JPS61270673A - 電気試験装置における通電機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） ごの発明ば１−ド両端に電極を備えた被試験物の電気的
試験に係わり、被試験物の電気的特性を試験するだめの
電気試験装置における３Ｔｉ＠機構に関する。

（従来の技術） 従来、トート両端に電極を備え、ｉｌＴ！電試験全試験
る被試験物として、例えば、酸化亜鉛（ＺｎＯ）を特性
要素として用いた酸化町ｕｉ　ｈａｓ　避雷器が使用さ
れている。そして、この避雷器の製品検査のノ、：めの
試験として、絶縁抵抗試験、放電酌量試験、バリスタ電
圧試験などの電気的な通電試験がｊテわれている。各試
験内容の概略を以下に説明する。

（１）　絶縁）１記抗試験：　酸化亜鉛避雷器に１００
０■の電圧を印加して、絶縁抵抗計により絶縁抵抗値を
測定する。このとき、測定値が２０００ＭΩ以−Ｌなら
ば合格、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定する。

（２）　放電酌量試験：　酸化亜鉛避雷器に所定の雷イ
ンパルス人電流、例えば、電流値６ＫＡ、波形４×１０
μａ（波頭４μｓ、波尾ｌＯμＳ）を通電する。このと
き、波形に乱れがなければ合格、乱れがあれば不合格と
判定する。

（３）　バリスタ電圧試験（動作開始電圧試験）：　酸
化亜鉛避雷器に商用周波数電圧を印加し、避雷器に流れ
る抵抗分電流波高値が１ｍＡになるときの電圧を測定す
る。このとき、測定値が６．７ＫＶ〜８．　ＯＫ　Ｖの
範囲ならば合格、前記範囲外ならば不合格と判定する。

ただし、上記の範囲内にあっＣも、電圧指示が不安定な
ものは不合格と判定する。

このように、酸化亜鉛避雷器が完成すると上述した試験
がそれぞれ実施されていた。この際、試験作業者は各試
験の通電部に直接避雷器を装着し、高電圧の使用から安
全を確保するために退避した後、避雷器に通電を行って
いた。そし７て、得られた試験結果に基づいて避雷器の
製品としての合否を判定するとともに、試験の終了した
避雷器をｊｍｍ師部ら直接除去していた。

（発明が解決しようとする問題点） とごろが、前述した従来の試験方法でｊｅｔ　、　ｉ！
ｌ！雷器などの一１下両１瑞に電極を備えた被試験物の
試験装置への装着、試験作業者の退避、被試験物へのｊ
ｍ電、そして被試験物の除去といった作業−Ｌ稈を必要
とするので能率が良くないばかりか、被試験物のｊｍｍ
師部の着脱に際して、試験作業者の感電事故などの危険
が少なくなかった。

ごの発明のｌ」的は、上下両端Ｃ＝電極を備えた被試験
物、例えば、避雷器などの製品試験に際して、＋（Ｄ作
’Ｊ工程の能率を向上させるとともに、試験作業者にと
って安全な電気試験装置におりる通電機構を提供するこ
とにある。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） この発明は上下両端に電極１５Ａ、１５Ｂを備えた被試
験物、ｙの電気試験装置において、駆動機構りにより所
定の軌跡に沿って動作されるＩｌｌ送機構Ｃに装着され
、被試験物Ｊの上下両端の電極１５Ａ、１５Ｂをそれぞ
れ着脱可能に把持する把持機構■（と、 前記把持機構Ｈの移動軌跡と対応する位置において、支
持手段３Ａ、３Ｂ、４Ａ〜４Ｃにより支持され、かつ被
試験物Ｊの上下両端の電極＋５Ａ。

１５Ｂと電気的に接触する上部及び下部の固定電極２８
Ａ、２８Ｂと、 による構成を採用している。

（作用） この発明は前記構成を採用したことにより、次のように
作用する。

ずなわら、被試験物の！−十両端の電極をそれぞれ把持
機構乙こ把持し、駆り」機構により）歓送機構を動作ざ
一υると、把持機構は被試験物を把持した状態で所定の
経１１３で）歓送される。

、二のとき、前記把持機構に把持された被試験物の一１
丁両端の電極は、把持機構の１般送経路に対応する位置
に設置された十ドース１の固定電極に電気的に接触され
る。そしζ、この接触状態４ｍおいて、各固定電極に接
続された所定の装置を動作さＭ、被試験物−・の通電が
行われる。

（実施例） 以（・、この発明を酸化亜鉛避雷器の自動試験装置にお
いて具体化した一実施例を第１〜１３図に従って説明す
る。

第１・、２図の符号１ば試験装置機構部を示し、この機
構部１ば楯略的に見て基台２と、同基台２の上部に装着
された駆動殿横１）と、同駆動機構１）上部に装着され
た１般送機構Ｃと、前記１１ｉ！送機横０に装着された
把持機構１（と、ごの発明の主要部であって、前記■送
機構０の外倶１方において基台２の上面に立設され、か
つ、上下一対の複数組の電極支持アーム３Ａ、３Ｂを水
平に片持ち保持した３絹のフレーム４Ａ〜４Ｃよりなる
支持手段と、更に、同しくこの発明の主要部であって、
１１１記フレーム４Ａに装着された第１プレ充電装置Ｆ
１の電圧印加部「１と、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印
加部ｆ２と、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ
１と、放電耐は試験装置Ｔ　Ｉの通電部ｔｉと、第２絶
縁抵抗試験装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２と、バリスタ電圧
試験装置ＢＶの電圧印加部１（ｂ■とにより構成されて
いる。

そこで、前述した各哉横について、順次詳述する。

まず、最初にｌｉｔ！送機構Ｃ及び駆動機構りを第１゜
２図について述べると、５は前記基台２にイｆ設固定さ
れた支持フレームであって、その上部にはブレーキ機構
を内蔵する駆動モーター６を備えた駆動機構ｒ）が装着
され、同駆動機構りには、前記モーター６を、所定時間
（例えば、７．５秒）の停止と、所定時間（例えば、２
．５秒）の駆動に交互に間欠的Ｃ３二制御するための割
出中確認マイクＩ：ｌＩスイッチ７が接続されている。

更に、前記駆動機構１〕の１部には、同機構りによって
回転される１１２送槻構Ｃが設置されている。

前記１ｍｌ！送機横Ｃについて述べると、８は円形状の
回転基板、９は第３．４図に示すように、前記基板８の
外縁部に対し等間隔にボルトで締着された祖数（この実
施例では１６絹）の支持部材、１０は各支持部材９の上
部に載置固定された円形状の蓋板であって、これらの部
材により搬送機構Ｃが構成され、第１図において蓋板１
０の中心０を中心としてＰ矢印ノ）向へ回転可能である
。

次Ｇこ、前記搬送機構Ｃの各支持部材９にそれぞれ装着
された把持機構Ｈについて、第３．４図を中心るこ説明
する。

１１Ａ、１１８は前記各支持部材９のト千両端部にそれ
ぞれボ月用・により締付固定された絶縁材よりなる上部
及び１部の支持アームであって、支持部４Ａ９とで側面
がほぼ］形状の支持枠１２Ａ〜１２Ｐを構成し、全体と
して第１図に示すように平面放射状に配設されている。

この実施例では、第１図に示す前記各支持枠１２八〜１
２Ｐの停止位置を、それぞれ第１ステーシヨンＳＴＩ〜
第１６ステーシヨンＳ　ｉ’　］　６としている。

１３Ａは前記各上部支持アームＩＩＡの先端に形成した
孔１１ａに上下方向に挿通された円柱状の」二部把持電
極であって、その上端は上部支持アームＩＩＡの先端に
固定したドーナ・ノツ形状のリング部材１４Ａに嵌合さ
れ、ねしで締付されている。前記上部把持電極１３Ａの
下面には、被試験物である避雷器、Ｉの上端の電極１５
Ａを嵌入するための係止孔１３ａが形成されている。１
６４よ上部把持電極１３Ａの下端背面（第４図右側）に
止着されたほぼ半円筒状の係止板であゲて、避雷器、１
の装着時にその上端部を当接して上端の電極１５Ａを係
止孔１３ａに嵌合し易くしている。

１３Ｂは同じく下部支持アームＩＩＢの先端部に形成し
た孔］１ｂに」１下方向の摺動可能に挿通された棒状の
上部把持電極であって、そのに端には短円柱状の受部材
１７がＩ（ｙ着され、同受部４Ｊ　＋７１而には、避雷
器、Ｉの１”　５ｇｌの電極１５　Ｂを体重する係１１
イ］、１７．３が成形さｔ′１ている。ソ１、二の係Ｉ
Ｉ孔１７ａＬこは］υｉ而面」状の見聞１７１）が嵌合
されている。］　８　＆；Ｉ前記前記上部把持電極１　
ＩＩ　Ｏｊｌ半部に巻着され、受部材１７の下面とＦ皿
支持−ｌ−ム１１ＢのＬ面との間に介装されスニスプリ
ングであって、下部把持電極１３Ｆ３を１一方に付勢し
゛（いる。

１４Ｂ、１４Ｃ番１１それぞれ下部把持電極ＩＸ（１３
のＦＩ′１Ｉｉｉ１部に嵌合され、ねじで締付されたリ
ング部ヰ４であって、それぞれ所定の間隙Ｇをもって離
隔され、−１部のリング部材１４Ｉ３は、常には１１１
記下部支持アーＪい１１１３の下面に当接され、十′Ｍ
１；把持電極１　：３　＋１の１−限位置を規制し−（
いる。１シー１゜が把持機構１１の構成説明である。

１９ば第４．５図に示すように、下部把持電極１３１３
の近傍で下部支持アーム１１Ｂの先端Ｆ面に、ポルｌ−
２０ａ及びナソ）２（ｌｂで締着された］゛字形状の導
電性金属よりなる避雷器Ｊ（１！］般出用案内ピンであ
って、下部把持電極１３［３が手動し１ま たとき、避雷器、１の下部を前方へ押圧して避雷器４Ｊ
が前方へ転倒されるようになっている。２１は一端を前
記ポル）２０ａの１１０部に接続し、他端をリング部祠
１４　Ｂにポル］・２２により接続したリード線であっ
て、案内ビン１９とリング部材１４Ｂを電気的に接続し
ている。

２３Ａ〜２３Ｆ）は第１．２図６，１示ず、Ｊ：うに１
６１固のステーションＳ　’Ｔ’　ｌ〜１６のうち、第
１，２゜１５．１６の４つのステーションと対応するよ
・うに、支持フレーム５より側力へ突設された４本の１
７字形状の保持アーム２４Ａ〜２４■）のそれぞれ上端
部に対し、十向きに固定された第１〜４エアシリンダで
あって、第５図に示すように、そ、ｈらのビス］・ンロ
ノド２３ａのに端部しこは１−−ナソ・ン形状の係合板
２３ｂが固着されている。そし゛（、前記把持機構Ｈの
下部把持電極１３　Ｂに１１−着したリング部材１４Ｂ
、１４Ｃが各ステーションＳ　Ｔ１．５Ｔ２．ＳＴＩ　
５．ＳＴＩ　６に移動停止１−されると、その間隙Ｇに
前記係合板２３　ｂ　ｌ）＜Ｂ　＜進入されるようにな
っている。

ｒｉｉｉ記エアシェアシリンダ２３Ａ〜２３Ｄそれぞオ
フ係合板２３ｔ）の昇降動作を制御するための電磁弁（
図示略）が接続されており、更に、前記係合板２３ｂの
１−下一位置に対応して、前記係合板２３ｂのＷ降動作
の上端位置及び下端位置を確認するための、上端及び下
端の′５１１認リミットスイッチ（図示略）が接続され
ている。

前記第１．２エアシリンダ２３Ａ、２３Ｂの電磁弁には
、そわぞれフソトスイソナＦＳ］、、ＦＳ２が接続され
、これらにより一対の＋Ｕ入部ＣＬＣ１が構成されてい
る。又、前記第３．４エアシリンダ２３Ｃ，２３Ｄ、、
１Ｍ出用案内ビン１９及び第２図に示す支持脚２６によ
り支持された不良品用及び良品用の１般出シュー１−２
５Ａ、２５Ｂにより、それぞわ不良品及び良品のＩＩＲ
山部（”、２．Ｃ３が構成されている。

前記第３．４ダニアシリンダ２３Ｃ，２３１）の電磁井
目後述する動作制御部２７からの信号により制御される
ようになっている。

次に、第１プレ充電装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１の構成を
第６，７図について説明すると、２８Ａ。

２８Ｂはそれぞれ−に１部電極支持アーム３Ａ及び下部
把持電極支持アーム３Ｂの先端部に対し７、ｒ１′、い
に対向するようにボルトにより締着された弾１１１．導
板よりなる断面口形状の一］一部及び下部の固定電極で
あって、上部固定電極２８Ａの下面には上部把持電極１
３Ａの上端面が、下部固定電極２８Ｂの−に面には下部
把持電極１３Ｂの下端面がそれぞれ摺接される。２９．
２９はそれぞれ前記ｌ二下両固定電極２８Ａ、２８Ｂに
接続されたり−Ｆ線−であって、それらの他端は図示し
ない第１プレ充電装置Ｆ１に接続されている。

なお、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印加部ｆ２、第１絶
縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ１、第２絶縁抵抗試
験装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２、及びバリスタ電圧試験装
置ＢＶの電圧印加部ｂｖは、それぞれ前記第１プレ充電
装置Ｆ１の電圧印加部ｒｌと同様の構成を採用している
ので、それらの構成説明は省略する。

Ｉ、Ｓｌはフレーム４Ａの側部に取着された避雷器Ｊの
自ｊＨ（確認用の第１リミソ１スイツチであって、その
回動支軸３０には、に１用い接触子３１が水＋１７に片
持支持され、その先端は把持機構１１に肥持さねた避雷
器、ｙと接触可能である。そして、避雷器、Ｊとの接触
時には、回動支軸３０を中心に水平回動され、避雷器、
Ｊの存在を６′に認するようになっている。

なお、前記第１リミットスイッチＬＳＩと同し目的で、
同様に構成された第２リミノＩ・スイッチＬ　Ｓ　２は
第１図に示ずようにｈり電耐指試験装置ｉ”Ｉのｉｍ電
部ｔｉのフレーム４Ｂに、第３リミットスイッチ１．、
３３　目バリスタ電圧試験装”ｇＥ３Ｖの電圧印加部ｂ
　ｖのフレーム４Ｃにそれぞれ設けられている。これら
のりミツトスイッチＬＳＩ〜１．Ｓ３は後述する中央処
理装置ＣＩ）ｌＪ３２に接続されている（第１３図参照
）。

次に、放電耐量試験装ＷＴｌの通電部ｔｉの構成を第８
，９図について説明すると、３３．３３ｔ４上９ｉ及び
下部の電極支持アーム３Ａ、３Ｂの先端部に取着された
ｌ一部及び下部の電極取付部材であって、取付板３３ａ
と、同板３　、’ｌ　ａに設けられた穴に垂直に嵌合さ
れた筒体３３ｔ）とで構成されている。３４．３４は基
端を１・−１ζ両固定電極２８Ａ、２８Ｂに溶着し、前
記′？θ１体３３ｂ、３３ｂに摺動１丁能に挿通された
上部及び下部の取付棒である。上下両固定電極２８Ａ、
２８Ｂはそれぞわホルｈ　３５　ａ　、ナツト３５ｂ４
１：より上下両電極取付部材３３．３３に取着されでい
る。３６は前記ポルト３５ａに巻装され、１一部固定電
極２８Ａと−に部の電極取付ｎ１；材３３との対向面、
及び下部固定電極２８Ｂと下部の電極取付部口３３との
対向面にそれぞれ介装されたスプリングであって、−ｌ
ユ下両固定電極２８Ａ、２Ｂ＋３を７？′いに接近する
方向に付勢している。３７．３７は上部固定電極２８Ａ
及び下部固定電極２８Ｂの側面に締着された端子板であ
って、同板３７，３７にはり一１′線２９゜２９が接続
されて放電耐は試験装置′１゛目こ接続されている。

次に、前記試験装置機構部ｌの自動制御の構成を第１３
図に従って説明する。

３２は中央処理装置Ｃ１，）　［Ｊであ、って、こｔｌ
には読み出し専用メモリーＲＯＭ３８及び読み出し書き
込め両用メモリーＲＡＭ３９が接続さね、ディスプレー
（４０及びプリンター４１が接続されている。又、前記
ＣＰＩＩ３２には、電圧印加部ｆｌを含む第１プレ充電
装置Ｆｌ、電圧印加部ｆ２を含む第２プＩ／充電装置Ｆ
２、抵抗検出部ｒ１を含む第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１、
通電部ｔｉを含む放電耐量試験装置１゛Ｉ、及び抵抗検
出部ｒ２を含む第２絶縁抵抗試験装置Ｒ２、電圧印加部
ｂｖを含むバリスタ電圧試験装置Ｂ　Ｖがそれぞれ接続
されている。

２７は前記ＣＰ　（Ｊ　３２に接続された動作制御部で
あって、この動作制御部２７は割出中確認マイクロスイ
ッチ７を付属した駆動機構Ｄ、不良品；般出部０２を構
成するエアシリンダ２３Ｃの図示しない電磁弁、及び、
良品搬出部Ｃ３を構成するエアシリンダ２３Ｄの図示し
ない電磁弁にそれぞれ接続されるとともに、良品及び不
良品の１船出部Ｃ２、Ｃ３の動作を自動制御するように
している。

次に、前記のように構成した酸化！ｌＩＩ鉛避雷器の自
動試験装置の作用について説明する。

まず、自動試験装置の電源をＯＮにし、駆動機構りを動
作させるとともに、搬送機構Ｃを間欠的な周回運動状態
とする。このとき、割出中蒲認マイクロスイッチ７が割
出を開始しＯＮ状感となると、駆動機構りの駆動モータ
ー６が起りｊさねて、基板８の回転により搬送機構Ｃが
周回連動を開始する。駆動モーター６が始動して所定時
間（２，５秒）１多、割出中確認マイクロスイッチ７が
割出を終了しＯＦ　Ｆ状態になると同時に、駆動モータ
ー６はその内蔵するブレーキ）幾構により停止１−され
、ｔｉｌｌ送機横Ｃの周回連動は所定時間（７，５秒）
停止１−状態となる。

このように、搬送機構Ｃは、前記駆動モーター６の間欠
動作（２，５秒間の作動、７．５秒間の停止］−）によ
り、間欠的な周回運動を行う。

次に、避雷器、■の各種試験を行うには、搬送機構Ｃが
停＋１−され、例えば、第１図に示す支持枠１２Ａが第
１ステーシヨンＳ　′Ｖ］に伸１）−シた状態において
、フットスイノ千Ｉ＝”　Ｓ　ｌを操作する。すると、
図示しない電磁弁が作動し２て、第１工了シリンダ２３
Ａのピストン１１ノ１２３ｄが下降され、把持機構１１
を構成する上部把持電極１３Ｂ’Ｆ端θ）リング部＋Ａ
１４Ｂ、ｚｃ間の間隙Ｇに進入していイ）係合板２３Ｃ
により、前記リング部材１４０がド勅されて前記下部１
’！Ｌｌ電極１３１３がスプリング１８のばね力に抗し
て下りへ移動される。　前記ビスＩンロノＦ’　２３　
ａの下降動作は、その最Ｆイ装置で図示しない１゛端確
認リミットスイッチの作動により自動的に停＋トされる
。

ここで、被試験物である避雷器、１の下端の電極１５１
３を受［１１１，１７ｂに嵌合して垂直に支持するとと
もに、フソトスイソチドＳｌＯ月榮作を解除すると、図
示しＸｆい電磁弁が作動して、第１工了シリンダ２３Ａ
のピストンｌ：］　ソｌ”　２３　ａが−１−昇され、
スプリング１８の付勢力により前記下部把持電極１３　
Ｂは上Ｗする。このとき、前記避雷器、１の子端の電極
１５Ａを上部把持電極１３Ａの係１１一孔１３ａに嵌入
し、避雷器、１を把持機構１−（に装着する。

支持枠＋２Ａは、所定時間（７，５秒）が経過すると停
止］−状態を終了し、所定時間（２，５秒）で第１図に
示した中心０を中心に右回り（矢印［）方向）へ所定角
度（２２，５度）の角度で間欠回動（以後同様）し、次
に、第２エアシリンダ２３１３とり・ｊ応する第２ステ
ーシヨンＳＴ２まで移動して停止する。

第２ステーシヨンＳ　′ｒ２においても、支持枠１２Ａ
に対しフッ］・スイソチドＳ２４こまり、第１ステーシ
ヨンＳＴＩで述べた操作と同様の操作で避雷器ｊを把持
さセることもでき、例えば、ステーションＳＴＩで、避
雷器、１の把持を忘れたときなどに使用できる。

支持枠１２Ａは７．５秒が経過すると２．５秒で第３ス
テーシヨンＳＴ３へ移動し、さらに第３ステーシヨンＳ
　Ｔ　３で、７．５秒間停止した後、２．５秒間で第４
ステーシヨンＳＴ４へ移ｔｄＪする。

移動途中、支持枠１２Ａに把持された避雷器Ｊは、第４
ステーシヨンＳ　ｉ’　４の直前で第１リミ・ノトスイ
ソチＬ　Ｓ　Ｉの接触子３１と接触し、同すミソトスイ
ソチ１．Ｓｌが作動される。すると、同すミノ１〜スイ
ッチＬＳＩからＣＰＩＪ３２−２製品確認信号が伝送さ
れ、ＣＰ　ｔＪ　３２はＲＯＭ３８に予め入力された第
１プレ充電装置動作ブし１グラム、第２プレ充電装置動
作プログラム及び第１絶縁抵抗試験動作プログラムを順
次読み出しする。

そして、支持枠１２Ａが第４ステーシヨンＳ′Ｆ４に停
止にすると、第６，７図に丞ずように、この発明の主要
部、ずなわら、通電機構の一つである第１プレ充電装置
電圧印加部ｆ１の−に１部固定電極２８Ａの下面に下部
把持電極１３Ａの上端部が、下部固定電極２８Ｉ３の上
面に下部把持電極１３Ｂの下部１部がそれぞれ自動的に
当接する。このとき、駆動機構１）の割出中確認マイク
ｌ−１スイッチ７より駆動停止１信号が動作制御部２７
　ヲｊｍ　ｕ−（ＣＰ　１１３２へ伝送されると、ＣＩ
）　［Ｊ　３２は第１プレ充電装置Ｆｌに対し７、第１
プレ充電装置動作プログラムに基づいて動作信号を伝送
し、第１プレ充電装置Ｆ１を動作さ一ロる。そして、把
持機構１１に把持された避雷器、Ｉには、第１プレ充電
装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１の上下両固定電極２８Ａ、２
８＋３を通じて電圧が印加され、第１絶縁抵抗試験を行
うための予備充電が行われる。

支持枠＋２Ａは７．５秒間停止した後、２．５秒間で第
５ステーシヨンＳＴ５へ移動停止すると、前記第４ステ
ーシヨンＳ”ｒ４と同様に、電圧印加部ｆ２の上下両固
定電極２８Ａ、２８Ｂと支持枠１２Ａの上下両把持電極
１３Ａ、１３Ｂとがそれぞれ当接する。このとき、割出
中確認マイクロスイッチ７からＣＰＩＪ３２へ駆動停止
信号が伝送され、ＣＰＩＪ３２は既にＲＯＭ３８より読
み山しされた第２プレ充電装置動作プログラムに基づい
て、第２プレ充電装置Ｆ２へ動作信号を伝送し、避雷器
Ｊに電圧が印加されて再び予備充電が行われる。

支持枠１．２Ａは、第５ステーシヨンＳ　Ｔ５に７゜５
秒間停止した後、２．５秒間で第６ステーシヨンＳＴ６
へ移動する。

支持枠１２Ａが第６ステーシヨンＳＴ６に停止卜すると
、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ１の上下両
固定電極２８Ａ、２８Ｂと支持枠１２Δの上［・両把持
電極１３Ａ、］３１（とがそれぞ才９自動的に当接する
。このとき、割出中確認マイクＩ：１スイッチ７から（
：　Ｉ）　１１３２へ駆動体１１−信号が伝送され、Ｃ
Ｉ）　ｔｌ　３２　ｉｌｌ既にＲＯＭ　３８により読ゐ
出（ッされた第１絶縁抵抗試験（）ノ作プログラムに基
づいて、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１へり１作信号を伝送
し、第１絶縁抵抗試験装置Ｒｌを作動さ一口る。避雷器
、■に（３１１下固定電極２８Ａ、２８Ｂを通Ｃ１；７
１０００Ｖの電１１−が印加され、絶縁抵抗値が測定さ
れる。このときの測定値信号側よＣｌ）　ｊＪ　３２・
・・伝送される。

（冊Ｉ　ＩＪ　３２は、前記測定値信号が２０　（１０
ＭΩ以上なｊ＋）ば合格とヤ１定し、良品判定信号をＲ
Ａ　ＭＢ２）に記憶さ１！る。又、２０００ＭΩ以下な
らば不合格と判定し７、後に、この支持枠＋２Ａに把持
された避雷器、Ｊを第１５ステーシヨンＳ　Ｔ　ｌ　５
において、不良品１１！出部Ｃ２により除去するための
不良品判定信号をＲＡ　Ｍ　３９に記憶させる。

支持枠＋２Ａが第６　ステーショア　Ｓ　Ｔ　６　ニア
、　５秒間停＋ｌ　ｌ−、た後、２．５秒間で第７ステ
ーシヨンＳＴ　７へ移動し、ここで７．５秒間停止した
後、２．５秒間で第８ステーシヨンＳＴ８へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器、Ｉは、第８ステーシヨンＳＴ８
の直前で、第２１ＪミツトスイッチＬ　Ｓ　２の接触子
３１と接触し、同リミットスイッチ１．　Ｓ　２が作動
されて、ＣＰ　ＬＪ　３２へ製品確認信号が伝送される
と、ＣＰ　ＩＪ　３２はＲＯＭ３８に予め入力された放
電耐量試験動作プログラム、及び第２絶縁抵抗試験動作
プ「１グラムを読み出しする。

支持枠１２Ａが第８ステーシヨンＳ　Ｔ　８に停止する
と、第８．９図に示すように、上部把持電極１３Ａの上
端部力月二部固定電極２８Ａの一ド面に、下部把持電極
１３Ｂの下端部が下部固定電極２８Ｂの上面にそれぞれ
自動的に当接される。＋ｉｉｉ記−１ニー１二下 リング３６が設ＬＪられているので、−Ｌ下面把持電極
１３Ａ，１３Ｂの端部との接触が確実に行われるととも
に、接触時の衝撃が緩和される。

このとき、駆動機構Ｉ〕の割出中確認マイクロスイッチ
７より駆動停止信号が動作制御部２７をｊｆｆｉしてＣ
　Ｐ　ＬＪ　３　２　４．：伝送されると、Ｃ　Ｐ　（
Ｊ　３　２は前記読み出しされた放電耐量試験動作プロ
グラムに基づいて、放電雨量試験装置ＴＩに対して動作
信号を伝送し、放電耐量試験装置Ｔ’　Ｉを１乍卯１さ
ゼ゛イ〕。

避雷器Ｊにば１−下部固定電極２８Ａ．２８Ｂを通じて
６ＫＡ，４ＸＩＯμ３波形の雷インパルスが印加され、
そのときの波形が検出される。このときの検出波形を示
す測定値信号はＣ　ｌ）　Ｕ　３　２へ伝送される。

Ｃ　Ｐ　１．Ｊ　３　２は、前記測定値信号の波形に乱
れがなければ合格と判定し、同良品判定信号をＲＡＭ３
９４こ記憶さセる。又、波形に乱れが有れば不合格と判
定し、後にこの支持枠１２Ａに支持された避雷器、■を
第１５ステーシヨン５Ｔ１５で除去する不良品判定信号
をＲＡＭ３　９に記憶させる。

支持枠１２Δば第８ステーシヨンＳＴ８に７．５秒間停
止した後、２，５秒間で第９ステーシヨンＳ’Ｔ”　９
−移動する。以後、同様の過程を経て、第９ステーシヨ
ンＳＴ９から、第１０ステーシヨンＳ１゛１０及び第１
１ステーシヨン５ＴＩＩをそれぞれ間欠移動して、第１
２ステーシヨンＳＴ］２へ移動する。

支持枠１２Ａが第１２ステーシヨン５ＴＩ２に停止する
と、第２絶縁抵抗試験装置１ｒＲ２の抵抗検出部ｒ２の
上下両固定電極２８Ａ，２８１３と支持枠１２Ａの上下
両把持電極１３Ａ．１３Ｂとがそれぞれ自動的に当接す
る。このとき、駆動機構Ｉ〕の割出中確認マイクロスイ
ッチ７より駆動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰ
Ｕ３　２に伝送され・ＣＰＵ３２は既に読み出しされた
第２ｉ色縁（氏抗試験動作プログラムに基づいて、第２
絶縁抵抗試験装置Ｒ２に対して動作信号を伝送し同試験
装置Ｒ２を動作させる。避雷器Ｊには一１ｘ下両固定電
極２８Ａ，２８Ｂを通じて１００ＯＶの電圧が印加され
、絶縁抵抗値が測定される。このときの測定値信号はＣ
　Ｐ　Ｕ　３　２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が２０００ＭΩ以上なら
ば合格と判定し、良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定し、後に
この支持枠！２Ａに支持された避雷器、■を第１５ステ
ーシヨンＳ　’ＦＩ　５で除去する不良品判定信号をＲ
Ａ　Ｍ　３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１２ステーシヨンＳ　Ｔ　ｌ　２に７
．５秒間停止１−シた後、２，５秒間で第１３ステーシ
ヨン５Ｔ１３へ移動し、史に、同様の過程を経て第１４
ステーシヨン５Ｔ１４へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器、１は、第１４ステーシヨン５Ｔ
１４の直＋ｉｉｉで、第３リミットスイッチ１．Ｓ３の
接触−（−３１と接触し、同リミットスイッチＩ。

Ｓ３が作動するとＣＰ　ＩＪ　３２へ製品確認信号が送
られ、ＣＩ）　［Ｊ　３２はＲＯＭ３８に予め入力され
たバリスタ電圧試験動作プログラムを読み出しする。

支持枠１２Ａが第１４ステーシヨンＳ’Ｆ１４で停止Ｉ
−すると、バリスタ電圧試験装置Ｂ　Ｖの電圧印加部ｂ
　ｖのにド両固定電極２８Ａ、２８Ｂと支持枠１２Ａの
Ｌ千両把持電極１３Ａ、１３Ｂとがそれぞれ自動的に当
接する。このとき、割出中１認マイクロスイッチ７より
ＣＰ　ＬＪ　３２へ駆動停止ｌ二信号が伝送されると、
ＣＰ　［Ｊ　３２はバリスタ電圧試験動作プログラムに
基づいてバリスタ電圧試験装装 置１１Ｖ−１動作信号を伝送し、同試験装置＋（Ｖを動
作させる。避雷器、目には前記上下両固定電極２８Ａ、
２８Ｂを通して電圧が印加され、ｌ　ｍ△の電流が流れ
るときの電圧が測定される。、Ｚ　ｏ）ときＯ）測定値
信号はＣＰ　ＩＩ　３２へ伝送される。

ＣＩ）　［Ｊ　３２４．ｔ、前記測定値信号が６．７　
Ｋ　Ｖ〜８゜ＯＫ　Ｖの範囲内であれば、合格と判定し
良品判定信号をＲＡＭ３９に記↑ａさゼる。又、前記測
定値信号が６．７　Ｋ　Ｖ〜８．　ＯＫ　Ｖの範囲外な
らば不合格と判定し、第１５ステーシヨンで除去される
不良品判定信号をＲＡＭ３！ｌに記１ａさ−ｌる。

なお、測定値信号が０１１記範囲内であっても、電ＩＦ
指示が不安定なものは、不合格と判定１−２同様に不良
品判定信号をＲＡ　Ｍ　３　！１に記↑ａさせる。

支持枠１２Ａは第１４ステーシゴンＳ　Ｔ　］　４に７
．５秒間停止した後、２．５秒間で第１５ステーシヨン
５Ｔ１５へ移動して、支持枠１２Ａが（！！＋ｈすると
、割出中確認マイク１．這スイッチ７の駆動停止１−信
号が動作制御部２７を通じ′ζＣＰ　１１３２に伝送さ
れる。ごのとき、ＣＩ）　ＩＪ　３２はＲＡＭ３９に既
に記憶された同支持枠１２Ａの避雷器、■に関する掬数
の良品セ１定信号又は不良品判定信号を読み出しする。

そして、前記判定信号の中に、一つでも不良品判定信号
が存ると、ＣＰ　ＬＪ　３２から、動作制御部２７を介
して不良品１般出部Ｃ２の第３エアシリンダ２３Ｃの図
示しない電磁弁に対して不良品信号が伝送されると、前
記第３エアシリンダ２３Ｃは作動され、ピストンロッド
２３ａが駆動される。

このとき、第１０図に示すように、既に第１５ステーシ
ヨンＳ　Ｔｌ　５に停止ｌ−シ、下部把持電極１３Ｂ下
端のリング部材１４Ｂ、１４Ｃ間の間隙Ｇに、緩く進入
された係合板２３　ｂ　１２、ビストンロｙ　ｌ”　２
３　ａの下降により、第１１図に示すように、１１１記
リング部材１４Ｃを下方に押動して、前記−ト部把持電
極１３　ｆ３を避雷器Ｊとともにスプリング１８の弾力
に抗して下動さゼる。同時に、既に行われた各試験の際
、避雷器Ｊの内部に印加された高圧の電荷し１、リング
部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｔ３、史番こ係合板２３
ｂを経て接地側へ流れ、除去される。

前記避雷器Ｊの下降時にし：１、案内ビン１９の上端に
同避雷器、■の下部外周テーパー而が当接される。この
とき、避雷器、Ｊに印加された高圧の電荷のうち、避雷
器、■の沿面に残留している電荷は、案内ピン１９から
り−Ｆ線２１、リング部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｂ
、リング部材’　１４　Ｃあるいは係合板２３ｂ、エア
シリンダ２３　Ｃ等を経て接地側へ流され除去される。

そして、更にピストンロッド２３ａが下降すると、案内
ビン１９の一■一端により避雷器、■の下部外周背面が
押圧されて、避雷器、■は前方へ押圧され第１２図に示
すように、案内ピン１９前方へ転倒される。この避雷器
、１は、その後不良品１般出シュート２５Ａに沿って所
定の場所へ１船出される。

ところで、前記ＣＰＴＪ３２により演算された各判定信
号が、全て良品判定信号であるときは、Ｃ１）　ｔＪ　
３２は同良品信号をＲＡＭ３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１５ステーシヨンＳ’Ｆ］　５に７．
５秒間停止）−シた後、２．５秒間で第１６ステージ、
ｊンＳ　Ｔｌ　６　’＼移動Ｕ７１、二、二で、÷１）
枠＋２Ａが停止「４ると、割出中確認マイクｌ’ｌスイ
ッチ７の駆動（ｑ（＋ｌ’　（Ｋ−シがｃ　Ｐ　［＋　
：（２４ニー伝送されイ）。このとき、Ｃ：　ｌ）　Ｉ
Ｊ　３２　ｉ、ｌ：、ＲＡ　Ｍ　３９　ニ記ｉＱ　サれ
た良品信号’ｉ　ｉ：ｆｅ；ｚｔ出し゛（、動作制御部
２７から良品１１！出部Ｃ３・＼動１１信号を伝送し７
、第４」−アシリンダ２３Ｉ）を動作さ一１！、第１５
ステーソヨンＳ　Ｔｌ　５における不良品搬出部Ｃ２と
同様の作用で、全試験行程に合格した避雷器、Ｊが、良
品用Ｉｌｌ出ソ、、１．２５１３を経−Ｃ所定の場所−
・１般出さ−Ｕる。

その浅、支持枠１２　Ａ　１第１６ステーシヨンＳＴ　
ｌ　６１こ７．５秒間停止した（多、２．５１・し間で
再び第１ステーソヨンＳ　Ｔ　Ｉへ移動され、ＩＩ＋’
　０次の避雷器、Ｉの試験に備えられイ）。なお、他の
ケ１）枠１２１３〜１２１）に１ト；持された避雷器、
１の製品試験についても、萌ｊ４（の行程と同様に行わ
れる。

以１詳述し７だ、■、うに、支持枠＋２Ａへ１２＋）に
（１”ｊ持された避雷器ＪＱ）−・連の製品試験（、（
、全゛ζ連結的に、かン、自動的に行わｒｌ、不良製品
として１〕１除゛４−べき避雷器と食製品として梱包す
・〈き避雷器とが自動的に選別される。

なお、ＲＡＭ３９に記憶された各避雷器の検査用ｌ」ご
との測定値信号は、適時ディスブド−４０に表示され、
プリンター４１により印字される。

又、この発明は次のように実施することもできる。

（１）　避雷器４工などの被試験物の上下両端の電極１
５Ａ、１５Ｂを上下両支持アームＩＩＡ、１１　Ｂの孔
１１，１１，１ｌｌ）に直接挿入して、上部及び下部の
固定電極２８Ａ、２８Ｂと上νｔｑ＋可能Ｇこ＋１２持
すること。この場合土部支持アームＩＩＡを＋。

下方向の回動可能に取着する等脱着を行うことができる
構成を採るものとする。

（２）　）絞込機構Ｃの周回連動を連続的、かつ、低速
にするとともに、上部及び下部の固定電極の１−面及び
下面を長くして、避雷器Ｊなどの被試験物の−Ｌ下両端
の電極１５Ａ、１５Ｂと電気的に接触可能にすること。

（３）　不良品ＩＭ出部Ｃ２を第１絶縁抵抗試験装置抵
抗検出部ｒｌ、放電耐量試験装置電流通電部１ｉ、第２
絶縁抵抗試験装置抵抗検出部ｒ２及びバリスタ電圧試験
装置電圧印加部ｂｖの直後にそれぞれ設け、不良品を除
去場るようにすること。

（４）　各試験をそれぞれ独立して行う方式の電気試験
装置に具体化すること。又、（絞込機構Ｃを往１に曲線
運動するように構成すること。

発明の効果 以１＝−詳述したように、この発明は上下両端に電極を
備えた被試験物の電気的試験において、被試験物の１般
送に対応して被試験物の−１−下両端の電極が、試験装
置通電部の固定電極と自動的、かつ、確実に電気接続さ
れるので、作業工程が軽減され試験能率が向上されると
ともに、試験作業者の安全が確保される優れた効果を奏
する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例の試験装置機構部を示す平面
図、第２図は同しく試験装置機構部を示ず側断面図、第
３図は同シ〉＜実施例の試験装置機構部の把持機構を示
す平面図、第４図は第３図の中央部縦断面図、第５図は
ｌｕｌ！入部と不良品又は良品の搬出部のエアシリンダ
の拡大図、第６１’７１は試験装置機構部のプレ充電装
置の電圧印加部を示す側面図、第７図は第６図のＸ−Ｘ
線断面図、第８図は雷インパルスの通電部を示す側面図
、第９図は第８図のＹ−Ｙ線断面図、第１（１，１１，
１２図は避雷器の把持解除の経過を示す側断面図、第１
３図は試験装置の自動制御の構成を示すブロック図であ
る。 １・・・試験装置機構部、３Ａ（３Ｂ）・・何一部（下
部）電極支持アーム、４Ａ〜４Ｃ・・・フｌノ一ム、６
・・・駆動モーター、７・・・割出中確認マイク１コス
イソチ、９・・・支持部材、ＩＩＡ（ＩＩＢ）・・・上
部（下部）支持アーム、＋２Ａ〜１２　Ｐ・・・支持枠
、１３Ａ（１３Ｂ）・・・上部（下部）把持電極、１４
Ａ〜１４Ｃ・・・リング部材、＋５Ａ　日５Ｂ）・・・
電極、１７・・・受部材、１８・・・スプリング、１９
・・・案内ピン、２１・・・リード線、２３Ａ〜２３Ｉ
）・・・エアシリンダ、２３ａ・・・ピストンロッド、
２３ｂ・・・係合板、２５Ａ（２５Ｂ）・・・不良品用
（良品用）　ＩＩ！出シュート、２８Ａ（２８Ｂ）・・
・上部（下部）固定電極、３Ｉ・・・接触ｒ−８３２・
・・ＣＰ　ｔＪ、３３・・・電極取付部材、３４・・・
取付棒、３６・・・スプリング、３８・・・ＲＣ）へイ
、３９・・・ＲＡＭ、４０・・・ディスプ１／−１４１
・・・プリンター、０・・・搬送機構、Ｄ・・・駆動聞
構、Ｈ・・・把持機構１、■・・・避雷器、ｆｌ（ｆ２
）・・・第１　（第２）プレ充電装置電圧印加部、ｒｌ
（ｒ２）・・・第１　（第２）絶縁抵抗試験装置抵抗検
出部、１１・・・放電耐量試験装置通電部、ｂｖ・・・
バリスタ電圧試験装置電圧印加部、０１・・・１船人部
、Ｃ２（Ｃ３）・・・不良品（良品）　Ｉｌｌ出部、Ｉ
−、Ｓ　］〜Ｌ　Ｓ　３°゛°第１〜第３リミノトスイ
ノナ、ＦＳＩ、ＦＳ２・・・フットスイッチ、Ｇ・・・
間隙、Ｓ　ｉ”　ｌ　−Ｓ　Ｔ　Ｉ　６・・・第１〜第
１６ステーシヨン。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　上下両端に電極（１５Ａ、１５Ｂ）を備えた被試験
   物（Ｊ）の電気試験装置において、駆動機構（Ｄ）によ
   り所定の軌跡に沿って動作される搬送機構（Ｃ）に装着
   され、被試験物（Ｊ）の上下両端の電極（１５Ａ、１５
   Ｂ）をそれぞれ着脱可能に把持する把持機構（Ｈ）と、 前記把持機構（Ｈ）の移動軌跡と対応する位置において
   、支持手段（３Ａ、３Ｂ、４Ａ〜４Ｃ）により支持され
   、かつ被試験物（Ｊ）の上下両端の電極（１５Ａ、１５
   Ｂ）と電気的に接触する上部及び下部の固定電極（２８
   Ａ、２８Ｂ）と、により構成したことを特徴とする電気
   試験装置における通電機構。 ２　把持機構（Ｈ）は支持部材（９）と同支持部材（９
   ）の上下両端に片持支持された上部及び下部の支持アー
   ム（１１Ａ、１１Ｂ）とにより、側面■型形状に形成さ
   れた絶縁性を有する支持枠（１２Ａ〜１２Ｐ）と、前記
   上部支持アーム（１１Ａ）の先端部に設けられ、かつ、
   下面に被試験物（Ｊ）の上端の電極（１５Ａ）を係合す
   るための係止孔（１３ａ）を有する上部把持電極（１３
   Ａ）と、前記下部支持アーム（１１Ｂ）の先端に上下方
   向の往復動可能に支持され、かつ、上端に被試験物（Ｊ
   ）の下端の電極（１５Ｂ）を係合するための下部把持電
   極（１３Ｂ）と、同下部把持電極（１３Ｂ）を上方把持
   位置へ付勢するためのスプリング（１８）とよりなる特
   許請求の範囲第１項に記載の電気試験装置における通電
   機構。 ３　把持機構（Ｈ）の下部支持アーム（１１Ｂ）には下
   部把持電極（１３Ｂ）の近傍に位置するように被試験物
   （Ｊ）の下降動作を利用して被試験物（Ｊ）を前方へ転
   倒させる案内ピン（１９）が設けられている特許請求の
   範囲第２項に記載の電気試験装置における通電機構。 ４　搬送機構（Ｃ）は間欠回動するように構成され、同
   機構（Ｃ）を構成する基板（８）の外周部には複数個の
   把持機構（Ｈ）が放射状に、かつ、等間隔に取着された
   特許請求の範囲第１項に記載の電気試験装置における通
   電機構。 ５　固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）は支持手段として立設
   されたフレーム（４Ａ〜４Ｃ）に対して把持機構（Ｈ）
   に対向して突設した上下線対の電極支持アーム（３Ａ、
   ３Ｂ）の先端部に取着されている特許請求の範囲第１項
   に記載の電気試験装置における通電機構。