JPS61230026A

JPS61230026A - 多点測定器

Info

Publication number: JPS61230026A
Application number: JP60070793A
Authority: JP
Inventors: Yoshiyuki Tsujitsugi; 辻次　善之; Toshiya Kawada; 敏也河田; Hiroyuki Nozaki; 弘行野崎
Original assignee: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Current assignee: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Priority date: 1985-04-05
Filing date: 1985-04-05
Publication date: 1986-10-14
Also published as: JPH0528327B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（ａ）　　技術分野本発明は、多数の検出器、例えばひずみゲージ式変換器
によりひずみ量、圧力、トルク、荷重等の物理量を電気
量に変換して時分割で順次測定する多点測定器に関する
ものである。

（ｂ）　　従来技術多点ひずみ測定器は、多数の測定点でひずみゲージ式変
換器により検出される荷重等の物理量を測定するもので
あり、第６図は、多点ひずみ測定器の従来例を示す回路
ブロック図である。

この多点ひずみ測定器は、測定点１から測定点ｎまでの
ｎ個の各測定点にブリッジ電源１からの電源電圧を受け
てひずみ検出電圧Ｅｌ。

Ｅ２．・・・・・・、Ｅｎを発生するひずみゲージ式変
換器２−１　、２−２　、・・・・・・、２−ｎを配置
して各測定点におけるひずみを検出できるようにすると
共に測定点切換器３によって検出動作をするひずみゲー
ジ式変換器２を切換えるようにされている。ＷＩＪ定点
切換器３は、各ひずみゲージ式変換器と対応する切換部
４−１　、４−２　、・・・・・・、４−ｎからなり、
切換指令信号Ｓｓｖにより指定された切換部４の各スイ
ッチＳＷが閉じてその切換部４と対応するひずみゲージ
式変換器２ヘブリツジ電源１からのブリッジ電源電圧を
印加すると共にそのひずみゲージ式変換器２から出力さ
れたひずみ検出電圧としての出力電圧Ｅを長いケーブル
を介して増幅器５へ送出する。

増幅器５は、測定点切換器３からの出力電圧Ｅを増幅し
て積分型Ａ／Ｄ変換器６へ送出する。

該積分型Ａ／Ｄ変換器６は、制御器７からの測定開始指
令信号Ｓａｔにより制御されて増幅器５の出力電圧を積
分し、ディジタル信号に変換する動作をする。制御器７
は、前述の切換指令信号Ｓｓｗを測定点切換器３へ送出
して検出動作するひずみゲージ式変換器２を一定の順序
に従って切換えることにより測定点を切換えると共に、
積分型Ａ／Ｄ変換器６の動作タイミングを制御する役割
を果す。

ところで、増幅器５の出力電圧をディジタル信号に変換
するＡ／Ｄ変換器として積分型のＡ／Ｄ変換器６を用い
、増幅器５の出力電圧をそのままディジタル信号に変換
するのではなく積分したうえでディジタル信号に変換す
るのは。

誘導ノイズによる測定誤差が生じないようにするためで
ある。この点についてより詳細に説明すると１次のとお
りである。

すなわち、被測定対象物が大型化し、測定点の数が増加
する傾向にあり、各ひずみゲージ式変換器２および測定
点切換器３と、増幅器５との間を接続するケーブルは非
常に長くなる。また、ひずみゲージ式変換器から出力さ
れるひずみ検出電圧Ｅは、微小電圧（一般的に数μＶか
ら数ｍＶ程度である）であるにも拘らず静電。

１　　　　　　　電磁シールドしないケーブルが用いら
れることが多い、その結果、ケーブルに商用電源等によ
る正弦波の誘導ノイズが侵入し、ひずみゲージ式変換器
によって検出されたひずみに比例した真の出力電圧Ｅｏ
に、第７図（Ａ）に示すように、その誘導ノイズが重畳
されてしまい、実際の出力電圧ＥＸは、その誘導ノイズ
に従って脈動することになる。従って、ある一定のタイ
ミングでその出力電圧Ｅｘをサンプリングして、ディジ
タル信号に変換した場合、そのディジタル値には誤差が
生じる可能性がある。そこで、誘導ノイズが一般に一定
の周波数（主に商用電源周波数）を有する正弦波である
ので、その誘導ノイズの１周期あるいはその整数倍の期
間における出力電圧Ｅｘの平均値を得ることにより誘導
ノイズ成分を除去することができ、その平均値を求める
ために積分が行われる。Ａ／Ｄ変換器として積分型のＡ
／Ｄ変換器６を用いるのはそのためである。

第７図（Ｂ）は、積分型Ａ／Ｄ変換器６の積分電圧ｅの
波形を示すものであり、この図に従って積分の方法を説
明する。制御器フから測定開始指令信号Ｓａｔを受ける
と誘導ノイズの１周期の間（図の場合）あるいはその整
数倍の間、出力電圧Ｅｘを積分する。具体的には、例え
ば図示しないコンデンサをその出力電圧Ｅｘによって充
電することによりその積分（これを−次積分という）を
行う、そして、その−次積分時間が終るとコンデンサを
適宜な放電回路によって放電する（これを二次積分とい
う、）そして、その放電に要した時間、すなわち二次積
分時間をディジタル値に変換することにより真の出力電
圧Ｅｏが求められる。第８図は、この測定器の動作を示
すフローチャートである。

ところで、このような多点ひずみ測定器によれば、誘導
ノイズを除去することはできるけれども測定に時間がか
かるので測定点の数を増やすことが大きく制約されてし
まうという問題がある。すなわち、１つの測定をするの
に−次積分時間に二次積分時間を加えた時間が必要であ
る。そして、−次積分時間は誘導ノイズの１周期あるい
はその整数倍であり、例えば関東の場合であると商用周
波数が５０Ｈｚであるとすると最低でも２０■Ｓｅｃと
なる。そして、二次積分時間も無視できない程の長さを
有しており。

しかも、出力電圧Ｅｏの大きさに依存性を有しており、
出力電圧Ｅｏが大きくなる程二次積分時間が長くなる。

依って、測定時間が長くなり、高速の測定をすることが
できなかった。そこで。

測定時間を短縮するため一次積分時間を誘導ノイズの１
周期よりも短くすると誘導ノイズによる出力電圧Ｅｘの
平均化が不完全になり、誘導ノイズ成分を完全に除去す
ることはできず、誤差が生じてしまうので好ましくない
。

（ｃ）　　目的本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、測定
系に侵入する誘導ノイズ成分およびそれよりも高い周波
数のノイズ成分を共に除去することができ、測定精度が
高く、シかも測定速度が速い多点測定器を提供すること
を目的としている。

（ｃｌ）　　＊成本発明は、上記目的を達成するために、各測定点に配置
されたｎ個の検出器と、検出器指定信号により指定され
た検出器を選択してその検出器の出力電圧を送出する切
換器と、この切換器から出力された出力電圧を増幅する
増幅器と。

この増幅器の出力をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換
器と、前記検出器の出力電圧に重畳されるノイズの周期
の整数（１も含む）倍の時間を偶数ｍに分割した偶数分
割時間内にｎ個の検出器の出力電圧が一定の順序に従っ
て前記増幅器に入力されるように切換器へ検出器指定信
号を送出すると共に１個の検出器が１回選択される毎に
複数Ω回Ａ／Ｄ変換動作が行われるように前記Ａ／Ｄ変
換器に測定開始指令信号を送出する動作をする切換測定
制御手段と、前記Ａ／Ｄ変換器から順次出力される出力
電圧のディジタル値を順次記憶する記憶手段と、前記切
換測定制御手段に偶数分割時間を１つの周期とする前記
動作を誘導ノイズの周期の整数倍の期間内にｍ回繰り返
させる切換動作繰返指令手段と。

１つの測定点についてのｎＸｍ個の出力電圧の平均値を
算出する演算処理を測定動作と併行して各測定点につい
て順次行う演算手段とを具備せしめたものである。

第１図は、本発明の基本的構成を示す機能ブロック図で
ある。

同図において、ＡＩ　”Ａｎは、各測定点にそれぞれ配
置された検出器、Ｂは切換器で、各検出器Ａ１〜Ａｎの
出力電圧を受は後述する切換測定制御手段からの切換指
令信号（検出器指定信号）により指定された１個の検出
器Ａの出力電圧を出力する。Ｃは増幅器で、切換器Ｂか
ら出力された出力電圧を適宜に増幅する。ＤはＡ／Ｄ変
換器で、増幅器Ｃから出力された電圧をディジタル信号
に変換する。Ｅは制御器で、Ｆ、Ｇ、Ｈおよび■の各手
段を内蔵（包含）する、Ｆは切換測定制御手段で、切換
器Ｂへ切換指令信号Ｓｓｖを送出して切換器Ｂから各検
出器Ａ１〜Ａｎの出力電圧が検出器ＡＩ　、　Ａ２　、
・・・・・・、Ａｎの順番で出力されるようにすると共
に１個の検出器が選択される毎に複数（Ｑ）回Ａ／Ｄ変
換動作が行われるようにＡ／Ｄ変換器りに測定開始指令
信号を送出する動作をする。

このｎ個の検出器Ａ１〜Ａｎの出力電圧、すなわち切換
器Ｂの出力は、それに重畳される誘導ノイズの周期の整
数倍（１倍を含む）の時間を偶数ｍに分割した偶数分割
時間内に行われるようにする。この切換測定制御手段Ｆ
が偶数分割時間内に行う切換指令動作は、切換動作繰返
指令手段Ｇによって繰返指令を受けるとそれを受ける毎
に繰り返される。具体的には、切換動作繰り返指令手段
Ｇは、誘導ノイズの１周期の整数倍の時間内に切換測定
制御手段Ｆに対して上述した一連の切換動作をｍ回繰り
返させる。Ｈは記憶手段で、Ａ／Ｄ変換器りから１点の
切換動作当りＱ個順次出力される出力電圧のディジタル
値を順次記憶する役割を果す、Ｉは演算手段で、各測定
点についてのｆｌＸｍ個のディジタル値の平均値を算出
する動作を全測定点について順次に行う。

以下に１本発明を具体的な実施例に従って詳細に説明す
る。

第２図乃至第５図は１本発明の一つの実施例を説明する
ためのものであり、第２図は、多点ひずみ測定器の回路
構成を示すブロック図である。

同図において、この多点ひずみ測定器も第６図に示した
従来の多点ひずみ測定器と同じように、測定点１から測
定点ｎまでのｎ個の各測定点にブリッジ電源１からの電
源電圧を受けてひずみ検出電圧Ｅｌ　、　Ｅ２　、・・
・・・・、Ｅｎを発生するひずみゲージ式変換器２−１
　、２−２　、・・・・・・。

２−ｎを配置して各測定点におけるひずみを検出できる
ようにすると共に測定点切換器３によって検出動作をす
るひずみゲージ式変換器２を切換えるようにされている
。

また、測定点切換器３も第６図の従来例の測定点切換器
３と同じように各ひずみゲージ式変換器２−１　、２−
２　、・・・・・・、２−ｎに対応する切換部４−１　
、４−２　、・・・・・・、４−ｎからなり、切換指令
信号Ｓｓｖにより指定された切換部４と対応するひずみ
ゲージ式変換器２ヘブリツジ電源ｌからの電源電圧を印
加すると共に、そのひずみゲージ式変換器２　（２−１
、２−２、・・・・・・。

２−ｎ）から出力された出力電圧（ひずみ検出電圧）Ｅ
をケーブルを介して増幅器５へ送出する。増幅器５は、
測定点切換器３からの出力電圧Ｅ　（Ｅｌ　、　Ｅ２　
、・・・・・・、Ｅｎ）を増幅してＡ／Ｄ変換器６′へ
送出する。

Ａ／Ｄ変換器６′は、前記従来例に用いられたものとは
異なり逐次比較型のものであり、制御器７′から測定開
始指令信号Ｓｓｔ、を受けると直ちにアナログ信号であ
るひずみゲージ式変換器２の出力電圧Ｅをディジタル信
号に変換する。

７′はマイクロコンピュータからなる制御器であり、Ｃ
ＰＵ８．ＲＡＭ９．ＲＯＭＩ　ＯｌＤＭＡ　（ＤＩＲＥ
ＣＴ　　ＭＥＭＯＲＹＡＣＣＥＳＳの略）制御器１１．
出力ボート１２および切換測定制御器１３を含んでいる
。

この制御器７′においては、予め、切換測定制御手段と
しての切換測定制御器１３に切換指令信号Ｓｓｖと測定
開始指令信号Ｓｓｔを出力する時間的なタイミングを設
定しておき、実際の測定時、ＣＰＵ８から切換測定制御
器１３に測定指令を出力後、ＤＭＡ動作により、順次Ｒ
ＡＭ９に格納されていくところのＡ／Ｄ変換されたデー
タを演算処理する。切換測定制御器１３は、予めＣＰＵ
８により設定された時間的タイミングの通りに各測定点
の切換指令信号ＳｓｗとＡ／Ｄ変換器６′への測定開始
指令信号Ｓｓｔを出力する一種のシーケンサである。切
換測定制御器１３により測定点切換器３へ切換指令信号
Ｓｓｖを送出して測定点の切換を行い、また逐次比較型
Ａ／Ｄ変換器６′へ測定開始指令信号Ｓｓｔを送出して
Ａ／Ｄ変換を行わせる。Ａ／Ｄ変換器６′によって変換
されたひずみゲージ式変換器２の出力電圧Ｅのディジタ
ル値は、順次ＤＭＡ制御器１１によりＣＰＵ８を介さず
、直接ＲＡＭ９に格納される。

第３図（Ａ）、　（Ｂ、）および（Ｃ）は、測定点１、
測定点２、および測定点ｎの各ひずみ検出出力波形と測
定タイミングとの関係をそれぞれ示すタイムチャートで
あり、第３図（Ｄ）は、Ａ／Ｄ変換器による変換タイミ
ングを示すタイムチャートであり、第４図は、第３図（
Ａ）〜（Ｃ）に示したタイムチャートより時間軸（横軸
）を拡大した測定点１の出力波形と測定タイミングとの
関係をより詳細に示すタイムチャートである。以下、こ
の図に従って各出力電圧Ｅ１〜Ｅｎに対する変換タイミ
ングについて説明する。

誘導ノイズの１周期（関東の商用電源５０Ｈｚによる誘
導ノイズの場合を例にすると２０■５ｅｅ）を偶数「ｍ
」、例えば、「４」で分割し、各出力電圧Ｅｌ　、　Ｅ
２　、・・・・・・、Ｅｎについては各分割時間（本実
施例では５ｍ５ｅｃ）毎に測定し、また、第４図に示す
ように、さらに高い周波数成分のノイズ除去のために１
ｍ分割した各分割時間内で１つの検出器２が選択されて
いる間に複数０回（本実施例では、１０μＳｅｃ間隔で
４回）の測定（Ａ／Ｄ変換動作）を行う。

その結果、各測定点毎にｌ×ｍ個（本実施例では４Ｘ４
＝１６個）のデータが得られる。これらｌ×ｍ個の出力
電圧（本実施例では、測定点ｌの出力電圧Ｅ１の場合、
　Ｅｌ　−１−１〜Ｅ１−１−４　、　Ｅｌ　−２−１
〜Ｅｌ　−２−４、Ｅｌ−３−１〜Ｅｌ　−３−４、Ｅ
ｌ　−４−１〜Ｅ１−４−４の１６個の出力電圧、測定
点ｎの出力電圧Ｅｎの場合、Ｅｎ　−１−１〜Ｅｎ　−
１−４。

Ｅｎ　−２−１”Ｅｎ　−２−４、Ｅｎ　−３−１〜Ｅ
ｎ　　−３−４、Ｅｎ　　−４−１〜Ｅｎ　　−４−４
の１６個の出力電圧）の平均値を求めることにより、ノ
イズ成分のない真の出力電圧Ｅｏを得る。

そして、誘導ノイズの１周期を偶数、例えば４個に分割
した各時間内に測定点１から測定点ｎまでのｎ個の測定
点における測定を一定の順序に従って行う、すなわち本
実施例においては５■Ｓｅｃの間において、時点ｔ１−
１では切換指令信号Ｓｓｖによって測定点ｌのひずみを
検出するひずみゲージ式変換器２−１の出力電圧Ｅ１が
測定点切換器３を介して増幅器５に入力されるようにし
、次の時点ｔ２−１では測定点２のひずみを検出するひ
ずみゲージ式変換器２−２の出力電圧Ｅ２が同様にして
増幅器５に入力されるようにするというように順次切換
を行い、５ｍ５ａｃ経過する直前の時点ｔｎ−１で測定
点ｎのひずみゲージ式変換器２−ｎの出力電圧Ｅｎが増
幅器５に入力されるようにする。

次に、時点ｔ１−１から偶数分割時間、すなわち本実施
例では５ｍ５ｅｃ経過した時点ｔ１−２で測定点１に戻
り、上述した５■Ｓｅｅの期間で行ったと同じ動作を繰
り返す、そして、この５ｍ５ｓｃの期間で行った動作を
ｍ回、この例の場合、４回繰り返すにことによってｎ個
の測定点それぞれについて１６個の出力電圧Ｅが得られ
る。そして、各測定点１〜ｎについて、各１６個の出力
電圧の平均値、すなわち、Ｅｌ　　−１−１〜Ｅｌ　　
−４−４、Ｅ２　−１　−１　〜Ｅ２−４−４　、　Ｅ
ｎ　−１−１〜Ｅｎ　−４−４の平均値を求めることに
より誘導ノイズ成分およびこれよりさらに高い周波数の
ノイズ成分のない真の出力電圧Ｅｏ　−１＝Ｅｏ−ｎを
求めることができる。何となれば、正弦波の１周期ある
いはその整数倍の期間を偶数ｍに分割し、高い周波数成
分を含む０個の測定値を平均し、これを除去した各分割
時点における振幅値を平均するので、上述したように４
つの出力電圧Ｅの平均値を求めることにより誘導ノイズ
成分を零にして真の出力電圧Ｅｏを求めることができる
のである。

而して、Ａ／Ｄ変換器は、第３図（Ｄ）に示すようにｔ
ｌ−鵞、　ｔｚ−＋　、・借−ｇ　　ｔｎ　＋１　ｅｔ
ｌ−２，ｔｌ−２，”’、ｔｎ−２．ｔｌ−審。

ｔ　２−　寥　、　　”’、　　ｔｎ−ｓ　　、　　ｔ
ｌ　　−４、ｔ！＋４　　。

・・・、ｔｎ−４の各時点でａ回づつＡＩＤ変換する。

この例によれば、１つの測定点における測定間隔は、５
■Ｓｅｃ間隔であり、仮に１つの測定点と次の測定点と
の間の時間間隔を５０μＳｅｃで行うこととすれば、１
００の測定点におけるひずみを２０■Ｓｅｃの間に測定
することができる。

第５図は、測定のためにマイクロコンピュータからなる
制御器が実行するプログラムのフローチャートである。

（イ）「切換測定制御器に測定指令を出す」プログラム
が開始すると、先ず、予め切換指令信号Ｓｓ％ＩとＡ／
Ｄ変換器６′への測定開始指令信号Ｓｓｔの出力タイミ
ングを設定しておいた切換測定制御１１１３に対して測
定指令を出す。

以後、ＣＰＵ８により制御されることなく、切換測定制
御器１３から自動的に切換指令信号Ｓｓｖが送出され、
測定点１から順次切換えられ。

各点のひずみを検出するひずみゲージ式変換器の出力Ｅ
が増幅器５に入力され、増幅器５により増幅された信号
は、Ａ／Ｄ変換器６′に入力され、切換測定制御器１３
からの測定開始指令信号ＳｓｔによりＡ／Ｄ変換され、
ディジタル値となる、変換された各点のディジタル値は
、ＤＭＡ制御器１１によりＣＰＵ８を介することなく、
ＲＡＭ９に格納される。こうして、第３図に示すタイミ
ングの通り１測定点当りｆｌＸｍ回の測定を終了すると
、切換測定制御器１３は。

自動的に停止して次の測定指令を待つ、従って。

ＣＰＵ８は、切換測定動作の制御には実時間で関わる必
要がないので、以下に述べる演算処理に専念でき、ｍ定
開始から最後のデータの演算終了までの全体の計測時間
を短かくすることができる。

（ロ）「１個目のデータは、格納されたか」平均の演算
処理の開始である。ＲＡＭＱ上に測定点１の最初のデー
タ（第４図のＥｌ　−１−１）がＤＭＡされるまで待つ
、格納されたが否かの判定は、例えばディジタルデータ
の１ビツトを割り当て、測定開始前に“０”にしておき
、ＤＭＡ時、そのビットが“ｌ”になることで判定する
。

（ハ）１次のデータは格納されたか」２回目、３回目・・・・・・の加算すべきデータ（第４
図のＥｌ　−１−２、Ｅｌ　−１−３・・・・・・）が
ＲＡＭＱ上にそれぞれ格納されるまで待つ。

（ニ）「加算」図示しない加算用レジスタを設け、Ｑ回のデータを順次
加える。

（ホ）ｎ個のデータを加算したか」４個のデータを全て加算するまで（ハ）、（ニ）のステ
ップを繰り返す。

（へ）Ｂ回のデータ平均」加算用レジスタの値をΩで割って平均を求める。

（ト）「９回の平均値格納」ステップ（へ）で計算したｍ回のデータ平均値を各測定
点毎区分してＲＡＭ９に格納する。

（チ）ｒｍ回繰り返したか」ステップ（へ）で行ったｍ回の平均値の計算がその測定
点についてｍ回目なら、次のステップ（す）に進むが、
そうでなければ、ステップ（ロ）から（ト）のｍ回の平
均値計算を繰り返す。

（す）ｒｍ回の平均を求める」ＲＡＭｅ上に格納されたステップ（へ）。

（ト）で処理済の１測定点当りｍ個のΩ個平均値の平均
を求める。この処理により得られたデータは、Ω×ｍ個
の測定データの平均値、すなわち真のひずみを示す出力
電圧Ｅｏを示すことになる。

（ヌ）ｒディジタル出力」ステップ（す）の演算により求めた出力電圧Ｅｏをディ
ジタル値のまま出力ポート１２より出力する。この出力
は、他の記録装置例えば磁気記録再生装置へ供給されて
別途記録されたり、または、ＣＲＴ等のディスプレイに
供給され画像表示されるか、さらには、別の演算に供せ
られる。

（ル）「最後の測定点ｎか」ステップ（す）の演算によって測定点１から測定点ｎま
でのｎ個の測定点のすべてについての演算が終了したか
どうかを判定する。

このようにして、ｎ個の測定点全部について測定が終了
するとステップ（ル）の判定においてｒＹＥｓＪという
判定結果が得られ、そのときこのプログラムが終了する
。

以上の説明から明らかなように１本実施例によれば、切
換測定動作と併行して演算処理も行われるため、切換測
定動作の終了と殆んど同時に（厳密には、最後の測定点
ｎの最後のｍ回の平均と測定点ｎのｍ回の平均の処理時
間だけ時間的に遅れるのみで）演算処理結果出力も終了
するので、測定開始から測定結果出力終了までの全体の
計測時間は、切換測定後に演算処理をする方式に比較し
て短かくで青る。

尚１本発明は、上述した実施例に何ら限定されるもので
はなく、その要旨に包含される範囲内で種々変形して実
施することができる。

例えば、測定点切換指令、Ａ／Ｄ変換器６′への測定開
始指令の送出、モしてＡ／Ｄ変換されたディジタルデー
タのＲＡＭ９への格納等の作業をＣＰＵ８が実時間で係
わり、ＣＰＵ８によりこれらの制御を行い、その余り時
間で平均計算等の演算処理を行うような方式としてもよ
い、ただ、このような方式とすると、ＣＰＵ８が上述の
制御に時間をとられ、演算処理は、後まわしになること
が多く、切換測定動作は終了しても、演算処理結果の出
力終了までにはさらに時間を必要とするので、上述した
実施例のものより、計測時間が長くかかることになる。

また、上記実施例では、本発明を多点ひずみ測定器に適
用したものであったが１本発明はｎ個の検出器によって
検出される荷重等の物理量その他を測定する多点測定器
一般に適用し得ることは勿論である。

（、）　　効果以上詳述したように本発明によれば、正弦波である誘導
ノイズの１周期の整数倍の期間を偶数ｍに分割し、各分
割時点においてさらにより高い周波数成分除去のため複
数２回の測定動作を行って計ｌ×ｍ個の出力電圧を平均
することにより１つの測定点についての測定結果を得る
如く構成したことにより、より高い周波数成分のノイズ
から誘導ノイズ成分までを零にすることができると共に
、１つの偶数分割時間内にｎ個の測定点についての測定
を行う如く構成したから非常に高速に多点測定を行い得
る多点測定器を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の基本的構成を示す機能ブロック図、
第２図乃至第５図は１本発明の一実施例を説明するため
のもので、第２図は、多点ひずみ測定器の一実施例の回
路構成を示す回路ブロック図、第３図（Ａ）、（Ｂ）お
よび（Ｃ）は、測定点１．２Ｂ！定点２および測定点ｎ
の各ひずみ検出出力波形と測定タイミングとの関係をそ
れぞれ示すタイムチャート、第３図ＣＤ）は、Ａ／Ｄ変
換変換上る変換タイミングを示すタイムチャート、第４
図は、第３図（Ａ）乃至（Ｃ）に示したタイムチャート
より時間軸を拡大した測定点ｌの出力波形と測定タイミ
ングとの関係をより詳細に示すタイムチャート、第５図
は、制御器が実行するプログラムを示すフローチャート
、第６図乃至第８図は、従来例を説明するためのもので
、第６図は、多点ひずみ測定器の回路構成を示す回路ブ
ロック図、第７図（Ａ）は、出力電圧の波形図、第７図
（Ｂ）は、積分電圧の波形図、第８図は、動作を示すフ
ローチャートである。ＡＩ”Ａｎ・・・・・・検出器。Ｂ・・・・・・切換器。Ｃ，５・・・・・・増幅器、Ｄ、６′・・・・・・Ａ／Ｄ変換器。Ｅ、７′・・・・・・制御器。Ｆ・・・・・・測定点切換手段、Ｇ・・・・・・切換動作繰返指令手段。Ｈ・・・・・・記憶手段。 ■・・・・・・演算手段。２−１〜２−ｎ・・・・・・ひずみゲージ式変換器。３・・・・・・測定点切換器、８・・・・・・ＣＰＵ、９・・・・・・ＲＡＭ。１０・・・・・・ＲＯＭ、１１・・・・・・ＤＭＡ制御器、１２・・・・・・出力ポート。１３・・・・・・切換測定制御器。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）各測定点に配置されたｎ個の検出器と、検出器指
定信号により指定された検出器を選択してその検出器の
出力電圧を送出する切換器と、この切換器から出力され
た出力電圧を増幅する増幅器と、この増幅器の出力をデ
ィジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記検出器の出
力電圧に重畳されるノイズの周期の整数（１も含む）倍
の時間を偶数ｍに分割した偶数分割時間内にｎ個の検出
器の出力電圧が一定の順序に従って前記増幅器に入力さ
れるように切換器へ検出器指定信号を送出すると共に１
個の検出器が１回選択される毎に複数ｌ回Ａ／Ｄ変換動
作が行われるように前記Ａ／Ｄ変換器に測定開始指令信
号を送出する動作をする切換測定制御手段と、前記Ａ／
Ｄ変換器から順次出力される出力電圧のディジタル値を
順次記憶する記憶手段と、前記切換測定制御手段に偶数
分割時間を１つの周期とする前記動作を誘導ノイズの周
期の整数倍の期間内にｍ回繰り返させる切換動作繰返指
令手段と、１つの測定点についてのｌ×ｍ個の出力電圧
の平均値を算出する演算処理を測定動作と併行して各測
定点について順次行う演算手段とからなることを特徴と
する多点測定器。