)、
ターゲット効率(エロージョン分布)、WA膜厚分布ど
はターゲットの形状、構造などに依存し小さなターゲッ
トからの推測が困難であり、スケールアップに際しては
、設備設首後試行錯誤でターゲット構造の手直し、作り
かえを余儀なくされることがしばしば生じていた。
本発明は前述のターゲットの形状と膜厚分布に関する知
見を背景にしてなされたものであり、その目的とすると
ころは、前述の長尺かつ広1わの基板上に形成した膜の
巾方向膜厚分布の改善を可能とする装置を提供すること
にある・更1・本発明    iの他の目的はスケール
アップの容易な広巾に対応    1ト したターゲット構造を提供することにある。
1゜ [発明の構成]                  
  (上述の目的は、以下の本発明により達成される。
    tすなわち、本発明は、陰極となるターゲット
をそのスパッタ面が空間を隔てて平行に対面するよう 
   I・こ に設けると共に、該スパッタ面に垂直な方向の111:
・ 界を発生する磁界発生手段を設け、前記ターゲラ   
 [。
1、)□(7) ml力、□1□。よう、1   ;し
た基板上に膜形成覆るようになした対向ターゲ    
1yF′に’;1.t<y’)V″i!′″5°’Tz
 ’#ikg 1y“″1前面を基板に面する辺側にお
いて2つ以上の区画    [1i: に分割するシールド部材が前記ターゲットの前方   
 )[1 に配置されかつターゲット背面の該シールド部材   
 i:の対応する位置にも磁界発生手段を設けたことを
    :、。
!1′ 特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置である。  
  1第1図は、本発明に係わる対向ターゲット構造 
   1′の説明図、第2図は長尺のフィルムの両面に
効率良く連続的に膜形成するに適した対向ターゲラ1一
式スバッタ装置の構成図、第3図は本発明に係るターゲ
ット部の拡大図である。
第1図から明らかな通り、本装置は前述の特開[57−
158380号公報等で公知の対向ターゲット式スパッ
タ装置と基本的に同じ構成となっている。
すなわち、図において10は真空槽、20は真空槽10
を排気する真空ポンプ等からなる排気系、30・は真空
槽10内に所定のガスを導入して真空槽10内の圧力を
10−1〜10’Torr程度の所定のガス圧力に設定
するガス導入系である。
そして、真空槽10内には、図示の如く真空槽10の側
板11.12に絶縁部材13.14を介して固着された
ターゲットホルダー15.16により1対の基板40に
面する辺が長い長方形のターゲットT1.T2が、その
スパッタされる面TIS、T2Sを空間を隔てて平行に
対面するように配設しである。そしてターゲットT+ 
、T2とそれに対応するターゲットホルダー15.16
は、冷却バイブ151. 161を介して冷却水により
ターゲットT+ 、T2 、磁界発生手段の永久磁石1
52,162が冷却される。磁石152、162の詳細
は後述するが、その基本構成は従来と同様ターゲットT
+ 、T2を介してN極、S極が対抗するように設けた
ものであり、従って磁界φは図示のようにターゲットT
+ 、T2に垂直な方向に、かつターゲット間のみに形
成される。
なお、17.18は絶縁部材13.14及びターゲット
ホルダー15.16をスパッタリング時のプラズマ粒子
から保護するためとターゲット表面以外の部分の異常放
電を防止するためのステンレス鋼等の導電材からなるシ
ールドカバー、17a、 18aはターゲットT+ 、
T2の前方に配置された同じく導電材からなる本発明の
シールド部材で従来の第4図の如きターゲットT+ 、
T2の周囲に沿った単なる矩形枠に替えて第3図に示す
構成となっている。
すなわちターゲットTI(T2)の夫々の前方にターゲ
ットTI(T2)を基板40に面する側の長辺Aにおい
て三区画19a、 19b、 19cに分割する梯子 
    □状枠体のシールド板17a(18a>とし、
その各区     □画19a、 19b、 19cの
辺Cと辺dの寸法比C/dを小さくし、基板の膜厚分布
を改善している。なお、図はシールド部材17a(18
a)をシールドカバー17(18)に一体内に取着した
ものを示したが別体であっても良い。
さらに第3図に示すシールド部材17a(18a)の内
ターゲットTI(T2)に直面する区画辺部はスパッタ
リング時に飛来する粒子によって加熱されるため図示の
板状体に替えて水冷可能な金腐管を用いることが望まし
い。
そしてターゲットTI(T2)の裏面には前述の磁石1
52 (162)が以下のように配置されている。すな
わち、磁石152(1G2)は第3図(b+に示すよう
に梯子状枠体構造のシールド板17a(18a )の枠
全体に厘って、各枠辺に磁極N(S)が対向するように
配置される。具体的には、シールド板17a (18a
 )の外枠辺及び三区画19a、19b、19cに区画
する仕切辺の仝辺に沿って、磁石152 (IO2)(
7)N (S)極がシールド板17a(18a>に面す
るように磁石152(162)は配置される。
また、磁性薄膜が形成される長尺の基板40を保持する
基板保持手段41は、真空槽10内のターゲラ    
 ゛トT1.T2の側方に設けである。基板保持手段4
1は、図示省略した支持ブラケットにより夫々回   
  □転自在かつ互いに軸平行に支持された、ロール状
の基板40を保持する繰り出しロール41aと、支持ロ
ール41bと、巻取O−ル41cとの3個のロール  
   □からなり、基板40をターゲットT+ 、第2
図の空間に対面するようにスパッタ面TIS、T2Sに
対し工略直角方向に保持するように配しである。従って
基板40は巻取ロール41cによりスパッタ面Tl5I
T2Sに対して直角方向に移動可能である。なお、支持
ロール41bはその表面温度が調節可能となっている。
一方、スパッタ電力を供給する直流電源からなる電力供
給手段50はプラス側をアースに、マイナス側をターゲ
ットT+ 、T2に夫々接続する。従って電力供給手段
50からのスパッタ電力は、アースをアノードとし、タ
ーゲットT+ 、T2をカソードとして、アノード、カ
ソード間に供給される@なお、プレスパッタ時基板40
を保護するため、基板40とターゲットT1.T2との
間に出入するシャッター(図示省略)が設けである。
以上の通り、前述の特開昭57−158380号公報の
ものと基本的には同じ構成であり、公知の通り高速低温
スパッタが可能となる。すなわち、ターゲットT+ 、
T2間の空間に、磁界の作用によりスパッタガスイオン
、スパックにより放出されたγ電子等が束縛され高密度
プラズマが形成される。
従って、ターゲットT+ 、T2のスパッタが促進され
て前記空間より析出量が増大し、基板40上への堆積速
度が増し高速スパッタが出来る上、基板40がターゲッ
トT+ 、T2の側方にあるので低温スパッタも出来る
ところで、前述の通りターゲットT1.T2はシールド
部材17a、18aとその背後の磁石によって区画19
a、19b、19cに分割されテイルノテ区画19a。
19b、19cが独立したターゲットと同様に作用し、
各区画19a、19b、19cは第5図の夫々の辺の比
に対応する膜厚分布を持つことになり、全体としてこれ
らが重ね合さったものとなり、基板40の巾方向に広範
囲に亙って均一膜厚が得られる。
さらに本ターゲット構造は基本的には区画19a。
19b、19cの独立したターゲットを連接したもので
あるため、放電特性、ターゲット効率、エロージョン分
布なども、第6図(Jに示すように各区画19a、 1
9b、 19cに対応した独立のターゲットを連接した
ものと等価となり、スケールアップに対して区画19a
、 19b、 19cに対応した小さいターゲットのデ
ータを加算することにより全体特性が正確に予測できる
ので、広巾への対応が容易となる。
なお、上述の例において、ターゲットT+ 。
T2も区画19a、19b、19c k一応シテ分割ス
ルト、各区画19a、 19b、 19cの独立性が高
くなる一方、小面積のターゲットの組合せで広巾のター
ゲットが構成でき、ターゲット製作が容易で、コスト的
に非常に有利となる。
又、第2図は、具体例に用いた長尺フィルムの基板40
の両面に効率良く連続製膜するに好適な、対向ターゲッ
ト式スパッタ装置の例である。シールドカバー、wi界
光発生手段前述の第3図の構成と同じのターゲットT+
 、T2の両側に支持ロール41bを配した構成になっ
ている。図において42は基板移送のフリーロール、4
3は基板40の張力を制御するための張力制御ロールで
周知の両側のフリーロールとの間隔を調整できるダンサ
−ロール方式とし、積極駆動される繰り出しロール41
a。
2個の支持ロール41b1巻取ロール41cの間に配置
し、これらロール間の張力バランスを調整し、安定した
基板走行を確保するようになっている。
なお図の60は高分子樹脂フィルムを基板とした場合等
に設けられるヒータ、グロー放電手段等の前処理、後処
理用装置、70はスパッタ粒子の飛散を防止するカバー
である。以上の構成から、安定した基板走行が確保され
ると共に、非常にターゲットの使用効率の良い連続両面
製膜が可能である。
以下、具体例により上述の点を説明する。
第6図は、第2図の対向ターゲット式スパッタ装置によ
りポリエステルフィルムを基板とし、ターゲットにCO
・Crを用い、co−Crの磁性薄膜を形成した場合の
結果で、基板の巾方向の膜     ゛厚分布を示す。
図の(ωが第3図に示す3等分割の    :実施例、
比較例として第4図に示す従来のシール     1ド
カバーおよび磁石配置を用いた場合の結果を第    
)i′ 6図+toに破線で示す。横軸は基板の巾方向の中心 
    )Oからの距離を、縦軸は中心0における膜厚
で規     。
枯化した膜厚値を示す。
。□よ1.−ケラtl[a、 b ffi a= 96
0.、   fb−130#lIで、三区分のシールド
部材の各区分の     )ト 開口部寸法はc= 300履、  d= 130#11
1で得られた    1′ ものである。                   
  i′袈 この図から明らかなように膜厚分布は実施例で    
1は各区分の膜厚分布P+ 、P2 、P3を加算した
     iものとなり、大巾に改善され、基板中9o
oImにお     [いて、膜厚分布が110%の範
囲にはいる巾は、従    [*(7)660”′″′
800″吋む°6・      1以上の通り、本発明
は基板の巾方向に長い長方     :゛形ターゲット
に特に効果を有するものであるが、その他の形状のター
ゲットの場合にも適用できる     ;1.1・ ことは本発明の趣旨から明らかである。       
  (また本発明の実施例によればスパッタリング時の
放電特性は開口部が300a*X  130mの従来型
のターゲットを用いた場合とほぼ同じであり、本発明の
ターゲット構造を用いれば広巾化等のスケールアップへ
の対応は容易である。また巾が広くなるほど効果が大ぎ
い。
このように本発明によれば、対向ターゲット式スパッタ
装置において、連続する長尺フィルム上の巾方向に均一
な膜厚を有する薄膜を形成することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発肌に係わる対向ターゲット式スパッタ装置
の説明図、第2図は基板の両面に連続製膜するのに適し
た対向ターゲット式スパッタ装置の説明図、第3図は第
1図の装置のターゲット部の拡大図、第4図は従来のシ
ールドカバーの説明図、第5図はターゲットの形状と基
板巾方向の膜厚分布の関係を示すグラフ、第6図は実施
例および比較例の実施結果を示すグラフである。・10
:真空槽、 T+ 、T2  :ターゲット、17a、
 18a:シールド部材、 40:基板、50:電源 特許出願人 帝 人 株 式 会 礼 式  理  人  弁理士  前  1) 純  博第
 11図 名 +10

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 陰極となるターゲットをそのスパッタ面が空間を隔てて
    平行に対面するように設けるとともに、該スパッタ面に
    垂直な方向の磁界を発生する磁界発生手段を設け、前記
    ターゲット間の空間の側方に該空間に対面するように配
    置した基板上に膜形成するようになした対向ターゲット
    式スパッタ装置において、前記ターゲットの前面を基板
    に面する辺側において、2つ以上の区画に分割するシー
    ルド部材が前記ターゲットの前方に配置されるとともに
    、ターゲット裏面の磁界発生手段が前記シールド部材に
    対応する位置に配置されたことを特徴とする対向ターゲ
    ット式スパッタ装置。
JP12062185A 1985-06-05 1985-06-05 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 Pending JPS61279673A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12062185A JPS61279673A (ja) 1985-06-05 1985-06-05 対向タ−ゲツト式スパツタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12062185A JPS61279673A (ja) 1985-06-05 1985-06-05 対向タ−ゲツト式スパツタ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61279673A true JPS61279673A (ja) 1986-12-10

Family

ID=14790764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12062185A Pending JPS61279673A (ja) 1985-06-05 1985-06-05 対向タ−ゲツト式スパツタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61279673A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63149376A (ja) * 1986-12-15 1988-06-22 Toshiba Corp スパツタリング装置
JP2016003354A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 住友金属鉱山株式会社 長尺樹脂フィルムの表面処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63149376A (ja) * 1986-12-15 1988-06-22 Toshiba Corp スパツタリング装置
JP2016003354A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 住友金属鉱山株式会社 長尺樹脂フィルムの表面処理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0273685B1 (en) Method of producing a thin film by sputtering and an opposed target type sputtering apparatus
MXPA05003537A (es) Dispositivo para llevar a cabo proceso intensificado con plasma.
JP2970317B2 (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法
JPS6320304B2 (ja)
JPS6214633B2 (ja)
JPS61279673A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPH034621B2 (ja)
JPS61183466A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPH079062B2 (ja) スパツタ装置
Spencer et al. The design and performance of planar magnetron sputtering cathodes
JP2001351795A (ja) 長尺成膜基体の静電気除去方法及び装置
JPS60182711A (ja) 磁性薄膜の形成方法およびその装置
Swann Spatial distribution of sputtered atoms from magnetron source
JPH0352535B2 (ja)
JPS6134176A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPS6134175A (ja) スパツタリング装置
JPH0411624B2 (ja)
Zlatanovic et al. Influence of magnetic field configuration on the deposition conditions in an unbalanced magnetron system
JPH03243763A (ja) スパッタリング装置
KR20090087680A (ko) 마그네트론 스퍼터링 장치
JPH0232353B2 (ja) Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi
RU2280097C2 (ru) Магнетронное распылительное устройство
JPS6089571A (ja) マグネトロン型スパツタ装置
JPS61113135A (ja) 金属薄膜磁気テ−プ等の製造装置
JPS5831081A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置