JPS5831081A - 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 - Google Patents

対向タ−ゲツト式スパツタ装置

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JPS5831081A
JPS5831081A JP12768181A JP12768181A JPS5831081A JP S5831081 A JPS5831081 A JP S5831081A JP 12768181 A JP12768181 A JP 12768181A JP 12768181 A JP12768181 A JP 12768181A JP S5831081 A JPS5831081 A JP S5831081A
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JP12768181A
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Sadao Kadokura
貞夫 門倉
Kazuhiko Honjo
和彦 本庄
Masahiko Naoe
直江 正彦
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Teijin Ltd
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Teijin Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、スパッタ装置、更に詳しくは高速。
低温スパッタが可能な対向ターゲット式スパッタ装置の
改良に関する。
近年、研究・開発の盛んな超LS1.光通信用機能デバ
イス、超高密度記録用素子などでは、真空蒸着法ではと
ても作製できないような高融点あるいは活性的な材料の
膜をその組成1寸法。
特性を制御しながら作製するという強い要望があり、ど
のような材料でもほとんどの基板上に膜形成ができる技
術としてスパッタ法が見直され、その欠点の克服のため
に精力的な研究、開発がなされている。そして、その方
向は高速化。
低温化にあり、マグネトロンスパッタ法等既に多くの提
案がある。
本発明者の一人鵠、先に高速、低温のスバ′ツタができ
る上、磁性材料にも適用できるスバク夕方式として対向
ターゲット式スパッタ装置、を提案した(r応用AN 
J JIE 411)11m号(1979)psss〜
pssり、この対向ターゲット式スパ7ツタ装置は第1
mK示すように構成される。すなわち、従来の真空槽内
に基板とターゲットを対向させた!極スパッタ装置と異
なり、真空槽10内に一対のターゲットT、、T、セス
バックされるスパッタ面〒、S * ?tSが空間を隔
てて平行に対面するように配置すると共に%SS2Oは
ターゲットT、〒、の側方に設げたS*ホルダー21に
よりターゲット〒1.〒、の空間の側方IIC腋空閏に
対面するよりに配置する。そして、真空槽重・の闘りに
設げたコイル3(lKよりスパッタ面〒II # T’
s K@直な方向の磁界を発生させるよ5Kしてある。
なお、図の11.1’!は鉄からなるターゲットホルダ
ー、11.14は保−のためのシー□ルドである。
従って、図示省略した排気系により排気口4゜を通して
真空槽10内を排気した後1図示省略したガス導入系か
ら導入口5すを通してアルゴン等のスパッタガスを導入
し、図示の如く1#L流電源からなるスパッタ電源60
によりシールド13゜14従って真空容器IGを陽極(
iI地)に、ターゲットTl l 丁、を陰極にしてス
パッタ電力を供給し、フィル3(lkより前述の磁界を
発生させるととKよりスパッタが行なわれ、基板20上
にターゲットTI、〒、に対応した組成の薄膜が形成さ
れる。
この際、前述の構成によりスパッタ面〒鳳−9〒、s 
K垂直に磁界が印加されているので、対向するターグツ
)’r、、?、間の空間内に高エネルギー電子が閉じ込
められ、ここでリスバッタガスのイオン化が促進されて
スパッタ速度が高くなり高速の膜形成ができる。その上
、基板20は従来のスパッタ装置の如くターゲットに対
向せずターゲット〒1.T、の側方に゛配置されている
ので、基板20上へのイオンや電子の衝突がはとんとな
くなり、かつターゲット丁1.〒、からの熱輻射も小さ
く基板温度の上昇の小さい、よって低温の膜形成ができ
る。更に磁界は全体としてターゲット〒、、〒、の垂直
方向に印加しであるので、ターグツ) TI−−に磁性
材料を用いても有効に磁界が作用し、高速属形成ができ
る。
本発明は、上述の対向ターゲット式スパッタ装電の改喪
な目的としたもので、■ターゲットからスパッタされる
スパッタ粒子を基板に析出亥る効率が良く、■高品質の
薄膜を基板上に形成できるスパッタ装置を提供するもの
である。
すなわち、本発明は%陰極となる一対のターゲットをそ
のスパッタ面が空間を隔てて平行に対面するように設け
ると共に、該スパッタ面に垂直な方向の磁界を発生ずる
磁界発生手段を設け、前記多−ゲット間の空間の側方に
峡空関に対面するよ5に配置した基板上に膜形成するよ
うkなした対向ターゲット式スパッタ装置において、前
記ターグツ)間の空間の周囲を、スパッタ時前記基板方
向、04にスパッタ粒子が析出するよ5に遮蔽したこと
を特徴とする対向ター224式スパッタ装置である。
以下、本発明の詳細を図i1に基いて説明する。
第2図は本発明の構成の一例を示す説明図、第3図はそ
のターゲット間部の平面断面図である。
なお図の記号は、第1図と同じものを使用しである。
図から明らかな通り、ターゲットTlt  丁、及び基
板!0の真空槽10内の配置は第1図の従来の対向ター
ゲット式スパッタ装置と同じである。
ただし、ターゲットホルダー12.Isは空胴構造とし
冷却水の供給管1?a、18m及び排出管17b、ls
kを設は冷却可能とし、絶縁部材1s、1@を介して真
空槽10eCI!着しである。又、基板ホルダー21は
、基板20の取着部にヒーター22を設は基板2oの温
度を調節可能としである。更に、磁界発生手段は。
第1図のコイル36に替えて、永久磁石31゜32にす
ると同時に、ターグツ) TI−T*の稜方のターゲッ
トホルダー11.Is内にその磁極により形成される磁
界が全てターグツ)T、。
テ曾のスパッタ面の垂直方向で同じ向きkなるように、
かつターゲット〒1.T、の周辺部に配置して、全体と
してコンパクトな構成としである。
そして、クーグツト73,7.間の空間8の周囲は、遮
蔽手段110により次のように遮蔽しである。すなわち
、第x@に示すように、基板ホルダー21に対画する部
分を除いてターゲラトチ。
(〒、)回りのシールド1!(14)に沿ってステンレ
ス板等からなる遮蔽板s1を設電すると共に、遮蔽[1
1を設aすない開放部II2には図示省略した操作手段
で開閉できるシャッター13を設け、スバクタ時には操
作子Rによりシャッター8st−開はスパッタ粒子が基
板ホルダー21方向のみに析出するよ5にし【ある。
従って、従来の対向ターゲット式スパッタ装蓋と同様に
排気系により排気口40から充分排′ 気した後、ガス
導入系から導入口50を通し【スパッタガスを導入し、
シールド43.14とターゲット〒11  〒、vc、
パッタ電源より、スパッタ電力を供給することにνクス
パッタが行なわれ基板20上に所望の膜形成ができる。
ところが、前述の構成のため、プレスパツタ時にはシャ
ッター83で開放部82を閉じることができ、クーグツ
)T、、T、のスパッタ粒子は遮蔽[111とシャッタ
ー83とからなる遮蔽手段goKよりクーグツ)T、1
丁1間K11lじ込められる。
一方、シャッター8mを用いて行なう膜形成ホルダー!
1方向のみにスパッタ粒子は析出し、基板20上に堆積
して膜となる。従って、クーグツ)?、、 テ、からス
パッタされるスパッタ粒子を基板20方向のみに析出で
きるので、クーグツト1.,7.部から基板、20 K
形成する薄膜のスパッタ効率が著しく上昇する。更K、
スパッタが閉じられた空間で行なわれ、開放部82を通
してのみスパッタ粒子が拡散するので、高品質の薄膜形
成ができる。その上、スパッタガスが周囲と遮蔽板によ
り区画され−ので、周囲の条件例えばガス圧等の変動の
影響な受けにくく、スパッタが安定する・ 次K Ii上の装置による磁性膜の作成例を説明する。
〔作成例〕
ム6作成条件 1、クーグツ・ト材:パーマpイ(Nt7’)’e−t
s/22 )b、  基板:25μ厚ポリエチレンテレ
フタレートフイルム C0ターゲットTIT  〒、閣隔隔ニア5■d スパ
ッタ表両の磁界:150〜2110ガクス ・、ターゲット形状:100■ダXISmk  2枚f
、基板とターゲット端部の距離:50■gjl蔽手段8
0をシールド13.14に密着させて設けた 1、操作手原 以下の手順で膜形成を行なった。
1、基板を設置後、真空槽10内を到達真空度ptが1
×1〇−嘗〒err ”−s x t o−・〒err
 の範囲に調部する。
b、アルゴン(Ar )ガスを所定の圧力まで導入し、
3〜r1分間のプレスパツタを行い。
C9シャッターを開いて基板上K11l形成を行な−゛
つた。スパッタ条件のムrガス圧は10■〒・rrであ
る。
C0結  果 磁性層の代表特性である保持力He及び磁性媒体f)ソ
リの度合KpKついて、遮蔽手段80を設けない場合と
の比較を行なった。
なお、そりの度合Kpは嬉4図に示す方法で評価する。
すなわち、そりのない場合の試料長t。
K対し、そりKよって生じた両端のずれを−、。
b、とし、そりの度合を、、=h、−+yb−とし、そ
り21 。
の極性を磁性層を外側にして変形した場合をプラス(イ
)、磁性層を内側にして変形した場合をライナス(ハ)
とした。また保持力Heは振動試料雷磁力針で測定した
第5図に、本発明に係わる前述の装置により得られた結
果を、第1fiK諌侠置で遮蔽手段lを取や除いた場合
に得られた結果を示す。
第1図から明らかなように、遮蔽手段−Oを設ける本発
明によれば、到達真空度Pfの広い範I!に鍍って保持
力H@、そりの度合Klともに捻どんと一様であった。
これに対して遮蔽手段80を取や除いた場壺では第6図
に示すように、保持力Henそりの度合xpと−に到達
真空度PfK対応して蜜化が大きい、特1c@達真空度
Pfが3×10″″’ Torr以下では保持力Heが
大きく、かつそりの度合Kpがマイナスになりヒビワレ
が生じ島くなった。このように遮蔽手段80を設げるこ
とによ゛す、条件変11に対する安定性が大巾に上昇す
ることがわかる。
以上本発明を説明したが、本発明はかかる実施例に@彎
す゛るものではない。
遮蔽手段として遮蔽板の開放1部にシャッターを散けた
ものを示したが、シャッターは必要時基板への粒子の飛
散を実質的に遮蔽で會るものであれば良く、従つズター
ゲットと基板の間に位置すれば曳く、遮蔽1[K破着す
る必要はない。
倒し、遮蔽板の開放部に設置すると効果的に粒子の飛散
が防止でき、かつ構成もランバク)になる。
又、遮蔽板もターゲット〒1.〒、に密着して設ける必
要はなく、粒子の飛散を実質的KW止できるものであれ
ば良い。なお、遮蔽板をターゲットホルダー回りのシー
ルドと一体的に構成する構成が簡単になり有利である。
また遮蔽板はシールド等同じ材を用いれば良い。
以上の通り、本発明では、対向ターゲットのターゲット
間の空間の周囲を基板方向の部分を除いて遮蔽するよう
にしたので、スパッタ効率が良く、かつ条件変動に左右
されない安定した対向ターゲット式スパッタ装置が可能
となった。
コノように本発明はスパッタによる膜形成技術の向上に
大きな寄与をなすものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の対向タ、−□ゲット式スパック装置の説
明図、第意図は本発明に係わる実施例の説明図、第3図
は該実絢例のターゲット部の平面断面図、第4図はそり
の度合Kpの測定法の説明図、第5図、 @@@は前記
実施例と該実施例から遮蔽手段を除%、罵たものにより
作成した磁性膜の評価結果を示すグラフであを。 lO:真空槽 TIP 〒パターゲット 20:基板 
畠O:遮蔽手段 Sl:遮蔽板 m s”: シャツ・
タ− 汁/「口

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 陰極となる一対のターゲットをそのスパッタ面が空
    間を隔てて平行に対面するよ5に設けると共に、該スパ
    ッタ面に垂直な方向の磁界を発生する磁界発生手段を設
    け、前記ターゲット間の空間の側方に該空間に対面する
    よう忙装置した基板上に膜形成するようになした対向タ
    ーゲット式スパッタ装置において。 前記ターゲット間の空間の周囲を、スパッタ時i記基板
    方向のみにスパッタ粒子が析出するよ一’5 <遮蔽し
    たことを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。 1 前記基板に対面する部分K11l閉可能、なシャッ
    タを有する遮蔽板で遮蔽した特許請求の範囲第1項記載
    の対向ターゲット式スパッタ装置。 1 前記遮蔽板をターゲットホルダー回りのシールドと
    一体構成とした特許請求の範囲第2項記載の対向ターゲ
    ット式スパッタ装置。
JP12768181A 1981-08-17 1981-08-17 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 Granted JPS5831081A (ja)

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JPS63140079A (ja) * 1986-12-03 1988-06-11 Sumitomo Electric Ind Ltd スパツタリング装置
CN102618845A (zh) * 2012-04-01 2012-08-01 中微半导体设备(上海)有限公司 具有遮挡板装置的反应器

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