JPS61276147A - 光磁気記録用媒体 - Google Patents

光磁気記録用媒体

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JPS61276147A
JPS61276147A JP9165485A JP9165485A JPS61276147A JP S61276147 A JPS61276147 A JP S61276147A JP 9165485 A JP9165485 A JP 9165485A JP 9165485 A JP9165485 A JP 9165485A JP S61276147 A JPS61276147 A JP S61276147A
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JP
Japan
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film
elements
layer
magneto
recording layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP9165485A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanobu Kobayashi
小林 政信
Mutsumi Asano
睦己 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication of JPS61276147A publication Critical patent/JPS61276147A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は光磁気記録用媒体、特に希土類と遷移金属と
を主成分とする合金薄膜を記録層とした光磁気記録用媒
体に関する。
(従来の技術) この種の希土類(REと称する)−遷移金属(TMと称
する)系の合金薄膜(以下、RE−7M膜と称する)は
最も素晴な光磁気記録用媒体の一つとして知られ、例え
ば、特開昭52−31703号(特公昭57−20E1
91号)及び特開昭52−1091!33号(特公昭5
7−20882号)公報に開示されている。
この従来のRE−7M膜は具体的にはREとしてCd、
Tb、 ay等及びTMとしてはFe又はGoを主成分
とした合金薄膜である。そして、このRE−7M膜は膜
面に対して垂直な磁化をもついわゆる垂直磁化膜である
。また、RE−7M膜を用い形成した光磁気記録用媒体
は、例えばtp腸程度のスポット径に絞ったレーザビー
ム及び外部磁界を用いた熱磁気書込み方式によって、1
08ビツト/c腸2という極めて高密度な記録が可能で
あり、原理的には、無限回に近い消去及び再書込みの繰
り返しが出来るという著しく優れた特色を有している。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、RE−TM膜は非常に耐食性が悪いとい
う重大な欠陥を有している。
先ず第一に、腐食として孔食の発生及び発達がある。こ
の孔食はRE−鉄系膜においては短期間のうちに進行す
る。しかし、この種の腐食は膜表面に保護膜を形成する
ことによって防止することが出来、その保護膜として、
各種の酸化物とか窒化物を使用出来るので、その選択の
範囲は広い。
このRE−7M膜の第二の腐食として希土類の選択酸化
がある。希土類は遷移金属元素に比べて著しく酸化され
易いために選択的に酸化され、これがためRE−7M膜
の組成に変動が生じ、このRE−7M膜が有する種々の
磁気特性を変化させてしまう、特に、この腐食に起因し
て保持力Heの変化が大きくなり、このため、記録が極
めて不安定となる。
この選択酸化の防止に窒化物が有効とされているが、こ
の窒化物のRE−7M膜への被着は反応性スパッタ法を
用いて行う必要があるため、製造装置の面で制約が多く
利用が困難である。
このように、従来の光磁気記録用媒体は耐食性に関して
或いはその作製の容易性に関して満足出来るものではな
い。
従って、この発明の目的は耐食性に優れ、しかも、製造
方′法に制約が少ない新しい光磁気記録用媒体を提供す
ることにある。
(問題点を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この発明は、 RE−TN
系合金SSを記録層とし、この記録層上に表面保護層と
してCa−M垂直磁化膜を被着して成る光磁気記録用媒
体である。ただし、この場合、REを希土類元素から選
ばれた一種以上の元素としかつTMを遷移金属元素から
選ばれた一種以上の元素とする。
また、このCa−M垂直磁化膜はGo−Mを主成分とす
る層で、COとMから成る場合もあり、また、COとM
以外に他のものが含まれる場合もある。
このMは表面保護層のhap相を安定化しかつこれを不
働態化するNo、W、V、Cr及びこれらに類似する元
素のうちから選らばれた少なくとも一種以上の元素を含
むものとする。
このhQp相の安定化はGo−M垂直磁化膜を得るため
に必要である。
(作用) このように、この発明においては、RE−丁に系合金薄
R* (但し、REは一種類以上の希土類元素であり、
TNは一種類以上の遷移金属である)の記録層上に表面
保護層としてGo−Mを主成分とした層(以下、単にC
o −M lという)を被着しでいる。
このGo−M層の作用は次の通りである。
第一に、Go−M層は不m態層を形成するので。
外界からの酸素の侵入を抑える働きをする。
第二に、Mは侵入酸素のターゲットとして作用すること
になると推測される。
第三に、Go−M層は垂直磁化膜であるため、RE−T
M系垂直磁化膜の垂直性を劣化させる恐れはない。
このようなCo−M層の作用により、後述する如く、記
録層の組成変化が大幅に改善されるため保持力は劣化し
ないと共に、記録層、における孔食の発生も防止される
(実施例) 以下1図面を参照して、この発明の光磁気記録用媒体の
一実施例につき説明する。
第1図はこの発明の光磁気記録用媒体の一実施例を説明
するための構造を概略的に示す断面図である0図におい
て、lは基板で、この実施例では充分平滑でかつ透明な
、厚みが例えばlamのガラス基板を用いたが、樹脂基
板とすることも出来、厚みもこれに限定されるものでは
ない、この基板lの上側に記録層2が設けられている。
この実施例では、記録層2としてTb2s Fe7z膜
を用いて形成し、その膜厚を80n−とした、さらに、
この記録層2上に10On鳳のCo−M層3を被着した
。この場合、GoとMとの相対量は垂直磁化膜が得られ
る程度の範囲内で種々設定することが出来る。
記録層2としてTbリッチ組成(磁化曲線に関して)の
Tb2. Fe、2膜を用いた場合について、この発明
の光磁気記録用媒体の構造(基板/ Tb −Fe/ 
C。
−M)(実施例)と、保護層としてCoMを用いた構造
(基板/ Tb −Fe/ Go)  (比較例I)c
7)場合と、保護層を被着していない構造(基板/Tb
−Fe)  (比較例■)の場合とにおける保持力Hc
に関しての試験結果を表■に示す。
表I この実験は光磁気記録用媒体を120 ”C!のベーク
炉中に5時間及び20時間保存したときの保持力Hcの
、初期値Hc6に対する変化を調べたものである。
実施例の説明 この表Iからも明らかなように、この発明による光磁気
記録用媒体では選択酸化がほとんど発生していないこと
を推察することが出来る。
すなわち、この実験では全てTbリッチのT bZ8 
F e tt膜を記録層2として用いているため、Tb
の選択酸化が起る場合には、保持力Haが増大し、さら
に酸化が進行すると、 Feリッチ組成に変化するいわ
ゆる反転した゛磁化曲線を示すはずであるから、この場
合には保持力Haは減少しはじめるはずである。
ところが、実施例に示すように、この発明の光磁気記録
用媒体では、5時間の経過後はもとより20時間程度の
保存時間の経過後であっても、保持力Haの変化がほと
んどみられず、従来の選択酸化が進行していないことが
推察される。この保持力Hcの若干の減少は高温保存に
伴なう一種の緩和現象によるものであると考えられてい
る。
孔食について試験をしたところ、この発明の実施例では
孔食に対しても強く、例えばNaC1水溶液への浸漬や
、85℃で85%の相対湿度雰囲気中でも孔食は全く発
生せず、磁気特性及び光磁気特性の変化も全くみられな
かった。
尚、この発明の実施例の構造の光磁気記録用媒体につき
書込み及び消去の試験を行った。この場合1G+++W
以下の半導体レーザ光を用いて1gg以下の書込み時間
で記録書込みを行って、約14m以下の径の微小記録を
得た。また、この試験により100万回以上の消去及び
書込みの繰り返しに耐えることを確認した。
比較例の説明 比較例I 表Iに比較例I及び■を示しである。
比較例Iは保護膜としてCo膜を用いた場合であるが、
このGoはGo−Mよりも不働態膜が弱いこと及びGo
のみでは酸素のゲッター作用がないことから、選択酸化
が進行していることが分かる。また、COのみでは面内
磁化膜となるため、Tb−Feの垂直磁化性に影響し、
磁化曲線の形状劣化がみられた。また、Coの面内磁化
は基板側から測定したカー(Kerr)  ヒステリシ
スループにも影響してTb−FeWAを薄くするにつれ
てカーヒステリシスループの形状の劣化が益々大きくな
っ・てしまう、これに対し、この発明に用いるGo−M
膜を用いた場合にはカーヒステリシスループの形状の劣
化はほとんどみられなかった。
比較例I 比較例Iは記録層2上に保:l!膜を全く設けなかった
場合であり、この場合には、5時間後にはHc/Hco
が4.5となり、20時間後には磁化曲線がFeリッチ
形状へと反転した。
(発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、この発明による光
磁気記録用媒体によれば、従来のこの種の記録用媒体よ
りも耐食性が優れており、また、書込み及び消去の反復
性が著しく増大し得る利点がある。
初期保持力からの保持力の変動がほとんどないので、記
録の安定性が良い。
さらに、このGo−M膜も垂直磁化膜となるため、RE
−7M膜の垂直磁化性を劣化させることがなく、従って
従来よりも読出しの特性が良くなる。
さらに、記録層としてRE−7M膜を用いているため、
高密度記録が可能となると共に、記録感度も向上する。
またCo−M膜は通常の薄膜作成方法であるスパッタリ
ング法或いは真空蒸着法を適宜に用いて容易に形成する
ことが出来、従来のように形成方法に制約を受ることが
ないという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の光磁気記録用媒体を説明するために
、その構造を概略的に示した線図である。1・・・基板
、     2・・・記録層3・・・表面保護Jii(
Go−M層)。 特許出願人     沖電気工業株式会社f:基糎 2 : 富乙鉢層 J:co−pイIfl(表i係會1【)t)米風気直嬬
用型8奎の前置バ0 第1図 昭和61年6月27日

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)REを希土類元素から選ばれた一種以上の元素と
    しかつTMを遷移金属元素から選ばれた一種以上の元素
    としたRE−TM系合金膜を記録層とした光磁気記録用
    媒体において、 該記録層上にCo−Mを主成分とする層を表面保護層と
    して被着して成り、 該Mを、hcp相を安定化しかつ不働態を形成する元素
    のうちから選ばれた一種以上の元素とする ことを特徴とする光磁気記録用媒体。
  2. (2)MをMo、W、V、Cr及びこれらに類似する元
    素から選ばれた一種以上の元素とすることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の光磁気記録用媒体。
JP9165485A 1985-04-27 1985-04-27 光磁気記録用媒体 Pending JPS61276147A (ja)

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