JPS61279114A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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Publication number
JPS61279114A
JPS61279114A JP12198185A JP12198185A JPS61279114A JP S61279114 A JPS61279114 A JP S61279114A JP 12198185 A JP12198185 A JP 12198185A JP 12198185 A JP12198185 A JP 12198185A JP S61279114 A JPS61279114 A JP S61279114A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filament
crucible
ionized
potential
grid
Prior art date
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Pending
Application number
JP12198185A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromoto Ito
弘基 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP12198185A priority Critical patent/JPS61279114A/ja
Publication of JPS61279114A publication Critical patent/JPS61279114A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は金属蒸気を基板に蒸着させる薄膜形成装置に
関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来の薄膜形成装置の断面を示したものであり
、図において、1はるつぼ、2ば該るつば1内にあって
熔融される金属、3ば上記るつぼ1の上部にあけられ溶
融された上記金属2が噴出する孔、4は該孔3から噴出
する金属茎気、5ば」―記るつぼ1を加熱するるつぼ加
熱用フィラメンI・、6ば該るつぼ加熱用フィラメン1
−5に電流を流して高温にし電子を放出させる交流電源
、7ば該交流電源6によって放出された電子が−J二記
るつぼ1に衝突するように該るつぼlに上記るつぼ加熱
用フィラメント5の電位により正のバイアス電圧を印加
する第1の直流電源、8は電子を放出するイオン化電子
放出フィラメン1−19ば該イオン化電子放出フィラメ
ント8から放出された電子を加速するグリッド、10ば
上記イオン化電子放出フィラメント8を発熱させる交流
電源、11は」−記グリッド9に対して−に記イオン化
電子放出フイラメン)・8を負の電位に保つ第2の直流
電源、12はイオン化した金属蒸気4を加速する加速電
源、13は表面に金属薄膜を蒸着させる基板、14は蒸
着膜、15は上記加速電極12に上記グリッド9より負
の電位を与える第3の直流電源、16および17はるつ
ぼ1およびイオン化電子放出フィラメン1−8の熱放射
を防ぐ熱シールド板、18は真空槽である。
次に動作について説明する。
るつぼ加熱用フィラメント5は交流電源6により加熱さ
れ熱電子を放出するが、第1の直流電源7によってるつ
ぼIに与えられた正電圧により熱電子がるつぼ1に衝突
し、該るつぼ1を加熱する。
るつぼ1内の金属2は蒸発し、孔3より真空中に噴出す
る。噴出された金属蒸気4はイオン化電子放出フィラメ
ンI−8から飛び出した電子がグリ。
ド9を通過して金属蒸気4に当って電子をたたき出しプ
ラス電荷を持ったイオンとなる。このプラスイオンは加
速電極12によっ−ζ加速され基板13に蒸着し、蒸着
膜か出来る。
また、イオン化電子放出フィラメント8がら飛び出ず熱
電子は第4図の斜わi(領j浅に示す様に、第3の直流
電源15を数KV、第1の直流電源7および第2の直流
電源IIを数百■としたときのイオン化電子hi出フィ
ラメント8より電位の高い範囲を飛翔すると考えられる
。というのは、イオン化電子放出フィラメント8から飛
び出す電子は、その初速エネルギーが0.]  eV程
度と小さく無視できるからである。
C発明が解決しようとする問題点) 従来のM膜形成装置は以上のよう乙こ構成されているの
で、イオン化電子放出フィラメントがら飛び出す電子は
、熱シールド板およびるっは側にも飛んで行く可能性が
あり、グリフ1′内で噴射蒸気をイオン化する効率が低
下するなどの問題点があった。また矢印Aに示ずよ・う
にるっぽ加熱用フィラメントの上部から飛び出ず電子が
グリッドをスパッタして該グリッドにFU 15を与え
るという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、金属蒸気のイオン化効率を高め、またフィラ
メン1−から飛び出す電子がグリッドをスパッタするこ
とのない薄膜形成装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る薄膜形成装置はるつぼとグリッドの中間
にるつぼ加熱用フィラメントと同電位の電界緩和用フィ
ラメントを設け、またイオン化電子放出フィラメントを
囲む熱シールド板の電位をイオン化電子放出フィラメン
トより数百V低電圧にしたものである。
(作用〕 この発明においては、イオン化電子放出フィラメントを
囲む熱シールド板の電位を該イオン化電子放出フィラメ
ントより数百V低電圧にしたことによって、イオン化電
子の飛翔する領域は、グリッド内に制限され、金属蒸気
のイオン化効率が高まる。また、電界緩和用フィラメン
トを設置dたことにより電界は緩和され、るつぼ加熱用
フィラメントから飛び出す電子がグリッドをスパッタす
ることをなくする。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例による薄膜形成装置を示す図、
第2図はイオン化電子の飛翔範囲を示す図である。図中
、第3図と同一符号は同一部分を示す。図において、1
9ばるっぽ1とグリッド9との中間に位置するるつぼ加
熱用フィラメンI−5と同電位の電界緩和用フィラメン
トである。
そしてこれは特に交流電源により加熱する必要はない。
またシールド板17ば従来の装置ではイオン化電子放出
フィラメント8と同電位であったが、本発明装置ではこ
れより数百V程度低電位としている。
次に作用効果について説明する。
本実施例において、イオン化電子放出フィラノンl−か
ら飛び出す電子が飛翔する範囲を示すと第2図の斜線領
域となる。電界緩和用フィラメン1−19の電位iJる
つぼ加熱用フィラメント5と同電位であり、かつ!:ハ
シールド板】7の電位がイオン化電子放出フィラメント
8の電位よりも数百■低いため、イオン化電子が飛び交
う領域はグリ、1.9付近に制限される。よって、金属
蒸気をイオン化さ一ロるためにより多くの電子が使われ
るので、金属蒸気のイオン化効率がアップする。また電
界緩和用フィラメント19の位置を変化させることで、
蒸気がイオン化される位置が制御でき、それにより基板
」―に到達するイオン分布を制御でき、従って基板上に
高品質の薄膜を形成できる。さらに電界緩和用フィラメ
ント19により電界が緩和されるため、るつぼ加熱用フ
ィラメン1−5より飛び出ず電子はグリッドをスパッタ
することなく、るつぼの加熱のみに寄与することとなり
、従ってグリッドの損傷を防止できる。
〔発明の効果〕
以」二のように、この発明によれば、イオン化電子が飛
翔する範囲をグリソドイ」近に制限するように電界緩和
用フィラメントを設り、イオン化フィラメン1−を囲む
熱シールド板の電位をイオン化電子放出フィラメン1−
よりも数百V低電位としたので、イオン化効率を向−に
できるばかりではなく、イオン化位置を制御することで
、イオンの基板への到着位置を制御することかでき、高
品質の薄膜が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例による薄膜形成装置を示
す断面図、第2図は本発明装置によるイオン化電子の飛
翔範囲を示す図、第3図は従来の薄膜形成装置を示す断
面図、第4図は従来装置によるイオン化電子の飛翔範囲
を示す図である。 ■・・・るつぼ、5・・・るつぼ加熱用フィラメント、
8・・・イオン化電子放出フィラメント、9・・・グリ
ッド、12・・・加速電極、17・・・熱シールド板、
19・・・電界緩和用フィラメンi−0 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空槽内に設けられ蒸着物質の蒸気を噴出するる
    つぼ及びこれを加熱するるつぼ加熱用フィラメントから
    なる蒸気発生手段と、蒸気をイオン化するための電子を
    放出するイオン化電子放出フィラメント、該フィラメン
    トからの電子を引き出すグリッド、及び上記フィラメン
    トを囲む熱シールド板を有し、該熱シールド板の電位が
    上記フィラメントの電位より数百V低電位である、上記
    蒸気発生手段からの蒸気に電子を衝突させて該蒸気をイ
    オン化するためのイオン化手段と、上記るつぼと上記グ
    リッドとの中間に位置し、上記蒸気発生手段がつくる電
    界及び上記イオン化手段がつくる電界を緩和するための
    、上記るつぼ加熱用フィラメントと同電位の電界緩和用
    フィラメントと、上記イオン化した蒸気を加速して基板
    に衝突させて薄膜を蒸着させる加速電極とを備えたこと
    を特徴とする薄膜形成装置。
JP12198185A 1985-06-05 1985-06-05 薄膜形成装置 Pending JPS61279114A (ja)

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JP12198185A JPS61279114A (ja) 1985-06-05 1985-06-05 薄膜形成装置

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JPS61279114A true JPS61279114A (ja) 1986-12-09

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