JPS61232611A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPS61232611A
JPS61232611A JP7505085A JP7505085A JPS61232611A JP S61232611 A JPS61232611 A JP S61232611A JP 7505085 A JP7505085 A JP 7505085A JP 7505085 A JP7505085 A JP 7505085A JP S61232611 A JPS61232611 A JP S61232611A
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JP
Japan
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film
light
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screen plate
chamber
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Application number
JP7505085A
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English (en)
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野」 本発明は、光化学反応により薄膜形成する装置であって
、大面積の被形成面上に均一に被膜を光照射用の透光性
遮蔽板上にオイル等をコートすることなく形成する手段
を有するCVD (気相液)、ム・)装置に関する。
「従来技術及びその問題点」 気相反応によるF# ll!形成技術として、光エネル
ギにより反応性気体を活性にさせる光cvn法が知られ
ている。この方法(5J、従来の熱CVD法またはプラ
ズマCVD法に比べ、低温での被膜形成がiiJ能であ
るに加えて、被形成面に損傷をり、えないという点で優
れたものである。
かかる光CVD法を実施するに際し、その装置の一例を
第1図に示すが、反応室(2)内に保持された基板(1
)、その基板の加熱手段(3ン、さらに基板に光照射す
る低圧水銀灯(9)とを有している。、1、−ピング系
(7)には、反応性気体の励起用の水銀バブラ(13)
及び排気系(8)にはロータリーポンプ(19)を具備
している。[゛−ピング系よりの反応性気体例えばジシ
ランが反応室(2)に導入され、反応生成物である例え
ばアモルファス珪素を基板(基板温度250°C)]二
に形成するに際し、反応室の紫外光透光用の遮蔽板(1
0)、代表的には石英窓にも同時に多量に珪素膜が形成
されてしまう。このためこの窓への被膜形成を防くため
1、二の窓にフォンプリンオイル(弗素系オイルの一例
)(16)を薄くコ−1〜している。
しかし、このオイルは、窓(10)への被膜形成を防く
作用を有しつつも、被膜内に不純物として混入してしま
う。さらにこのオイル上にも少しづつ同時に反応生成物
が形成され、ここでの光吸収により被膜形成の厚さに制
限が生じてしまう欠点を有する。
r問題を解決するための手段」 本発明はこれらの問題を解決するため、光CVD法にお
いて問題となっている紫外光透光用の遮蔽板とガイド弁
とを配設させた第1の遮蔽板とこの外側に透光性の第2
の遮蔽板とを設けたものである。そしてこの第1の透光
性遮蔽板の反応室側の表面に反応ηヨ成物が蓄積されて
紫外光を遮光しないように、または遮光させにくいよう
に、この遮蔽板の表面にそって非生成物気体(反応また
は分解により固体を形成しない気体、例えばIle、A
r、Ilz。
N2.NI+3. N20.O□またはこれらの混合気
体)を導出せしめる構造としたものである。
またこの非反応性板の導出のため、またここに人気の混
入を防くため第1及び第2の遮蔽板の間の空間(以下バ
ッファ室という)を設けたものである。
かかる構造とすることにより、光源を大気圧に配設し得
る。またこのバッファ室と反応室との圧力差はバッファ
室を正圧、反応室を負圧とし、また隙間(30〜300
 μ、一般には約50μ)を有する。
そしてバッファ室の外側の第2の遮蔽板は大気圧内に配
設された光源例えばエキシマレーザとバッファ室との圧
力差を保証させた。
「作用j これらの特長のため、光CVD法で被膜形成を行わんと
する時、遮蔽板」二の窓」二に反応生成物が形成される
ことがない、またはきわめて少ない。その結果、照射光
は窓を十分透過し、反応性気体を十分励起(分解、およ
び反応を含む)し、被形成面に反応生成物を蓄積させ得
る。その時、同時に同し反応生成物か透光性遮蔽板の上
面にも飛来するが、この生成物は窓とその端部に設りら
れたガイド弁との隙間より反応室に導出される非生成物
気体によりIK目害され、窓」二面には被着し得ない。
そのため、透光性遮蔽板(窓ともいう)の表面には反応
生成物が形成されず、結果として紫外光を反応室内にい
つまでも十分な強度で放射し反応性気体を励起させ続は
得る。そして基板の被形成面上に十分な膜厚に被膜形成
をさせ得る。そして従来より公知の1回のみの100(
オイルコートのない場合)〜1000人(オイルコ−1
・を行った場合)という厚さの成膜ではなく、繰り返し
500〜5000人の所望の膜厚の被膜を形成させ得る
さらにこの光CVDの後、同じハツチでこの被膜上にプ
ラズマCVD法により同種または異種の被膜を同じ反応
室を用いて作製することが本発明では可能である。
さらに本発明は、非生成物気体の導出量が不十分のため
に窓上に付着した不要生成物をもプラズマエツチング法
で反応室を大気に触れさせずに除去し得る。また本発明
装置は、オイルフリーの反応系であるため、パンクグラ
ウンドレベルの真空度を10−’torr以下とするこ
とができた。そして非酸化物の反応生成物である珪素等
の半導体被膜、炭化珪素、窒化珪素、窒化アルミニュー
ム、金属アルミニュームの光励起による光CVD被膜形
成をさせ得る。
「実施例j 以下本発明を第2図に示した実施例により、その詳細を
記す。
第2図において、被形成面を有する基板(1)はホルダ
(1”)に保持され、反応室(2)上のハロゲンヒータ
(3)(上面を水冷(32))に近接して設けられてい
る。反応室(2)、紫外光源(40)が透過するバッフ
ァ室(43)およびヒータ(3)が配設された加熱室(
11)は、それぞれの圧力を100 torr以下の概
略同一の真空度に配管(12)及び第1の遮蔽板の隙間
により保持した。このために、反応に支障のない非生成
物気体(ここでは窒素、アルゴン又は水素)を(28)
より流量計(21)、バルブ(22)よりバソファ室(
,13) 、加熱室(11)に供給した。そしてその気
体を第1の透光性遮蔽板(10)とのカイ1弁(10”
)との隙間より遮蔽板の表面にそって反応室に連続的に
導出(14)することにより、不要反応生成物の遮蔽板
−に面への付着防止をした。また光源(40)はエキシ
マレーザよりコヒーレントな紫外光(60nm〜400
nm) (41)を第2および第1の透光性遮蔽板を透
過して反応室(2)内に照射した。
ごのレーザは単純なレーザ管からの光であっても、その
光を照射面を広りるため巾(図面での上下方向)を5〜
10mmとし、これを[11広に10〜50cm例えば
30cmとするため拡大してパルス光として照射するこ
とは有効である。このレーリ゛光は被形成上面またはそ
の近傍(被形成面より10mm以内)とすることにより
被膜形成速度を犬きくさ−けだ。
本発明の薄膜形成装置におりる反応性気体番よアンモニ
ア(NI+3)、弗化窒素(NF2)、珪化物気体であ
るシラン(SInllz+++z)+ 弗化珪素(Si
F2.SiF、、 Si2F6゜11□5iFz)、メ
チルアルミニューム(AI(CIL+)3)またはその
混合気体を用い得る。非生成物気体としてむよ反応生成
物として珪素の如き半導体を作る場合、水素、アルゴン
またはヘリーーームを用いた。窒化物(窒化珪素、窒化
アルミニューム)を作る場合ill窒素または水素を用
いた。金属アルミニュームを作る場合は水素、アルゴン
またはへリュームを用い六二。
l、−ピング系(7)はバルブ(22L 流量計(21
)よりなり、反応後固体仕成物を形成させる反応性気体
は(23)ないしく26)より供給させた。反応室の圧
力制御は、コントロールバルブ(17)を経てターボ分
子ポンプ(大阪真空製PG550を使用)(18Lr+
 −タリーポンプ(19)を経、排気させることにより
成就した。
予備室を真空引きする際は他のターボ分子ポンプ(18
’)及びロータリーポンプ(19’ )を用いた。
被膜の形成プロセスは、基板の予flift室より反応
室への移動に関し、圧力差がヰしないようにしたローI
S・ロック方式を用いた。まず、予侃室(4)にて基板
(1)およびホルダ(1′)を挿入・配設し、真空引き
をした後、予め1O−7torrまたはそれ以下に真空
引きがされζいる反応室(2)との間のゲ−1・弁(6
)を開とし、基板(1)、ホルダ(1゛)を反応室(2
)に移し、またチー1−弁(6)を閉として、反応室(
2)と予備室(4)とを互いに仕切った。
その後、バッファ室(43)に対し逆?九による反応生
成物の遮蔽板」−面への被着防止のため、まず、非生成
物気体を(28)より100〜500 c c、/分の
流星でバッファ室(43)に導入し、同時に連結した加
熱室(11)にも流した。そしてそれらはガイド弁(1
0”)と遮蔽板(10)との隙間をへて排気させる。そ
の後反応性気体(31)をノスル(30)より供給した
ヒータ(3)は反応室(2)の上側に位置した[う−イ
ボジノジョン・アンプ」方式とし、フレークが被形成面
に41着し7ピンホールの原因を作ることを避け、かつ
基板(1)を裏面側より所定の温度(室温〜500°C
)にハロゲンヒータにより加熱した。
11さらに、本発明による具体例を以下の実験例1〜4
に示す。
実験例1・・・・ シリコン窒化膜の形成側反応性気体
としてアンモニアを(25)より50cc/分3 ジシ
ランを(23)より8 c、c /分で供給し、基板温
度350℃とした。基板は直径5インチのウェハ4枚と
した。反応室(2)内圧力h#:3.0Lorrとした
非生成物気体である窒素を(28)より200 cc、
7分の流量で流し、第1の遮蔽板の上面・\の窒化珪素
の付着を防いだ。
5分の反応で1500人の膜厚が基板上に形成された。
その被膜形成速度は300人/分であった。本発明は水
銀の蒸気等を用いないエキシマレーザによる直接光励起
である。被膜の5点のばらつきは±10%以内に入って
いた。
さらにこの後反応を停止するためには、反応性気体(3
1)の導入を停止し、反応室(2)内を真空引きして、
さらに非生成物気体(14)の導入をバルブ(22)に
より停止した後、ゲイト弁を開けて被膜形成を行った基
板を予備室に移した。
この実施例で被膜形成後反応室を開←Jて、遮蔽板の上
面の窒化珪素の生膜状態を調べた。しかしその生膜はほ
とんどなかった。もちろん遮蔽板表面にそって非生成物
気体の導出を行わない場合はこの遮蔽板上に約200人
の窒化珪素被膜が形成され、紫外光を完全にブロッキン
グしてしまった。
その結果、基板の被形成面」二にも200への膜厚の窒
化珪素膜しか得ることができなかった。
実験例2・・アモルファスシリコン膜の形成例ジシラン
(Siz!I6)を(23)より100cc/分の流量
で供給した。また、水素を(28)より遮蔽板のL面・
\の付着を防ぐため200cc/分の流量で供給した。
温度は210℃、反応室圧力3torrとした。被形成
面に1200人の膜厚を8分間のディポジソションで形
成させることができた。
同しプロセスを繰り返しても、同し膜厚の1000〜1
200人を得ることができた。
実験例3・・・窒化アルミニュームの形成例AI(C1
13)3を代表例とするメチルアルミニュームを(23
)より30cc/分で供給した。(24)よりアンモニ
アを300 c c、7分で希釈した。また(2B)よ
り水素を50cc/分で供給した。するとメチルアルミ
ニュームは窒化アルミニ1−1、膜を1300人の厚さ
に作ることができた。被膜形成速度は30人7分(圧力
3torr+ 温度350℃)であった。また、エチル
アルミニュー1、AI (C2H5) 3等の他のアル
キル化合物でもよい。
実験例4・・・金属アルミニュームの形成側実験例3に
おいて(28)より水素を200cc/分の流量で加え
アンモニアを排除した。すると被形成面に金属アルミニ
ュームを約5000人の厚さに30分のディボジソショ
ンの結果得ることができた。その他は実験例2と同様で
ある。
「効果」 本発明は、以」二の説明より明らかなごとく、基板上に
被膜を形成するにあたり、透光性遮蔽板上の不要反応生
成被膜の形成をこの窓をガイド弁と透光性遮蔽板と組合
わセることにより、より完全に防止することができた。
このため窓上面にオイルをまったく用いる必要がない。
このため被膜内には炭素等の不純物がはいりに(<、か
つ排圧を1O−7torrと高真空にし得、オイルフリ
ーの高純度の被膜作製が可能となった。
さらにこの光CVD法による被膜形成に加えて、この上
に重ねて同じまたは異なる被膜を一対の電極(第2図(
29)及びホルダ(1’))間に高周波エネルギ(13
,56MIIz)を加えたプラズ7CVl’l法で形成
させんとすることが可能である。かかる場合、光CVD
法で被膜を形成して被形成面をスパッタさせず、さらに
プラズマ気相法によりこの」二に重ねて同じまたは他の
同様の膜を作ることも可能である。即ち被膜形成速度を
遅くさせることなく、再現性のよい被膜形成をさせるこ
とができた。
さらにこの窓−に面または反応室に付着したフレーク等
も同様にプラズマエッチにより除去することにより、反
応室に完全にオイルレスの環境を得、連続形成を初めて
可能にした。
なお本発明は、珪素および窒化珪素、窒化アルミニュー
ム、金属アルミニュームにおいてその実験例を示したが
、それ以外に旧C’113)−即ちMとしてIn、Sn
、Cr、Sn、Mo、Ga、Wを用い、Mの金属または
それに酸化物気体を導入し、MSi2等の珪化物を作製
してもよい。また鉄、ニッケル、コバルトのカルボニル
化物を反応性気体として用い、鉄、ニソケル、コバルト
またはその化合物の被膜また珪化物とこれらとの化合物
を形成することは有効である。
前記した実験例において、珪素半導体の形成に際し、]
]S−パンを同時に添加できる。また光源として低圧水
銀灯ではなく他の光源も用い得る。
例えばエキシマレーザ(波長100〜300nm) 、
 ArC1(175nm) 、 F 2 (157nm
) 、 ArF (193nm) 、 KrC1(22
2nm) 、 KrF(249nm)が代表的なもので
ある。しかしこれに併用して低圧水銀等を下側より照射
してもよい。
本発明を基板の温度を500〜1100℃とし、レーザ
・エピタキシアル成長をさせる装置に適用することは有
効である。被膜形成を水銀バブラを通ずことにより被膜
成長速度を向上させてもよい。
本発明において、遮蔽板は反応室窃うち反応部より十分
離れた位置に配設し、ガイド弁は−E側の端部にのみ設
けた。しかしこのガイド弁は遮蔽板の外周辺の他部また
は全周辺に設けてもよい。またエキシマ光は基板表面に
平行に照射面積を大きくするため照射した。しかし基板
に垂直にまたは斜め垂直に力I]えてもよいことばいう
までもない。
本発明において、It、<(射光が基板に垂直となる構
造において、その[、の透光性遮蔽板の表面にそって非
生成物気体を流すことにより反応生成物を窓表面に形成
さ−けないようにすること(:1イj効である。
【図面の簡単な説明】
第1図LJ従来より公知の光励起CV l)装置を示す
。 第2図は本発明のCVD装置を示す。 特許用It1人 麓10

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.反応性気体の励起用の光源と、被形成面を有する基
    板を配設する反応室とを有し、該反応室と前記光源との
    間には透光性遮蔽板を有し、前記の透光性遮蔽板の反応
    室側の表面にそって、反応生成物が蓄積されないまたは
    されにくいように非生成物気体を反応室内に導出する手
    段を具備したことを特徴とする薄膜形成装置。 3.特許請求の範囲第1項において、透光性遮蔽板の端
    部にガイド弁が設けられたことを特徴とする薄膜形成装
    置。
JP7505085A 1985-04-08 1985-04-08 薄膜形成装置 Pending JPS61232611A (ja)

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