JPS61226674A - シングルフオトンｅｃｔ装置の吸収補正方法 - Google Patents
シングルフオトンｅｃｔ装置の吸収補正方法Info
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- JPS61226674A JPS61226674A JP6764785A JP6764785A JPS61226674A JP S61226674 A JPS61226674 A JP S61226674A JP 6764785 A JP6764785 A JP 6764785A JP 6764785 A JP6764785 A JP 6764785A JP S61226674 A JPS61226674 A JP S61226674A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、シングルフォトンＥＣＴ装置において得ら
れるＥＣＴ断層像の吸収補正を行なう方法に関する。
れるＥＣＴ断層像の吸収補正を行なう方法に関する。
従来の技術
シングルフォトンＥＣＴ装置は、被検体内に投与された
ＲＩ（放射性同位元素）の特定断層面における濃度分布
像を断層像として得るものである。被検体の内部のＲＩ
から外部に放出される放射線を被検体外で検出する。そ
の際、断層面内の各方向での投影データが得られるよう
にスキャニング（エミッションスキャニング）が行なわ
れる。この投影データを逆投影することによって画像再
構成が行なわれ、上記の断層面における各ピクチャセル
のＥＣＴ値が得られる。つまり、ここで得られるＥＣＴ
値は各ピクチャセル毎のＲＩ遣度に対応する値であり、
このＥＣＴ値の分布を表す画像は被検体内での上記断層
面におけるＲ１濃度の分布像に対応する。
ＲＩ（放射性同位元素）の特定断層面における濃度分布
像を断層像として得るものである。被検体の内部のＲＩ
から外部に放出される放射線を被検体外で検出する。そ
の際、断層面内の各方向での投影データが得られるよう
にスキャニング（エミッションスキャニング）が行なわ
れる。この投影データを逆投影することによって画像再
構成が行なわれ、上記の断層面における各ピクチャセル
のＥＣＴ値が得られる。つまり、ここで得られるＥＣＴ
値は各ピクチャセル毎のＲＩ遣度に対応する値であり、
このＥＣＴ値の分布を表す画像は被検体内での上記断層
面におけるＲ１濃度の分布像に対応する。
ところで、被検体内ＲＩから放出された放射線は被検体
表面に達するまでに被検体内各組織で吸収される。そこ
で、被検体外部で検出されるデータには必ずこの放射線
吸収の影響が含まれることになり、その補正が必要とな
る。
表面に達するまでに被検体内各組織で吸収される。そこ
で、被検体外部で検出されるデータには必ずこの放射線
吸収の影響が含まれることになり、その補正が必要とな
る。
従来では、被検体内の各部の吸収係数が一定であるとし
て計算して吸収補正が行なわれている。
て計算して吸収補正が行なわれている。
また、あらかじめ円筒形ファントムに一様にＲＩ温溶液
満たして測定し、吸収係数を水と同一であるとして補正
する方法もある。
満たして測定し、吸収係数を水と同一であるとして補正
する方法もある。
発明が解決しようとする問題点
しかし、実際には被検体各部の吸収係数はそれぞれ異な
る値を持ち、上記のような従来の補正方法では正確な補
正は困難である。また、このことがシングルフォトンＥ
ＣＴ装置による定量測定に対して大きな障害となってい
る。
る値を持ち、上記のような従来の補正方法では正確な補
正は困難である。また、このことがシングルフォトンＥ
ＣＴ装置による定量測定に対して大きな障害となってい
る。
この発明は、ＥＣＴ断層像の吸収補正を比較的簡単な計
算で正確に行なうことができ、定量測定を可能とする吸
収補正方法を提供することを目的とする。
算で正確に行なうことができ、定量測定を可能とする吸
収補正方法を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
この発明によれば、ＥＣＴ断層像と同一断層面に関する
吸収係数分布を求め、吸収補正せずに一応求めたピクチ
ャセル毎のＥＣＴ値を、上記吸収係数分布を利用して吸
収補正しながら投影して各角度方向への投影データを得
、これら各角度方向への投影データを逆投影することを
特徴とする。
吸収係数分布を求め、吸収補正せずに一応求めたピクチ
ャセル毎のＥＣＴ値を、上記吸収係数分布を利用して吸
収補正しながら投影して各角度方向への投影データを得
、これら各角度方向への投影データを逆投影することを
特徴とする。
作 用
吸収補正せずに一応求めたピクチャセル毎のＥＣＴ値の
うちの１つのピクチャセルの値を、各角度方向に投影し
て投影データを求める。その際に、ＥＣＴ断層像を得た
断層面での吸収係数分布が知られているので、これを利
用すれば、吸収されないと仮定した場合の投影データが
再現できる。すなわち、こうして求められた各角度方向
への投影データ自体が既に吸収補正されたものとなって
いる。そこで、この投影データを逆投影すれば、上記の
ピクチャセルでの吸収補正されたＥＣＴ値が得られる。
うちの１つのピクチャセルの値を、各角度方向に投影し
て投影データを求める。その際に、ＥＣＴ断層像を得た
断層面での吸収係数分布が知られているので、これを利
用すれば、吸収されないと仮定した場合の投影データが
再現できる。すなわち、こうして求められた各角度方向
への投影データ自体が既に吸収補正されたものとなって
いる。そこで、この投影データを逆投影すれば、上記の
ピクチャセルでの吸収補正されたＥＣＴ値が得られる。
この操作を全てのピクチャセルにつき行なえばＥＣＴ断
層像の吸収補正ができる。
層像の吸収補正ができる。
実施例
この発明をリング型シングルフォトンＥＣＴ装置に適用
した一実施例について説明する。リング型シングルフォ
トンＥＣＴ装置では、第１図に示すように、被検体１の
周囲に多数の放射線検出器２がリング型に配列されてい
る。そして、この検出器２のリング型配列の内周部に、
図のように異なる方向を向いた多数の放射線遮蔽板から
なり、これらが一体となって回転するコリメータ３が置
かれる。被検体ｌから放出される放射線はこのコリメー
タ３によってコリメーシ冒ンされた方向のもののみが各
検出器２に入射する。各検出器２の出力は第２図に示す
ようにデータ収集装置５に送られ、収集されたデータが
ＣＰＵ６に送られる。
した一実施例について説明する。リング型シングルフォ
トンＥＣＴ装置では、第１図に示すように、被検体１の
周囲に多数の放射線検出器２がリング型に配列されてい
る。そして、この検出器２のリング型配列の内周部に、
図のように異なる方向を向いた多数の放射線遮蔽板から
なり、これらが一体となって回転するコリメータ３が置
かれる。被検体ｌから放出される放射線はこのコリメー
タ３によってコリメーシ冒ンされた方向のもののみが各
検出器２に入射する。各検出器２の出力は第２図に示す
ようにデータ収集装置５に送られ、収集されたデータが
ＣＰＵ６に送られる。
コリメータ３が回転することにより各検出器２に入射す
る放射線の方向が変り、被検体！内から放出される放射
線に関する各角度方向での投影データが得られる。
る放射線の方向が変り、被検体！内から放出される放射
線に関する各角度方向での投影データが得られる。
マス、トランスミッシ璽ンスキャニングを行なってトラ
ンスミッションデータを収集する。コリメータ３の焦点
位置に線源４を置き、被検体ｌにはＲＩを投与せずにコ
′リメータ３を回転させる。すると、この被検体ｌを透
過した放射線がコリメータ３を通って検出器２に入射し
、トランスミッションデータの投影データが収集される
。こうして得られた投影データは画像再構成装置７に送
られ、逆投影によってトランスミッション断層像が再構
成される。このトランスミッション断層像は、第３図に
示すように、被検体ｌの各ピクチャセル毎に求められた
吸収係数ＩＬｉｊの分布および輪郭を表す画像であり、
これがメモリ８に格納される。
ンスミッションデータを収集する。コリメータ３の焦点
位置に線源４を置き、被検体ｌにはＲＩを投与せずにコ
′リメータ３を回転させる。すると、この被検体ｌを透
過した放射線がコリメータ３を通って検出器２に入射し
、トランスミッションデータの投影データが収集される
。こうして得られた投影データは画像再構成装置７に送
られ、逆投影によってトランスミッション断層像が再構
成される。このトランスミッション断層像は、第３図に
示すように、被検体ｌの各ピクチャセル毎に求められた
吸収係数ＩＬｉｊの分布および輪郭を表す画像であり、
これがメモリ８に格納される。
つぎに、線源４を取り除き、被検体ｌにＲＩを投与して
コリメータ３を回転させることによって通常のエミッシ
ョンスキャニングヲ行ない、エミッションデータに関す
る投影データを収集する。収集された投影データは画像
再構成装置７に送られ、吸収補正されることなく適当な
フィルタを作用させられた上で逆投影されてＥＣＴ画像
が再構成される。このＥＣＴ画像は第４図に示すように
、被検体１の各ピクチャセル毎のＥＣＴ値Ｉｉｊの分布
を表す画像であり、これがメモリ９に格納される。ここ
で求められた各ピクチャセル毎のＥＣＴ値ＩｉｊはＲＩ
濃度を反映してはいるが吸収補正していないので、一応
のものにすぎず、真の値Ｉｏｉｊとは異なる。
コリメータ３を回転させることによって通常のエミッシ
ョンスキャニングヲ行ない、エミッションデータに関す
る投影データを収集する。収集された投影データは画像
再構成装置７に送られ、吸収補正されることなく適当な
フィルタを作用させられた上で逆投影されてＥＣＴ画像
が再構成される。このＥＣＴ画像は第４図に示すように
、被検体１の各ピクチャセル毎のＥＣＴ値Ｉｉｊの分布
を表す画像であり、これがメモリ９に格納される。ここ
で求められた各ピクチャセル毎のＥＣＴ値ＩｉｊはＲＩ
濃度を反映してはいるが吸収補正していないので、一応
のものにすぎず、真の値Ｉｏｉｊとは異なる。
そこで、このＥＣＴ値■ｉｊの補正を行ない、真の値Ｉ
ｏｉｊを求める。１つのピクチャセル（＋＋ｊ）に着目
する。このピクチャセル（ｉ 、 ＤのＥＣＴ値■ｉｊ
を各角度方向へ投影して投影データを求める。に方向（
角度θに方向）への投影データＰｋ ｉｊを求める際、
に方向に引いた直線が他のどのピクチャセルを横切るか
、およびその横切る長さはどれ程か、は（ｉ 、 ｊ）
と方向ｋによって分る。そして、全てのピクチャセルに
つき吸収係数が上記のトランスミッション断層像ノ再構
成ニよって求められ、メモリ８に格納されている。
ｏｉｊを求める。１つのピクチャセル（＋＋ｊ）に着目
する。このピクチャセル（ｉ 、 ＤのＥＣＴ値■ｉｊ
を各角度方向へ投影して投影データを求める。に方向（
角度θに方向）への投影データＰｋ ｉｊを求める際、
に方向に引いた直線が他のどのピクチャセルを横切るか
、およびその横切る長さはどれ程か、は（ｉ 、 ｊ）
と方向ｋによって分る。そして、全てのピクチャセルに
つき吸収係数が上記のトランスミッション断層像ノ再構
成ニよって求められ、メモリ８に格納されている。
そのため、メモリ８から吸収係数ＩＬｉｊを読み出し、
Ｐｋｉｊ算出装置１０により吸収補正後の投影データＰ
ｋ ｉｊを。
Ｐｋｉｊ算出装置１０により吸収補正後の投影データＰ
ｋ ｉｊを。
Ｐｋ ｉｊ＝ Ｉ ｉｊ ａ ｅｘｐ（Σ Ｌｉ’ｊ’
＊ ＩＬｉ’ｊ’）１′ｊ′ の計算によって求めることができる。ここで、ｇ ｉ’
ｊ’はピクチャセル（ｉ’ 、 ｊ’）の吸収係数、Ｌ
ｉ’ｊ’はピクチャセル（ｉ 、 Ｄからに方向に引い
た直線がピクチャセル（ｉ’ 、 ｊ’）を横切る長さ
である。Σ はピクチャセル（ｉ 、 Ｄから輪郭１′
ｊ′ 才での間に横切る全てのピクチャセルについて行なうこ
とを意味している。つまり、この吸収補正後の投影デー
タＰｋ ｉｊというのは、ＥＣＴ値Ｉｉｊが吸収の結果
得られた値であるの対し、ｋ方向に引いた直線上で吸収
が全熱ないと仮定した場合に得られるであろう投影デー
タを、Ｉｉｊおよびに方向に引いた直線が横切るピクチ
ャセルでの吸収係数とその長さから推定し再現したもの
である。
＊ ＩＬｉ’ｊ’）１′ｊ′ の計算によって求めることができる。ここで、ｇ ｉ’
ｊ’はピクチャセル（ｉ’ 、 ｊ’）の吸収係数、Ｌ
ｉ’ｊ’はピクチャセル（ｉ 、 Ｄからに方向に引い
た直線がピクチャセル（ｉ’ 、 ｊ’）を横切る長さ
である。Σ はピクチャセル（ｉ 、 Ｄから輪郭１′
ｊ′ 才での間に横切る全てのピクチャセルについて行なうこ
とを意味している。つまり、この吸収補正後の投影デー
タＰｋ ｉｊというのは、ＥＣＴ値Ｉｉｊが吸収の結果
得られた値であるの対し、ｋ方向に引いた直線上で吸収
が全熱ないと仮定した場合に得られるであろう投影デー
タを、Ｉｉｊおよびに方向に引いた直線が横切るピクチ
ャセルでの吸収係数とその長さから推定し再現したもの
である。
基本的には、この投影データＰｋ ｉｊを、他のｔ方向
（角度θを方向）での補正後の投影データＰｔ ｉｊな
どを含めて全角度方向のものについて逆投影すれば、真
のＥＣＴ値Ｉｏｉｊが再現されるが、逆投影にはフィル
タを使用するので、この投影データＰｋ ｉｊにフィル
タを作用させて修正した投影データのピーク値Ｑｋｉｊ
につき、Ｉｏｉｊ＝Σ Ｑｋ ｉｊ なる演算をＩｏｉｊ算出装置１１で行なうことにより、
全角度方向のものについての逆投影し、真のＥＣＴ値１
ｏｉｊを再現する。
（角度θを方向）での補正後の投影データＰｔ ｉｊな
どを含めて全角度方向のものについて逆投影すれば、真
のＥＣＴ値Ｉｏｉｊが再現されるが、逆投影にはフィル
タを使用するので、この投影データＰｋ ｉｊにフィル
タを作用させて修正した投影データのピーク値Ｑｋｉｊ
につき、Ｉｏｉｊ＝Σ Ｑｋ ｉｊ なる演算をＩｏｉｊ算出装置１１で行なうことにより、
全角度方向のものについての逆投影し、真のＥＣＴ値１
ｏｉｊを再現する。
この操作を被検体１内の全ピクチャセルについて行なう
ことにより、ＥＣＴ断層像の吸収補正ができる。
ことにより、ＥＣＴ断層像の吸収補正ができる。
なお、上記ではリング型シングルフォトンＥＣＴ装置を
使用したが、シンチレーションカメラを回転させるタイ
プのシングルフォトンＥ ＣＴ装置でも適用可能である
。
使用したが、シンチレーションカメラを回転させるタイ
プのシングルフォトンＥ ＣＴ装置でも適用可能である
。
また、画像の大きさと各ピクチャセルの位置を正確に一
致させることができれば、Ｘ線ＣＴ装置で被検体の吸収
係数の分布および輪郭を求めてもよい、ただし、この場
合、Ｘ線のエネルギとＲＩのγ線のエネルギとが異なる
ため吸収係数は近似値となる。
致させることができれば、Ｘ線ＣＴ装置で被検体の吸収
係数の分布および輪郭を求めてもよい、ただし、この場
合、Ｘ線のエネルギとＲＩのγ線のエネルギとが異なる
ため吸収係数は近似値となる。
発明の効果
この発明によれば、正確に吸収補正したシングルフォト
ンＥＣＴ像が得られ、定量測定も可能となる。しかもこ
の吸収補正のための演算は比較的簡単な計算で行なえる
。
ンＥＣＴ像が得られ、定量測定も可能となる。しかもこ
の吸収補正のための演算は比較的簡単な計算で行なえる
。
第１図はこの発明の一実施例のスキャニング機構の模式
図、第２図は同実施例の信号処理系統のブロック図、第
３図は吸収係数の分布を示す模式図、第４図はＥＣＴ値
の分布を示す模式図、第５図はピクチャセル（＋、Ｄの
ＥＣＴ値■ｉｊを吸収補正しながら投影することを説明
するための模式図である。
図、第２図は同実施例の信号処理系統のブロック図、第
３図は吸収係数の分布を示す模式図、第４図はＥＣＴ値
の分布を示す模式図、第５図はピクチャセル（＋、Ｄの
ＥＣＴ値■ｉｊを吸収補正しながら投影することを説明
するための模式図である。
Claims (1)
- （１）ＥＣＴ断層像と同一断層面に関する吸収係数分布
を求め、吸収補正せずに一応求めたピクチャセル毎のＥ
ＣＴ値を、上記吸収係数分布を利用して吸収補正しなが
ら投影して各角度方向への投影データを得、これら各角
度方向への投影データを逆投影することを特徴とするシ
ングルフォトンＥＣＴ装置の吸収補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067647A JPH0627829B2 (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | シングルフオトンｅｃｔ装置の吸収補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067647A JPH0627829B2 (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | シングルフオトンｅｃｔ装置の吸収補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61226674A true JPS61226674A (ja) | 1986-10-08 |
| JPH0627829B2 JPH0627829B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=13351018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60067647A Expired - Lifetime JPH0627829B2 (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | シングルフオトンｅｃｔ装置の吸収補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0627829B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0346884U (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-30 | ||
| US5391877A (en) * | 1994-01-26 | 1995-02-21 | Marks; Michael A. | Combined imaging scanner |
| JP2006098411A (ja) * | 2005-11-15 | 2006-04-13 | Hitachi Ltd | Ｐｅｔ装置及びｐｅｔ装置の制御方法 |
| US7627082B2 (en) | 2001-12-03 | 2009-12-01 | Hitachi, Ltd. | Radiological imaging apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5892974A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Shimadzu Corp | 放射型コンピユ−タ断層撮影装置 |
-
1985
- 1985-03-30 JP JP60067647A patent/JPH0627829B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5892974A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Shimadzu Corp | 放射型コンピユ−タ断層撮影装置 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0346884U (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-30 | ||
| US5391877A (en) * | 1994-01-26 | 1995-02-21 | Marks; Michael A. | Combined imaging scanner |
| US7627082B2 (en) | 2001-12-03 | 2009-12-01 | Hitachi, Ltd. | Radiological imaging apparatus |
| US7634048B2 (en) | 2001-12-03 | 2009-12-15 | Hitachi Ltd. | Radiological imaging apparatus |
| US7986763B2 (en) | 2001-12-03 | 2011-07-26 | Hitachi, Ltd. | Radiological imaging apparatus |
| US8116427B2 (en) | 2001-12-03 | 2012-02-14 | Hitachi, Ltd. | Radiological imaging apparatus |
| JP2006098411A (ja) * | 2005-11-15 | 2006-04-13 | Hitachi Ltd | Ｐｅｔ装置及びｐｅｔ装置の制御方法 |
| JP4604974B2 (ja) * | 2005-11-15 | 2011-01-05 | 株式会社日立製作所 | Ｐｅｔ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0627829B2 (ja) | 1994-04-13 |
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