JPS61225640A

JPS61225640A - 断層撮影装置

Info

Publication number: JPS61225640A
Application number: JP60066946A
Authority: JP
Inventors: Kiichiro Uyama; 喜一郎宇山
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1985-03-30
Filing date: 1985-03-30
Publication date: 1986-10-07

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕本発明は、工業製品およびその製品材料等の検査に好適
な断層撮影装置に係シ、特に画像作成手段を改良した断
層撮影装置に関する。

〔発明の技術的背景〕

この種の装置は人体の断層像を撮影する医療診断用装置
として広く利用されている。第１５図は、従来のかかる
医療診断用断層撮影装置であって、具体的には固定フレ
ーム１に対して回転可能に支持された筒形回転フレーム
２にＸ線管３および多数の検出器素子よシ麦るＸ線検出
器４とを対向配置させて固定し、・一方、基台または床
上にチーデル５を設置させてこれに被検体６を載置させ
た後、回転フレーム２の開口部７から挿入して所定位置
に設定する。

シカル後、制御コンソール８は、シーケンスプログラム
または人為的な操作に基づいて回転制御部９、放射線制
御部１０および中央演算処理ユニヅト１１（以下、ＣＰ
Ｕと相称する）にそれぞれ所定のタイミングで動作開始
信号を供給する。ここで、回転制御部９は、制御コンソ
ール８からの指令を受けて回転駆動機構部１２に゛回転
１駆動制御信号を与え、これによシ回転フレーム２は連
続または間欠回転して走査が開始される。一方、放射線
制御部１０は、制御コンソール８から動作指令が与えら
れかつ回転走査に伴なって回転位置検出器１３から所定
角度回転するごとに発せられるパルス信号を受けて１．
Ｘ線管３に原動信号を供給する。従ってＸ線管３は前記
・々ルス信号に同期しながら回転フレーム２がほぼ一回
転するまでの間、被検体６に間欠的にファン状Ｘ線ビー
ム１４を照射することになる。このファン状Ｘ線ビーム
１４は被検体６の性質に応じて吸収されて被検体６から
透過Ｘ線量データとして出力され、Ｘ線検出器４によっ
て検出される。このとき、データ収集部１５は、回転位
置検出器１３から前記・ぐルス信号をデータ収集用タイ
ミング信号として受けているので、そのタイミング信号
を受けるごとにＸ線検出器４によって電気的に変換され
たＸ線吸収データを収集しＣＰＵＩＩに送出する。この
ＣＰＵ１１は、第１６図に示すようにデータ収集部１５
からのデータを自身のディスクメモリに一時格納した後
、再構成処理時に画像再構成処理回路１６に送出する。

この画像再構成処理回路１６は、オフセット補正、各検
出器素子較正、水補正、ＬＯＧ変換処理およびＣＯ３−
掛は処理等を前処理回路１６にで行なって投影データを
得、さらにコンゲルバー１６Ｂおよびパ、クデロゾエク
タ１６Ｃによってそれぞれコンビリューシ冒ン処理およ
びバックデロゾエクシ、ン処理を行なって再構成画像を
作成し、これを断面像として画像メモリ１６Ｄに格納し
ている。そして、ＣＰＵ　Ｊ　１はパスライン１６Ｆを
介して画像メモリ１６０より断面像データを読出し、Ｃ
ＲＴディスプレイ１７に画像表示するものである。１８
はリファレンス検出器である。なお、従来の画像再構成
処理手段は、特開昭５３−９６６８９号公報等で公知で
ある。いわゆる第３世代直接法に示すように、ファン状
Ｘ線ビームデータを平行Ｘ線データに変換することなく
コンポリューシ震ン処理およびバックデロノエクション
処理を行なって断面像を再構成するアルゴリズムを用い
ている。

〔背景技術の問題点〕

ところで、以上のような構成を有する装置においては、
予め特定されている室にスキャナ本体を固定設置するも
のであるため、被検体６を検査するときにはその室に被
検体６を持込まなければならない。このため、検査対象
物の種類が限定され、特に非移動物（例えば構造物等）
の検査には不向きなものであり、また被検体６の大きさ
、重量等についても制限される。

また、従来の再構成アルプリズムは、Ｘ線管３とＸ線検
出器４とが少なくとも被検体６の周囲を、Ｘ線ビーム１
４のファン角グラス１８０’の角度だけ回転しなければ
断面像を作成できない。このため、被検体６が例えば構
造物等のような場合、構造物自体が邪魔になって上述し
た角度範囲にわたってＸ線管３およびＸ線検出器４等を
回転させることができず、結局、断面像を作成すること
ができない。

〔発明の目的〕

本発明は以上のような点に着目してなされたもので、被
検体の放射線吸収データを収集する際に回転角度制限が
ある場合でも高品位の断面像を作成し得る断層撮影装置
を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、角度制限される放射線検出系によって取得さ
れた被検体の吸収データから断面像を作成する断層撮影
装置において、特に被検体への放射線通路に対する評価
の重みとしてデータ収集区間外を零としかつデータ収集
区間内を該データ収集区間内より大きくして逐次近似法
によシ断面像を作成する断層撮影装置である。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例について第１図ないし第３図を
参照して説明する。第１図は放射線検出系の構成を示す
図、第２図は放射線検出系によって取得された被検体の
吸収データを用い−Ｃ被検体の断面像を作成する電気的
構成を示す図、第３図はデータ処理の流れを示す図であ
る前記放射線検出系は支持機構部２ｏおよび放射線発生
器、放射線検出器を持った走査部３０を有し、支持機構
部２０は固定パッド２ノ・・・忙よって床上に設置され
た内筒支持フレーム２２の外側に外筒支持フレーム２３
が外嵌され、この外筒支持フレーム２２の上部に内側に
ｆイド部２４ａを持った彎曲状の固定フレーム２４が固
定されている。この固定フレーム２４の下部には外筒支
持フレーム２３内を通って円筒支持フレーム２２内に延
在する螺子体２５が回転可能に吊下せられ、これは内筒
支持フレーム２２上部に設けられたねじ保合部２６と螺
合されている。また、外筒支持フレーム２３の一側外部
に上下動駆動部２７が設けられ、仁の上下動駆動部２７
０回転がベルト、チェーン等の条体２８を介して螺子体
２５に固着するプーリ、イア等の回転受体２９に伝達さ
れる。従って、上下動駆動部２７の回転によって螺子体
２５が回転し、これによシ内筒支持フレーム２２に対し
魯　て外筒支持フレーム２３を介して固定フレーム２４
が上下動するようになっている。

一方、走査部３０は、固定フレーム２４のガイｒ部２４
ｍと係合するＣ字型走査フレーム３１を有し、このＣ字
型走査フレーム３ノ上にはＸ線管等の放射線発生器３２
およびこの放射線発生器３２からのファン状放射線ビー
ム３３を受けて電気信号に変換する多数の検出器素子よ
シなる放射線検出器３４がそれぞれ設置されている。な
お、放射線発生器３２の前面側即ち放射線照射口近傍に
は多数のスリットを形成してなるコリメ〜り板３５が配
置され、また、コリメータ板３５の上側に放射線の強度
変化を測定する放射線強度測定用リファレンス検出器３
６が設けられている。、９７は放射線検出器３４によっ
て電気的に変換された放射線吸収データを検出器素子ご
とに吸収するデータ収集部であって、検出器３４と同様
に走査フレーム３１上に設けられている。３８は走査フ
レーム３ノを回動する回転駆動部であって、これにはエ
ンコーダ３９が取着されて走査位置を検出して出力する
ようになっている。また、走査フレーム３ノの両端には
それぞれ例えば複数の接触子を持った安全スイッチ４０
，４０が設けられ、走査時忙障害物４１があればそれを
検出して走査を中止させる機能を持っている。４２はス
ライス位置投光器、４３は被検体、４４はマニュアル操
作パネルを示すものである。

第２図は放射線検出系を含む装置全体の電気的構成を示
す図であって、放射線検出器３４、リファレンス検出器
３６および放射線発生器３２の走査位置信号を・９ルス
信号として出力するエン；−ダ３９がそれぞれデータ収
集部３７を介してＣＰＵ　５１に接続されている。この
ＣＰＵ５Ｉは機構制御部５２および放射線制御部５３と
ともに制御コンソール５４の指令の下に所定の動作を行
なうようになっている。この機構制御部５２は、上下動
駆動部２７に駆動制御信号を与える１１か、エンコーダ
３９から出力される走査位置を示す・母ルス信号を受け
て走査フレーム３１を移動せしめる回転駆動部３８を駆
動制御するように接続されている。さらに、この機構制
御部５２にはスライス位置投光器４２およびマニュアル
操作・々ネル４４が接続されている。

放射線制御部５３は放射線発生器３２を間欠または連続
的に駆動制御する。前記ＣＰＵ　５１には画像再構成処
理回路５５およびＣＲＴディスプレイ５６等が接続され
ている。

さらに、これらの各部の機能についてもう少し具体的に
説明する。先ず、制御コンソール５４はオペレータの意
志を各部に伝えるスイッチおよび各部の動作状態をオペ
レータに伝える表示ランプ等を有し、またＣＰＵ　５１
と各制御部５２．５３間のインターフェイスの役目を持
っている。ＣＰＵ　５１は、制御コンソール５４からオ
ペレータの操作による指令（ｌｉｔ号を受け、予め定め
られ７’２　ｆ　ｏダラムに従って動作する役割を有し
、さらに制御コンソール５４をインターフェイスとして
各制御部５２．５３へ指令信号を送ったり、逆に走査の
ためのステータス信号を受けたシする。また、　ＣＰＵ
　５１は、データ収集部３７からデータを受は取って記
憶し、あるいは画像再構成処理回路ｓｓＫデータを送っ
て画像データを作成しＣＲＴディスプレイ５６に表示さ
せたシ、オペレータにメ、セーゾを伝えるために表示し
たシする。これらの一連の動作は内蔵するメモリのプロ
グラムにしたがって行なう。

前記機構制御部５２は、制御コンソール５４から指令信
号を受けて各駆動部２７．３８に電力を送って駆動制御
し、かつエンコーダ３９がらパルスを受けてフィードパ
、り制御を行なう。

また、エンコーダ３９からのパルスを計ａして走査位置
をディノタル信号として制御コンソール５４へ送る。こ
の信号は制御コンソール５４をインターフェイスとして
ＣＰＵ　５　Ｊ　Ｋも送られる。また、安全スイッチ４
０から障害物検出信号を受けて走査フレーム３１が障害
物４１に衝突する前に走査を停止させ、またスライス位
置投光器４２に電力を送ってファン状の可視光線を放射
線ビーム３３と同一面内で放射し、被検体４３のスライ
スを表示させるものである。

前記放射線制御部５３は、制御コンソール５４から指令
信号を受けて放射線発生器３２へ高圧電流を送ってファ
ン状放射線ビーム３３を発生させる機能を持っている。

なお、前記マニュアル操作／やネル４４は、固定フレー
ム２４に取付けられ、電気的には機構制御部５２と接続
されている。そして、・９ネル上のスイッチによって各
駆動部２７．３８の手動操作とスライス位置投光器４２
のオン・オフ動作を行なうものである。

次に、以上のように構成された装置の作用を説明する。

先ず、走査フレーム３１の回転中心Ｏがおよそ被検体４
３の中央部に位置するように設定する。この場合、マニ
ュアル操作／やネル４４のスイッチをオンして機構制御
部５２からスライス位置投光器４２に電力を供給し、こ
のスライス位置表示光を照射する。そして、この状態に
おいてマニュアル操作／４ネル４４を操作して上下動駆
動部２１を駆動して走査フレーム３１等を上下動させ１
１人為的にスライス位置を設定する。さらに、マニュア
ル操作”ネＪ’４４を用いて回転駆動部３８を駆動して
走査フレーム３１を走査し、安全スイッチ４０が確実に
動作するか確認する。

次に、被検体４３の断面像を作成するための走査が行な
われる。この走査によって得られた収集データの処理等
は第３図で模式的に示すフローチャートに従って行なう
。即ち、動作開始指令を受けると、Ａトラバース走査お
よびデータ収集、Ｂ収集データの前処理、Ｃ前処理後の
画像再構成処理、Ｄ被検体４３の断面像表示等が行なわ
れる。

Ａ　トラバース走査およびデータ収集について、先ず、制御コンソール５４よシ動作開始指令信号を出力
すると、機構制御部５２はその指令を受けて回転駆動部
３８を駆動制御し、放射線発生器３２および放射線検出
器３４を走査始点位置イまで動かして安全スイッチ４ｏ
で確認しながらプリセットする。制御コンソール５４は
、エンコーダ３９、データ収集部３７おヨヒＣＰＵ５１
を介して放射線発生器３２が走査始点位置イにプリセッ
トされたことを知ると、引き続き、各部５１〜５３へ走
査開始のための指令を与える。制御コンソール５４は放
射線発生器３２がプリセットされたか否かを確認するこ
となく、所定時間後にプリセットされたと判断して自動
的に走査開始の指令を出力してもよい。

なお、制御コンソール５４は、自身のシーケンスプログ
ラムに基づいて各部を制御することも可能であるが、通
常、オペレータがスイッチを操作して装置内部に伝える
ことおよび装置内部の動作状態を表示ランプ等によって
オペレータに伝達すること等が主な機能である。この場
合には制御コンソール５４は、ＣＰＵ　５１と各制御部
５２．５３のインターフェイスとして機能する役目を果
す。従って、この場合の主導権は、オペレータの指示に
よって制御コンソール５４が動作開始指令を発すること
を除けば、ＣＰＵＳ１が自身のシーケンスプログラムに
よって各部を所定のタイミングで制御するものとする。

以下、ＣＰＵ　５１が主導権を有するものとして説明す
る。

ＣＰＵ　５１は、自身のシーケンスプログラムに基づい
て走査開始指令を出力すると、制御コンソール５４をイ
ンターフェイスとしてその指令が各制御部５２．５３に
与えられる。ここで、放射線制御部５２は指令を受けて
放射線発生器３２へ高圧電流を間欠的または連続的に供
給し、放射線発生器３２から放射線ビーム３３を被検体
４３へ向けて照射する。一方、機構制御部５２は、ＣＰ
Ｕ　５１から制御コンソール５４を介して指令を受ける
と、回転駆動部３Ｂへ電力を送って駆動制御し、所定方
向に所定の回転速度で回転せしめる。よって、放射線発
生器３２は走査始点位置イより原則として等速度で移動
し、安全スイッチ４０の動作によシ走査終点位置口に達
したところで停止する。この回転駆動部３８が駆動する
と、エンコーダ３９はその回転駆動部３８の回転を検出
し放射線発生器３２が所定距離移動するごとに／母ルス
信号を出力し、機構制御部５２およびデータ収集部３７
に供給する。この機構制御部５２は、エンコーダ３９か
らの・母ルス信号を計数することによシ放射線発生器３
２の走査位置を検出し、これをデイソタル化して制御コ
ンソール５４をインターフェイスと゛してＣＰＵ　Ｓ　
１　Ｋ送出する。

前記データ収集部３２は、エンコーダ３９から・Ｉルス
信号を受けるとこの・やルス入カタイミングによシ、放
射線検出器３４の各検出器素子ごとの放射線吸収データ
を積分してＣＰＵ　５１に送出する。仁の・ぐルス信号
は検出器素子出力の積分開始および積分終了の信号とさ
れる・ＣＰＵ５１は前記ｊ４１ルス信号の入力タイミン
グごとの放射線吸収データを順次自身のディスクメモリ
に記憶していく。

なお、前記エンコーダ３９の出力・母ルス信号は放射線
発生器３２が等距離移動するごとに発生するものである
ため、データ収集部３７による積分データ信号は等間隔
に並べられた放射線発生点Ｓ、・・・の各々に対して収
集されたデータと見做すことができる。この発生点は積
分時間の間にＸａ発生点が描いた線分の中点にある。

第４図はデータ収集位置を示す図である。図示上側ライ
ンの各点１，２．３、・・・ｎは放射線発生点Ｓの軌跡
を示し、図示下側ライン１．２゜３、・・・ｍは放射線
検出器３４の各検出器素子中央の検出点軌跡を示してい
る。即ち、各放射線発生点Ｊ　、　２　、３、・・・か
ら放射された放射線ビーム３３は被検体４３を透過して
放射線発生点、検出器素子検出点およびビーム３３のフ
ァン角度に応じた検出器素子位置で検出されるが、その
放射線ビーム３３の１つの放射線通路■（ｍ、ｎ）につ
いてみれば、かかる放射線通路のデータ”ｍａｎは放射
線発生点ｎと検出器素子検出点ｍとで特定させることが
できる。従って、各放射線発生点１．２，３、・・・お
よび検出器素子検出点１．２、・・・相互間を結ぶ各放
射線通路の各収集データは放射線発生点１．２、・・・
ごとに特定されてＣＰＵ　５１のディスクメモリにいっ
たん記憶されるとと忙なる。

Ｂ　前処理について、次に、　　ＣＰＵ　５１は、自身のディスクメモリから
データを読出して画像再構成処理回路５５に送シ、ここ
で最初に前処理を行なう。なお、画像再構成処理回路５
５の内部的構成は後述する画像再構成処理の項に瞳シ、
ここでは専ら前処理について述べる。前処理としては、
各検出器素子ごとのオフセット補正、検出器素子の感度
補正、放射線強度の変化に伴なう補正およびＬＯＧ変換
などが行なわれる。なお、説明の便宜上、前記データＩ
。、ｎのみについて述べる。

（１）各検出器素子ごとのオフセット補正放射線が入射
されていないときの検出器素子検出点ｍの検出器素子出
力即ちオフセット出力を！。、とすると、オフセット補
正データ■糺□は ”ｍｅ　ｎ　＝　■！Ｌ　ｎ　−Ｉｏｒｎ−・・ｉｌｌ
の計算式によって求めることができる。

（２）放射線強度の変化に伴なう補正仁の補正にあっては、前記リファレンス検出器３６の出
力データが使用される。例えば、放射線通路■（ｍ、ｎ
）に一番近いリファレンス検出器３６の検出器素子にお
けるオフセット補正ずみ出力をＩ’１ｉｌＦとすると、
放射線強度変化補正データ”Ｉｎ　＋　ｎは、Ｉ記憶　＝　”ｆ！１ｍ　ｎ　／　Ｉ’ｍ　ｇｒ　　　
　　　　　　　＝−１２１となる。

（３）　　各検出器素子の感度補正この感度補正に際し、被検体４３が無い状態で予め設定
された検出器素子ｍのオフセット・リファレンス補正演
出力を。Ｉ％とすると、感度補正データ”Ｉｌｌ　＊　
ｎは、瑞＊　ｎ　＝　ＩＩｒｎ＋　ｎ　／　ｏＩ’ｍ　　　　
　　　　　　−・＝　１３１となる。

（４１ＬＯＧ変換処理このＬＯＧ変換データτｍ（ｍ、ｎ）は、７ｍ（ｍｅ　
ｎ　）　＝−６ｎ（喘＋１１）　　　　　　　　・・・
・・・（４）によって求められる。

以上のように前処理されたＬＯＧ変換データτｍ（ｍｅ
　ｎ　）即ち前処理済データτｍ（ｍｒ　ｎ　）は再び
ＣＰＵ　５１のディスクメモリに記憶される。この前処
理済データτｍ（ｍ　＊　ｎ　）は各放射線発生点１゜
２．３、・・・Ｋ対する各検出器素子について行なわれ
ＣＰＵ　５１のディスクメモリにテーブル化されて記憶
される。

Ｃ画像再構成処理について、前処理終了後、引き続き、画像再構成処理を行なう。即
ち、ＣＰＵ　５１は、自身のディスクメモリテーブルか
ら各画素ごとに前記前処理済データτｍ（ｍ、ｎ）を読
出して再び画像再構成処理回路５５に送シ、ここで逐次
近似法を用いて画像再構成処理を行なう、この逐次近似
法は放射線通路■（ｍ、ｎ）々どによるデータの信頼度
に応じて重み係数を付して電子雑音の影響を抑えた再構
成画像を得るものであるが、特に本装置においては、デ
ータを収集しなかった放射線通路に対しては重み係数を
零とし、かつデータ収集区間に対しては広域重み係数を
用いることに特徴を有するものである。

以下、逐次近似法によシ再構成画像を得る場合について
、第５図に示すフローチャートに従って説明する一逐次
近似法にあっては、ディスクメモリテーブルの各画素ご
とにデータを取出して順次真値のＣＴ値を求めるもので
あって、先ず、ステ、デＳ１において初期画像が物質の
性質に関係なく一様なＣＴ値分布を有すると考えて適宜
な初期画像データμｍ（ｘ＊ｙ冶μ０（ｅｏｎａｔ）を
設定し、これを評価関数Ｊの勾配ｇの計算ステップＳ２
に供給する。ここでは、初期画像データμｍ（Ｘ、Ｙ）
とｅ価関数基進用初期値とを用いてどの方向にどの程度
の勾配（傾き）ｇをもっているかを調べ、さらにステラ
ｆｓ３において画像の修正方向８１　Ｃｘ、　ｙ）を定
め、その方向に適宜な値の初期値αを与え（ステ、７ａ
ｓ４）、実際に修正画像データμｉ＋１（ｘ、　ｙ）を
作成してみる（ステ、グｓ５）。そして、その修正画像
データμｍ＋１　（Ｘ、　ｙ）についてステップｓ６に
おいて評価関数Ｊ〔μ（χ、ｙ）〕を用いて評価をして
みる。

以下、ステ、デＳ６の初期画像データＫｘ、ｙ）を評価
する関数Ｊを中心に各ステ、デｓ２〜ｓ５のデータ処理
状態を説明する。初期画像データμｍ（ｘ、ｙ）に対す
る評価関数Ｊ〔μ（ｘ　ｓ　ｙ　）　）は、−τμ（Ｘ
＊　ｙ）　；ｍ、　ｎ　Ｉ　２　　　・・・・・・（５
）で衣わすことは既に周知である。この式においてｗ　
（ｍ　＋　ｎ　）は放射線通路Ｉ（ｍ、ｎ）に対する評
価の重みであるが、この重みｗ（ｍｅ　ｎ　）としてｗ
（ｍａｎ）＝”ｔ（ｍ、ｎ）”’ｇ（ｍａｎ）　　　　
　　Ｈ聞°（６）を用いる。゛但し、”ｌ（ｍｅ　ｎ）
は局ｒｆｒｔみ係数、Ｗｇ　（ｙｌ　、　ｎ）は広域重
み係数である。ｗｔ（ｍ　＊　ｎ　）は測定された投影
データτｍ（ｍ、ｎ）の値によって決めていくが、７ｍ
（ｍ　ｅ　ｎ　）のＳＮ比が大きいときには大きな値、
小さなときには小さな値をとるように選択する。

Ｗ（ｍＩｎ戸πユ＝ｂコ＝訂訂　　　・・・・・・（７
）の式によって求めると、重みｗ（ｍａｎ）はおよそＳ
Ｎ比に比例して好ましい値となるが、この針具式によら
なくともよい。例えば”（ｍｕ　ｎ　）””１１１　ｓ
　ｎとすることも考えられる。

次に、広域重み係数Ｗｇ　（ｍｎ　ｎ　）としては、例
えば第６図に示すようにデータ収集区間外を零とし、デ
ータ収集区間内ではその両端を大きくし、データ収集区
間の内側に向って徐々に小さくなって中間で両端よシも
低い状態でほぼ一定値となる重み係数を用する。なお、
同図はｎのみの関数と考えているが、Ｗｇ　（ｍ　＃　
ｎ　）から他方のｍによって変化きせるととも可能であ
る。従って、（５）式は評価を重み付きの最小二乗法で
表わすことを意味している。

以上のような重み付けを施して評価関数Ｊの計算によシ
、初期画像データμ（Ｘ、ｙ）が真値に近づくほど評価
関数Ｊは小さな値となるはずである。そこで、初期画像
データμｍ（よ、ｙ）に対する評価関数Ｊ〔バＸ、７）
　］がステ、７’Ｓ７において最小となるように収束す
るか否かを判断し、ｄ＝α十Δαによって（ステ、７”
Ｓ、ｌｉ）により少しずつ変化させてステラｆｓ５に入
力し、修正画像を作成し、評価関数Ｊを計算してみる。

そして、Ｊが最小の値に収束したとき、例えばテストフ
ァントム等で求めた基急用初期値Ｊ、と比較しくステ、
デＳ９）、小さければそれを真値のＣＴ値とするもので
ある。

但し、（５）式においてτｒｎ（ｍａｎ）は例えば１つ
の放射線通路Ｉ（ｍ、ｎ）について測定された放射線吸
収量に伴なう投影データである。

また、τバエ、ｙ）；。、ｎは放射線通路■（ｍｕ　ｎ
　）について初期画像データμ（ｘ、ｙ）から逆に求め
た放射線吸収量に伴なう投影データで６って、これは（
８）式に基づいて求められる。

この式においてψ（ｑ−ｒ）は各放射線通路を中心とし
、この通路からの距離（ｑ−ｒ）に対する放射線ビーム
の放射線検出強度の状態を式で表わしたものであって、
通常、第７図に示すような正規化分布をもって表わされ
る。実際の計算ではもう少し単純化したものを用いる。

従って、（ｑ−ｒ）は放射線通路と被検体４３に対応す
る放射線通路に近い画素位置との距離を表わしている。

そこで、（８）式は初期画像データμｍ（工、ア）につ
いてＦ（ｑ−ｒ）に基づいて換算したときの投影データ
の値と考えられる。第８図は前記画素の初期画像データ
点（ｘ、ｙ）と放射線通路Ｉ（ｍｕ　ｎ　）との関係を
示している。ここで、ｑ−ｒはで表わせ、（ｑ−ｒ）す
なわちＦ（ｑ−ｒ）は１　ｍ　７　ｅｒｆｌ　＋　Ｈの
関数と見做せる。結局、（８）式は初期画像データμｍ
（ｘ、ｙ）を放射線通路Ｉ（ｍ、ｎ）について投影した
ときのデータを意味する。従って、以上述べたように逐
次近似は、（５）式の評価関数式を用い、スカラ量Δα
を与えながら初期画像データμＤｘ＋ｙ）について画像
修正を繰返しつつ、評価関数Ｊが小さな値になるよう制
御する・そこで、以下、初期画像データμｍＣｘｒ　ｙ
）についてｉ回目の修正画像が評価を受け、その評価関
数Ｊｔ（ｘ、ｙ）がステ、デＳ７で収束したと判断され
たが、未だ評価関数基醜用初期値Ｊ、よりも大きいと判
断されたとき、ステ、デＳ２に返って再びｉ＋１回目の
修正画像μｍ＋１（ｘ、ｙ）を求める例について説明す
る。

ｉ回目の評価関数Ｊ〔μｍ〔ｘ、ア〕〕の一次変分は、
で表わされる。Ｊはμｌ（ｘ、ｙ）に対する汎関数とみ
る。上式においてｇ〔μｌ（：ｃ、ｙ）：ｘ＋ｙ〕は評
価関数Ｊのμｌ（ｘ、ｙ）における勾配と考えられる。

そこで、ステ、デＳ２においては（５）式の変分をとシ
、ｇ〔μｌ（ｘ、ｙ）”　ｙ〕について求めると、イ（
μｌ（ｘ、、ｙ）：ｍ−ｎ））町ｑ−ｒ）　　・・・・
・・α力で表わせる。即ち、０ツ式によって勾配を求め
ることができる。

ことで、μｍ（工、ア）からμｌ＋１（工、ｙ）を求め
るとき、ｇ〔μｌ（ｘ、ｙ）：！ｌ）の方向忙変化量を
とると最も少ない変化量で評価関数Ｊを小さくできるが
、収束を早めるために共役傾斜法の１つであるＦ１＠ｔ
ｃｈ＠ｒ−Ｒ・・マ■のアルコ９リズムを採用する。

この共役傾剣法ではステップＳ３に示すように、μｌ（
ｘ、ｙ）の修正方向５ｉ（ｘ、ｙ）として、５ｉ（ｘ、
ｙ）＝ｇ（μｓ　（ｘ　＊　ｙ）　：ｘ＃ｙ　］を用い
る。そして、この式によ多画像修正方向が決定すると、
その修正方向に修正量（大きさ）α量を与えて修正画像
μｔ＋１（ｘ、ｙ）について下式によシ求める。

μｌ＋１（ｘ、ｙγ千μｉ（ｘ、ｙ）”）’コ’ｉＳｉ
　（ｘ、ｙ）　　　　　　　　　　　”””α埠このよ
うにして修正画像を求めた後、−次元探索を行なって評
価関数Ｊの計算を行ない、かつ修正量αｌを何回か変え
て繰返しＪ〔μ汗１（ｘ、ア）〕を求めて最小となるα
ｌを採用する。そして、μ汁１（ｘ、ア）を求めた後、
次にとのμｉ＋　１（Ｘ　＃　ｙ　）を用りてＪ’ｉ＋
２（：ｔ、　ｙ）を求める。これを繰返し計算し、評価
関数Ｊが評価関数基漁値Ｊ０よシ小さくなったとき、デ
ータ処理を打ち切って最後の画像データμ（ｘ、ｙ）を
真値のＣＴ値として記憶する。各画素の投影データにつ
いても同様の処理を行なって真値となるＣＴ値・を求め
る。

次に、さらに画像再構成処理回路５５の内部を具体化し
、実際の動作シーケンスにそって説明する。第９図はそ
の画像再構成処理回路５５の内部を具体化した機能プロ
、り図である。図中６１はメモリ、６２は前処理回路、
６３は勾配演算手段、６４は１ｌｓｒｔｌ１２演算手段
、６５は修正方向演算手段、６６は修正方向演算手段、
６７は評価関数演算手段、６８は各演算手段等の動作シ
ーケンスを制御する制御部でありて、メモリ６１、ＣＰ
Ｕ５１、ディスク装置５７およＯＣＲＴディスプレイ５
６等とはデータバス６９で接続されている。

第１０図は第９図の内容を更に具体化した構成図である
。即ち、メそり６ノは”ｇ（ｎ）−μｌ（！、ア）の各
データを記憶する記憶領域を分けて示したものであシ、
また勾配演算手段６３と評価関数演算手段６７は内部的
には相互にデータの授受を行なうので合体した状態で表
わしである。即ち、演算手段６３．６７は、ｇｌとＪ１
＋１を同時に両方計算する機能を持つものとして考えて
いる。

特に、これらの機能ブロック６３．６１内は投影データ
τｍ（ｍ＋ｎ）等から演算によって局所重み係数”Ｌ　
（ｍ　＊　ｎ　）を求める局所重み係数演算手段７１、
プロジェクタ−７２−１およびパ、クグロジェクタ−７
２−２その他によって構成されている。また、ＣＲＴデ
ィスプレイ５６は、μｌ（ｘ＊ｙ）データを記憶する画
像メモリ５６−１とＣＲＴ５６−２等によって構成され
ている・しかして、第９図および第１θ図に基づいて動作を説明
するにあた）、第３図および第５図を実際の動作に促し
て編集しなおすと、第１１図（Ａ）　、　（Ｂ）に示す
ようなフローチャートをもって表わすことができる。先
ず、ステップｆ３１１においてデータを収集してＣＰＵ
　５１のディスクメモリに記憶される。ＣＰＵ　５１は
パスライン６９を介して投影データ”ｒｎｍユをメモリ
６ノに転送する。ここで、制御部６８はステ、デ８１２
に示すようにメモリ６１１１Ｃ記憶された投影データエ
。、ｎを次々に前処理回路６２へ送シ、前述した前処理
を行なわせ、その前処理済データτ’ｍ（ｍ、ｎ）を順
次取シ出してメモリ６１に再度記憶する。

メモリテーブル上のすべての投影データ■。、ｎについ
て前処理が完了し、前処理済データτｍ（ｍ＋　ｎ）が
揃うと、これらのデータτｍ（ｍ、ｎ）は制御部６８の
制御のもとにパスライン６９を通じてＣＰＵ　５　Ｊへ
転送される。なお、以上の前処理動作においてすべての
投影データＩｍａｎがメそＩＪ　６１　Ｋ入らない場合
があるので、この場合には分割して行なう。

次に、ステ、７”　Ｓ　１３において逐次近似を行なう
ために初期画像データμＤ！＋ｙ）を設定する。

この処理動作は、ＣＰＵ５１からメモリ６１に対し、初
期値μ０を初期画像データとして転送し、メモリ６１の
画像に初期値を設定する。メモリ６１の他の値も初期設
定される。

この初期値設定後、ＣＰＵ　５１は勾配ｇｌを計算する
ために自身のディスクメモリから前処理済データτｍ（
ｍ、ｎ）を続出してメモリ６１へ転送するＣステ、ゾ５
１４）。メモリ６１にはナベてのデータτｍ（ｍｓ　ｎ
　）が入らないので、データτｍ（ｍ　＋　ｎ　）を入
れ替えながらステ、デＳ１４〜Ｓ１６の処理を繰返しな
がら勾配演算手段６３によシ勾配ｇ１を順次計算し、こ
れをメモリ６１に記憶していく。そして、メモリ６ノに
入ったデータτ。（ｍ、　ｎ）に対応して、ＣＰＵ　５
１は広域重み係数”ｇ　（ｎ　）を転送してメモリ６１
に格納する。即ち、勾配ｇｉの計算は、メモリ６１から
μｍ（ｘ、ｙ）、１ｍ（ｍ、ｎ）および”ｇ（ｎ）を読
出して勾配演算手段６３によ’）　［１（＝ｇ（Ｊ’ｌ
（ｘ、ｙ）：！−ｙ）をｏ９式に基づいて計算する。ス
テップ８１４〜ｆ３１６を何回か繰返してすべてのデー
タτｍ（ｍ、ｎ）　Ｋつｈて計算を終えると勾配ｇｔが
完成し、ステ、デＳ１６゜８１７が終了し、メモリ６１
に記憶される。同時にＪｉについても計算されるがこれ
は使用され　　　　　゛る。この動作は画像再構成処理
回路５５内のみの動作であｌ）、ｃｐｕｓｘは該回路５
５にコマンドを送って回路５５からの終了割込みが入る
まで他の作業を行なう。

次に、ステ、デＢＩＢでは、制御部６８がメモリ６１か
ら勾配ｇ１を読出してｌ　Ｉｇｓ　Ｉ　ｌ　　演算子１
１ｓｒｔｌ１２を求めると、引き続き、ステップ８１９
に、移行し、ここでＩ１ｇｔｌ１２／ｌ　Ｉｇｔ−ｔｌ
１２を求める。即ち、ここでの処理動作は、メモリ６１
からｌ１ｇ量１１２データを読出してＣＰＵ　５１へ送
シ、ＣＰＵ　５１でｌ１ｇｔ１１２／ｌ１ｇｔ−ｔｌ１
２を計算する。

１１ｇ１−１’ｌ１２はＣＰＵ　５１自身のメモリにあ
るものを用いて計算し、この計算後、１１ｇｌ−１１１
Ｏ代シに１１ｇ５ｌ１２を記憶する。そして、計算後の
データ１１ｇ１１２／ｌ１ｇｔ−１１ピはメモリ６１に
送られて記憶される。

次に、ステップＥ３２０においてメモリ６ノにあるデー
タｇｔ、ｆ１ｇｔ１１２／１１ｇ５−１１ｆ２％５１−
１を続出して修正方向演算手段６５によシ、（ロ）式に
基づいて修正方向Ｊ（＝Ｓｓ（ｚ、ｙ）を求める。この
修正方向データＳｌは５ｌ−１に代えて再びメそり６１
に記憶される。なお、５ｉ−１はｉ＝１のとき零である
。

修正方向データＳｉを求めた後、ステ、デ８２１に移行
し、ζこでＣＰＵ　５１により修正量αが設定される。

このため、ＣＰＵ５１はαの増分Δαをメモリ６１に転
送する。α冨α＋Δα忙おいてαを変えてステ、デ８２
１〜８２９を繰返してＪ１＋１の最小値を求める。

次に、ステ、デ８２２においては、αの繰返しの最初の
ループでメモリ６１からμｉ、ｓｔ＝Δαが読出されて
修正画像演算手段６６により最初の修正画像データμｌ
＋１を（至）式により求める。このデータμｓ＋１＃：
１ｔｉＩ　Ｋ代えて再びメモリ６１に記憶される。ルー
プの２回目以後は最初のμｍ＋１゜Ｓｌ・Δαが送られ
、同様に計算して新しいμｍ＋１＝μｉ＋１＋Δαｓｌ
を求める。これは、α１式においてα；α＋Δαよ〕α
をΔαずつ増加させてμｉ＋ｔを計算しなおしているの
と同値である。

次に、ステ、デ８２３において評価関数Ｊｉ＋１を計算
するためにＣＰ（Ｊ　５１からデータτｍ（ｍｓ　ｎ）
を読出してメモリ６１に転送する。すべてのデータτｆ
ｆｌ（ｍｓ　ｎ）がメモリ６１に入らないので、ステ、
デＳ２３〜８２５を繰返し行ない、かつデータτｍ（ｍ
、ｎ）　ｔ−入れ替え々がら評価関数５１＋１を計算す
る。更に、ステラ′ｆ２４においてＣＰＵ　５　Ｊはメ
モリ６１に格納されているデータτｒｎ（ｍ　＊　ｎ　
）に対応させてＣＰＵ　５１から広域重み係数Ｗヨ（ｎ
）をメそり６１に転送し入れ替えを行なうＯ次に、ステ、グＳ２５では、メモリ６１からデータμｉ
＋１１τｍ（ｍｓｎ）および”ｇ（ｎ）を読出して評価
関数演算手段６７によシ評価関数Ｊｉ＋１を（５１式に
基づいて計評する。すべてのデータτｄ１ユ）について
’Ｉｔ＋ｔの計算を行なうとＪｉ＋１が完成する。

同時にｇｔ＋１も計算される。この計算結果のＪｉ＋１
＋ｇｉ＋ｔはＪｉ　Ｉ　ｇｌの代シにメモリ６１に記憶
される。

ギして、ステップ８２６ですべてのデータτｍ（ｎｂ　
ｎ）についてＪＩ＋１・ｇｉ＋１の計算を行なったか否
かを判断し、計算終了の場合にはステ、プ８２７に移行
してＪｉ＋１の評価を行なう。

このＪｌ＋１の評価は、メモリ６１からＪｌ＋１を読出
してＣＰＵ　５１に転送して行なう。Ｊ１＋１が修正量
αの変化に対し最小値（極値）でない場合にはステップ
８２１にもどってｄ＝α＋Δαとして計算する。即ち、
ステラｆ８２１〜８２７では修正量を変えながら評価関
数Ｊｉ＋１を計算し、かつＪ１＋１の評価を繰返しなが
らＪ　１＋１の最小値をみつけ出す。

そして、Ｊｉ＋１が最小値となった場合、ステップ８２
ｇＶＣ移行し、Ｊｉ＋１≦Ｊ０か否かを判断する。

（資）の場合にはステ、ｆ８２９にょシ次のｉについて
計算するためにステ、！ＢＩＢに戻ル。

ＹＥＳの場合にはメモリ６１にあるμｉ＋１が真値のＣ
Ｔ値と考える。

ここで、ＣＰＵ　５１はメモリ６ノにある最終画像μｉ
＋１を読込んで自身のディスクメモリに記憶するととも
に、ＣＲＴディスクプレイ５ｅｔＤ画像メモＩ）５６−
１に転送する（ステ、デ５３０）。

ＣＲＴディスクプレイ５６は自身の画像メモリ５６−１
から最終画像μｉ＋＋を続出して表示する。

次に１再構成画像の誤差要因となるはみ出し処理につい
て第１２図および第１３図を参照して説明する。第１２
図（Ｎは被検体４３がはみ出していない例を示している
。はみ出しとは各放射線発生点５（＝１．２、・・・ｎ
）と多数の検出器素子列とを結ぶ放射線ビーム３３から
被検体４３がはみ出すことをいう。７５は放射線発生点
軌跡、７６は再構成領域を示す。はみ出しがない場合に
は第１２図（Ｂ）に示す再構成領域２６全部を逐次近似
領域Ｄ０とする。この逐次近似領域Ｄｃつまシ再構成領
域２６は被検体４３を内包するように定める必要がある
。従って、逐次近似領域Ｄｃは被検体４３に合せて設定
するが、仮に設定が悪くて被検体４３がはみ出した場合
にはその分が再構成画像に誤差となって現われる。

第１３図（支）は被検体４３にはみ出しがあった場合の
例を示している。この場合、同図［Ｆ］）のように再構
成領域７ダを３８の領域Ｄ＠　＋　Ｄｂ・Ｄｃに区分し
、Ｄ、はμ＝Ｏ固定領域、Ｄｂはμ＝１固定領域、Ｄｃ
は逐次近似、領域とする。領域Ｄ＠　＃　Ｄｂは逐次近
似の際、データ値を変えずに固定したままとし、Ｄｃの
データ値のみ変化させる。ＤｌとＤｃの境界、Ｄ、とＤ
ｂの境界はそれぞれ被検体４３の外周に出来るだけ一致
させるように設定する。

これは、装置のフレームを基富にしてスケールで実測し
てなるべく正しい値をＣＰＵ　５１にインプットし、そ
れに基づいて前記境界部分のデータを設定する。Ｄｂと
Ｄｃの境界は第１３図（Ｂ）のように作図されてＣＰＵ
　５１で計算される・；は領域り、、Ｄｂ、Ｄｃ段設定
後ＣＰＵ　５１が前処理済データτｍ　（ｍ　＊ユ）ｔ
−用いて計算によって求める。即ち、放射線ビーム３３
の放射による放射線通路の領域Ｄ０を通らずに領域り、
およびＤｂを通るような通路についてのデータを用い、 μ＝τｍ（ｍ、ｎ）／ｊ工、。　　　　　　　　　叩・
・ａゆの式によシ、７を求めるものである。ｔｍａｎは
放射線ビーム３３が領域Ｄｂを通過する長さを示す。

なお、α４式は放射線通路の全部について計算せず、と
びとびの通路について省略計算をしてもよい。データμ
（ｘ、ｙ）の先頭ピットは値の固定領域り、　＃　Ｄｂ
と逐次近似領域Ｄｅの区別に用いる。＠１”なら固定領
域、″Ｏ”なら逐次近似領域とし、画像再構成処理回路
５５は先頭ビ、ト”１”の場合、μ（ｘ、ｙ）の値は変
えないようにする。

実際の被検体４３においては、一般に領域Ｄｂのμは一
定でないので、廓が一定として計算した分だけ矛盾が生
じ、領域Ｄｃの再構成画像に偽像が生じてくる。しかし
、実質的には領域Ｄｂに特に吸収の異なった部分がない
かぎシ影響が出ない。仮に、吸収の異々りた部分があっ
たとしても、偽像は領域Ｄｂに近い部分に生じるだけで
ある。

従って、以上のような構成によれば、移動設置可能な構
成になっているので、移動不能な被検体４３でも放射線
検出系をその近く例運び込んで被検体４３の断面像を作
成することができる。しかも、マニュアル操作によって
スライス位置投光器４２を投光させながら走査フレーム
３ノを上下動させるようにしたので、所定のスライス位
置に放射線発生器３２および放射線検出器３４を設定で
きる。

また、本装置は、従来の重み付き逐次近似法に、非デー
タ収集区間の重み係数を零とし、かつデータ収集区間の
両端の重み係数を大きくした広域重み係数を用いたため
に、次のような効果がある。即ち、非データ収集区間の
重み係数を零としたことによシ、角度制限があるデータ
の場合も角度制限のない完全表データの場合と全く同じ
計算手順で再構成処理を行なうことができる。ま九、デ
ータ収集角度が何度であろうとも全く同じ計算手順でよ
い。ディスク５７には完全なデータ（全周からのデータ
）が収納できるだけの生データ領域がとられているが、
角度制限がある場合にはこのうちの一部だけに収集デー
タが納められることになる。なお、重み係数を零にする
には、実際にＣＰＵ　５　Ｊがｗｇ＝０を画像再構成処
理回路５５に送る方法と、Ｊｉ＋１とｇｌの計算（（５
）式、αη式〕のｍ、ｎに対する加算（Σ）を限る方法
とがあるが、後者の方が収集角度が狭いほど計算時間が
短かくなってよシ有効と言える。

一方、データ収集区間に広域重み係数を用いることによ
シ、広域重み係数のない場合にくらべて画像の流れの少
ない良質の断面像を得ることができる。第１４図（Ａ）
は従来の重み係数を用層たものの断面像であって、デー
タ収集方向に画像の分解能がおち、その方向に像が流れ
る。

これに対し、第１４図（Ｂ）は、データ収集区間の両端
のデータの重みを大きくすることによシ、分解能の均質
な画像が得られる。

また、被検体４３が放射線ビーム３３からはみ出す場合
であっても、再構成領域７６′を予め複数の領域Ｄａ　
＋　Ｄｂ　Ｉ　Ｄｃに分けて逐次近似の際にデータ可変
部分およびデータ非可変部分に応じて画像再構成処理す
るようにすれば、例えば壁状被検体４３であってもその
断面像を作成することができる。

なお、前述したはみ出し再構成の説明は、壁状被検体４
３の場合を例にとって説明したが、壁状被検体４３以外
の種々の形状の被検体４３であっても、領域Ｄ＠　＊　
Ｄｂ　Ｉ　Ｄ６の設定が予測できれば再構成処理が可能
であシ、設定が正確であればあるほど忠実に再構成処理
を行なうことができる。また、上記実施例では、値の固
定領域り、　Ｉ　Ｄ、を２段階に設定したが、２段階以
上に分けてもよい。また、データ収集区間内を第６図に
示すような広域重み係数としたが、例えばデータ収集区
間の両端と中間との間にそれほど差をつけなくても従来
よシ画像の分解能を上げ得るものである。

〔発明の効果〕

以上詳記したように本発明によれば、従来装置では検査
不能であった種々の対象物例えば構造物であるために周
囲に障害物があって走査が完全にできなかったシ、ある
いは移動不可能な被検体であっても容易にこれら被検体
の断面像を作成できる。また、広域重み係数を用いた逐
次近似再構成を行なうことによシ、データ収集に角度制
限がある被検体の場合も高品位な断面像を作成し得る断
層撮影装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第８図は本発明に係る断層撮影装置の一実
施例を説明するためのものであって、嬉１図（Ａ）は放
射線検出系の平面図、同図の）は同図Ｃにの正面断面図
、第２図は装置の電気的構成をプロ、り化して示す図、
第３図は本発明装置の全体動作を説明する概略的なフロ
ーチャート、第４図は放・射線発生点と放射線検出点と
の関係を示す図、第５図は前処理済データを用いて逐次
近似法による画像再構成処理を行なう場合のフローチャ
ート、第６図は本発明装置の広域重み係数を示す説明図
、第７図および第８図は画像再構成を説明するための図
、第９図ないし第１１図は更に逐次近似法の動作を具体
的に説明するためのもので、第９図は画像再構成処理回
路の機能ブロック図、第１θ図は第９図を更に尺体的に
したプロ、り図、第１１図（２）、Ｃ刊は第９図および
第１０図に基づいて画像再構成処理を具体的に説明する
フローチャート、第１２図および第１３図は被検体がは
み出している場合の画像再構成処理を説明するための図
であって、第１２図（Ａ）は非はみ出し状態にある場合
の説明図、第１２図（Ｂｌは第１１図（Ａ）に示す関係
にある場合の再構成領域と逐次近似領域との関係図、第
１３図（Ａ）ははみ出し状態にある場合の説明図、第１
３図（Ｂ）は第１３図面に示す関係にある場合の再構成
領域と逐次近似領域との関係図、第１４図ｒＡｌ、（Ｂ
）は従来装置の重み係数と本発明装置による広域重み係
数を用いた場合の断面像の説明図、第１５図は従来ＯＣ
Ｔスキャナの概略構成図、第１６図は従来ＯＣＴスキャ
ナにおける画像再構成処理を説明する模式図である。２０・・・支持機構部、２２・・・内筒支持フレーム、
２３・・・外筒支持フレーム、２４・・・固定フレーム
、２５・・・螺子体、２６・・・ねじ保合部、２１・・
・上下動駆動部、３０・・・走査部、３１・・・走査フ
レーム、′３２・・・放射線発生器、３４・・・放射線
検出器、３６・・・リファレンス検出器、３２・・・デ
ータ収集部、３８・・・回転駆動部、３９・・・エンコ
ーダ、４０・・・安全スイッチ、４１・・・障害物、４
２・・・スライス５４・・・制御コンソール、５５・・
・画像再構成処理回路、５６・・・ＣＲＴディスプレイ
、５７・・・ディスク装置。出願人代理人　　弁理士　鈴　江　武　彦＃！３図第６図第８図第９図第１１図（Ａ）第１１図ＣＢ）（Ｂ）第１３図（Ａ）ＣＢ）第１４図　（Ａ） ■ ＣＢ）第１５図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）角度制限される放射線検出系によって取得された
被検体の吸収データから断面像を作成する断層撮影装置
において、少なくとも非データ収集区間を零とし、デー
タ収集区間を所定の重み係数とする広域重み係数を用い
て逐次近似法により被検体の断面像を作成する画像作成
手段を備えたことを特徴とする断層撮影装置。
（２）広域重み係数は、データ収集区間のうち両端の重
みを大きくしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の断層撮影装置。
（３）広域重み係数は、データ収集区間内の重みをほぼ
同一の値としたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の断層撮影装置。