JPS61264718A - 光cvd装置 - Google Patents
光cvd装置Info
- Publication number
- JPS61264718A JPS61264718A JP10591285A JP10591285A JPS61264718A JP S61264718 A JPS61264718 A JP S61264718A JP 10591285 A JP10591285 A JP 10591285A JP 10591285 A JP10591285 A JP 10591285A JP S61264718 A JPS61264718 A JP S61264718A
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- tube
- light
- inert gas
- reaction vessel
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/0262—Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/0242—Crystalline insulating materials
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
光CVD装置の光透過窓の曇りを防止するために、光透
過窓を端面に有する光導入管を真空反応容器に取付け、
この光導入管内に不活性ガスを光透過窓付近から流すこ
とができる。
過窓を端面に有する光導入管を真空反応容器に取付け、
この光導入管内に不活性ガスを光透過窓付近から流すこ
とができる。
本発明は、光エネルギーを利用したCVD(Chin+
1cal Vapor Deposition :
化学的気相堆積)で薄膜を形成する光CVD装置に関す
るものである。光CVD装置はIC,LSIなどの半導
体装置、太陽電池などでのシリコン膜あるいは絶縁膜を
形成するのに用いられる。
1cal Vapor Deposition :
化学的気相堆積)で薄膜を形成する光CVD装置に関す
るものである。光CVD装置はIC,LSIなどの半導
体装置、太陽電池などでのシリコン膜あるいは絶縁膜を
形成するのに用いられる。
半導体装置の製造においてプロセスの低温化さらに下地
と堆積膜への低損傷化のためにCVD成膜に光エネルギ
ーを利用するようになった。例えば、伊藤、畑中、西岡
、早藤、赤坂、「光励起CVDJ 、 Vol、3.
No、9. pp、115〜164.1984年9月号
、 Sem1conductor World 、 @
プレスジャーナル、参照。光CVDにおける重大な問題
は反応用の光を導入する光透過窓にも薄膜が堆積して光
透過率が低下することである。すなわち、光透過窓が反
応生成物によって曇り、入射光量が低下して反応速度が
低下し、特に、シリコン膜の堆積の場合には堆積が停止
することがある。このような光透過窓の曇り防止のため
に、第2図に示すように真空反応容器1の窓2の近くか
ら不活性ガスを流すことが提案された。この方法は窓の
曇り低減にかなりの効果があるが完全ではない。
と堆積膜への低損傷化のためにCVD成膜に光エネルギ
ーを利用するようになった。例えば、伊藤、畑中、西岡
、早藤、赤坂、「光励起CVDJ 、 Vol、3.
No、9. pp、115〜164.1984年9月号
、 Sem1conductor World 、 @
プレスジャーナル、参照。光CVDにおける重大な問題
は反応用の光を導入する光透過窓にも薄膜が堆積して光
透過率が低下することである。すなわち、光透過窓が反
応生成物によって曇り、入射光量が低下して反応速度が
低下し、特に、シリコン膜の堆積の場合には堆積が停止
することがある。このような光透過窓の曇り防止のため
に、第2図に示すように真空反応容器1の窓2の近くか
ら不活性ガスを流すことが提案された。この方法は窓の
曇り低減にかなりの効果があるが完全ではない。
本発明は、反応生成物による光透過窓のくもりを完全に
防止できる光CVD装置を提供することを目的としてい
る。
防止できる光CVD装置を提供することを目的としてい
る。
〔問題点を解決するための手段および作用〕上述の目的
が、反応ガス導入管および排気管を有しかつ加熱サセプ
タ上の基板を収容している真空反応容器;基板に紫外線
を当てることのできる位置で真空反応容器に取付けられ
かつ光透過板の窓がその端面に設けられている光導入管
;該窓の外側に配置された紫外線ランプ;および光導入
管に窓近くで取付けられた不活性ガス導入管;からなる
光CVD装置によって達成され、不活性ガス導入管から
流す不活性ガスが真空反応容器内で生じる反応生成物の
光導入管内への侵入を抑えて光透過板窓への付着を防止
するわけである。
が、反応ガス導入管および排気管を有しかつ加熱サセプ
タ上の基板を収容している真空反応容器;基板に紫外線
を当てることのできる位置で真空反応容器に取付けられ
かつ光透過板の窓がその端面に設けられている光導入管
;該窓の外側に配置された紫外線ランプ;および光導入
管に窓近くで取付けられた不活性ガス導入管;からなる
光CVD装置によって達成され、不活性ガス導入管から
流す不活性ガスが真空反応容器内で生じる反応生成物の
光導入管内への侵入を抑えて光透過板窓への付着を防止
するわけである。
以下、添付図面を参照して本発明の実施態様例によって
本発明をより詳しく説明する。
本発明をより詳しく説明する。
第1図は本発明に係る光CVD装置の概略図である−こ
の光CVD装置の真空反応容器1は反応ガス導入管3お
よび真空ポンプ(図示せず)につながっている排気管4
を有している。この真空反応容器1内に装入されて、薄
膜(アモルファス又は多結晶シリコン膜、酸化膜、窒化
膜など)が堆積する基板5が加熱サセプタ6上に配置さ
れている。基板5は、例えば、シリコンウェハである。
の光CVD装置の真空反応容器1は反応ガス導入管3お
よび真空ポンプ(図示せず)につながっている排気管4
を有している。この真空反応容器1内に装入されて、薄
膜(アモルファス又は多結晶シリコン膜、酸化膜、窒化
膜など)が堆積する基板5が加熱サセプタ6上に配置さ
れている。基板5は、例えば、シリコンウェハである。
サセプタ6はヒーター7を備えたものを図示したが、誘
導加熱されてもよい。本発明にしたがって、真空反応容
器1には基板5の上方位置に光導入管8が取付けられて
いる。この光導入管8の端面に光透過板(例えば、溶融
石英板)の窓2が設けられ、また、この窓2近くにて不
活性ガス導入管9が光導入管8に取付けられている。そ
して、窓2の外側に紫外線ランプ10が設置されており
、このランプには水銀ランプ、重水素ランプ、 Xe
ショート・ショート・アーク・ランプ、さらにはエキシ
マレーザを用いることができる。
導加熱されてもよい。本発明にしたがって、真空反応容
器1には基板5の上方位置に光導入管8が取付けられて
いる。この光導入管8の端面に光透過板(例えば、溶融
石英板)の窓2が設けられ、また、この窓2近くにて不
活性ガス導入管9が光導入管8に取付けられている。そ
して、窓2の外側に紫外線ランプ10が設置されており
、このランプには水銀ランプ、重水素ランプ、 Xe
ショート・ショート・アーク・ランプ、さらにはエキシ
マレーザを用いることができる。
上述の光CVD装置によって基板上への薄膜形成が次の
ように行なわれる。
ように行なわれる。
まず、基板5を加熱サセプタ6上に配置してから真空ポ
ンプで排気して真空反応容器1内を減圧する。基板5を
所定温度に加熱し、その温度に保持する。紫外線ランプ
lOからの紫外線11を基板5に照射し、反応ガスを反
応ガス導入管3から真空反応容器1内へ流し、同時に不
活性ガス(アルゴンガス、水素ガスなど)を不活性ガス
導入管9から光導入管8を経由して真空反応容器1内へ
流す。不活性ガスを基板加熱時から流してもよい。
ンプで排気して真空反応容器1内を減圧する。基板5を
所定温度に加熱し、その温度に保持する。紫外線ランプ
lOからの紫外線11を基板5に照射し、反応ガスを反
応ガス導入管3から真空反応容器1内へ流し、同時に不
活性ガス(アルゴンガス、水素ガスなど)を不活性ガス
導入管9から光導入管8を経由して真空反応容器1内へ
流す。不活性ガスを基板加熱時から流してもよい。
このようにして反応ガスが紫外線11に当って所定の反
応が進行し、結果として反応生成物(シリコン、酸化物
、窒化物など)が基板5上へ堆積して薄膜が形成される
。このときに反応生成物が光導入管8内へ浸入すること
は不活性ガスの流れによって阻止されて、光透過板窓2
に反応生成物が付着(堆積)することはない。
応が進行し、結果として反応生成物(シリコン、酸化物
、窒化物など)が基板5上へ堆積して薄膜が形成される
。このときに反応生成物が光導入管8内へ浸入すること
は不活性ガスの流れによって阻止されて、光透過板窓2
に反応生成物が付着(堆積)することはない。
貫
第1図に示した光CVD装置にてアモルファスシリコン
膜を下記条件にて形成した。
膜を下記条件にて形成した。
反応ガス: SiH4(103CCM)増感剤として水
銀蒸気を含む 不活性ガス: Ar(100sec+)真空反応容器内
圧カニ I Torr 基板 : ガラス 基板温度=150℃ 紫外線ランプ:低圧水銀ランプ(500W)ガラス基板
上にアモルファスシリコン膜が1時間後に0.3μ請厚
さに形成され、続けて合計3時間装置を稼動させても光
透過板窓にくもり(シリコンの堆積)は生じなかった。
銀蒸気を含む 不活性ガス: Ar(100sec+)真空反応容器内
圧カニ I Torr 基板 : ガラス 基板温度=150℃ 紫外線ランプ:低圧水銀ランプ(500W)ガラス基板
上にアモルファスシリコン膜が1時間後に0.3μ請厚
さに形成され、続けて合計3時間装置を稼動させても光
透過板窓にくもり(シリコンの堆積)は生じなかった。
本発明に係る光CVD装置では光透過板窓のくもりが完
全に防止でき、反応の進行が低下することはない。
全に防止でき、反応の進行が低下することはない。
第1図は本発明に係る光CVD装置の概略図であり、第
2図は従来の光CVD装置の概略図である。 1・・・真空反応容器、 2・・・光透過板窓ミ5・
・・基板、 8・・・光導入管、10・・・
紫外線ランプ。
2図は従来の光CVD装置の概略図である。 1・・・真空反応容器、 2・・・光透過板窓ミ5・
・・基板、 8・・・光導入管、10・・・
紫外線ランプ。
Claims (1)
- 1、反応ガス導入管および排気管を有しかつ加熱サセプ
タ上の基板を収容している真空反応容器;前記基板に紫
外線を当てることのできる位置で前記真空反応容器に取
付けられかつ光透過板の窓がその端面に設けられている
光導入管;該窓の外側に配置された紫外線ランプ;およ
び、前記光導入管に前記窓近くで取付けられた不活性ガ
ス導入管;からなり、前記不活性ガス導入管から流す不
活性ガスが前記真空反応容器内で生じる反応生成物の前
記窓の光透過板への付着を防止すること特徴とする光C
VD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10591285A JPS61264718A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 光cvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10591285A JPS61264718A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 光cvd装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61264718A true JPS61264718A (ja) | 1986-11-22 |
Family
ID=14420073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10591285A Pending JPS61264718A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 光cvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61264718A (ja) |
-
1985
- 1985-05-20 JP JP10591285A patent/JPS61264718A/ja active Pending
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