JPS61231736A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPS61231736A JPS61231736A JP60073035A JP7303585A JPS61231736A JP S61231736 A JPS61231736 A JP S61231736A JP 60073035 A JP60073035 A JP 60073035A JP 7303585 A JP7303585 A JP 7303585A JP S61231736 A JPS61231736 A JP S61231736A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- bonding
- pressing
- wire
- pressing bar
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45139—Silver (Ag) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8512—Aligning
- H01L2224/85148—Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus
- H01L2224/85169—Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus being the upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head, e.g. capillary or wedge
- H01L2224/8518—Translational movements
- H01L2224/85181—Translational movements connecting first on the semiconductor or solid-state body, i.e. on-chip, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/8593—Reshaping, e.g. for severing the wire, modifying the wedge or ball or the loop shape
- H01L2224/85947—Reshaping, e.g. for severing the wire, modifying the wedge or ball or the loop shape by mechanical means, e.g. "pull-and-cut", pressing, stamping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01047—Silver [Ag]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/20—Parameters
- H01L2924/203—Ultrasonic frequency ranges, i.e. KHz
- H01L2924/20301—Ultrasonic frequency [f] f<25 kHz
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/20—Parameters
- H01L2924/203—Ultrasonic frequency ranges, i.e. KHz
- H01L2924/20302—Ultrasonic frequency [f] 25 Khz=<f< 50 KHz
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/20—Parameters
- H01L2924/203—Ultrasonic frequency ranges, i.e. KHz
- H01L2924/20303—Ultrasonic frequency [f] 50 Khz=<f< 75 KHz
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/20—Parameters
- H01L2924/203—Ultrasonic frequency ranges, i.e. KHz
- H01L2924/20304—Ultrasonic frequency [f] 75 Khz=<f< 100 KHz
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置の製造方法に関し、特にICや
トランジスタなどの製造工程において、半導体チップ上
の電極とリード端子とを金属細線を用いて接続するワイ
ヤボンディング方法に関するものである。
トランジスタなどの製造工程において、半導体チップ上
の電極とリード端子とを金属細線を用いて接続するワイ
ヤボンディング方法に関するものである。
第3図は従来のワイヤボンディング方法を模式的に示し
たものである。図において、1は金ワイヤ、2は半導体
チップ、3は半導体チップ2上に形成されたアルミ電極
、4は銀めっき等の表面処理が施された銅合金リード、
5はボンディングツールであるキャピラリチップである
。
たものである。図において、1は金ワイヤ、2は半導体
チップ、3は半導体チップ2上に形成されたアルミ電極
、4は銀めっき等の表面処理が施された銅合金リード、
5はボンディングツールであるキャピラリチップである
。
従来のワイヤボンディング方法では、金ワイヤ1の先端
をアーク入熱で熔融凝固させて球状部1aを形成し、こ
の球状部1aをアルミ電極3に接合した後(第3図(a
) (b)参照)、金ワイヤ1の他端側をリード4に接
合するようにしており(第3図(C) (d)参照)、
又ワイヤ1の接合には主に超音波併用熱圧着方式が用い
られている。
をアーク入熱で熔融凝固させて球状部1aを形成し、こ
の球状部1aをアルミ電極3に接合した後(第3図(a
) (b)参照)、金ワイヤ1の他端側をリード4に接
合するようにしており(第3図(C) (d)参照)、
又ワイヤ1の接合には主に超音波併用熱圧着方式が用い
られている。
以上のように従来は、ワイヤ材料として金が用いられ、
又リード4の表面には銀めっき等の表面処理が施されて
いたが、材料原価低減及び素子の長期信頼性向上という
観点から、ワイヤの材料を金から銅、アルミニウム等の
他の材料に代えるとともに、銅合金リード4表面の銀め
っき層を省略し、リード4上に直接金属ワイヤを接合す
ることが考えられる。
又リード4の表面には銀めっき等の表面処理が施されて
いたが、材料原価低減及び素子の長期信頼性向上という
観点から、ワイヤの材料を金から銅、アルミニウム等の
他の材料に代えるとともに、銅合金リード4表面の銀め
っき層を省略し、リード4上に直接金属ワイヤを接合す
ることが考えられる。
また超音波併用熱圧着ボンディングにおいて、良好な接
合状態を得るためには、材料表面の酸化皮膜等の吸着物
を十分に破壊、除去すること、及び接合界面における材
料の塑性変形により、酸化膜破壊後の新生面同志の接触
面積を拡大することが極めて重要である。
合状態を得るためには、材料表面の酸化皮膜等の吸着物
を十分に破壊、除去すること、及び接合界面における材
料の塑性変形により、酸化膜破壊後の新生面同志の接触
面積を拡大することが極めて重要である。
しかるに上述のように銀めっき層を省略し、リードに直
接ボンディングを行なう場合、上記の2点、即ち酸化膜
の除去及び接合界面での塑性変形の双方において、従来
の銀めっきリードに比し、満足し得るような結果を得る
ことが著しく困難となる。そのためリードへのボンディ
ング時に接合不良、即ち接合強度不足、極端な場合はボ
ンディング時のはがれなどが発生することとなる。
接ボンディングを行なう場合、上記の2点、即ち酸化膜
の除去及び接合界面での塑性変形の双方において、従来
の銀めっきリードに比し、満足し得るような結果を得る
ことが著しく困難となる。そのためリードへのボンディ
ング時に接合不良、即ち接合強度不足、極端な場合はボ
ンディング時のはがれなどが発生することとなる。
この発明は上記のような問題点に鑑みてなされたもので
、金属ワイヤとリードとの接合性を向上できる半導体装
置の製造方法を提供することを目的としている。
、金属ワイヤとリードとの接合性を向上できる半導体装
置の製造方法を提供することを目的としている。
c問題点を解決するための手段〕
この発明に係る半導体装置の製造方法は、ワイヤボンデ
ィング工程以前に、先端に平面状又は球状押圧面を有す
る押圧体をリードのボンディングエリアに押圧しこれに
超音波振動を印加するようにしたものである。
ィング工程以前に、先端に平面状又は球状押圧面を有す
る押圧体をリードのボンディングエリアに押圧しこれに
超音波振動を印加するようにしたものである。
この発明においては、押圧体をリードのボンディングエ
リアに押圧し、これに超音波振動を印加するようにした
ことから、リードのボンディングエリアの酸化膜等の吸
着物が超音波振動の作用によって十分に破壊、除去され
、この清浄化されたボンディングエリアに金属ワイヤが
接合されるものである。
リアに押圧し、これに超音波振動を印加するようにした
ことから、リードのボンディングエリアの酸化膜等の吸
着物が超音波振動の作用によって十分に破壊、除去され
、この清浄化されたボンディングエリアに金属ワイヤが
接合されるものである。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第1図及び第2図は本発明の一実施例による半導体装置
の製造方法を模式的に示したものである。
の製造方法を模式的に示したものである。
図において、第3図と同一符号は同図と同一のものを示
し、6は表面の銀めっきが省略された銅合金リード、7
は金属ワイヤ、8は先端に平面状押圧面8aを有する押
圧棒(押圧体)である。
し、6は表面の銀めっきが省略された銅合金リード、7
は金属ワイヤ、8は先端に平面状押圧面8aを有する押
圧棒(押圧体)である。
本実施例の方法では、ワイヤボンディング工程前におい
て、押圧棒8の平面状押圧面8aをIJ−ドロのボンデ
ィングエリアに押圧し、その状態にてこの押圧棒8に1
5 K Hz〜100 K Hzの超音波振動を印加す
る(第1図(a)参照)。するとこの押圧棒8に印加さ
れた超音波振動の作用によってリード6表面の酸化膜は
破壊され、この破壊された酸化H6aは押圧面7aの外
周側、即ちリード6のボンディングエリア外側に向けて
押し出され、こうしてリード6のボンディングエリアは
清浄化されるので、その後は押圧棒7への超音波印加を
停止し、これを上方に移動させた後(第1図中)参照)
、第3図に示す従来の方法と同様にして金運ワイヤ7の
ワイヤボンディングを行なう (第2図参照)。
て、押圧棒8の平面状押圧面8aをIJ−ドロのボンデ
ィングエリアに押圧し、その状態にてこの押圧棒8に1
5 K Hz〜100 K Hzの超音波振動を印加す
る(第1図(a)参照)。するとこの押圧棒8に印加さ
れた超音波振動の作用によってリード6表面の酸化膜は
破壊され、この破壊された酸化H6aは押圧面7aの外
周側、即ちリード6のボンディングエリア外側に向けて
押し出され、こうしてリード6のボンディングエリアは
清浄化されるので、その後は押圧棒7への超音波印加を
停止し、これを上方に移動させた後(第1図中)参照)
、第3図に示す従来の方法と同様にして金運ワイヤ7の
ワイヤボンディングを行なう (第2図参照)。
° 以上のような本実施例の方法では、ワイヤボン
ディング工程以前にリード表面の酸化膜を機械的に破壊
除去するようにしたので、ボンディング時のリード及び
ワイヤの新生面同志を確実に接触させることができ、接
合性を大幅に向上でき、金。
ディング工程以前にリード表面の酸化膜を機械的に破壊
除去するようにしたので、ボンディング時のリード及び
ワイヤの新生面同志を確実に接触させることができ、接
合性を大幅に向上でき、金。
銀等の貴金属材料の使用量を大幅に削減できる。
ところでリード表面の酸化膜を破壊除去する方法として
は、ワイヤボンディング工程中に、超音波撮動を印加す
るか、あるいは例えば超音波併用熱圧着ボンディングで
はその超音波出力を増大させることが考えられるが、こ
の方法ではリードに作用する超音波出力が大きくなると
、リードフレームに搭載した半導体チップが悪影響を受
けるおそれがあり、そのため大きな超音波出力を印加で
きず、完全に酸化膜を破壊除去するのが困難である。こ
れに対し、本方法ではワイヤボンディング工程以前に超
音波撮動を印加するようにしているので、半導体チップ
が悪影響を受けることがなく、その結果超音波出力を十
分に増大させて酸化膜を完全に破壊除去することが可能
である。
は、ワイヤボンディング工程中に、超音波撮動を印加す
るか、あるいは例えば超音波併用熱圧着ボンディングで
はその超音波出力を増大させることが考えられるが、こ
の方法ではリードに作用する超音波出力が大きくなると
、リードフレームに搭載した半導体チップが悪影響を受
けるおそれがあり、そのため大きな超音波出力を印加で
きず、完全に酸化膜を破壊除去するのが困難である。こ
れに対し、本方法ではワイヤボンディング工程以前に超
音波撮動を印加するようにしているので、半導体チップ
が悪影響を受けることがなく、その結果超音波出力を十
分に増大させて酸化膜を完全に破壊除去することが可能
である。
なお、上記実施例では先端に平面状押圧面を有する押圧
棒を用いるようにしたが、これは先端に球面状押圧面を
有するものであってもよい。またリードは銅合金リード
ではな(、鉄系リードであってもよい。
棒を用いるようにしたが、これは先端に球面状押圧面を
有するものであってもよい。またリードは銅合金リード
ではな(、鉄系リードであってもよい。
以上のように、本発明に係る半導体装置の製造方法によ
れば、ワイヤボンディング工程以前に、押圧体をリード
のボンディングエリアに押圧し、これに超音波振動を印
加するようにしたので、リードのボンディングエリアを
清浄化してリードとワイヤの接合性を大幅に向上でき、
その結果貴金属材料の使用量を大幅に削減できる効果が
ある。
れば、ワイヤボンディング工程以前に、押圧体をリード
のボンディングエリアに押圧し、これに超音波振動を印
加するようにしたので、リードのボンディングエリアを
清浄化してリードとワイヤの接合性を大幅に向上でき、
その結果貴金属材料の使用量を大幅に削減できる効果が
ある。
第1図(a) (b)は各々本発明の一実施例による半
導体装置の製造方法における主要工程を示す模式図、第
2図は上記方法におけるボンディング工程を示す模式図
、第3図(al〜(d)は各々従来の方法における各工
程を示す模式図である。 2・・・半導体チップ、3・・・電極、6・・・銅合金
リード、7・・・金属ワイヤ、8・・・押圧棒(押圧体
)。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
導体装置の製造方法における主要工程を示す模式図、第
2図は上記方法におけるボンディング工程を示す模式図
、第3図(al〜(d)は各々従来の方法における各工
程を示す模式図である。 2・・・半導体チップ、3・・・電極、6・・・銅合金
リード、7・・・金属ワイヤ、8・・・押圧棒(押圧体
)。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)半導体チップ上の電極とリードとを金属細線を用
いて結線する半導体装置の製造方法において、ワイヤボ
ンディング工程以前に、先端に平面状又は球面状の押圧
面を有する押圧体によりリードのボンディングエリアを
押圧し、この状態でこの押圧体に超音波振動を印加する
ことを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60073035A JPS61231736A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60073035A JPS61231736A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61231736A true JPS61231736A (ja) | 1986-10-16 |
Family
ID=13506690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60073035A Pending JPS61231736A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61231736A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01103845A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Nec Corp | ベアーボンディングの組立方法 |
-
1985
- 1985-04-05 JP JP60073035A patent/JPS61231736A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01103845A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Nec Corp | ベアーボンディングの組立方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03208354A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPS61231736A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US5524811A (en) | Wire bonding method | |
JPS62136835A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS61231735A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS62136836A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS62150836A (ja) | 半導体装置 | |
JPS62136834A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS62136833A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH08148512A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH03105950A (ja) | 半導体集積回路のパッケージ | |
JPH03274755A (ja) | 樹脂封止半導体装置とその製造方法 | |
JPH0428241A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS61231731A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS61231729A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS61105850A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JP2533675B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPS62136843A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JPS61237441A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JPS62136842A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3420745B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS61231730A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH04196236A (ja) | 接続方法 | |
JPH05343461A (ja) | ワイヤボンディング方法及びその装置 | |
JPH11288960A (ja) | ワイヤーボンド接続方法及びボンディング表面残渣除去用ツール |