JPS61242094A - 薄膜電子回路の製造方法 - Google Patents

薄膜電子回路の製造方法

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JPS61242094A
JPS61242094A JP8380185A JP8380185A JPS61242094A JP S61242094 A JPS61242094 A JP S61242094A JP 8380185 A JP8380185 A JP 8380185A JP 8380185 A JP8380185 A JP 8380185A JP S61242094 A JPS61242094 A JP S61242094A
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JP
Japan
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thin film
electronic circuit
substrate
film electronic
ion beam
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Pending
Application number
JP8380185A
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English (en)
Inventor
幸男 前田
北山 喜文
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は通信機、計測機、電子制御機器などに利用でき
る薄膜回路に関し、フォトリソグラフィーによるエツチ
ング加工を必要としない薄膜電子回路の製造方法に関す
るものである。
従来の技術 従来薄膜電子回路はまず第2図aに示すように、基板1
o1上にほぼ全面に導体層102を真空蓋、着、スパッ
タリング、イオンブレーティング等の真空加工法により
堆積させる。次に第2図すのように導体層102の上に
フォトレジスト1o3を全面に塗布し乾燥する。さらに
露光、現像によりフォトレジスト103をパターニング
し第2図Cのようにする。次いで第2図dに示すように
導体材料のエツチングを湿式または乾式プロセスにより
行なった後、フォトレジストを除去し第2図eに示すよ
うな薄膜回路を得ることができる。
発明が解決しようとする問題点 前記、従来の薄膜電子回路の製造法は、エツチング液に
よる基板の汚染が生ずることがあり、さらに露光用のマ
スクを必要とするため、回路パターンを変更する毎にマ
スクを変換しなければならない。このため、変換、調整
に時間がかかり、頻繁に回路パターンを変更する場合に
は能率が悪い。
またエツチングを行なうためレズストの塗布、現像、は
く離等の工程が必要となυ、工程が多くコスト高となる
など問題が多かった。
問題点を解決するための手段 本発明は前記従来の問題点を解決するため、イオン源よ
り導電性材料のイオンを発生させる工程と、電磁レンズ
によりイオンを収束させイオンビームとする工程と、イ
オンビームを偏向電極により自在に走査させる工程と、
基板上にイオンビームを衝突させ薄膜を堆積させる工程
とにより薄膜電子回路を製造するようにしている。
作  用 本発明では導電材料を収束イオンビームの状態で基板に
適用しているため、基板にスポット状に導電材料を堆積
させることができる。また収束イオンビームを偏向電極
により、任意の軌跡となるようにパターニングができる
ので;エツチングに依らずに必要な薄膜回路パターンを
得ることができる。
実施例 次に本発明を実施例により説明する。第1図は本発明の
薄膜電子回路の製造方法を示す図である。
装置は真空容器3内にイオン源4.第1の電磁レンズ6
、第2の電磁レンズ6、偏向電極7.排気口8等により
構成されている。真空容器3は排気口8より排気され1
0〜10Torrにしている。
イオン源4より生成されるイオンは加速され第1の電磁
レンズ5.第2の電磁レンズ6により細いビーム状に絞
られ基板10表面に焦点を結び衝突する。このとき基板
1の上に導電層が堆積する。
イオンビームはこれと直交するX軸方向およびY軸方向
にビームを偏向させるためのx、Y各1対の偏向電極に
よりその軌跡を制御される。このようにして第3図に示
すような導体層2を基板1の上に露光用のマスクを用い
ることなく、かつエツチングすることなく形成できる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、収束イオンビームにより
基板上に直接導体層をパターニングでき、エツチングが
不要となるため、エツチング液ニよる基板の汚染がない
ためマイグレーション、電流リークなどの心配がなく、
しかも工程が簡単である。また露光用のマスクも不要で
あるため、回路パターンの変更が容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における薄膜回路の製造方法
を示す説明図、第2図a−eは従来の薄膜回路の製造工
程を示す断面図、第3図は本発明の一実施例によって得
た薄膜回路基板の断面図である。 1.101・・・・・・基板、2 、102・・・・・
・導体層、4・・・・・・イオン源、7・−・・−・偏
向電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名4−
4オンン原 5−−−オfs4f’ぷ鉦しンス゛ 6−−第2Q・・ 7−傷勾V砥 δ−jQ粂口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  イオン源より導電性材料のイオンを発生させる工程と
    、電磁レンズによりイオンを収束させイオンビームとす
    る工程と、イオンビームを偏向電極により自在に走査さ
    せる工程と、基板上にイオンビームを衝突させ薄膜を堆
    積させる工程とからなる薄膜電子回路の製造方法。
JP8380185A 1985-04-19 1985-04-19 薄膜電子回路の製造方法 Pending JPS61242094A (ja)

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