JPS61143585A - 薄膜形成方法 - Google Patents

薄膜形成方法

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JPS61143585A
JPS61143585A JP26597484A JP26597484A JPS61143585A JP S61143585 A JPS61143585 A JP S61143585A JP 26597484 A JP26597484 A JP 26597484A JP 26597484 A JP26597484 A JP 26597484A JP S61143585 A JPS61143585 A JP S61143585A
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Mamoru Tashiro
田代 衛
Kazuo Urata
一男 浦田
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野J 本発明は、光化学反応により薄膜形成を実施する方法で
あって、大面積の被形成面に均一に量産性の優軌た被膜
を光照射室上の透光性遮蔽板上にオイル等をコートする
ことなく形成する手段を有するCVD (気相反応)方
法に関する。
r従来技術1 気相反応による薄膜形成技術として、光エネルギにより
反応性気体を活性にさせる光CVD法が知られている。
この方法は、従来の熱CVD法またはプラズマCVD法
に比べ、低温での被膜形成が可能であるに加えて、被形
成面に損傷を与えないという点で優れたものである。
しかし、かかる光CVD法の実施例を第1図に示すが、
反応室(2)内に保持された基板(1)、その基板の加
熱手段(3)、さらに基板に光照射する低圧水銀灯(9
)とを有している。ドーピング系(7)には反応性気体
の励起用の水銀バブラ(13)及び排気系(8)にはロ
ータリーポンプ(19)を具備している。
ドーピング系よりの反応性気体、例えばジシランが反応
室(2)に導入され、反応生成物である例えばアモルフ
ァス珪素を基板(基板温度250℃)上に形成するに際
し、反応室の紫外光透光用の遮蔽板(10)、代表的に
は石英窓が設けられている。
しかし、低圧水銀灯が大気圧に保持されているため、石
英を厚<(1〜3cm) シなければならない。
そして、この水銀灯と石英窓との間の大気により紫外光
特に185nmの短紫外光が吸収されてしまう。
大面積の基板の形成に対し、大きな窓とすると、その窓
が真空に対し破損しやすい等の欠点を有している。
r問題を解決するための手段j 本発明はこれらの問題を解決するため、紫外光を発光す
るランプの発光源を反応室内に基板と対抗して配設した
ものである。そして窓として知られている石英ガラスを
排除した。そして、光化学反応の後、被膜が形成された
基板を取り出し、プラズマ気相反応により紫外光の透光
を妨げる窓生成物をエツチングして除去してしまうこと
を基本としている。
また、反応性気体を反応室に導入するためのノズルを金
属で設け、このノズルまたは基板に対抗して配設した金
属電極と基板(基板ホルダ)またはステンレス反応室と
のそれぞれを一対の電極としてプラズマ反応(エツチン
グまたはデイボジッション)を行なわしめたものである
かくすることにより、特にプラズマエツチングにより発
生する反応性励起気体の一部が発光源のランプの石英ガ
ラス筒の表面上の不要反応生成物を除去することができ
る。このため次の基板上の被膜形成に対し窓上には紫外
光の阻害物がな(、紫外光を有効に基板の被形成面に到
達させることができた。
さらに低圧水銀灯のある光源室が真空(0,1〜10t
orr)であるため、ここでの185nmの紫外光の吸
収損失がなく、反応速度を大きくさせることができた。
「作用j これらの特性のため、新たな被膜形成を行わんとする時
はランプ表面上の以前工程で生じた反応生成物は完全に
除去されている。このため、光気相反応(光CVD)を
紫外光源のランプの石英筒表面上での反応生成物形成に
よる紫外光の基板表面までの到達がな(なる(阻害され
る)への範囲で毎回形成に対し一定の厚さに再現性よく
基板上に被膜を作ることができた。
さらにこの光CVDの後同じバッチでこの被膜上にプラ
ズマCVD法により同じまたは異種の被膜を作製するこ
とも可能である。
さらに本発明は、反応室を大気に触れさせずに窓上の不
要物をプラズマエツチング法で除去するため反応系をロ
ード・ロック方式とし得る。さらにオイルフリーの反応
系であるため、バンクグラウンドレベルの真空度を10
− ’ torr以下とすることができた。そして非酸
化物生成物である珪素等の半導体被膜、炭化珪素、窒化
珪素、窒化アルミニューム、金属例えばアルミニューム
を光励起により被膜形成させることができた。
「実施例」 以下本発明を第2図に示した実施例により、その詳細を
記す。
第2図において゛、被形成面を有する基板(1)はホル
ダ(1゛)に保持され、反応室(2)内のハロゲンヒー
タ(3)(上面を水冷(31))に近接して設けられて
いる。反応室(2)には紫外光源(9)とその直下に光
源の冷却用パイプ(31’)が配設されている。
ヒータ(3)が配設された加熱室(11)は、反応室(
2)との窓(10)間での圧力差を1Qtorr以下の
概略同一の真空度に保持した。このために反応に支障の
ない気体(窒素、アルゴンまたはアンモニア)を(28
)より(12)に供給し、または(12’)より排気す
ることにより成就した。反応室の光源(9)の上側に設
けられたノズル(14)はアンモニア(NH3)、弗化
窒素(NF3)用のノズル(14”)が噴出口を下向き
(窓向き) (32)に、またシラン(SinHza−
z) + メチルアルミニューム(AI (CH3) 
3)用のノズル(14’)が噴出口(14’)を上向き
(基板向き) (33)に設けている。このノズル(1
4)はプラズマCVDおよびプラズマエッチにおける高
周波電源(15)の一方の電極となっている。
加熱室(11)の排気に際し逆流による反応性気体の光
源室までの混入防止のためヒータ(29)を配設した。
これにより反応性気体のうちの分解後固体となる成分を
トラップし気体のみの進入とさせた。
移動に関し、圧力差が生じないようにしたロード・ロッ
ク方式を用いた。まず、予備室(4)にて基板(1)、
ホルダ(I′)および基板および基板おさえ(1”)(
熱を効率よ(基板に伝導させる)を挿入・配設し、真空
引きをした後、ゲート弁(6)を開とし、反応室(2)
に移し、またゲート弁(6)を閉として、反応室(2)
、予備室(4)を互いに仕切った。
ドーピング系(7)は、パルプ(22) 、流量計(2
1)よりなり、反応後固体生成物を形成させる反応性気
体は(23) 、 (24)より、また反応後気体生成
物は(25) 、 (26)より反応室(2)へ供給さ
せた。反応室の圧力制御は、コントロールバルブ(17
) 、コック(20)を経てターボ分子ポンプ(大阪真
空製PG550を使用) (1B) 、ロータリーポン
プ(19)を経、排気させた。
排気系(8)はコック(20)により予備室を真空引き
をする際はそちら側を開とし、反応室側を閉とする。ま
た反応室を真空引きする際は反応室を開とし、予備室側
を閉とした。
か(して基板を反応室に図示の如く挿着した。
この反応室の真空度は10− ’ torr以下とした
。この後(28)より窒素を導入しさらに反応性気体を
(7)より反応室に導入して被膜形成を行った。
反応用光源は低圧水銀灯(9)とし、水冷(31°)を
設けた。その紫外光源は、低圧水銀灯(185nm。
254nmの波長を発光する発光長40cm、照射強度
15mW/ca+”、ランプ電力40−)ランプ数16
本である。
この紫外光は、ノズルまたは電極(14)の隙間を経て
反応室(2)の基板(1)の被形成面を照射する。
ビータ(3)は反応室の上側に位置した「デイポジツシ
ョン・アップ」方式とし、フレークが被形成面に付着し
てピンホールの原因を作ることを避けた。
反応室はステンレスであり、加熱室(11)も真空引き
をし、それぞれの圧力差を10torr以下とした。
その結果、従来例に示される如く、大面積の照射用に石
英板の面積を太き(すると圧力的に耐えられないという
欠点を本発明は有していない。即ち、紫外光源も真空下
に保持された反応室内のステンレス容器内に真空に保持
されている。このため、5cmX5cmの大きさではな
く 30cn x 30cmの大きさの基板をも何等の
工業的な問題もなく作ることができ得る。
図面の場合の被形成有効面積は30cm X 30cm
であり、直径5インチの基板(1)5枚がホルダ(λ゛
)に配設され得る構成とし、基板の温度はハロゲンヒー
タ(3)により加熱し、室温〜500℃までの所定の温
度とした。
さらに、本発明による具体例を以下の実験例1〜3に示
す。
実験例1・・・・・シリコン窒化膜の形成側反応性気体
としてアンモニアを(25)より30cc/分、モノシ
ランを(23)より8cc/分で供給し、基板温度35
0℃とした。基板は直径5インチのウェハ5枚とした。
反応室(2)内圧力は3.0torrとし、た。
6分の反応で200人の膜厚が形成された。その被膜形
成速度は平均33人/分であった。本発明は水銀の蒸気
等を用いない直接光励起である。被膜の5点のばらつき
は±5%以内に入っていた。しかしこの厚さ以上の厚さ
にはランプの石英管表面への窒化珪素膜の形成によりき
わめて困難であった。
200Å以上の膜厚とするには、この後プラズマcvo
法を行えばよい。即ち(15)より13.56M)lz
の高周波(40W)を加えた。すると同じ反応性気体(
但し圧力は同じ3 torr)にて4.5A/秒を得た
。か(してこの方法では被形成面にプラズマ損傷を与え
ることなり0.5μ以上の膜を形成すことができ得る。
さらにこの後反応を停止し、反応室を真空引きして被膜
形成を行った基板を予備室に移設した。
その後、さらに基板を取り出し、ホルダをもとの反応室
に戻し、ゲートを閉じた後反応室に(26)よりNFS
を供給した。そして、反応室の圧力を0.3torrと
し、13.56MHzの高周波(15)を80−の出力
で加えプラズマエッチを窓(lO)上面に対して行った
約20分した後、この石英(10)上の不要反応生成物
である窒化珪素被膜を完全に除去することができた。こ
のNF3を除去した後(27)より水素を加え、この反
応室内の残留弗素をプラズマクリーンをして除去した。
この後、2回目の被膜作製を行ったが、同じく再現性の
よい被膜を作り得た。
実験例2・・アモルファスシリコン膜の形成例モノシラ
ン(SiH+)を(23)より供給した。また、(27
)より水素を供給した。被形成面に200人の膜厚を7
分間のディボジッシッンで形成させることができた。
この後基板を予備室に除去してしまった後、この反応室
(2)の内壁およびランプ(9)の上面に付着したシリ
コン膜を実施例1と同様のNFIを加えたプラズマエッ
チ法にて除去した。わずか15分間で窓上及び反応室内
の付着珪素を除去することができた。
基板温度は25(1”C1圧力2.5torrとした。
実験例3・・・窒化アルミニュームの形成例AI (C
H3) 3を代表例とするメチルアルミニュームを(2
3)より8cc/分で供給した。 (25)よりアンモ
ニアを30cc/分で供給した。すると、メチルアルミ
ニュームは光源室に水銀を用いることなく分解し、窒化
アルミニューム膜を1300人の厚さに作ることができ
た。被膜形成速度は330人/分(圧力3tOrr+温
度350℃)を得ることができた。エチルアルミニュー
ムAI(CtIIs)、等の他のアルキル化合物でもよ
い。
窓のプラズマエツチングは(26)よりCCl4を供給
してプラズマ反応を行った。加えて(24)より水素を
供給した。か(して窒化アルミニュームを除去させるこ
とができた。
この被膜形成を10回繰り返しても、同じ膜厚を同一条
件で得ることができた。
「効果」 本発明は、以上の説明より明らかなごとく、大面積の基
板上に被膜を形成するにあたり、紫外光源を反応室内に
配設することにより、石英窓を除きまた185nmを有
効に被形成面に照射させることが可能となった。このた
め従来より公知のオイルをまったく用いる必要がない。
このため被膜内には炭素等の不純物が入りに<<、かつ
排圧をIO−?torrと高真空にし得、オイルフリー
の高純度の被膜作製が可能となった。
さらにこの光CVD法による被膜形成に加えて、この上
に重ねて同じまたは異なる被膜をプラズマCvD法で形
成させることが可能である。かかる場合、光CVD法で
被膜を形成して被形成面をスパッタさせず、さらにプラ
ズマ気相法によりこの上に重ねて同じ膜または他種の膜
を同時にプラズマCvD法にて作ることも可能である。
即ち被膜形成速度を遅くさせることなく、再現性のよい
被膜形成をさせることができた。
なお本発明は、珪素および窒化珪素、窒化アルミニュー
ムにおいてその実験例を示したが、それ以外にM(C)
I:I)、即ちMとしてIn、Cr、Sn、Mo、Ga
、W。
AIを用い、Mの金属またはその珪化物を作製してもよ
い。また鉄、ニッケル、コバルトのカルボニル化物を反
応性気体として用い、鉄、ニッケル、コバルトまたはそ
の化合物の被膜また珪化物とこれらとの化合物を形成す
ることは有効である。
前記した実験例において−、珪素半導体の形成に際し、
ドーパントを同時に添加できる。また光源として低圧水
銀灯ではなくエキシマレーザ(波長100〜400nm
) 、アルゴンレーザ、窒素レーザ等を用いてもよいこ
とはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来より公知の光励起CVD装置を示す。 第2図は本発明のCVD装置を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光化学反応を用いた薄膜形成方法において、発光源
    を配設させた反応室と、前記反応室に配設された被形成
    面を有する加熱された基板とを有し、前記光化学反応を
    伴って被形成面上に薄膜を形成させるとともに、前記薄
    膜形成を完了し前記基板を反応室より除去した後、プラ
    ズマ気相エッチング反応を行ない、 前記発光源 及び前記反応室の一部に付着した薄膜材料を除去するこ
    とを特徴とする薄膜形成方法。 2、特許請求の範囲第1項において、プラズマ気相エッ
    チング反応は反応性気体を供給するノズルと基板ホルダ
    または反応室との間に高周波電気エネルギを供給するこ
    とにより実施することを特徴とする薄膜形成方法。 3、特許請求の範囲第1項において、薄膜形成は光化学
    反応の後プラズマ気相反応を行わしめて成就したことを
    特徴とする薄膜形成方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63267430A (ja) * 1987-04-27 1988-11-04 Toshiba Corp 反応室内の清浄方法
JPH03120368A (ja) * 1989-08-25 1991-05-22 Applied Materials Inc 化学的蒸着装置の洗浄方法
CN102817013A (zh) * 2012-08-28 2012-12-12 夏洋 一种太阳能电池用光致化学沉积装置

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JPS5329065A (en) * 1976-08-31 1978-03-17 Toshiba Corp Vapour phase reaction unit of semiconductor

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