JPS61253475A - 酸化亜鉛避雷器の自動試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） この発明は酸化亜鉛避雷器の一連の検査項目を、連続し
て試験するための酸化亜鉛避雷器の自動試験装置に関す
る。

（従来の技術） 従来、避雷器の特性要素として酸化亜鉛（ＺｎＯ）を用
いた酸化亜鉛避雷器が使用されている。

そして、この避雷器の製品検査のための試験として、絶
縁抵抗試験、放電耐量試験、バリスタ電圧試験などが行
われている。各試験内容の概略を以下に説明する。

（１）　　絶縁抵抗試験二　酸化亜鉛避雷器に１０００
ｖの電圧を印加して、絶縁抵抗針により絶縁抵抗値を測
定する。このとき、測定値が２０００ＭΩ以上ならば合
格、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定する。

（２）　放電耐量試験二　酸化亜鉛避雷器に所定の雷イ
ンパルス大電流、例えば、電流値６ＫＡ、波形４ｘｌＯ
ｐｓ（波頭４ｐ３．波尾１０ｊ１３）を通電する。この
とき、波形に乱れがなければダ格、乱れがあれば不合格
と判定する。

（３）　バリスタ電圧試験（動作開始電圧試験）：　酸
化亜鉛避雷器に商用周波数電圧を印加し、避雷器に流れ
る抵抗分電流波高値が１ｍＡになるときの電圧を測定す
る。このとき、測定値が６．７ＫＶ〜８．　ＯＫ　Ｖの
範囲ならば合格、前記範囲外ならば不合格と判定する。

ただし、上記の範囲内にあっても、電圧指示が不安定な
ものは不合格と判定する。

このように、酸化亜鉛避雷器が完成すると、上述した試
験をそれぞれ別々に実施し、試験結果に基づいて避雷器
の製品としての合否を人為的に判定していた。

（発明が解決しようとする問題点） ところが、前述した従来の試験方法では、一連の試験で
避雷器をセットする準備などに手間取るばかりでなく、
各試験にそれぞれ別々にまとまったスペースを設けなけ
ればならなかった。又、それぞれの試験装置間で避雷器
を運搬するのに労力と時間を要していた。

更に、各試験結果に応じて避雷器の製品としての合否を
判定したり、不良品を適切に取り除くにあたっては、試
験作業者に課せられた負担は少なくなかった。これらの
試験作業には、少なくとも延ベロ名の人員が必要であっ
た。

この発明の第１の目的は、避雷器の一連の試験を連続的
に能率良く、短時間で行うことのできる酸化亜鉛避雷器
の自動試験装置を提供することにある。

又、第２の目的は前記第１の目的に加えて、−連の各試
験を行う装置の運転、試験結果による製品としての合否
の判定及び避雷器の良品及び不良品の選別を自動化して
人的労力が軽減できる酸化亜鉛避雷器の自動試験装置を
提供することにある。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） 第１発明は前記第１の目的を達成するために、駆動機構
りにより周回運動を行うようにした順回搬送機構Ｃと、 前記順回搬送機構Ｃに装着され、前記避雷器Ｊの上下両
端電極１５Ａ、１５Ｂをそれぞれ着脱可能に把持する複
数組の把持機構Ｈと、 前記把持機構Ｈの周回運動軌跡と対応する所定の位置に
おいて支持手段４Ａ〜４Ｃにより支持され、かつ避雷器
Ｊの上下両端電極１５Ａ、１５Ｂと一時的に接触する複
数組の上部及び下部の固定電極２８Ａ、２８Ｂと、 前記各組の固定電極２８Ａ、２８Ｂのうち三組の固定電
極２８Ａ、２８Ｂに対し、周回運動方向に順次接続した
第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１、放電耐量試験装置ＴＩ及び
第２絶縁抵抗試験装置Ｒ２と、 更に、別組の固定電極２８Ａ、２８Ｂに接続したバリス
タ電圧試験装置ＢＶと、 避雷器Ｊを把持機構Ｈに装着するための搬入部Ｃ１と、 前記把持機構Ｈに装着された避雷器Ｊを除去するための
搬出部Ｃ２，Ｃ３と による構成を採用している。

次に、第２発明は前記第２の目的を達成するために第１
発明の手段に対し、 前記駆動機構Ｄ、各試験装置Ｒ１，ＴＩ、Ｒ２゜ＢＶの
作動及び試験結果の判定をそれぞれ集中して自動制御す
るための中央処理装置ＣＰＵ３２と、前記中央処理装置
ＣＰＵ３２に付属して、予め試験方法、基準値等のプロ
グラムあるいはデータを記憶するための読み出し専用メ
モリーＲＯＭ３８と、 前記中央処理装置ＣＰＵ３２に付属して、試験結果を記
憶する読み出し書き込み両用メモリーＲＡＭ３９と を付加して構成している。

（作用） この発明は前記構成を採用したことにより、次のように
作用する。

第１発明は、まず、避雷器の上下両端電極をそれぞれ把
持機構に把持し、駆動機構により順回搬送機構を動作さ
せると、゛把持機構は避雷器を把持した状態で所定の周
回運動を行う。

このとき、前記把持機構に把持された避雷器の上下両端
電極は、周回運動軌跡と対応する所定位置に複数組設置
された上下一対の固定電極に接触され、一時的かつ電気
的に接触される。

ところで、この電気的接触状態において、各固定電極に
接続された各試験装置を作動させると、第１絶縁抵抗試
験、放電耐量試験、第２絶縁抵抗試験の順で各試験が行
われ、適宜な箇所でバリスタ電圧試験が行われる。そし
て、それぞれの試験結果は、各試験装置に表示され、避
雷器の良否が人為的に判定され、判定に応じて避雷器は
選別される。

次に、第２発明は第１発明の作用に加えて、各試験結果
は、中央処理装置により、予め記憶された基準値と対比
され、避雷器の良否が判定される。

そして、不良品の避雷器は不良品搬出部より自動的に除
去され、良品は良品搬出部より自動的に搬出される。

（実施例） 以下、第１発明の実施例に先だって、第２発明を具体化
した実施例を第１〜１３図に従って説明する。

第１．２図の符号１は試験装置機構部を示し、この機構
部１は概略的に見て基台２と、同基台２の上部に装着さ
れた駆動機構りと、同駆動機構り上部に装着された順回
搬送機構Ｃと、前記順回搬送機構Ｃに装着された把持機
構Ｈと、同順回搬送機構Ｃの外側方において、前記基台
２の上面に立設され、かつ、上下一対の電極支持アーム
３Ａ。

３Ｂを水平に片持ち保持した３組のフレーム４Ａ〜４Ｃ
と、前記フレーム４Ａに装着された第１プし充電装置Ｆ
１の電圧印加部ｆ１と、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印
加部ｆ２と、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ
１と、放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔｉと、第２絶縁
抵抗試験装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２と、バリスタ電圧試
験装置ＢＶの電圧印加部ｂｙと、不良品搬出部Ｃ２及び
良品搬出部Ｃ３とにより構成されている。

そこで、前述した各機構について、順次詳述する。

まず、最初に順回搬送機構Ｃ及び駆動機構りを第１．２
図について述べると、５は前記基台２に立役固定された
支持フレームであって、その上部にはブレーキ機構を内
蔵する駆動モーター６を備えた駆動機構りが装着され、
同駆動機構りには、前記モーター６を、所定時間（例え
ば、７．５秒）の停止と、所定時間（例えば、２．５秒
）の駆動に交互に間欠的に制御するための割出中確認マ
イクロスイッチ７が接続されている。

更に、前記駆動機構りの上部には、同機構りによって回
転される順回搬送機構Ｃが設置されている。

これについて述べると、８は円形状の回転基板、９は第
３．４図に示すように、前記基板８の外縁部に対し等間
隔にボルトで締着された複数（この実施例では１６組）
の支持部材、１０は各支持部材９の上部に載置固定した
円形状の蓋板であって、これらの部材により順回搬送機
構Ｃが構成され、第１図において蓋板１０の中心Ｏを中
心としてＰ矢印方向へ回転可能である。　　。

次に、前記順回搬送機構Ｃの各支持部材９にそれぞれ装
着された把持機構Ｈについて、第３，４図を中心に説明
する。

１１Ａ、１１Ｂは前記各支持部材９の上下両端部にそれ
ぞれボルトにより締付固定された絶縁材よりなる上部及
び下部の支持アームであって、支持部材９とで側面がほ
ぼコル状の支持枠１２Ａ〜１２Ｐを構成し、全体として
第１図に示すように平面放射状に配設されている。

この実施例では、第１図に示す前記各支持枠１２Ａ〜１
２Ｐの停止位置を、それぞれ第１ステーシヨンＳＴＩ〜
第１６ステーシヨン５Ｔ１６としている。

１３Ａは前記各上部支持アーム１１Ａの先端に形成した
孔１１ａに上下方向に挿通された円柱状の上部把持電極
であって、その上端は上部支持アーム１１Ａの先端に固
定したドーナッツ形状のリング部材１４Ａに嵌合され、
ねじで締付されている。前記上部把持電極１３Ａの下面
には、避雷器Ｊの上端電極１５Ａを嵌入するための係止
孔１３ａが形成されている。１６は上部把持電極１３Ａ
の下端背面（第４図右側）に止着されたほぼ半円筒状の
係止板であって、避雷器Ｊの装着時にその上端部を当接
して上端電極１５Ａを係止孔１３ａに嵌合し易くしてい
る。

１３Ｂは同じく下部支持アーム１１Ｂの先端部に形成し
た孔１１ｂに上下方向の摺動可能に挿通された棒状の下
部把持電極であって、その上端には短円柱状の受部材１
７が取着され、同受部材１７上面には、避雷器Ｊの下端
電極１５Ｂを係止する係止孔１７ａが成形されている。

又、この係止孔１７ａには断面口状の受皿１７ｂが嵌合
されている。１８は前記下部把持電極１３Ｂの上半部に
巻着され、受部材１７の下面と下部支持アーム１１Ｂの
上面との間・に介装されたスプリングであって、下部把
持電極ｉ３Ｂを上方に付勢している。

１４Ｂ、１４Ｃはそれぞれ下部把持電極１３Ｂの下端部
に嵌合され、ねじで締付されたリング部材であって、そ
れぞれ所定の間隙Ｇをもって離隔され、上部のリング部
材１４Ｂは、常には前記下部支持アーム１１Ｂの下面に
当接され、下部把持電極１３Ｂの上限位置を規制してい
る。以上が把持機構Ｈの構成説明である。

１９は第４．５図に示すように、下部把持電極１３Ｂの
近傍で下部支持アーム１１Ｂの先端上面に、ボルト２０
ａ及びナツト２０ｂで締着された丁字形状の導電性金属
よりなる避雷器Ｊの搬出用案内ピンであって、下部把持
電極１３Ｂが下動したとき、避雷器Ｊの下部を前方へ押
圧して避雷器Ｊが前方へ転倒されるようになっている。

２１は一端を前記ポル）２０ａの頭部に接続し、他端を
リング部材１４Ｂにボルト２２により接続したリード線
であって、案内ビン１９とリング部材１４Ｂを電気的に
接続している。

２３Ａ〜２３Ｄは第１．２図に示すように１６個のステ
ーションＳＴＩ〜５Ｔ１６のうち、第１゜２．１５．１
６の４つのステーションと対応するように、支持フレー
ム５より側方へ突設された４本のＬ字形状の保持アーム
２４Ａ〜２４Ｄのそれぞれ上端部に対し、上向きに固定
された第１〜４エアシリンダであって、第５図に示すよ
うに、それらのピストンロッド２３ａの上端部にはドー
ナッツ形状の係合ｆ！２３ｂが固着されている。そして
、前記把持機構Ｈの下部把持電極１３Ｂに止着したリン
グ部材１４Ｂ、１４Ｇが各ステーションＳＴＩ、ＳＴ２
．５Ｔ１５．５Ｔ１６に移動停止されると、その間隙Ｇ
に前記係合板２３ｂが緩く進入されるようになっている
。

前記エアシリンダ２３Ａ〜２３Ｄには、それぞれ係合板
２３ｂの昇降動作を制御するための電磁弁（図示路）が
接続されており、更に、前記係合板２３ｂの上下二位置
に対応して、前記係合板２３ｂの昇降動作の上端位置及
び下端位置を確認するための、上端及び下端の確認リミ
ットスイッチ（図示路）が接続されている。

前記第１．２エアシリンダ２３Ａ、２３Ｂの電磁弁には
、それぞれフットスインチＦＳＩ、ＦＳ２が接続され、
これらにより一対の搬入部ＣＩ。

Ｃ１を構成している。又、前記第３．４エアシリンダ２
３Ｃ，２３Ｄ、ｉｌｌ出用の案内ピン１９及び第２図に
示す支持脚２５により支持された不良品用及び良品用の
搬出シュート２６Ａ、２６Ｂにより、それぞれ不良品及
び良品の搬出部Ｃ２，Ｃ３を構成している。

前記第３，４エアシリンダ２３Ｃ，２３Ｄの電磁弁は後
述する動作制御部２７からの信号により制御されるよう
になっている。

次に、第１プレ充電装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１の構成を
第６．７図について説明すると、２８Ａ。

２８Ｂはそれぞれ上部電極支持アーム３Ａ及び下部電極
支持アーム３Ｂの先端部に対し、互いに対向するように
ボルトにより締着された弾性導板よりなる断面口形状の
上部及び下部の固定電極であって、上部固定電極２８Ａ
の下面には上部把持型、極１３Ａの上端面が、下部固定
電極２８Ｂの上面には下部把持電極１３Ｂの下端面がそ
れぞれ摺接される。２９．２９はそれぞれ前記上下両固
定電極２８Ａ、２８Ｂに接続されたリード線であって、
それらの他端は図示しないプレ充電装置Ｆ１に接続され
ている。

なお、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印加部ｆ２、第１絶
縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ１、第２絶縁抵抗試
験装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２、及びバリスタ電圧試験装
置ＢＶの電圧印加部ｂｖは、それぞれ前記第１プレ充電
装置Ｆｌの電圧印加部ｆ１と同様の構成が採用されてい
るので、それらの構成説明は省略する。

ＬＳＩはフレーム４Ａの側部に取着された避雷器Ｊの有
無確認用の第１リミツトスイツチであって、その回動支
軸３０には、細い接触子３１が水平に片持支持され、そ
の先端は把持機構Ｈに把持された避雷器Ｊと接触可能で
ある。そして、避雷器Ｊとの接触時には、回動支軸３０
を中心に水平回動され、避雷器Ｊの存在を確認するよう
になっている。

なお、前記第１リミツトスイツチＬＳＩと同じ目的で、
同様に構成された第２リミツトスイツチＬＳ２は第１図
に示すように放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔｉのフレ
ーム４Ｂに、第３リミツトスイツチＬＳ３はバリスタ電
圧試験装置ＢＶの電圧印加部ｂｙのフレーム４Ｃにそれ
ぞれ設けられている。これらのリミットスイッチＬＳＩ
〜ＬＳ３は後述する中央処理装置ＣＰＵ３２に接続され
ている（第１３図参照）。

次に、放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔｉの構成を第８
．９図について説明すると、３３．３３は上部及び下部
の電極支持アーム３Ａ、３Ｂの先端部に取着された上部
及び下部の電極取付部材であって、取付板３３ａと、同
板３３ａに設けられた穴に垂直に嵌合された筒体３３ｂ
とで構成されている。３４．３４は基端を上下両固定電
極２８Ａ、２８Ｂに溶着し、前記筒体３３ｂ、３３ｂに
摺動可能に挿通された上部及び下部の取付棒である。上
下両固定電極２８Ａ、２８Ｂはそれぞれポル）３５ａ、
ナソ）３５ｂにより上下両電極取付部材３３．３３に取
着されている。３６は前記ポル）３５ａに巻装され、上
部固定電極２８Ａと上部の電極取付部材３３との対向面
、及び下部固定電極２８Ｂと下部の電極取付部材３３と
の対向面にそれぞれ介装されたスプリングであって、上
下両固定電極２８Ａ、２８Ｂを互いに接近する方向に付
勢している。３７．３７は上部固定電極２８Ａ及び下部
固定電極２８Ｂの側面に締着された端子板であって、同
板には導リード線２９．２９が接続されて放電耐量試験
装置ＴＩに接続されている。

次に、前記試験装置の機構部１の自動制御の機構を第１
３図に従って説明する。

３２は中央処理装置ＣＰＵであって、これには読み出し
専用メモリーＲＯＭ３８及び読み出し書き込み両用メモ
リーＲＡＭ３９が接続され、ディスプレイ４０及びプリ
ンター４１が接続されている。又、前記ＣＰＵ３２には
、電Ｗ印加部ｆ１を含む第１プレ充電装置Ｆ１、電圧印
加部ｆ２を含む第２プレ充電装置Ｆ２、抵抗検出部ｒ１
を含む第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１、通電部ｔｉを含む放
電耐量試験装置ＴＩ、及び抵抗検出部ｒ２を含む第２絶
縁抵抗試験装置Ｒ２、電圧印加部ｂｖを含むバリスタ電
圧試験装置ＢＶがそれぞれ接続されている。

２７は前記ＣＰＵ３２に接続された動作制御部であって
、この動作制御部２７は割出中確認マイクロスイッチ７
を付属した駆動機構Ｄ、不良品搬出部Ｃ２の第３エアシ
リンダ２３Ｃの図示しない電磁弁、及び、良品搬出部Ｃ
３の第４エアシリンダ２３Ｄの図示しない電磁弁にそれ
ぞれ接続され、前記エアシリンダ２３Ｃ，２３Ｄの動作
を自動制御するようになっている。

次に、前記のように構成した酸化亜鉛避雷器の自動試験
装置の作用について説明する。

まず、自動試験装置の電源をＯＮにし、駆動機構りを動
作させるとともに、順回搬送機構Ｃを間欠的な周回運動
状態どする。このとき、割出中確認マイクロスイッチ７
が割出を開始しＯＮ状態となると、駆動機構りの駆動モ
ーター６が起動されて、基板８の回転により順回搬送機
構Ｃが周回運動を開始する。駆動モーター６が始動して
所定時間（２，５秒）後、割出中確認マイクロスイッチ
７が割出を終了しＯＦＦ状態になると同時に、駆動モー
ター６がその内蔵するブレーキ機構により停止し、順回
搬送機構Ｃの周回運動は所定時間（７゜５秒）停止状態
となる。

このように、順回搬送機構Ｃは、前記駆動モーター６の
間欠動作（２，５秒間の作動、７．５秒間の停止）によ
り、間欠的な周回運動を行う。

次に、避雷器Ｊの各種試験を行うには、順回搬送機構Ｃ
が停止され、第１図に示す支持枠１２Ａが第１ステーシ
ヨンＳＴＩに停止した状態において、フットスイッチＦ
ＳＩを操作する。すると、図示しない電磁弁が作動して
、第１エアシリンダ２３Ａのピストンロッド２３ａが下
降され、把持機構Ｈを構成する下部把持電極１３Ｂ下端
のリング部材１４Ｂ、１００間の間隙Ｇに進入している
係合板２３ｃにより、前記リング部材１４Ｃが下動され
て前記下部把持電極１３Ｂがスプリング１８のばね力に
抗して下方へ移動される。

前記ピストンロッド２３ａの下降動作は、その最下位置
で図示しない下端確認リミットスイッチの作動により自
動的に停止される。

ここで、被試験物である避雷器Ｊの下端電極１５Ｂを受
皿１７ｂに嵌合して垂直に支持するとともに、フットス
イッチＦＳＩの操作を解除すると、図示しない電磁弁が
作動して、第１エアシリンダ２３Ａのピストンロッド２
３ａが上昇され、スプリング１８の付勢力により前記下
部把持電極１３Ｂは上昇する。このとき、前記避雷器Ｊ
の上端電極１５Ａを上部把持電極１３Ａの係止孔１３ａ
に嵌入し、避雷器Ｊを把持機構Ｈに装着する。

支持枠１２Ａは、所定時間（７，５秒）が経過すると停
止状態を終了し、所定時間（２，５秒）で第１図に示し
た中心点Ｏを中心に右回り（矢印Ｐ方向）へ所定角度（
２２，５度）の角度で間欠回動（以後同様）し、次に、
第２エアシリンダ２３Ｂと対応する第２ステーシヨンＳ
Ｔ２まで移動して停止する。

第２ステニシヨンＳＴ２においても、支持枠１２Ａに対
しフットスイッチＦＳ２により、第１ステージジンＳＴ
Ｉで述べた操作と同様の操作で避雷器Ｊを把持させるこ
ともでき、例えば、同ステーションＳＴＩで、避雷器Ｊ
の把持を忘れたときなどに使用できる。

支持枠１２Ａは７．５秒が経過すると２．５秒で第３ス
テーシヨンＳＴ３へ移動し、さらに第３ステーシヨンＳ
Ｔ３で、７．５秒間停止した後、２．５秒間で第４ステ
ーシヨンＳＴ４へ移動する。

移動途中、支持枠１２Ａに把持された避雷器Ｊは、第４
ステーシヨンＳＴ４の直前で第１リミツトスイツチＬＳ
Ｉの接触子３１と接触し、同リミットスイッチＬＳＩが
作動される。すると、同リミットスイッチＬＳＩからＣ
ＰＵ３２へ製品確認信号が伝送され、ＣＰＵ３２はＲＯ
Ｍ３　Ｂに予め入力された第１プレ充電装置動作プログ
ラム、第２プレ充電装置動作プログラム、及び、第１絶
縁抵抗試験動作プログラムを順次読み出しする。

支持枠１２Ａが第４ステーシヨンＳＴ４に停止すると、
第６．７図に示すように、上部固定電極２８Ａの下面に
上部把持電極１３Ａの上端部が、下部固定電極２８Ｂの
上面に下部把持電極１３Ｂの下端部がそれぞれ当接する
。このとき、駆動機構りの割出中確認マイクロスイッチ
７より駆動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３
２へ伝送されると、ＣＰＵ３２は第１プレ充電装置Ｆ１
に対し、第１プレ充電装置動作プログラムに基づいて動
作信号を伝送し、第１プレ充電装置Ｆ１を作動させる。

そして、把持機構Ｈに把持された避雷器Ｊには、電圧印
加部ｆ１の上下両固定電極２８Ａ、２８Ｂを通じて電圧
が印加され、第１絶縁抵抗試験を行うための予備充電が
行われる。

支持枠１２Ａは７．５秒間停止した後、２．５秒間で第
５ステーシヨンＳＴ５へ移動停止すると、前記第４ステ
ーシヨンＳＴ４と同様に、割出中確認マイクロスイッチ
７からＣＰＵ３２へ駆動停止信号が伝送される。このと
き、ＣＰＵ３２は既にＲＯＭ３８より読み出しされた第
２プレ充電装置動作プログラムに基づいて、第２プレ充
電装置Ｆ２へ動作信号を伝送し、避雷器Ｊに電圧が印加
され、再び予備充電が行われる。

支持枠１２Ａは、第５ステーシヨンＳＴ５に７゜５秒間
停止した後、２．５秒間で第６ステーシヨンＳＴ６へ移
動する。

支持枠１２Ａが第６ステーシヨンＳＴ６に停止すると、
割出中確認マイクロスイッチ７からＣＰＵ３２へ駆動停
止信号が伝送される。このとき、ＣＰＵ３２は既にＲＯ
Ｍ３８より読み出しされた第１絶縁抵抗試験動作プログ
ラムに基づいて、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１へ動作信号
を伝送し、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１を作動させ、上下
固定電極２８Ａ、２８Ｂを通じて避雷器Ｊに１０００ｖ
の電圧を印加して同避雷器Ｊの絶縁抵抗値を測定する。

このときの測定値信号はＣＰＵ３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が２０００ＭΩ以上なら
ば合格と判定し、良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定し、後に
、この支持枠１２Ａに把持された避雷器Ｊを第１５ステ
ーシヨン５Ｔ１５において、不良品搬出部Ｃ２により除
去す〜るための不良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。

支持枠１２Ａが第６ステーシヨンＳＴ６に７．５秒間停
止した後、２．５秒間で第７ステーシヨンＳＴ７へ移動
し、ここで７．５秒間停止した後、２．５秒間で第８ス
テーシヨンＳＴ８へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器Ｊは、第８ステーシヨンＳＴ８の
直前で、第２リミツトスイツチＬＳ２の接触子３１と接
触し、同リミットスイッチＬＳ２が作動されて、ＣＰＵ
３２へ製品確認信号が伝送されると、ＣＰＵ３２はＲＯ
Ｍ３Ｂに予め入力された放電耐量試験動作プログラム、
及び第２絶縁抵抗試験動作プログラムを読み出しする。

支持枠１２Ａが第８ステーション−５Ｔ　８に停止する
と、第８．９図に示すように、上部把持電極１３Ａの上
端部は上部固定電極２８Ａの下面に、下部把持電極１３
Ｂの下端部は下部固定電極２８Ｂの上面にそれぞれ当接
する。前記上下両固定電極２８Ａ、２８Ｂには、それぞ
れスプリング３６が設けられているので、上下両把持電
極１３Ａ。

１３Ｂの端部との接触は確実に行われるとともに、接触
時の衝撃が緩和される。

このとき、駆動機構りの割出中確認マイクロスイッチ７
より駆動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３２
に伝送されると、ＣＰＵ３２は前記読み出しされた放電
耐量試験動作プログラムに基づいて、放電耐量試験装置
ＴＩに対して動作信号を伝送し、放電耐量試験装置ＴＩ
を作動させる。

そして、第８ステーシヨンＳＴ８にある避雷器Ｊには上
下両固定電極２８Ａ、２８Ｂを通じて６ＫＡ、４Ｘ１０
Ｊｌｓ波形の雷インパルスが印加され、そのときの波形
が検出される。このときの検出波形を示す測定値信号は
ＣＰＵ３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号の波形に乱れがなければ
合格と判定し、同良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、波形に乱れが有れば不合格と判定し、後にこの
支持枠１２Ａに支持された避雷器Ｊを第１５ステーシヨ
ン５Ｔ１５で除去する不良品判定信号をＲＡＭ３９に記
憶させる。

支持枠１２Ａは第８ステーシヨンＳＴ８に７．５秒間停
止した後、２．５秒間で第９ステーシヨンＳＴ９へ移動
する。以後、同様の過程を経て、第９ステーシヨンＳＴ
９から、第１０ステーシヨン５ＴＩＯ及び第１１ステー
シヨン５Ｔ１１をそれぞれ間欠移動して、第１２ステー
シヨン５Ｔ１２へ移動する。

支持枠１２Ａが第１２ステーシヨン５Ｔ１２に停止する
と、駆動機構りの割出中確認マイクロスイッチ７より駆
動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３２に伝送
される。このとき、既に読み出しされた第２絶縁抵抗試
験動作プログラムに基づいて、ＣＰＵ３２は第２絶縁抵
抗試験装置Ｒ２に対して動作信号を伝送し同試験装置Ｒ
２を動作させる。そして、避雷器Ｊには上下両固定電極
２８Ａ、２８Ｂを通じて１００ＯＶ（７）電圧が印加さ
れ、避雷器Ｊの絶縁抵抗値が測定される。このときの測
定値信号はＣＰＵ３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が２０００ＭΩ以上なら
ば合格と判定し、良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定し、後に
この支持枠１５Ａに支持された避雷器Ｊを第１５ステー
シヨン５Ｔ１５で除去する不良品判定信号をＲＡＭ３９
に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１２ステーシヨン５Ｔ１２に７．５秒
間停止した後、２．５秒間で第１３ステーシヨン５Ｔ１
３へ移動し、更に、同様の過程を経て第１４ステーシヨ
ン５Ｔ１４へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器Ｊは、第１４ステーシヨン５Ｔ１
４の直前で、第３リミツトスイツチＬＳ３の接触子３１
と接触し、同リミットスイッチＬＳ３が作動するとＣＰ
Ｕ３２へ製品確認信号が送られ、ＣＰＵ３２はＲＯＭ３
Ｂに予め入力されたバリスタ電圧試験動作プログラムを
読み出しする。

支持枠１２Ａが第１４ステーシヨン５Ｔ１４で停止する
と、割出中確認マイクロスイッチ７よりＣＰＵ３２へ駆
動停止信号が伝送され、ＣＰＵ３２はバリスタ電圧試験
動作プログラムに基づいてバリスタ電圧試験装置ＢＶへ
動作信号を伝送し、同試験装置ＢＶを動作させる。そし
て、前記上下両固定電極２８Ａ、２８Ｂを通じて避雷器
Ｊに電圧が°印加され、避雷器Ｊに１ｍＡの電流が流れ
るときの電圧が測定される。このときの測定値信号はＣ
ＰＵ３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が６．７　Ｋ　Ｖ〜８゜
ＯＫＶの範囲内であれば、合格と判定し良品判定信号を
ＲＡＭ３９に記憶させる。又、前記測定値信号が６．７
　Ｋ　Ｖ〜８．　ＯＫ　Ｖの範囲外ならば不合格と判定
し、第１５ステーシヨンで除去される不良品判定信号を
ＲＡＭ３９に記憶させる。

なお、測定値信号が前記範囲内であっても、電圧指示が
不安定なものは、不合格と判定し同様に不良品判定信号
をＲＡＭ３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１４ステーシヨン５Ｔ１４に７．５秒
間停止した後、２．５秒間で第１５ステーシヨン５Ｔ１
５へ移動して、支持枠１２Ａが停止すると、割出中確認
マイクロスイッチ７の駆動停止信号が動作制御部２７を
通じてＣＰＵ３２に伝送される。このとき、ＣＰＵ３２
はＲＡＭ３９に既に記憶された同支持枠１２Ａの避雷器
Ｊに関する複数の良品判定信号又は不良品判定信号を読
み出しする。

そして、前記判定信号の中に、一つでも不良品判定信号
が有ると、ＣＰＵ３２から、動作制御部２７を介して不
良品搬出部Ｃ２の第３エアシリンダ２３Ｄの図示しない
電磁弁に対して不良品信号を伝送する。そして、前記第
３エアシリンダ２３Ｃの図示しない電磁弁が作動され、
ピストンロッド２３ａが下動される。

このとき、第１０図に示すように、既に第１５ステーシ
ヨン５Ｔ１５に停止し、下部把持電極１３Ｂ下端のリン
グ部材１４Ｂ、１４Ｃ間の間隙Ｇに、緩く進入された係
合板２３ｂは、ピストンロッド２３ａの下降により、第
１１図に示すように、前記リング部材１４Ｃを下方に押
動して、前記下部把持電極１３Ｂを避雷器Ｊとともにス
プリング１８の弾力に抗して下動させる。同時に、既に
行われた各試験の際、避雷器Ｊの内部に印加された高圧
の電荷は、リング部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｂ、更
に係合板２３ｂを経て接地側へ流れ、除去される。

又、前記避雷器Ｊの下降時には、案内ピン１９の上端に
同避雷器Ｊの下部外周テーパー面が当接される。このと
き、避雷器Ｊに印加された高圧の電荷のうち、避雷器Ｊ
の沿面に残留している電荷は、案内ビン１９からリード
線２１、リング部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｂ、リン
グ部材１４Ｃあるいは係合板２３ｂ、シリンダ２３Ｃ等
を経て接地側へ流され除去される。

そして、更にピストンロッド２３ａが下降すると、案内
ピン１９の上端により避雷器Ｊの下部外周背面が押圧さ
れて、避雷器Ｊは前方へ押圧され第１２図に示すように
、案内ビン１９前方へ転倒される。この避雷器Ｊは、そ
の後不良品用の搬出シュート２６Ａに沿って所定の場所
へ搬出される。

ところで、前記ＣＰＵ３２により演算された各判定信号
が、全て良品判定信号であるときは、ＣＰＵ３２は同良
品信号をＲＡＭ３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１５ステーシヨン５Ｔ１５に７．５秒
間停止した後、２．５秒間で第１６ステーシヨン５Ｔ１
６へ移動し、ここで、支持枠１２Ａが停止すると、割出
中確認マイクロスイッチ７の駆動停止信号がＣＰＵ３２
に伝送される。このとき、ＣＰＵ３２は、ＲＡＭ３９に
記憶された良品信号を読み出して、動作制御部２７から
良品搬出部Ｃ３の第４エアシリンダ２３Ｄの図示しない
電磁弁へ動作信号を伝送し、第４エアシリンダ２３Ｄを
動作させ、第１５ステーシヨン５Ｔ１５における不良品
搬出部Ｃ２と同様の作用で、全試験行程に合格した避雷
器Ｊを、良品用の搬出シュート２６Ｂを介して所定の場
所へ搬出させる。

その後、支持枠１２Ａは第１６ステーシヨンＳＴ　１’
６に７．５秒間停止した後、２．５秒間で再び第１ステ
ーシヨンＳＴＩへ移動され、再び次の避雷器Ｊの試験に
備えられる。なお、他の支持枠１２Ｂ〜１２Ｐに把持さ
れた避雷器Ｊの性能試験についても、前述の行程と同様
に行われる。

以上詳述したように、支持枠１２Ａ〜１２Ｐに把持され
た避雷器Ｊの一連の性能試験は、全て連続的に、かつ、
自動的に行われ、不良製品として排除すべき避雷器と合
格製品として梱包すべき避雷器とが自動的に選別される
。

なお、ＲＡＭ３９に記憶された各避雷器の試験項目ごと
の測定値信号は、適時ディスプレー４０に表示され、プ
リンター４１により印字される。

次に、第１発明の実施例を、第１４図に従って説明する
。なお、第２発明の実施例と同一の機能を備えた部材に
ついては、同一の符号を付して説明を省略し、異なる点
についてのみ説明する。

第１発明の実施例は概略的具て、各試験項目の測定値の
判定を人為的に行い、かつ、人為的に搬出操作を行うよ
うに構成したものである。

ＬＳは全ての固定電極支持アーム３Ａ、３Ｂの近傍に設
けられた製品有無確認用のリミントスイッチであって、
デジタル表示部を備えた各装置Ｆ１、Ｆ２．Ｒ１，Ｔ１
．Ｒ２，ＢＶに、それぞれ接続されるとともに、同装置
の作動準備を独立して行うようになっている。又、前記
各装置Ｆｌ。

Ｆ２．Ｒ１，ＴＩ、Ｒ２，ＢＶには、ツレツレ駆動機構
りの動作を行う割出中確認マイクロスイッチ７が接続さ
れていて、同スイッチ７より駆動機構りの停止時に駆動
停止信号が伝送されると、前期リミットスイッチＬＳの
動作により、作動準備完了の状態となっている各装置が
動作されるようになっている。

２３Ｅ〜２３Ｇはそれぞれ第５〜第７のエアシリンダで
あって、それぞれ支持フレーム９側方に突設された保持
アーム２４Ｅ〜２４Ｇの上端に設置されるとともに、そ
れぞれに接続されたフットスイッチＦＳ５〜ＦＳ７の作
動により昇降動作するようになっている。又、前記エア
シリンダ２３Ｅ〜２３Ｇに対応して、それぞれ不良品用
の搬出シュート２６Ａが設けられている。

次に、前記のように構成した第１発明の実施例の作用に
ついて説明する。なお、第２発明の実施例と同様の作用
については簡単に述べる。

まず、駆動機構りを動作させ、割出中確認マイクロスイ
ッチ７の作動により順回搬送機構Ｃの間欠的な周回運動
（７，５秒停止、２．５秒の回動）を開始させる。次に
、同駆動機構りの停止時に、第１４図に示す第１ステー
シヨンＳＴＩにおいて、フットスイッチＦＳＩを操作し
、支持枠１２Ａの把持機構Ｈに未試験の避雷器Ｊを把持
する。支持枠１２Ａは７．５秒の停止後、２．５秒で次
の第２ステーシヨンＳＴ２へ移動し、同様の停止、移動
を繰り返し、更に第３ステーシヨンＳＴ３を経て、第４
ステーシヨンＳＴ４へ移動する。

そして、支持枠１２Ａが第４ステーシヨンＳＴ４で停止
されると、第１プレ充電装置Ｆ１が自動的に作動して、
避雷器Ｊに高電圧が印加される。

次に、前記避雷器Ｊは、第５ステーシヨンＳＴ５に搬送
され、ここで再び高電圧が印加され、その後第６ステー
シヨンＳＴ６に搬送される。

第６ステーシヨンＳＴ６において、第１絶縁抵抗試験装
置Ｒ１が、支持枠１２Ａの停止と同時に作動して、絶縁
抵抗試験が自動的に行われる。このとき、作業者は、前
記試験装置Ｒ１にデジタル表示される測定値により、避
雷器Ｊの製品としての合否を判定する。判定の結果避雷
器Ｊが不良のときは、同避雷器Ｊは次の第７ステーシヨ
ンＳＴ７へ搬送され、ここでフットスイッチＦＳ３の操
作することにより、不良品用の搬出シュート２６Ａを介
して所定の場所へ搬出除去される。

又、判定の結果が合格のときは、避雷器Ｊは第７ステー
シヨンＳＴ７から第８ステーシヨンＳＴ８へ搬送され、
ここで放電耐量試験装置ＴＩによる試験が行われる。

このとき、作業者は、前記試験装置ＴＩにデジタル表示
される測定値により、避雷器Ｊの製品としての合否を判
定する。その結果、避雷器Ｊが不良のとき、同避雷器Ｊ
は次の第９ステーシヨンＳＴ９へ搬送され、フットスイ
ッチＦＳ４の操作により、不良品用の搬出シュー）２６
Ａを介して所定の場所へ搬出除去される。又、良品の避
雷器Ｊは、第９ステーシヨンＳＴ９から、第１０．１１
ステーション５ＴＩＯ，５Ｔ１１を経て、第１２ステー
シヨン５Ｔ１２へ搬送され、ここで第２絶縁抵抗試験装
置Ｒ２による試験が行われる。この結果に基づいて、作
業者は避雷器Ｊの製品としての合否を判定する。

不良の避雷器Ｊは、次の第１３ステーシヨン５Ｔ１３で
フットスイッチＦＳ５の操作により、不良品用の搬出シ
ュート２６Ａから１般出除去される。

良品の避雷器Ｊは、第１３ステーシヨン５Ｔ１３から第
１４ステーシヨン５Ｔ１４へ搬送され、ここでバリスタ
電圧試験装置ＢＶによる試験が行われる。

このとき、作業者は、前記試験装置ＢＶにデジタル表示
される測定値により、避雷器Ｊの製品としての合否を判
定する。判定が不良のとき、同避雷器Ｊは次の第１５ス
テーシヨン５Ｔ１５へ搬送され、フットスイッチＦＳ６
の操作により、不良品用の搬出シュー）２６Ａを介して
所定の場所へ搬出除去される。又、良品判定のときは、
避雷器Ｊは第１５ステーシヨン５Ｔ１５を経て、更に第
１６ステーシヨン５Ｔ１６に搬送される。そして、全て
の試験に合格した避雷器Ｊは、フットスイッチＦＳ７の
操作により、良品用の搬出シュート２６Ｂを介して所定
の場所に収容される。以上の行程により全ての試験を終
了する。

又、第１及び第２発明の両実施例は、次のように具体化
することもできる。

（１）　各装置Ｆ１、Ｆ２．Ｒ１，Ｔ１．Ｒ２゜ＢＶ及
びＣＰＵ３２．ＲＯＭ３Ｂ、ＲＡＭ３９をそれぞれシー
ルドケースに収容すること。

この実施例では、放電耐量試験で発生する高圧の雷イン
パルスがシールドされるので、各装置Ｆ１、Ｆ２．Ｒ１
，Ｔ１．Ｒ２，ＢＶ及びＣＰＵ３２、ＲＯＭ３８．ＲＡ
Ｍ３９に組み込まれたｌ・ランシスター等の半導体への
雷インパルスの影響が防止できる。

（２）　避雷器Ｊの上下両端電極１５Ａ、１５Ｂを上下
両支持アーム１１Ａ、１１Ｂの孔１１ａ。

１１ｂに直接挿入して、上部及び下部の固定電極２８Ａ
、２８Ｂと接触可能に把持すること。この場合上部支持
アーム１１Ａを上下方向の回動可能に取着する等脱着を
行うことができる構成を採るものとする。

（３）　順回搬送機構Ｃの周回運動を連続的、かつ、低
速にするとともに、上部及び下部の固定電極２８Ａ、２
８Ｂの上面及び下面を長くして、避雷器Ｊの上下両端電
極１５Ａ、１５Ｂと電気的に接触可能にすること。

（４）　第２発明の試験装置において、不良品搬出部Ｃ
２を第１絶縁抵抗試験装置抵抗検出部ｒ１、放電耐量試
験装置電流通電部ｔｉ、第２絶縁抵抗試験装置抵抗検出
部ｒ２及びバリスタ電圧試験装置電圧印加部ｂｖの直後
にそれぞれ設け、不良品の避雷器Ｊを除去するようにす
ること。

発明の効果 以上詳述したように、第１発明は試験場所を一箇所に集
中できるとともに、酸化亜鉛避雷器に関する一連の試験
を連続的、かつ能率良く短時間で行うことができるので
、今後更に需要の増大が予想される酸化亜鉛避雷器の試
験を効果的に行うことができる優れた効果を奏する。

又、第２発明は第１発明の効果に加えて、広い試験スペ
ースを必要とせず、一連の酸化亜鉛避雷器の検査項目に
おける、製品としての合否の判定、及びその良品又は不
良品の選別が自動的に行えて、試験に係わる人員数を軽
減できるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は第２発明の実施例の試験装置機構部を示す平面
図、第２図は同じく試験装置機構部を示す側断面図、第
３図は同じく第２発明の実施例の試験装置機構部の把持
機構を示す平面図、第４図は第３図の中央部縦断面図、
第５図は把持機構Ｈの一部とエアシリンダの拡大図、第
６図は試験装置機構部のプレ充電装置の電圧印加部を示
す側面図、第７図は第６図のＸ−Ｘ線断面図、第８図は
放電耐量試験装置の通電部を示す側面図、第９図は第８
図Ｙ−Ｙ線断面図、第１０．１１．１２図は避雷器の把
持解除の経過を示す側断面図、第１３図は試験装置の自
動制御の構成を示すブロック図、第１４図は第１発明の
実施例の試験装置を示す平面図である。 １・・・試験装置機構部、３Ａ（３Ｂ）・・・上部（下
部）電極支持アーム、４Ａ〜４ｃ・・・フレーム、６・
・・駆動モーター、７・・・割出中確認マイクロスイッ
チ、１１Ａ　（１１Ｂ）・・・上部（下部）支持アーム
、１２Ａ〜１２Ｐ・・・支持枠、１３Ａ（１３Ｂ）・・
・上部（下部）把持電極、１４Ａ〜１４Ｃ・・・リング
部材、１５Ａ　（１５Ｂ）・・・上端（下端）電極、１
７・・・受部材、１８・・・スプリング、１９・・・案
内ピン、２１・・・リード線、２３Ａ〜２３Ｇ・・・エ
アシリンダ、２６Ａ（２６Ｂ）・・・不良品用（良品用
）搬出シュート、２７・・・動作制御部、２８Ａ（２８
Ｂ）・・・上部（下部）固定電極、３１・・・接触子、
３２・・・ＣＰＵ、３８・ＲＯＭ、３９−ＲＡＭ、４０
−・・ディスプレー、４１・・・プリンター、Ｃ・・・
順回搬送機構、Ｄ・・・駆動機構、Ｈ・・・把持機構、
Ｊ・・・避雷器、Ｃ１・・・搬入部、Ｃ２・・・不良品
搬出部、Ｃ３・・・良品搬出部、Ｇ・・・間隙、ＬＳ・
・・リミットスイッチ、ＳＴＩ〜５Ｔ１６・・・ステー
ション、Ｆｌ（Ｆ２）・・・第１（第２）プレ充電装置
、Ｒ１（Ｒ２）・・・第１　（第２）絶縁抵抗試験装置
、ＴＩ・・・放電耐量試験装置、ＢＶ・・・バリスタ電
圧試験装置、ＦＳＩ〜ＦＳ７・・・フットスイッチ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　酸化亜鉛避雷器（Ｊ）の自動試験装置において、 駆動機構（Ｄ）により周回運動を行うようにした順回搬
   送機構（Ｃ）と、 前記順回搬送機構（Ｃ）に装着され、前記避雷器（Ｊ）
   の上下両端電極（１５Ａ、１５Ｂ）をそれぞれ着脱可能
   に把持する複数組の把持機構（Ｈ）と、 前記把持機構（Ｈ）の周回運動軌跡と対応する所定の位
   置において支持手段（４Ａ〜４Ｃ）により支持され、か
   つ避雷器（Ｊ）の上下両端電極（１５Ａ、１５Ｂ）と一
   時的に接触する複数組の上部及び下部の固定電極（２８
   Ａ、２８Ｂ）と、前記各組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ
   ）のうち三組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）に対し、周
   回運動方向に順次接続した第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１
   ）、放電耐量試験装置（Ｔ１）及び第２絶縁抵抗試験装
   置（Ｒ２）と、 更に、別組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）に接続したバ
   リスタ電圧試験装置（ＢＶ）と、 避雷器（Ｊ）を把持機構（Ｈ）に装着するための搬入部
   （Ｃ１）と、 前記把持機構（Ｈ）に装着された避雷器（Ｊ）を除去す
   るための搬出部（Ｃ２、Ｃ３）と により構成したことを特徴とする酸化亜鉛避雷器の自動
   試験装置。 ２　把持機構（Ｈ）は支持部材（９）と同支持部材（９
   ）の上下両端に水平に片持支持された上部及び下部の支
   持アーム（１１Ａ、１１Ｂ）とにより、側面■型形状に
   形成された絶縁性を有する支持枠（１２Ａ〜１２Ｐ）と
   、前記上部支持アーム（１１Ａ）の先端部に設けられ、
   かつ、下面に避雷器（Ｊ）の上端電極（１５Ａ）を係合
   するための係止孔（１３ａ）を有する上部把持電極（１
   ３Ａ）と、前記下部支持アーム（１１Ｂ）の先端に上下
   方向の往復動可能に支持され、かつ、上端に避雷器（Ｊ
   ）の下端電極（１５Ｂ）を係合するための下部把持電極
   （１３Ｂ）と、同下部把持電極（１３Ｂ）を上方把持位
   置へ付勢するためのスプリング（１８）とよりなる特許
   請求の範囲第１項に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装
   置。 ３　把持機構（Ｈ）の下部支持アーム（１１Ｂ）には下
   部把持電極（１３Ｂ）の近傍に位置するように避雷器（
   Ｊ）の下降動作を利用して同避雷器（Ｊ）を前方へ転倒
   させる搬出部（Ｃ２、Ｃ３）の構成部材としての案内ピ
   ン（１９）が設けられている特許請求の範囲第２項に記
   載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。 ４　案内ピン（１９）は接地するために下部把持電極（
   １３Ｂ）と電気的に接続された特許請求の範囲第３項に
   記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。 ５　搬入部（Ｃ１）は下部把持電極（１３Ｂ）をスプリ
   ング（１８）の弾力に抗して下動させるためのシリンダ
   （２３Ａ、２３Ｂ）と、同シリンダ（２３Ａ、２３Ｂ）
   の昇降動作を行うためのフットスイッチ（ＦＳ１、ＦＳ
   ２）と、前記シリンダ（２３Ａ、２３Ｂ）のピストンロ
   ッド（２３ａ）に係着され、かつ、前記下部把持電極（
   １３Ｂ）に止着したリング部材（１４Ｂ、１４Ｃ）の間
   隙（Ｇ）に進入される係合板（２３ｂ）とにより構成さ
   れている特許請求の範囲第２項に記載の酸化亜鉛避雷器
   の自動試験装置。 ６　不良品及び良品の搬出部（Ｃ２、Ｃ３）は下部把持
   電極（１３Ｂ）をスプリング（１８）の弾力に抗して下
   動させるためのシリンダ（２３Ｃ〜２３Ｇ）と、同シリ
   ンダ（２３Ｃ〜２３Ｇ）の昇降を操作するためのフット
   スイッチ（ＦＳ３〜ＦＳ７）と、避雷器（Ｊ）を所定の
   位置に搬出するための搬出シュート（２６Ａ、２６Ｂ）
   と、前記シリンダ（２３Ｃ〜２３Ｇ）のピストンロッド
   （２３ａ）に係着され、かつ、前記下部把持電極（１３
   Ｂ）に止着したリング部材（１４Ｂ、１４Ｃ）の間隙（
   Ｇ）に進入される係合板（２３ｂ）とよりなる特許請求
   の範囲第２項に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。 ７　順回搬送機構（Ｃ）を構成する基板（８）の外周部
   には複数個の把持機構（Ｈ）が放射状に、かつ、等間隔
   に取着された特許請求の範囲第１項に記載の酸化亜鉛避
   雷器の自動試験装置。 ８　順回搬送機構（Ｃ）は駆動機構（Ｄ）によって間欠
   回転運動するようになっている特許請求の範囲第１項に
   記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。 ９　固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）は支持手段として立設
   されたフレーム（４Ａ〜４Ｃ）に対して把持機構（Ｈ）
   に対向して突設した上下一対の電極支持アーム（３Ａ、
   ３Ｂ）の先端部に取着されている特許請求の範囲第１項
   に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。 １０　第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１）、放電耐量試験装
   置（ＴＩ）、第２絶縁抵抗試験装置（Ｒ２）及びバリス
   タ電圧試験装置（ＢＶ）はそれぞれシールドケースに収
   容されている特許請求の範囲第１項に記載の酸化亜鉛避
   雷器の自動試験装置。 １１　不良品搬出部（Ｃ２）と良品搬出部（Ｃ３）は別
   々に設けられている特許請求の範囲第１項に記載の酸化
   亜鉛避雷器の自動試験装置。 １２　酸化亜鉛避雷器（Ｊ）の自動試験装置において、 駆動機構（Ｄ）により周回運動を行うようにした順回搬
   送機構（Ｃ）と、 前記順回搬送機構（Ｃ）に装着され、前記避雷器（Ｊ）
   の上下両端電極（１５Ａ、１５Ｂ）をそれぞれ着脱可能
   に把持する複数組の把持機構（Ｈ）と、 前記把持機構（Ｈ）の周回運動軌跡と対応する所定の位
   置において支持手段（４Ａ〜４Ｃ）により支持され、か
   つ避雷器（Ｊ）の上下両端電極（１５Ａ、１５Ｂ）と一
   時的に接触する複数組の上部及び下部の固定電極（２８
   Ａ、２８Ｂ）と、前記各組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ
   ）のうち三組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）に対し、周
   回運動方向に順次接続した第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１
   ）、放電耐量試験装置（ＴＩ）及び第２絶縁抵抗試験装
   置（Ｒ２）と、 更に、別組の固定電極（２８Ａ、２８Ｂ）に接続したバ
   リスタ電圧試験装置（ＢＶ）と、 避雷器（Ｊ）を把持機構（Ｈ）に装着するための搬入部
   （Ｃ１）と、 前記把持機構（Ｈ）に装着された避雷器（Ｊ）を除去す
   るための搬出部（Ｃ２、Ｃ３）と、 前記駆動機構（Ｄ）、各試験装置（Ｒ１、ＴＩ、Ｒ２、
   ＢＶ）の作動及び試験結果の判定をそれぞれ集中して自
   動制御するための中央処理装置ＣＰＵ（３２）と、 前記中央処理装置ＣＰＵ（３２）に付属して、予め試験
   方法、基準値等のプログラムあるいはデータを記憶する
   ための読み出し専用メモリーＲＯＭ（３８）と、 前記中央処理装置ＣＰＵ（３２）に付属して、試験結果
   を記憶する読み出し書き込み両用メモリーＲＡＭ（３９
   ）と により構成したことを特徴とする酸化亜鉛避雷器の自動
   試験装置。 １３　中央処理装置ＣＰＵ（３２）、読み出し専用メモ
   リーＲＯＭ（３８）及び読み出し書き込み両用メモリー
   ＲＡＭ（３９）はそれぞれシールドケースに収容されて
   いる特許請求の範囲第１２項に記載の酸化亜鉛避雷器の
   自動試験装置。 １４　中央処理装置ＣＰＵ（３２）は試験結果を表示、
   記録するためのディスプレー（４０）及びプリンター（
   ４１）を備えた特許請求の範囲第１２項に記載の酸化亜
   鉛避雷器の自動試験装置。