JPS6127685A - 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 - Google Patents

非晶質シリコン太陽電池の製造方法

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JPS6127685A
JPS6127685A JP59147539A JP14753984A JPS6127685A JP S6127685 A JPS6127685 A JP S6127685A JP 59147539 A JP59147539 A JP 59147539A JP 14753984 A JP14753984 A JP 14753984A JP S6127685 A JPS6127685 A JP S6127685A
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JP
Japan
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amorphous silicon
film
layer
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adherently
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Pending
Application number
JP59147539A
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English (en)
Inventor
Hideo Tanabe
英夫 田辺
Seiji Kumada
熊田 政治
Akira Misumi
三角 明
Toshiyuki Matsumoto
松本 敏志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • H01L31/0445PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
    • H01L31/046PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は非晶質シリコン太陽電池の製造方法に係わヤ、
特に非晶質シリコン1層膜の形成方法に関するものであ
る。
〔発明の背景〕
一般に非晶質シリコン太陽電池は、半導体薄膜を利用し
た光電変換素子で構成され、例えば電卓。
腕時計、電子ゲーム等の電源としで広く用いられている
。そして、この光電変換素子は、少なくとも一方が透光
性電極からなる対向電極間に半導体薄膜として通常非晶
質シリコンのp+’t”層を介在させて構成され、透光
性電極側に光を照射させることにより、対向電極間に起
電力が得られる。
しかしながら、このように構成される非晶質太陽電池は
、長時間にわたって光を照射すると、出力が低下すると
いう問題があった。このような問題を改善するものとし
ては、非晶質シリコン1層中に微量のB(ホウ素)をド
ープすると、光照射効果を抑制できることが知られてい
る。ところがこの1層膜中へBのドープが理想的に行な
われないと、完成後の太陽電池は初期の出力が大幅に低
下することになる。例えば、pin形の非晶質シリコン
太陽電池の場合、1層膜中の膜厚方向へのBのドープ量
を、n層側よりもp層側を多くし、しかもBの濃度はp
pmオーダで正確に制御する必要がある。
従来はこの対策として例えばシラン(sta4)に微量
のジボラン(B 2H6)を混合し、プラズマCVD法
によシ非晶質シリコン五層膜を形成していた(第44回
応用物理学会学術講演会25P−L−1゜25a−L−
9)。
しかしながら、気相からの成膜によシ極微量のBのドー
プ量を正確に制御することは極めて困難であシ、また成
膜時にBをドープすると、非晶質シリコン中でダングリ
ングボンドのターミネータとして作用する水素の結合に
悪影響をおよばず恐れがあり、信頼性に乏しかった。
〔発明の目的〕
したがって本発明は、前述した従来の問題に鑑みてなさ
れたものでチシ、その目的とするところは、非晶質シリ
コ71層中の膜厚方向へのBのドープ量を正確に制御可
能にしかつ水素の結合に支障をきたすことなく、信頼性
を向上させることのできる非晶質シリコン太陽電池の製
造方法を提供することにある。
〔発明の概要〕
このような目的を達成するために本発明は、非晶質シリ
コンp+’+n層を成膜した後でイオン打込みによシ、
1層中へBをドープしたものである0 〔発明の実施例〕 次に図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図および第2図は本発明による非晶質シリコン太陽
電池の製造方法の一例を説明するための図であシ、第1
図は一部破断乎面図、第2図祉そのA −A’断面図で
ある。同図において、可撓性および耐熱性を有する、例
えば板厚的100μmの長尺物のステ/レス基板1の表
面に耐熱性を有する高分子樹脂膜2を約5μm程度の厚
さに被着形成する。この場合、この膜形成方法としては
液状の樹脂をスプレーもしくはディップ法等によシ一様
に塗布し、これを約350℃の温度で加熱硬化して形成
する。このようにして樹脂膜2が形成された基板1上に
ステンレスをスパッタして膜厚的2000Xの下部電極
31,32,33,34をそれぞれ所定間隔幅で形成す
る。
次にこれらの各下部電極31,32,33.34が形成
された高分子樹脂膜2上にプラズマCVD法によシ基板
1の温度約250℃でp*’+nの、 順に非晶質シリ
コン膜4を形成する。この場合、非晶質シリコンp+’
+n層をプラズマCVD法で成膜する際の原料ガスは、
SiH4と適量のAr(アルゴン)またはH2(水素)
とを含む混合ガス中に、P層の形成にはB2H6(シボ
ラン)、n層の形成にはPH3(ホスフィン)をドーピ
ングガスとしてそれぞれ少量添加し、1層の形成にはド
ーピングガスは添加しない。
このようにして非晶質シリコンp+’yn層を成膜した
後で加速電圧150KeV、  打込み量2×10 /
cdlの条件でBのイオンの打込みを行ない、p層と1
層との界面にピークをもち、n層側に向けて1層中のB
濃度が減少するようにBをドープする。その後、真空巾
約250℃で30分間アニールする。次に各非晶質シリ
コンpy’+nシリコン膜4が形成された基板1は、前
記各下部電極31〜34と対向する非晶質シリコン膜4
上に各下部電極31.32.33上の一端にまたがって
酸化インジウム(In203)  を約5ooX の厚
さにスパッタリングして透明電極51,52,53゜5
4をそれぞれ被着形成し各光電変換部の出力が直列接続
になるようにする。最後にこれらの透明電極51〜54
上に5iozを約200OAの厚さにスパッタリングし
てバツシベーショントシての8102膜6を被着形成し
、4個直列接続された非晶質シリコン太陽電池を完成し
た。この場合、4個の非晶質シリコン太陽電池の相互の
接続は各透明電極51,52,53.54の電極パター
ンの形成と同時に形成され、また透明電極51の一端部
と下部電極34の一端部には出力電圧域シ出し用の端子
51m、34mがそれぞれ形成される。
このようにして製造された非晶質シリコン太陽電池は、
非晶質シリコンP+l+n層成膜後にイオン打込みによ
シ、i層に極微量のBを正確にドープすることによシ、
初期特性、光照射後の特性ともに優れたものが得られた
。例えば、初期特性は約200ルツクスの螢光打丁で4
個直列接続構造の素子では約2.8Vの開放電圧と約2
5μA/criの短絡電流が得られ、さらにこの素子を
約5000ルツクスの螢光打丁に約1000時間放置後
の変換効率の低下は約5襲以下に抑えるととができた。
なお、前述した実施例においては、非晶質シリコンP+
’+n層成膜後にBのイオン打込みを行なったが、これ
は透明電極形成後、さらにはパックベーション膜形成後
に行なっても全くさしつかえなく、透明電極形成後に行
えば、特性をチェックしなからBのドープ量を制御する
ことも可能である。
また、前述した実施例ではBのイオシ打込みの条件は加
速電圧150 Key、打込量2X10’シ肩としたが
、非晶質シリコン各層の膜厚等によシ、最適条件は変化
するので、適宜最適条件を選定することが望ましい。
また、イオン打込みの条件を経時的に変えることによシ
、容易にi層中OBの濃度勾配を任意に分布させること
ができる。
また、前述した実施例においては、非晶質シリコン膜を
、P+’ln層の順に積層した場合について説明したが
、本発明はこれに限定されるものではなく 、n + 
’ + P層の1蹟に積層した場合でもBのイオン打込
みの条件を変えるととによシロ様の効果が得られゐこと
は勿論である。
また、前述した実施例においては、可撓性基板を用いた
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
ので社なく、ガラス基板を用いても同様の効果が得られ
ることは勿論である。
また、前記実施例において、非晶質シリコン膜を形成す
る可撓性かつ耐熱性を有する基板として、板厚約100
μmのステンレス基板を用いた場合について説明したが
、本発明はこれに限定されるものではなく、このステン
レス基板の代シに板厚約100μmの金属基板、例えば
Fe−Ni合金板または高分子樹脂板として例えばポリ
イミド系のカプトン(商品名)を用いた場合においても
前述と全く同様の効果が得られた。また、これらの基板
の厚さも特に100μmに限定されるものではない。
また、前記実施例において、基板上に形成する高分子樹
脂薄膜は、約5μmの厚さに形成した場合について説明
したが、との膜厚は基板の板厚によっても異なるので、
概略0.1〜100μmの範囲で形成すれば良い。この
場合、膜厚は0.1μm以下では絶縁性が得られず、1
00μm以上となると折シ曲げたときに膜剥れが生じる
ことから、との膜厚は0,1〜100μmの範囲が良く
、さらには、膜特性、生産性等の点から考慮して2〜1
0pmの範囲が最適である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明による非晶質シリコン太陽電
池の製造方法によれば、非晶質79371層中に理想的
かつ正確にBドープを行なうことができるので、極めて
良好な初期特性、光照射後の特性が得られ、品質、信頼
性の高い非晶質シリコン太陽電池が得られるという極め
て優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明による非晶質シリコン太陽
電池の製造方法の一例を説明するだめの一部破断乎面図
およびそのA−A’断面図である。 1・・・・ステンレス基板、2・・・・高分子樹脂膜、
31.32,33,34・・・―下部電極、34a・・
―・端子、4・・・・非晶質シリコン膜、51.52,
53.54−@Φ・透明電極、51息・・・・端子、6
I・・−8102膜。 fllA”110橋明7”H,> ++−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板と、前記基板上に形成された第1の電極と、前記
    第1の電極上に形成された非晶質シリコン膜と、前記非
    晶質シリコン膜上に形成された第2の電極とを少なくと
    も備えた非晶質シリコン太陽電池において、前記非晶質
    シリコン膜のi層中にイオン打込みによりホウ素をドー
    プさせることを特徴とした非晶質シリコン太陽電池の製
    造方法。
JP59147539A 1984-07-18 1984-07-18 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 Pending JPS6127685A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6197874A (ja) * 1984-10-18 1986-05-16 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力素子の製造方法
JPH0232569A (ja) * 1988-07-22 1990-02-02 Mitsubishi Electric Corp アモルファス太陽電池
JP2009267056A (ja) * 2008-04-24 2009-11-12 Nitto Denko Corp 太陽電池用基板、太陽電池素子、太陽電池用モジュールおよび太陽電池用基板の製造方法

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