JP2976000B2 - リードスイッチの耐電圧測定装置および耐電圧測定方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明はリードスイッチの耐電圧測定装置及びそれを
用いた耐電圧測定方法に係わり、特に、真空容器内に対
向配置されているリード片接点の間に高電圧を印加して
上記真空リードスイッチの耐電圧を測定するものに好適
なものである。

＜従来の技術＞ リードスイッチの耐電圧を測定するために、従来より
耐電圧測定装置が用いられている。第２図は、従来用い
られている真空リードスイッチの耐電圧測定装置の一例
を示す構成図である。

第２図から明らかなように、この真空リードスイッチ
の耐電圧測定装置のハンドラー部は、測定対象の真空リ
ードスイッチ１を収納したマガジン２と、上記マガジン
２を送るためのマガジン送り装置３と、マガジン２を載
置するためのプレート４とにより構成されている。

また、測定系は上記真空リードスイッチ１を保持する
とともに、そのリード端子に電圧を印加するための測定
端子５と、高電圧発生回路６および真空リードスイッチ
１に高電圧を印加した時にリード片接点16間において放
電が起きたか否かを調べる電流コンパレータ７とからな
っている。

また、良品，不良品の選別は、選別を行うアクチュエ
ータ８とそのアクチュエータ８を駆動させる駆動回路９
とからなる。

次に、上記構成に基づき耐電圧の測定について説明す
る。

マガジン２に収納された測定対象の真空リードスイッ
チ１は、マガジン送り装置３により矢印2a方向に移動さ
れて行き、プレート開口穴4a上に達した時点で下方に落
下する。そして、上記プレート開口部4aの下側に配設さ
れている測定端子５に保持されるとともに、この測定端
子５を介して高電圧発生回路６によって発生された高電
圧がリード端子間に印加される。このときに、真空リー
ドスイッチ１の内部で放電が発生して電流が流れれば、
それが電流コンパレータ７によって検出され、アクチュ
エータ８を矢印8a方向に回転させる指令が図示しない制
御回路からアクチュエータ駆動回路９に出力される。ま
た、真空リードスイッチ１内で放電が起こらなくて電流
が流れなければ、上記アクチュエータ８を矢印8b方向に
回転させる指令がアクチュエータ駆動回路９に出力され
る。

耐電圧の測定が終了すると、測定端子５は真空リード
スイッチ１を解放して下方に落下させる。真空リードス
イッチ１が落下して行く途中には、アクチュエータ８に
よって所定の方向に回転させられた選別板10が介設され
ていて、この選別板10により良品真空リードスイッチ13
は第２図中左側方向に落下されるとともに、不良品真空
リードスイッチ14は右側方向に落下され、良品収納箱11
および不良品収納箱12内にそれぞれ収納される。

＜発明が解決しようとする課題＞ このようにして選別される不良品真空リードスイッチ
14として判定されたものの中には、リード片接点16の面
上に微小な突起があったり、或いは接点表面に汚染物が
付着しているために、目標とする高電圧、例えば1500V
の高電圧に僅かに耐えられなくなっているものがある。
しかし、従来の耐電圧測定装置やそれを用いた測定方法
においては、リードスイッチ端子間に単に所定の高電圧
を印加した時に放電が生じるか否かを調べて耐電圧を測
定していただけなので、上記したように必要な処理を施
せば良品として十分に使用することが出来るものも全て
不良品として判定していた。したがって、不良品として
判定する真空リードスイッチの数が多くなってしまうの
で歩留りが悪いという問題があった。

このような不都合を解決するために、真空リードスイ
ッチを製造する工程中に上記突起や汚染物の有無をチェ
ックする工程を設け、突起や汚染物が有る場合にはこれ
らを除去する工程を行なうようにして歩留りを向上させ
ることが考えられる。しかし、このようにすると製造工
数が増えてしまうので、歩留りを向上させても結局は真
空リードスイッチの製造コストを低減させることは出来
なかった。

本発明は上述の問題点に鑑み、所定の高電圧を印加し
て目標耐電圧を測定する前に、測定しようとしている真
空リードスイッチの耐電圧を向上させることが出来る真
空リードスイッチの耐電圧測定装置並びに測定方法を提
供することを目的とする。

＜課題を解決するための手段＞ 本発明のリードスイッチの耐電圧測定装置は、第１の
端子と第２の端子とを有するリードスイッチの耐電圧測
定装置であって、前記第１の端子と前記第２の端子との
間に与える測定用電圧及び化成用電圧を生成する電圧発
生手段と、前記測定用電圧及び前記化成用電圧のいずれ
か一方を、前記第１の端子と前記第２の端子との間に選
択的に伝達する印加電圧切り換え手段とを備えたもので
ある。

しかも前記電圧発生手段は、前記測定用電圧を生成す
る回路と、前記測定用電圧よりも低い化成用電圧を生成
する回路とで構成されている。

そのうえ前記化成用電圧を生成する回路は、抵抗手段
を含むことを特徴とする。

又第１の端子と第２の端子とを有するリードスイッチ
の耐電圧を測定方法として、前記第１の端子と前記第２
の端子との間に、化成用電圧を印加する第１のステップ
と、前記第１の端子と前記第２の端子との間に、前記化
成用電圧とは異なる測定用電圧を印加する第２のステッ
プとを備えたことを特徴とし、前記化成用電圧は、前記
測定用電圧よりも低い電圧であることを特徴とするもの
である。

＜作用＞ 目標とする耐電圧よりも低いが、かなり高い電圧であ
る第２の高電圧がリードスイッチの両端子間に印加され
ると、それにより、極々微小な放電がリード片の接点間
に生じその衝撃エネルギーにより接点面にある微小な突
起や汚染物が除去されるので耐電圧が向上する。したが
って、上記微小な突起や汚染物が有るために不良品とな
っていた真空リードスイッチを良品のグループに入れる
ことが出来るようになり、歩留りが向上する。

＜実施例＞ 第１図は、本発明に係わる真空リードスイッチの耐電
圧測定装置の構成図である。なお、第１図において、従
来と同一の部分については同一の符号を付して詳細な説
明を省略する。

第１図に示すように、実施例の真空リードスイッチの
耐電圧測定装置による測定においても、測定端子５によ
り真空リードスイッチ１の両端子すなわち第1,2の各端
子を保持し、これらの端子間に高電圧を印加する。

実施例においては、測定用と高電圧発生手段としての
第１の高電圧発生回路6aと、化成用高電圧を発生させる
ための第２の高電圧発生回路6bとを設けている。そし
て、これらの高電圧発生回路によって発生される電圧
を、制御回路（図示せず）によって切り換え動作が制御
される印加電圧切り換え手段である切り換えスイッチ15
を介して取り出し、真空リードスイッチ１の第1,2端子
に選択的に印加するようにしている。第１図には、抵抗
が介設されていない方の回路を第１の高電圧発生回路6a
として示し、抵抗17が介設されている回路を第２の高電
圧発生回路6bとして示している。

測定端子５に真空リードスイッチ１を保持したときに
は、切り換えスイッチ15の切り換え接点は矢印15a側に
切り換えられていて、最初は化成用の高電圧が真空リー
ドスイッチの両端子間に印加される。このときに印加さ
れる電圧の大きさは、例えば目標とする耐電圧の数10％
（例えば80％）程度に設定されている。すはわち、良品
と判定する際の耐電圧の下限が1500Vであれば、 1500V×0.8＝1200V 程度の高電圧が数秒から数10秒間印加される。

1200Vの化成用電圧が印加されたときに放電を起こし
た真空リードスイッチ１は、直ぐに不良品として判定さ
れて不良品収納箱12に排除される。

また、放電を起こさない真空リードスイッチ１はその
まま化成用電圧が所定時間加えられる。したがって、こ
のときに上述したようにリードスイッチの接点間に極々
微小な放電が生じ、これにより接点面にある微小な突起
や汚染物が除去されるので、耐電圧が徐々に上昇して行
く。

このようにして、化成用電圧を所定時間だけ印加した
ら、次に、切り換えスイッチ15を矢印15b側に切り換え
て真空リードスイッチ１に測定用の高電圧を印加し、耐
電圧が目標耐電圧以上か否かを測定する。この場合、接
点面にあった微小な突起や汚染物が除去されることによ
り、耐電圧は例外無く向上するので、目標耐電圧以下で
あったものを目標耐電圧以上にすることができる。した
がって、真空リードスイッチ１の歩留りを向上させるこ
とが出来る。

また、元々良品であった真空リードスイッチ１につい
ても、耐電圧を更に向上させることが出来るので、品質
の向上が図れる。

なお、上記実施例においては、化成用電圧を印加する
例として目標耐電圧よりも低い固定電圧を印加するよう
にした例を示したが、この外に、例えば印加電圧を0Vか
ら目標耐電圧まで連続的にまたは段階的に上昇させなが
ら印加したり、或いは、交流電圧を印加するなどの種々
の方法を用いることが出来る。

＜発明の効果＞ 本発明は上述したように、真空リードスイッチの耐電
圧を測定する際に、上記真空リードスイッチの耐電圧を
調べるために上記各測定端子間に加える測定用高電圧よ
りも低い化成用高電圧を発生させ、上記真空リードスイ
ッチの耐電圧を測定する前に、上記化成用高電圧を上記
各測定端子間に所定時間加えるようにしたので、リード
片接点間に化成を行なうことが出来、測定しようとする
真空リードスイッチの耐電圧を向上させることが出来
る。したがって、化成を行うことなく製造した真空リー
ドスイッチであっても、化成を行って製造した真空リー
ドスイッチと同じような良好な歩留りを得ることが出
来、簡易な方法で製造したにも拘らず、歩留りを大幅に
向上させることが出来るとともに、品質の向上が図れ
る。

また、化成を行うために耐電圧測定装置に付加する部
分は極僅かであり、耐電圧測定装置を大型化させたり、
製造コストを上昇させたすることなく、真空リードスイ
ッチの歩留りや品質を向上させることが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係わる真空リードスイッチの耐電圧
測定装置の構成図、 第２図は、従来の真空リードスイッチの耐電圧測定装置
の一例を示す構造図である。 １……真空リードスイッチ,5……測定端子， ６……高電圧発生回路， 6a……第１の高電圧発生回路， 6b……第２の高電圧発生回路， ７……コンパレータ,15……切り換えスイッチ， 16……リード片接点。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01R 31/12 H01H 9/54

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】第１の端子と第２の端子とを有するリード
   スイッチの耐電圧測定装置において、 前記第１の端子と前記第２の端子との間に与える測定用
   電圧及び化成用電圧を生成する電圧発生手段と、 前記測定用電圧及び前記化成用電圧のいずれか一方を、
   前記第１の端子と前記第２の端子との間に選択的に伝達
   する印加電圧切り換え手段とを備えたことを特徴とする
   リードスイッチの耐電圧測定装置。
2. 【請求項２】前記電圧発生手段は、前記測定用電圧を生
   成する回路と、前記測定用電圧よりも低い化成用電圧を
   生成する回路とで構成されていることを特徴とする請求
   項１記載のリードスイッチの耐電圧測定装置。
3. 【請求項３】前記化成用電圧を生成する回路は、抵抗手
   段を含むことを特徴とする請求項１記載のリードスイッ
   チの耐電圧測定装置。
4. 【請求項４】第１の端子と第２の端子とを有するリード
   スイッチの耐電圧測定方法において、 前記第１の端子と前記第２の端子との間に、化成用電圧
   を印加する第１のステップと、 前記第１の端子と前記第２の端子との間に、前記化成用
   電圧とは異なる測定用電圧を印加する第２のステップと
   を備えたことを特徴とするリードスイッチの耐電圧測定
   方法。
5. 【請求項５】前記化成用電圧は、前記測定用電圧よりも
   低い電圧であることを特徴とする請求項４記載のリード
   スイッチの耐電圧測定方法。