JPS61278768A - プリント配線板検査機のインタ−フエ−ス - Google Patents
プリント配線板検査機のインタ−フエ−スInfo
- Publication number
- JPS61278768A JPS61278768A JP60121145A JP12114585A JPS61278768A JP S61278768 A JPS61278768 A JP S61278768A JP 60121145 A JP60121145 A JP 60121145A JP 12114585 A JP12114585 A JP 12114585A JP S61278768 A JPS61278768 A JP S61278768A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- board
- substrate
- test
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
w n−37翼 四 ν毒 −−1言 〜ノ [幻
伯 櫂 釦シ メ(褪 奢! 勿η 」ψ I毒
、被検査基板にプローブビン等検査針を当接して所望の
電気的接続関係の適否を検査するプリント配線板検査機
のインターフェースに係る。
伯 櫂 釦シ メ(褪 奢! 勿η 」ψ I毒
、被検査基板にプローブビン等検査針を当接して所望の
電気的接続関係の適否を検査するプリント配線板検査機
のインターフェースに係る。
険)従来の技術
従来のプリント配線板検査機のインターフェースとして
は、検査機の上面にボードを装着し、ボード表面には、
メツシュ状に前後左右に例えば2.54mmのピッチで
敵方本の検査針を圧入し、検査針の、被検査基板との反
対側は検査用基板にリード線で電気的に接続するプリン
ト配線板検査機のインターフェースが知られている。
は、検査機の上面にボードを装着し、ボード表面には、
メツシュ状に前後左右に例えば2.54mmのピッチで
敵方本の検査針を圧入し、検査針の、被検査基板との反
対側は検査用基板にリード線で電気的に接続するプリン
ト配線板検査機のインターフェースが知られている。
他の従来例としては第12図に示すように、例えば検査
針(29)を数枚の治具板(27)にセットし検査針(
29)の下部には検査針(29)と当接するピン(28
)を200本前後固定するブロック(30)を設け、基
板をブロックの下部に固定する単位ブロック(23)を
横方向に重ね合わせ、かつ、重ね合わせた複数のブロッ
クの周囲を固定することで多数のブロックの上面からな
る敵方の検査針を有する検査領域を託成す乙プリント9
婉!Fi鯰杏祷のインターフェースも知られている。こ
の従来例の使用方法は、単位ブロックを複数固定した平
面の一部を表す第13図に示すように、検査必要部分に
は通常の単位ブロック(23)を設置し、検査不要部分
についてはダミーのブロック(24)を設置した上で枠
組(25)によりパインディングして固定し、上面に検
査針(29)を設置して、その上に被検査基板を載置し
て使用する。
針(29)を数枚の治具板(27)にセットし検査針(
29)の下部には検査針(29)と当接するピン(28
)を200本前後固定するブロック(30)を設け、基
板をブロックの下部に固定する単位ブロック(23)を
横方向に重ね合わせ、かつ、重ね合わせた複数のブロッ
クの周囲を固定することで多数のブロックの上面からな
る敵方の検査針を有する検査領域を託成す乙プリント9
婉!Fi鯰杏祷のインターフェースも知られている。こ
の従来例の使用方法は、単位ブロックを複数固定した平
面の一部を表す第13図に示すように、検査必要部分に
は通常の単位ブロック(23)を設置し、検査不要部分
についてはダミーのブロック(24)を設置した上で枠
組(25)によりパインディングして固定し、上面に検
査針(29)を設置して、その上に被検査基板を載置し
て使用する。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
一枚のボード上に致方の検査針を設置する従来例では、
検査針は前後左右とも2.54n+mの間隔でメツシュ
状に圧入されているため、検査針の不良あるいは検査針
に接続するリード線が一本でも断線した場合、修理は困
難であった。とりわけ、ボード中央部の検査針の不良あ
るいはリード線が断線した場合は、検査針あるいはリー
ド線が密集しているため、断線部分のみの交換は不可能
であった。更に、検査針と検査針に信号等を与える電子
回路基板とを接続するケーブルの量は膨大となる問題点
を有した。
検査針は前後左右とも2.54n+mの間隔でメツシュ
状に圧入されているため、検査針の不良あるいは検査針
に接続するリード線が一本でも断線した場合、修理は困
難であった。とりわけ、ボード中央部の検査針の不良あ
るいはリード線が断線した場合は、検査針あるいはリー
ド線が密集しているため、断線部分のみの交換は不可能
であった。更に、検査針と検査針に信号等を与える電子
回路基板とを接続するケーブルの量は膨大となる問題点
を有した。
単位ブロックを枠組によって固定する従来例においては
、枠組を外すことによって単位ブロック毎の修理、交換
は可能であるが、修理するには一旦治具を外し、バイデ
ングされている枠組(25)を外し単位ブロックを外す
必要があり、手間がかかる問題点を有した。
、枠組を外すことによって単位ブロック毎の修理、交換
は可能であるが、修理するには一旦治具を外し、バイデ
ングされている枠組(25)を外し単位ブロックを外す
必要があり、手間がかかる問題点を有した。
に)問題点を解決するための手段 、この発明は端部
に検査端子を複数固定し、かつ、検査端子固定部及びそ
の周囲を被覆することにより、支持部を形成する基板を
支柱に複数固定し並設することで、検査端子の密集する
面からなる検査可能領域を形成することを特徴とするプ
リント配線板検査機のインターフェース、及び、端部に
検査端子を複数固定する基板を、支柱に複数固定して並
設することで検査端子の密集する面からなる検査可能領
域を形成するプリント配線板検査機のインターフェース
において、基板に基板昇降用のジヤツキを挿入可能な切
欠部を設けることを特徴とするプリント配線板検査機の
インターフェースを提供する。
に検査端子を複数固定し、かつ、検査端子固定部及びそ
の周囲を被覆することにより、支持部を形成する基板を
支柱に複数固定し並設することで、検査端子の密集する
面からなる検査可能領域を形成することを特徴とするプ
リント配線板検査機のインターフェース、及び、端部に
検査端子を複数固定する基板を、支柱に複数固定して並
設することで検査端子の密集する面からなる検査可能領
域を形成するプリント配線板検査機のインターフェース
において、基板に基板昇降用のジヤツキを挿入可能な切
欠部を設けることを特徴とするプリント配線板検査機の
インターフェースを提供する。
(ホ)作用
端部に検査針を複数固定する基板を支柱に複数固定して
並設することで形成する、検査針の密集する検査可能領
域上に、被検査基板を設置し、荷重をかける。
並設することで形成する、検査針の密集する検査可能領
域上に、被検査基板を設置し、荷重をかける。
検査針あるいは基板の一部が破損した場合は、基板の切
欠部にジヤツキ先端を挿入し、交換必要な基板を押上げ
て、基板毎交換する。
欠部にジヤツキ先端を挿入し、交換必要な基板を押上げ
て、基板毎交換する。
(へ)実施例
以下この発明の実施例の一部断面を表す第1図、第2図
、同部品図の一部平面を表す第3図、同部品図を表す第
4図乃至第11図に従って説明する。
、同部品図の一部平面を表す第3図、同部品図を表す第
4図乃至第11図に従って説明する。
(1)は、フレームである。フレーム(1)は、平面視
略四角形よりなり内周に検査可能領域を形成する。
略四角形よりなり内周に検査可能領域を形成する。
(2)は支柱である。支柱(2)は金属板からなり、フ
レーム(1)の対向辺−間を各々平行に連結し、かつ、
第1図に示すように下方で上面と平行にマ#Jに−VJ
//V/na’−?、kn/ry1.、+a番t、ff
1lす(3)をマザーボードガイド(26)に挿入固定
する。
レーム(1)の対向辺−間を各々平行に連結し、かつ、
第1図に示すように下方で上面と平行にマ#Jに−VJ
//V/na’−?、kn/ry1.、+a番t、ff
1lす(3)をマザーボードガイド(26)に挿入固定
する。
支柱(2)には、上面から下方即ちマザーボード(3)
方向に亙って、ガイドレール(4)を切欠する。ガイド
レール(4)は対向する支柱(2)相互に対向しかつ等
1隔に形成する。本実施例においてガイドレール(4)
は、5.081!In+ピツチとするが、ピッチは自由
に設定してもよい。支柱(2)上面のガイドレール(4
)より中央寄りには、ロケーションピン(5)を各々突
設する。フレーム(1)により形成する検査可能領域端
部の支柱(2)には対向する支柱(2)のある側のみに
ガイドレール(4)を形成するとともに、ロケーション
ピン(5)を突設する。
方向に亙って、ガイドレール(4)を切欠する。ガイド
レール(4)は対向する支柱(2)相互に対向しかつ等
1隔に形成する。本実施例においてガイドレール(4)
は、5.081!In+ピツチとするが、ピッチは自由
に設定してもよい。支柱(2)上面のガイドレール(4
)より中央寄りには、ロケーションピン(5)を各々突
設する。フレーム(1)により形成する検査可能領域端
部の支柱(2)には対向する支柱(2)のある側のみに
ガイドレール(4)を形成するとともに、ロケーション
ピン(5)を突設する。
支柱(2)のマザーボードガイド(26)の上部には、
支柱(2)を掛は渡すフレーム(1)の対向辺間に亙っ
て支柱(2)の上面と平行に、ジヤツキガイド(6)を
切欠して設ける。
支柱(2)を掛は渡すフレーム(1)の対向辺間に亙っ
て支柱(2)の上面と平行に、ジヤツキガイド(6)を
切欠して設ける。
(7)は、ソケット側のコネクターであり、支柱(2)
のマザーボードガイド(26)に挿入固定するマザーボ
ード(3)上に挿嵌する。
のマザーボードガイド(26)に挿入固定するマザーボ
ード(3)上に挿嵌する。
(81はj&坂である一基板(R1は一基板rR1のT
而を表す第4図、同側面を表す第7図から明らかなよう
に、全体として板状体よりなる。基板(8)の上端には
、第4図基板(8)の平面を表す第5図、同平面拡大を
表す第8図に示すように、表面、裏面に各々32本ずつ
計64本ずつの二列に2.54mmピッチの間隔で検査
針(9)を各々半田付けする。
而を表す第4図、同側面を表す第7図から明らかなよう
に、全体として板状体よりなる。基板(8)の上端には
、第4図基板(8)の平面を表す第5図、同平面拡大を
表す第8図に示すように、表面、裏面に各々32本ずつ
計64本ずつの二列に2.54mmピッチの間隔で検査
針(9)を各々半田付けする。
この実施例では、検査針挿入用孔を必要数個(この実施
例では2×32個)等間隔に穿設する樹脂成形物からな
るロケーションボード(lO)に、検査針(9)を各々
挿入固定した上で、治具により位置精度を出しながら半
田付けをする。検査針(9)部分及び、ソケット半田付
は部(A)表面は、合成樹脂により被覆し支持部として
補強讐る。合成樹脂による被覆は、検査針(9)を基板
(8)に半田付けした上で、基板(8)を金型で正確に
位置決めしながら、合成樹脂を狭小な隙間に流し込み射
出成型する。
例では2×32個)等間隔に穿設する樹脂成形物からな
るロケーションボード(lO)に、検査針(9)を各々
挿入固定した上で、治具により位置精度を出しながら半
田付けをする。検査針(9)部分及び、ソケット半田付
は部(A)表面は、合成樹脂により被覆し支持部として
補強讐る。合成樹脂による被覆は、検査針(9)を基板
(8)に半田付けした上で、基板(8)を金型で正確に
位置決めしながら、合成樹脂を狭小な隙間に流し込み射
出成型する。
基板(8)の補強箇所より下部は幅狭とし、補強箇所下
面には、基板(8)の底面を表す第6図に明らかなよう
に補強箇所の基板(8)より幅広の支持部(11)及び
支持部(11)にロケーションピン(5)嵌入用の孔(
12)を設ける。基板(8)下部には、第1図に示すよ
うに基板(8)を支柱(2)に設置した使用状態で支柱
に)に切欠し設けたジヤツキガイド(6)にジヤツキ(
16)を挿入し基板(8)を昇降する際、基板(8)が
ジヤツキ(16)に当接し昇降困難にならないようジヤ
ツキガイド(6)がほぼ中央に位置するよう切欠部(1
3)を両側に設ける。(14)はピン側コネクターであ
り、ソケット側コネクター(力と嵌合可能である。又、
基板(8)を上部の検査針(9)取り付は部分(8)a
と下部IC等実装部分(8)bとに分け、ジャンパー線
等により連結することによって、基板(8)を二つの部
分に分割することも可能である。この場合、検査針(9
)が不良になった場合、基板(8)に実装されている電
気部品まで捨てなくても良く、他の基板に使用可能であ
る。
面には、基板(8)の底面を表す第6図に明らかなよう
に補強箇所の基板(8)より幅広の支持部(11)及び
支持部(11)にロケーションピン(5)嵌入用の孔(
12)を設ける。基板(8)下部には、第1図に示すよ
うに基板(8)を支柱(2)に設置した使用状態で支柱
に)に切欠し設けたジヤツキガイド(6)にジヤツキ(
16)を挿入し基板(8)を昇降する際、基板(8)が
ジヤツキ(16)に当接し昇降困難にならないようジヤ
ツキガイド(6)がほぼ中央に位置するよう切欠部(1
3)を両側に設ける。(14)はピン側コネクターであ
り、ソケット側コネクター(力と嵌合可能である。又、
基板(8)を上部の検査針(9)取り付は部分(8)a
と下部IC等実装部分(8)bとに分け、ジャンパー線
等により連結することによって、基板(8)を二つの部
分に分割することも可能である。この場合、検査針(9
)が不良になった場合、基板(8)に実装されている電
気部品まで捨てなくても良く、他の基板に使用可能であ
る。
(16)はジヤツキである。ジヤツキ(16)は基板(
8)を昇降するためのものであり、ジヤツキ(16)の
平面を表す第9図に示すように平面路コ字形よりなり、
両先端付近には空気圧により昇降可能なピストン(17
)を設置する。ジヤツキ(16)の側部(18)は各々
、ジヤツキ(16)の斜視図を表す第11図に明らかな
ように、基板(8)の切欠部(13)内に挿入可能な外
形よりなる。各側部(18)の先端のピストン(17)
設置位置側面には、ガイドレール(19)を各々横方向
に突設する。ガイド(19)は、支柱(2)下部に設け
るジヤツキガイド(6)に挿入可能な外形に形成する。
8)を昇降するためのものであり、ジヤツキ(16)の
平面を表す第9図に示すように平面路コ字形よりなり、
両先端付近には空気圧により昇降可能なピストン(17
)を設置する。ジヤツキ(16)の側部(18)は各々
、ジヤツキ(16)の斜視図を表す第11図に明らかな
ように、基板(8)の切欠部(13)内に挿入可能な外
形よりなる。各側部(18)の先端のピストン(17)
設置位置側面には、ガイドレール(19)を各々横方向
に突設する。ガイド(19)は、支柱(2)下部に設け
るジヤツキガイド(6)に挿入可能な外形に形成する。
ジヤツキ(16)ピストン(17)はこのの実施例では
空気圧により昇降するが、他の手段によってもよい。(
20)はエア供給源であり、ジヤツキ(16)の正面を
表す第10図に明らかなようにピストン(17)下面と
エア供給源挿入口(21)とを連絡する空気路(22)
を介して、空気圧によりピストン(17)は昇降可能で
ある。
空気圧により昇降するが、他の手段によってもよい。(
20)はエア供給源であり、ジヤツキ(16)の正面を
表す第10図に明らかなようにピストン(17)下面と
エア供給源挿入口(21)とを連絡する空気路(22)
を介して、空気圧によりピストン(17)は昇降可能で
ある。
又、本実施例では、検査領域全面に亙り、基板(8)を
設置したが、必要とする検査領域にのみ設置することも
可能である。
設置したが、必要とする検査領域にのみ設置することも
可能である。
そこで、基板(8)の両側を対向するガイドレール(4
)に嵌めながら基板(8)を押し下げ、先端のコ+h々
−とI J )Mマぜ−ゼーに’ (’Q1イ011の
1土り々−(7)に当接するまで押し下げ続ける。コネ
クター(7)がマザーボード側のコネクターに当接した
ところで、ジヤツキ(16)のピストン(17)がマザ
ーボード(3)側になるよう支柱(2)のジヤツキガイ
ド(6)にジヤツキ(16)のガイドレール(19)を
挿入する。次いでピストン(17)が当該基板(8)の
切欠部(13)に達したところで、エア供給源(20)
によりエア供給源挿入口(21)、空気路(22)を介
して空気圧により加圧しピストン(17)を押し出す。
)に嵌めながら基板(8)を押し下げ、先端のコ+h々
−とI J )Mマぜ−ゼーに’ (’Q1イ011の
1土り々−(7)に当接するまで押し下げ続ける。コネ
クター(7)がマザーボード側のコネクターに当接した
ところで、ジヤツキ(16)のピストン(17)がマザ
ーボード(3)側になるよう支柱(2)のジヤツキガイ
ド(6)にジヤツキ(16)のガイドレール(19)を
挿入する。次いでピストン(17)が当該基板(8)の
切欠部(13)に達したところで、エア供給源(20)
によりエア供給源挿入口(21)、空気路(22)を介
して空気圧により加圧しピストン(17)を押し出す。
するとピストン(17)は基板(8)の切欠部(13)
を押圧し、基板(8)の先端のコネクター(14)はマ
ザーボード側コネクター(7)に嵌合する。同時に基板
の孔(12)とロケーションピン(5)は嵌合し、支持
部(11)が支柱(2)の上面と接して、基板(8)は
支柱(2)に設置される。同様1こ複数の基板(8)を
順次支柱(2)に設置することで基板(8)は第2図に
示すように横方向に並設する。このとき、支柱(2)を
介して隣接する基板(8)の両端の検査針(9)の間隔
も2゜54mmとなるように設定することで、支柱(2
)に設置する各基板(8)上面から突設する各検査針(
9)の間隔は縦横ともに同一距離、即ちこの実施例では
、2.54a+mのピッチとなり、全体としても検査針
(9)が密集した集合体からなる検査領域を作る。次い
で検査領域上に被検査基板を設置し、加圧板により規定
の荷重を与える。
を押圧し、基板(8)の先端のコネクター(14)はマ
ザーボード側コネクター(7)に嵌合する。同時に基板
の孔(12)とロケーションピン(5)は嵌合し、支持
部(11)が支柱(2)の上面と接して、基板(8)は
支柱(2)に設置される。同様1こ複数の基板(8)を
順次支柱(2)に設置することで基板(8)は第2図に
示すように横方向に並設する。このとき、支柱(2)を
介して隣接する基板(8)の両端の検査針(9)の間隔
も2゜54mmとなるように設定することで、支柱(2
)に設置する各基板(8)上面から突設する各検査針(
9)の間隔は縦横ともに同一距離、即ちこの実施例では
、2.54a+mのピッチとなり、全体としても検査針
(9)が密集した集合体からなる検査領域を作る。次い
で検査領域上に被検査基板を設置し、加圧板により規定
の荷重を与える。
この荷重は、合成樹脂で補強された検査針半田付は部(
A)、支持部(11)を介して支柱(2)に負荷される
が、基板(8)下部は直接負荷を受けることはない。
A)、支持部(11)を介して支柱(2)に負荷される
が、基板(8)下部は直接負荷を受けることはない。
密集する検査針(9)が破損し、あるいは基板(8)が
破損した場合は、ジヤツキ(16)の先端を、ピストン
(17)を基板(8)の検査針方向に向け、基板(8)
の切欠部(13)および支柱(2)のジヤツキガイド(
6)内に挿入し、あらかじめ計算した交換箇所までの寸
法だけ進める。次いで、エア供給源(20)からの空気
圧によりピストン(17)を上昇する。
破損した場合は、ジヤツキ(16)の先端を、ピストン
(17)を基板(8)の検査針方向に向け、基板(8)
の切欠部(13)および支柱(2)のジヤツキガイド(
6)内に挿入し、あらかじめ計算した交換箇所までの寸
法だけ進める。次いで、エア供給源(20)からの空気
圧によりピストン(17)を上昇する。
このとき、ガイドレール(19)は、支柱(2)のジヤ
ツキガイド(6)に係止しているため、ピストン(17
)により、交換する基板(8)のみが上昇し、交換する
基板(8)を取り外し、正常な基板(8)と交換し、交
換する基板(8)を取り外す際とは逆の手順により、正
常な基板(8)を支柱(2)に取り付ける。
ツキガイド(6)に係止しているため、ピストン(17
)により、交換する基板(8)のみが上昇し、交換する
基板(8)を取り外し、正常な基板(8)と交換し、交
換する基板(8)を取り外す際とは逆の手順により、正
常な基板(8)を支柱(2)に取り付ける。
(ト)発明の効果
従って、この発明では、検査針あるいは基板の一部が破
損しても交換は容易となるとともに、ピンヘッダーと基
板間のケーブルは不要となるので場所をとることもない
。
損しても交換は容易となるとともに、ピンヘッダーと基
板間のケーブルは不要となるので場所をとることもない
。
第1図、第2図はこの発明の実施例の一部断面図、第3
図は同部品図の一部平面図、第4図、第5図、第6図、
第7図、第8図は同部品図、第9図はこの発明に使用す
るジヤツキの平面図、第10図は同正面図、第11図は
同斜視図、第12図は従来例の側面図であり、第13図
は同平面図である。 (1)・・・・・・フレーム、(8)・・・・・・基板
、(9)・・・・・・検査針、(13)・・・・・・切
欠部、(16)・・・・・・ジヤツキ。 \哨
図は同部品図の一部平面図、第4図、第5図、第6図、
第7図、第8図は同部品図、第9図はこの発明に使用す
るジヤツキの平面図、第10図は同正面図、第11図は
同斜視図、第12図は従来例の側面図であり、第13図
は同平面図である。 (1)・・・・・・フレーム、(8)・・・・・・基板
、(9)・・・・・・検査針、(13)・・・・・・切
欠部、(16)・・・・・・ジヤツキ。 \哨
Claims (2)
- (1)端部に検査端子を複数固定し、かつ、検査端子固
定部及びその周囲を被覆することにより、支持部を形成
する基板を支柱に複数固定して並設することで、検査端
子の密集する面からなる検査可能領域を形成することを
特徴とするプリント配線板検査機のインターフェース。 - (2)端部に検査端子を複数固定する基板を、支柱に複
数固定して並設することで検査端子の密集する面からな
る検査可能領域を形成するプリント配線板検査機のイン
ターフェースにおいて、基板に基板昇降用のジャッキを
挿入可能な切欠部を設けることを特徴とするプリント配
線板検査機のインターフェース。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60121145A JPS61278768A (ja) | 1985-06-04 | 1985-06-04 | プリント配線板検査機のインタ−フエ−ス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60121145A JPS61278768A (ja) | 1985-06-04 | 1985-06-04 | プリント配線板検査機のインタ−フエ−ス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61278768A true JPS61278768A (ja) | 1986-12-09 |
Family
ID=14803970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60121145A Pending JPS61278768A (ja) | 1985-06-04 | 1985-06-04 | プリント配線板検査機のインタ−フエ−ス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61278768A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4996436A (en) * | 1989-03-07 | 1991-02-26 | French State Represented By The Minister Of Post, Telecommunications And Space | Automatic apparatus for controlling the size of wafer-supporting boats |
US5187431A (en) * | 1990-06-19 | 1993-02-16 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | Universal multicontact connection between an ews probe card and a test card of a "test-on-wafer" station |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5623467B2 (ja) * | 1974-06-26 | 1981-05-30 | ||
JPS58196465A (ja) * | 1982-05-13 | 1983-11-15 | Fujitsu Ltd | 布線試験器接続方式 |
-
1985
- 1985-06-04 JP JP60121145A patent/JPS61278768A/ja active Pending
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