JPS6348541B2 - - Google Patents
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- JPS6348541B2 JPS6348541B2 JP54079093A JP7909379A JPS6348541B2 JP S6348541 B2 JPS6348541 B2 JP S6348541B2 JP 54079093 A JP54079093 A JP 54079093A JP 7909379 A JP7909379 A JP 7909379A JP S6348541 B2 JPS6348541 B2 JP S6348541B2
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- ray
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、CTスキヤナに関する。
CTスキヤナは、断層像を得る目的をなす。断
層像の撮影部位を明確にするために、スキヤナグ
ラフイ像を画面に表示し、その画面から断層像の
対象部位を明らかにする各種の発明が提案されて
いる。
層像の撮影部位を明確にするために、スキヤナグ
ラフイ像を画面に表示し、その画面から断層像の
対象部位を明らかにする各種の発明が提案されて
いる。
特開昭52−34689号公報記載発明での放出X線
は、X線マイクロビームである。このX線マイク
ロビーム形CTのもとで、X線透視像を単一の表
示装置(CRT)に表示する。この表示装置は、
CT断層像の表示をも行つており、両者は別々の
時間帯で表示を行う。
は、X線マイクロビームである。このX線マイク
ロビーム形CTのもとで、X線透視像を単一の表
示装置(CRT)に表示する。この表示装置は、
CT断層像の表示をも行つており、両者は別々の
時間帯で表示を行う。
特開昭53−128994号公報記載発明は、フアンビ
ーム状X線を使用したCTスキヤナに関する。こ
のCTスキヤナは、CT断層像の他にX線透視像を
得ている。その表示は、透視像表示手段と称する
ものに表示させている。但し、この公開公報の記
載内容では、X線透視像を得るメカニズムの理解
は困難である。この発明にあつては、透視像表示
手段は透視像専用である。当該公開公報の第4図
にあつては切替器を介してX位置、Y位置、及び
透視像を示す信号Zを透視像表示手段が取込んで
いる。その際、データ処理装置を介して取込むこ
とができるような切替器となつている。このデー
タ処理装置を介しての取込みとは公開公報中に明
確に記載されておらず、不明である。しかし、公
開公報中の第4図にはX,Y,Zとあることか
ら、CT断層像を表示するものでないこと、明ら
かである。
ーム状X線を使用したCTスキヤナに関する。こ
のCTスキヤナは、CT断層像の他にX線透視像を
得ている。その表示は、透視像表示手段と称する
ものに表示させている。但し、この公開公報の記
載内容では、X線透視像を得るメカニズムの理解
は困難である。この発明にあつては、透視像表示
手段は透視像専用である。当該公開公報の第4図
にあつては切替器を介してX位置、Y位置、及び
透視像を示す信号Zを透視像表示手段が取込んで
いる。その際、データ処理装置を介して取込むこ
とができるような切替器となつている。このデー
タ処理装置を介しての取込みとは公開公報中に明
確に記載されておらず、不明である。しかし、公
開公報中の第4図にはX,Y,Zとあることか
ら、CT断層像を表示するものでないこと、明ら
かである。
かかる従来例は、CT断層像は別の表示装置に
表示させることとなる。
表示させることとなる。
特開昭53−135293号公報記載発明は、フアン状
X線を使用した断層撮影装置(CTスキヤナ)に
関する。この断層撮影装置では、CRTを持ち、
該CRTにX線透視像を表示させてなる。この
CRTはCT断層像をも表示するが、それぞれ別の
時間帯で表示させている。
X線を使用した断層撮影装置(CTスキヤナ)に
関する。この断層撮影装置では、CRTを持ち、
該CRTにX線透視像を表示させてなる。この
CRTはCT断層像をも表示するが、それぞれ別の
時間帯で表示させている。
実開昭53−76782号公報記載発明は、断層面を
表示する解剖図表示器と人体図形を表示する断層
撮影部位表示器とを持つ。解剖図表示器は、複数
の断層面を表示する解剖図を記録する複数のスラ
イドより成り、位置信号によつて所定の解剖図を
選択し、スクリーンに投影する構成をとる。断層
撮影部位表示器は人体が描かれている表示面に対
してカーソルが移動可能に設定され、このカーソ
ル位置は、被検体の撮影位置と撮影角度とを示す
位置に位置決めされる。
表示する解剖図表示器と人体図形を表示する断層
撮影部位表示器とを持つ。解剖図表示器は、複数
の断層面を表示する解剖図を記録する複数のスラ
イドより成り、位置信号によつて所定の解剖図を
選択し、スクリーンに投影する構成をとる。断層
撮影部位表示器は人体が描かれている表示面に対
してカーソルが移動可能に設定され、このカーソ
ル位置は、被検体の撮影位置と撮影角度とを示す
位置に位置決めされる。
以上の従来例の中で、第1の従来例、第3の従
来例は、単一の表示装置を備え、X線透視像と
CT断層像とを表示させる構成をとる。然るに、
単一の表示装置によつて異なる時間帯でX線透視
像とCT断層像とを別々に表示させているため、
操作者(主として医師)は同時に両者を観察する
ことはできない。X線透視像は、CT断層像を得
る部位の正確な位置決めのために利用される。然
るに、この位置決めのための利用はCT装置利用
の初期の時代であり、現在では、透視像とCT画
像とを同時に観察しながら被検体の診断に供する
方向にある。これは、いわゆる立体視的診断と称
せられる。この立体視的診断には、上記第1、第
3の従来例は、同時表示でないためその所期の目
的を達成することが困難となる。
来例は、単一の表示装置を備え、X線透視像と
CT断層像とを表示させる構成をとる。然るに、
単一の表示装置によつて異なる時間帯でX線透視
像とCT断層像とを別々に表示させているため、
操作者(主として医師)は同時に両者を観察する
ことはできない。X線透視像は、CT断層像を得
る部位の正確な位置決めのために利用される。然
るに、この位置決めのための利用はCT装置利用
の初期の時代であり、現在では、透視像とCT画
像とを同時に観察しながら被検体の診断に供する
方向にある。これは、いわゆる立体視的診断と称
せられる。この立体視的診断には、上記第1、第
3の従来例は、同時表示でないためその所期の目
的を達成することが困難となる。
前記第2の従来例は、CT断層像とX線透視像
とを別々の表示装置に表示させる構成をとる。従
つて、立体視的診断には供することができるが、
わざわざ2台の表示装置を必要とする問題を持
つ。
とを別々の表示装置に表示させる構成をとる。従
つて、立体視的診断には供することができるが、
わざわざ2台の表示装置を必要とする問題を持
つ。
前記第4の従来例は、解剖図及び人体全体図と
を表示対象とする。この解剖図は複数のスライド
より成る。この解剖図はCT断層像とは異なりCT
断層面そのもの、即ち断層像と同等な解剖図であ
る。透視像からは断層像は得られないことは常識
である。従つて両者は全く別のものである。更に
この複数のスライドが検査すべき被検体からのも
のであるか否かは明確な開示を欠くが、「予め用
意された標準的な人体各部の…写真スライド」な
る表現をとつていることから、あくまで被検体と
は異なる像のスライドと判断できる。且つX線透
視像そのものを利用したものでもない。従つて、
被検体そのものからのX線透視像ではなく、立体
視的診断にはなじまないものと云える。
を表示対象とする。この解剖図は複数のスライド
より成る。この解剖図はCT断層像とは異なりCT
断層面そのもの、即ち断層像と同等な解剖図であ
る。透視像からは断層像は得られないことは常識
である。従つて両者は全く別のものである。更に
この複数のスライドが検査すべき被検体からのも
のであるか否かは明確な開示を欠くが、「予め用
意された標準的な人体各部の…写真スライド」な
る表現をとつていることから、あくまで被検体と
は異なる像のスライドと判断できる。且つX線透
視像そのものを利用したものでもない。従つて、
被検体そのものからのX線透視像ではなく、立体
視的診断にはなじまないものと云える。
本発明は、同一表示画面上にCT断層像と被検
体からの生のX線透視像とを同時に表示可能とし
てせしめて立体視的診断に供しめたCTスキヤナ
を提供することを目的とする。
体からの生のX線透視像とを同時に表示可能とし
てせしめて立体視的診断に供しめたCTスキヤナ
を提供することを目的とする。
本発明の概要は以下となる。
○イ CT装置を利用してCT断層像の他にX線透視
像を得る。
像を得る。
○ロ X線透視像は表示画面の一部に表示させるこ
とから縮少させる。
とから縮少させる。
○ハ この縮少したX線透視像はCT断層像と共に
単一の表示装置の表示画面上に同時に表示させ
る。
単一の表示装置の表示画面上に同時に表示させ
る。
以下、本発明のCTスキヤナによる一実施例を
第1図ないし第5図に基づいて詳細に説明する。
第1図ないし第5図に基づいて詳細に説明する。
第1図において1は固定フレーム、2は固定フ
レーム1に回転自在に取付けられたローラ3に支
持された回転フレームを示している。回転フレー
ム2には被検体7の収容部6をはさんで対向する
ようにX線源4とX線検出器5とが取付けられて
いる。収容部6は回転フレーム2の回転軸と中心
を同じくする円筒形の空胴で紙面に直交するよう
に設けられている。また回転フレーム2には回転
伝達用のスプロケツト8が取付けられていて、電
動機10の出力軸に取付けた他のスプロケツト
8′とチエーン9を介して連結されている。電動
機10の回転はスプロケツトとチエーンとにより
回転フレーム2に伝達される。
レーム1に回転自在に取付けられたローラ3に支
持された回転フレームを示している。回転フレー
ム2には被検体7の収容部6をはさんで対向する
ようにX線源4とX線検出器5とが取付けられて
いる。収容部6は回転フレーム2の回転軸と中心
を同じくする円筒形の空胴で紙面に直交するよう
に設けられている。また回転フレーム2には回転
伝達用のスプロケツト8が取付けられていて、電
動機10の出力軸に取付けた他のスプロケツト
8′とチエーン9を介して連結されている。電動
機10の回転はスプロケツトとチエーンとにより
回転フレーム2に伝達される。
X線源4はX線管4aと、X線管4aで発生し
たX線をフアンビーム状に整形するコリメータ4
bとから成つていて、固定フレーム1外に設置さ
れた高電圧発生装置11に接続している。高電圧
発生装置11はX線管4aの両電極に高電圧を印
加してX線管4aにX線を発生させる。
たX線をフアンビーム状に整形するコリメータ4
bとから成つていて、固定フレーム1外に設置さ
れた高電圧発生装置11に接続している。高電圧
発生装置11はX線管4aの両電極に高電圧を印
加してX線管4aにX線を発生させる。
一方、X線検出器5は、フアンビーム状のX線
の拡がりをカバーする多数個の検出素子、たとえ
ば256個の検出素子(ただし図示では便宜上3個
だけ示してある)から構成されている。それぞれ
の検出素子はX線管4aから等距離となるよう
に、回転フレーム2の内周面に沿つて円弧状に配
列されている。
の拡がりをカバーする多数個の検出素子、たとえ
ば256個の検出素子(ただし図示では便宜上3個
だけ示してある)から構成されている。それぞれ
の検出素子はX線管4aから等距離となるよう
に、回転フレーム2の内周面に沿つて円弧状に配
列されている。
このように回転フレーム2に取付けたX線源4
とX線検出器5とは回転フレーム2の回転と共に
回転するように構成され、その回転中にX線管4
aからX線が曝射されるようになつている。そし
て、X線検出器5は、被検体7を通過してきたX
線の相対量を検出し、被検体7各部のX線通路に
対するX線吸収強度を検出できるようになつてい
る。
とX線検出器5とは回転フレーム2の回転と共に
回転するように構成され、その回転中にX線管4
aからX線が曝射されるようになつている。そし
て、X線検出器5は、被検体7を通過してきたX
線の相対量を検出し、被検体7各部のX線通路に
対するX線吸収強度を検出できるようになつてい
る。
回転フレーム2の回転に際しては、回転フレー
ム2がある微小角度、たとえば角度1゜回転する毎
にパルス信号S1を発生する角度信号発生器12が
設けられている。角度信号発生器12は回転フレ
ーム2上に固定されていて、固定フレーム1と回
転フレーム2との相対的変位を検出し、その変位
から回転フレーム2の回転角度、即ち静止状態の
被検体7に対するX線ビームの傾きに対応した信
号を1゜の回転毎に出力する。このパルス信号S1は
後述するプロジエクシヨンデータ処理のためのマ
ルチプレクサの切換え、A/D変換器のタイミン
グ指令信号等のコントロール信号として用いられ
る。
ム2がある微小角度、たとえば角度1゜回転する毎
にパルス信号S1を発生する角度信号発生器12が
設けられている。角度信号発生器12は回転フレ
ーム2上に固定されていて、固定フレーム1と回
転フレーム2との相対的変位を検出し、その変位
から回転フレーム2の回転角度、即ち静止状態の
被検体7に対するX線ビームの傾きに対応した信
号を1゜の回転毎に出力する。このパルス信号S1は
後述するプロジエクシヨンデータ処理のためのマ
ルチプレクサの切換え、A/D変換器のタイミン
グ指令信号等のコントロール信号として用いられ
る。
被検体7は、検査しようとする断面に含まれる
すべての点があらゆる方向から投影され得るよう
に収容部6内に配置される必要があり、また検査
したい被検体7の断面とフアンビーム状のX線面
とがX線曝射時間内に移動しないように固定され
る。そのために、第6図に示すように被検体7は
回転フレーム2の回転軸方向に移動可能に設けた
被検体支持テーブル28上に固定されている。被
検体支持テーブル28は天板40と、天板40を
摺動可能に支持する固定部材とから成つている。
天板40の移動は天板40の裏面に固定したナツ
トと、固定部材に配設し、かつ前記ナツトに螺合
する送りねじによつてなされる。即ち、固定部材
に固定した電動機の出力軸が送りねじに接続され
ていて電動機を駆動することによつて天板40が
水平動するようになつている。
すべての点があらゆる方向から投影され得るよう
に収容部6内に配置される必要があり、また検査
したい被検体7の断面とフアンビーム状のX線面
とがX線曝射時間内に移動しないように固定され
る。そのために、第6図に示すように被検体7は
回転フレーム2の回転軸方向に移動可能に設けた
被検体支持テーブル28上に固定されている。被
検体支持テーブル28は天板40と、天板40を
摺動可能に支持する固定部材とから成つている。
天板40の移動は天板40の裏面に固定したナツ
トと、固定部材に配設し、かつ前記ナツトに螺合
する送りねじによつてなされる。即ち、固定部材
に固定した電動機の出力軸が送りねじに接続され
ていて電動機を駆動することによつて天板40が
水平動するようになつている。
また天板40の水平動に際し、その移動量、即
ち位置を検出する装置が設けられている。この位
置検出器は第2図に示すように固定部材に固定さ
れた2個のプーリ52と、そのプーリ52に掛け
渡されたワイヤ53と、一方のプーリに取付けら
れた多回転ポテンシヨメータ54とから構成され
ている。前記2個のプーリ52間の距離は必要と
される天板40の移動距離を十分にカバーする範
囲に保たれており、プーリ52に掛け渡されたワ
イヤ53の一部は天板40に固定されている。そ
の固定部分はAで示されている。そして天板40
が矢印の方向に移動することによりプーリ52が
回転し、その回転により多回転ポテンシヨメータ
54からは回転量に比例したアナログ信号が出力
されるようになつている。このアナログ信号は
A/D変換器55においてデジタル信号に変換さ
れ、天板40が前記設定距離だけ移動する毎にパ
ルス信号S2として出力する。この位置検出器51
の多回転ポテンシヨメータ側の出力端は、起動コ
ントローラ18を介してコントロール信号発生器
17に接続している。
ち位置を検出する装置が設けられている。この位
置検出器は第2図に示すように固定部材に固定さ
れた2個のプーリ52と、そのプーリ52に掛け
渡されたワイヤ53と、一方のプーリに取付けら
れた多回転ポテンシヨメータ54とから構成され
ている。前記2個のプーリ52間の距離は必要と
される天板40の移動距離を十分にカバーする範
囲に保たれており、プーリ52に掛け渡されたワ
イヤ53の一部は天板40に固定されている。そ
の固定部分はAで示されている。そして天板40
が矢印の方向に移動することによりプーリ52が
回転し、その回転により多回転ポテンシヨメータ
54からは回転量に比例したアナログ信号が出力
されるようになつている。このアナログ信号は
A/D変換器55においてデジタル信号に変換さ
れ、天板40が前記設定距離だけ移動する毎にパ
ルス信号S2として出力する。この位置検出器51
の多回転ポテンシヨメータ側の出力端は、起動コ
ントローラ18を介してコントロール信号発生器
17に接続している。
以上の構成のもとで、本発明では、CT断層像
を得、スキヤナグラフイ像を得、両者を同一画面
上に表示させる。
を得、スキヤナグラフイ像を得、両者を同一画面
上に表示させる。
先ず、CT断層像を得るための動作を説明する。
このCT断層像を得る以前に前記スキヤナグラフ
イ像を得ておき、このスキヤナグラフイ像をみな
がらCT断層像を得るのが一般的である。
このCT断層像を得る以前に前記スキヤナグラフ
イ像を得ておき、このスキヤナグラフイ像をみな
がらCT断層像を得るのが一般的である。
先ず、被検体7をテーブル28上に適切に固定
し、然る後、前記電動機を使つてテーブル28を
移動し、所定の断層部位を得る位置に固定させ
る。これによつて被検体7の位置決めが完了す
る。
し、然る後、前記電動機を使つてテーブル28を
移動し、所定の断層部位を得る位置に固定させ
る。これによつて被検体7の位置決めが完了す
る。
次に、回転フレームを所定角度単位(例えば、
前述した1゜単位)に被検体7の周囲を回転させ
る。この時の単位角度とは、CT断層像を得るた
めのサンプル位置であり、1゜の間隔はサンプルピ
ツチとなる。被検体7の周囲へのCT断層像を得
るための回転角度は180゜〜360゜が一般的である。
従つて、サンプルピツチが1゜の時には、CT断層
像を得るためのサンプル点は、180点〜360点とな
る。
前述した1゜単位)に被検体7の周囲を回転させ
る。この時の単位角度とは、CT断層像を得るた
めのサンプル位置であり、1゜の間隔はサンプルピ
ツチとなる。被検体7の周囲へのCT断層像を得
るための回転角度は180゜〜360゜が一般的である。
従つて、サンプルピツチが1゜の時には、CT断層
像を得るためのサンプル点は、180点〜360点とな
る。
各サンプル点毎に、X線源4aを励起して、フ
アン状X線を被検体に照射する。各サンプル点毎
の透過X線対応のデータは、全サンプル点にわた
つて画像再構成装置34に取込まれ、その全サン
プル点にわたる透過X線対応のデータをもとに、
CT断層像を演算する。更に詳述する。
アン状X線を被検体に照射する。各サンプル点毎
の透過X線対応のデータは、全サンプル点にわた
つて画像再構成装置34に取込まれ、その全サン
プル点にわたる透過X線対応のデータをもとに、
CT断層像を演算する。更に詳述する。
ここで、各サンプル点はすべて同一動作をなす
故に、以下、1つのサンプル点での第2図の動作
を説明する。
故に、以下、1つのサンプル点での第2図の動作
を説明する。
X線検出器5は、当該サンプル点での被検体7
を透過したX線量を検出し、電気信号に変換し、
その出力端は積分器を含む前置増幅器13の入力
端に接続している。パルスX線の曝射による各検
出器5からの出力信号は、それぞれ前置増幅器1
3の入力端に入力して積分かつ増幅される。前置
増幅器13の出力端はそれぞれマルチプレクサ1
4の入力端に接続されている。マルチプレクサ1
4は各前置増幅器13からの電気信号を検出器5
の検出素子の配置の順序に従つて切換えるアナロ
グスイツチで、その出力端は対数変換器15の入
力端に接続している。対数変換器15は前置増幅
器13の帰還回路に非直線性をもたせ、後段の信
号処理に必要な大きさに信号を増幅するもので、
その出力信号は入力信号の対数に比例して出力さ
れる。対数変換器15の出力端はA/D変換器1
6の入力端に接続している。A/D変換器16に
おいては、X線検出器5から前置増幅器13およ
び対数変換器15を介して入力したアナログ信号
がデジタル信号に変換される。A/D変換器16
の出力端はデータコントローラ20を介してメモ
リ31に接続されている。データコントローラ2
0はA/D変換器16からの出力をメモリ31に
送り込み、メモリ31は当該サンプル点でのX線
源4およびX線検出器5の全検出素子からのデー
タを格納する。
を透過したX線量を検出し、電気信号に変換し、
その出力端は積分器を含む前置増幅器13の入力
端に接続している。パルスX線の曝射による各検
出器5からの出力信号は、それぞれ前置増幅器1
3の入力端に入力して積分かつ増幅される。前置
増幅器13の出力端はそれぞれマルチプレクサ1
4の入力端に接続されている。マルチプレクサ1
4は各前置増幅器13からの電気信号を検出器5
の検出素子の配置の順序に従つて切換えるアナロ
グスイツチで、その出力端は対数変換器15の入
力端に接続している。対数変換器15は前置増幅
器13の帰還回路に非直線性をもたせ、後段の信
号処理に必要な大きさに信号を増幅するもので、
その出力信号は入力信号の対数に比例して出力さ
れる。対数変換器15の出力端はA/D変換器1
6の入力端に接続している。A/D変換器16に
おいては、X線検出器5から前置増幅器13およ
び対数変換器15を介して入力したアナログ信号
がデジタル信号に変換される。A/D変換器16
の出力端はデータコントローラ20を介してメモ
リ31に接続されている。データコントローラ2
0はA/D変換器16からの出力をメモリ31に
送り込み、メモリ31は当該サンプル点でのX線
源4およびX線検出器5の全検出素子からのデー
タを格納する。
以上のメモリ31へのデータの格納は、全サン
プル点にわたつて行う。然る後、画像再構成装置
34は、メモリ31にあるデータによつて画像再
構成演算をなして被検体の横断面のX線吸収分布
像を得る。然る後、後述するアドレス変換回路4
4を介してデイスプレイメモリ35に格納させ、
デイスプレイ装置36に表示させる。
プル点にわたつて行う。然る後、画像再構成装置
34は、メモリ31にあるデータによつて画像再
構成演算をなして被検体の横断面のX線吸収分布
像を得る。然る後、後述するアドレス変換回路4
4を介してデイスプレイメモリ35に格納させ、
デイスプレイ装置36に表示させる。
次に、スキヤナグラフイ像を得る動作を説明す
る。本実施例では、第6図aの如く被検体7の正
面像のスキヤナグラフイ像、第6図bの如く被検
体7の側面像のスキヤナグラフイ像を得ることを
目的とする。
る。本実施例では、第6図aの如く被検体7の正
面像のスキヤナグラフイ像、第6図bの如く被検
体7の側面像のスキヤナグラフイ像を得ることを
目的とする。
スキヤナグラフイ像を得るには、先ず被検体の
位置決めを行う。テーブル28を移動させ、被検
体7のスキヤナグラフイ像を得るための開始位置
に固定する。次に、正面像を得る時には、第6図
aの如く、被検体7の正面像を得る如く回転フレ
ーム2を回転させて、X線源4とX線検出器5と
を被検体7の正面に位置決め固定する。この位置
決め後、テーブル28を回転中心軸方向にスキヤ
ナグラフイ像検出サンプルピツチ単位で移動す
る。各サンプルピツチ位置毎にX線源4からX線
を照射させて正面像のスキヤナグラフイ像を得
る。
位置決めを行う。テーブル28を移動させ、被検
体7のスキヤナグラフイ像を得るための開始位置
に固定する。次に、正面像を得る時には、第6図
aの如く、被検体7の正面像を得る如く回転フレ
ーム2を回転させて、X線源4とX線検出器5と
を被検体7の正面に位置決め固定する。この位置
決め後、テーブル28を回転中心軸方向にスキヤ
ナグラフイ像検出サンプルピツチ単位で移動す
る。各サンプルピツチ位置毎にX線源4からX線
を照射させて正面像のスキヤナグラフイ像を得
る。
側面像を得る時には、第6図bの如く被検体7
の側面像を得る如く回転フレーム2を回転させ
て、X線源4とX線検出器5とを被検体7の側面
に位置決め固定する。この位置決め後、テーブル
28を回転中心軸方向にスキヤナグラフイ像検出
サンプルピツチ単位で移動させる。各サンプルピ
ツチ位置毎に、X線源4からX線を照射させて側
面像のスキヤナグラフイ像を得る。
の側面像を得る如く回転フレーム2を回転させ
て、X線源4とX線検出器5とを被検体7の側面
に位置決め固定する。この位置決め後、テーブル
28を回転中心軸方向にスキヤナグラフイ像検出
サンプルピツチ単位で移動させる。各サンプルピ
ツチ位置毎に、X線源4からX線を照射させて側
面像のスキヤナグラフイ像を得る。
第1図で、メモリ32は正面像用のメモリ、メ
モリ33は側面像用のメモリである。
モリ33は側面像用のメモリである。
以下、正面像のスキヤナグラフイ像を得る動作
を詳述する。
を詳述する。
被検体7は上方を向いて、天板40上に寝載さ
れる。回転フレーム2は第6図aに示すようにX
線源4とX線検出器5とが垂直方向に位置するよ
うに回転され、その位置でブレーキ手段によつて
固定される。これによつて正面像を得る状態が作
られる。次に操作者が起動コントローラ18に対
し、透視像用のスイツチをONすると、電動機が
駆動し被検体支持テーブル28は矢印の方向に等
速で移動しはじめ、単位設定距離のサンプルピツ
チだけ移動し移動停止する。この時、位置検出器
のA/D変換器55を介してパルス信号S2が出力
される。このパルス信号S2はコントロール信号発
生器17に入力し、波形整形された後、高圧発生
装置11にトリガーとして入力する。トリガーの
入力により高圧発生器11はONし、X線管4a
の両電極に高圧パルスが印加され、パルスX線が
発生する。パルスX線はコリメータ4bで整形さ
れ、一定幅のフアンビームになつて被検体7に照
射される。被検体7を通過したX線は複数の検出
素子を配列させた検出器5においてX線吸収強度
のちがいに対応する電気信号に変換され、前置増
幅器13に出力される。各検出素子からの検出器
出力は前置増幅器13において増幅されて、マル
チプレクサ14に出力される。マルチプレクサ1
4では検出素子の配置順に切換えられて、対数変
換器15に出力される。対数変換器15の出力は
入力信号の対数に比例してA/D変換器16に出
力される。対数変換された信号はA/D変換器1
6においてデジタル信号に変換され、データコン
トローラ20を介してメモリ32に順次格納され
る。このように被検体支持手段28が単位設定距
離だけ移動する毎に、X線が曝射され、検出器5
からの出力信号はA/D変換された後、メモリ3
2に順次格納されていく。
れる。回転フレーム2は第6図aに示すようにX
線源4とX線検出器5とが垂直方向に位置するよ
うに回転され、その位置でブレーキ手段によつて
固定される。これによつて正面像を得る状態が作
られる。次に操作者が起動コントローラ18に対
し、透視像用のスイツチをONすると、電動機が
駆動し被検体支持テーブル28は矢印の方向に等
速で移動しはじめ、単位設定距離のサンプルピツ
チだけ移動し移動停止する。この時、位置検出器
のA/D変換器55を介してパルス信号S2が出力
される。このパルス信号S2はコントロール信号発
生器17に入力し、波形整形された後、高圧発生
装置11にトリガーとして入力する。トリガーの
入力により高圧発生器11はONし、X線管4a
の両電極に高圧パルスが印加され、パルスX線が
発生する。パルスX線はコリメータ4bで整形さ
れ、一定幅のフアンビームになつて被検体7に照
射される。被検体7を通過したX線は複数の検出
素子を配列させた検出器5においてX線吸収強度
のちがいに対応する電気信号に変換され、前置増
幅器13に出力される。各検出素子からの検出器
出力は前置増幅器13において増幅されて、マル
チプレクサ14に出力される。マルチプレクサ1
4では検出素子の配置順に切換えられて、対数変
換器15に出力される。対数変換器15の出力は
入力信号の対数に比例してA/D変換器16に出
力される。対数変換された信号はA/D変換器1
6においてデジタル信号に変換され、データコン
トローラ20を介してメモリ32に順次格納され
る。このように被検体支持手段28が単位設定距
離だけ移動する毎に、X線が曝射され、検出器5
からの出力信号はA/D変換された後、メモリ3
2に順次格納されていく。
以上は1つのサンプル点でのメモリ32へのデ
ータ収集の事例であり、以上の動作は全サンプル
点にわたつて行われる。その全サンプル点、即ち
回転軸方向に沿つての動作回数は被検体7の前記
方向の長さに依存し、複数回繰返される。この結
果は、メモリ32に正面像のスキヤナグラフイ像
のデータとして格納される。
ータ収集の事例であり、以上の動作は全サンプル
点にわたつて行われる。その全サンプル点、即ち
回転軸方向に沿つての動作回数は被検体7の前記
方向の長さに依存し、複数回繰返される。この結
果は、メモリ32に正面像のスキヤナグラフイ像
のデータとして格納される。
同様に被検体7の側面像のスキヤナグラフイ像
についても、全サンプル点にわたつて動作がなさ
れ、メモリ33に側面像のスキヤナグラフイ像の
データを得る。
についても、全サンプル点にわたつて動作がなさ
れ、メモリ33に側面像のスキヤナグラフイ像の
データを得る。
メモリ32,33はデイスプレイメモリ装置3
5に接続する。デイスプレイメモリ装置35はメ
モリ32,33の格納データの縮小を行い、デイ
スプレイ装置36の画面の一部に格納可能な大き
さに変換行う機能を持つ。
5に接続する。デイスプレイメモリ装置35はメ
モリ32,33の格納データの縮小を行い、デイ
スプレイ装置36の画面の一部に格納可能な大き
さに変換行う機能を持つ。
第3図は装置35の詳細を示している。この回
路35には、メモリ32,33にそれぞれ接続さ
れた縮小メモリ42,43を有している。各メモ
リ42,43はそれぞれメモリ32,33に格納
されたデータを読み出すと共に、隣接するアドレ
スの数個所のデータの算術平均をなし、この算術
平均されたデータをひとつのアドレスに格納する
ようになつている。即ち、アドレスのn個のデー
タのレベルがx1,x2,…,xoであれば、(x1+x2
+…+xo)/nの演算をなし、その演算結果をこ
れにあるメモリに格納する。更に具体的に示した
ものが第4図A〜Cである。図はデイスプレイ装
置36の画像マトリツクスが256×256の場合を示
している。
路35には、メモリ32,33にそれぞれ接続さ
れた縮小メモリ42,43を有している。各メモ
リ42,43はそれぞれメモリ32,33に格納
されたデータを読み出すと共に、隣接するアドレ
スの数個所のデータの算術平均をなし、この算術
平均されたデータをひとつのアドレスに格納する
ようになつている。即ち、アドレスのn個のデー
タのレベルがx1,x2,…,xoであれば、(x1+x2
+…+xo)/nの演算をなし、その演算結果をこ
れにあるメモリに格納する。更に具体的に示した
ものが第4図A〜Cである。図はデイスプレイ装
置36の画像マトリツクスが256×256の場合を示
している。
各マトリツクス要素aij(i、j=1,2,…
256)に対応するメモリ32,33のそれぞれの
アドレスに格納されるデータのレベルをxijとす
るとx11=x12=x21=x22=1、およびx13=x24=
3、x23=x14=1である。隣接するa11,a12,a21
およびa22のアドレスのデータのレベルの算術平
均は(x11+x12+x21+x22)/4=1、隣接する
a13,a14,a23およびa24のアドレスのデータのレ
ベルの算術平均は(x13+x14+x23+x24)/4=
2である。以上のように2×2のマトリツクスご
とに算術平均をとつていき、それらの演算結果を
それぞれa11およびa12に格納させていけば、256
×256の画像マトリツクスは128×128の画像マト
リツクスに対応することになり、画像は1/4に縮
小され得る。
256)に対応するメモリ32,33のそれぞれの
アドレスに格納されるデータのレベルをxijとす
るとx11=x12=x21=x22=1、およびx13=x24=
3、x23=x14=1である。隣接するa11,a12,a21
およびa22のアドレスのデータのレベルの算術平
均は(x11+x12+x21+x22)/4=1、隣接する
a13,a14,a23およびa24のアドレスのデータのレ
ベルの算術平均は(x13+x14+x23+x24)/4=
2である。以上のように2×2のマトリツクスご
とに算術平均をとつていき、それらの演算結果を
それぞれa11およびa12に格納させていけば、256
×256の画像マトリツクスは128×128の画像マト
リツクスに対応することになり、画像は1/4に縮
小され得る。
これらの縮小メモリ42,43および画像再構
成回路34はアドレス変換回路44に接続されて
おり、そしてアドレス変換回路44はデイスプレ
イメモリ45に接続されている。このアドレス変
換回路44は縮小メモリ42,43および画像再
構成回路34からのデータのデイスプレイメモリ
45におけるアドレスを指定するものである。即
ち、画像再構成回路34からのデータがデイスプ
レイメモリ45に書込まれたあと、デイスプレイ
メモリ45の空アドレスにメモリ42,43のデ
ータを書込ませる。メモリ42,43およびデイ
スプレイメモリ45に接続する制御回路46は、
メモリ42あるいはメモリ43もしくは双方のメ
モリのデータの読出しと、アドレス変換回路44
に、デイスプレイメモリ45の空アドレスの選択
をさせる信号を発生するものである。このアドレ
ス変換回路44は制御回路46の信号によりメモ
リ32あるいはメモリ33もしくは双方のデータ
を読み出してデイスプレイメモリ45における
CT撮影によるデータが書込まれていないアドレ
スを指定して書込ませる。アドレス変換回路44
は制御回路46の信号によつて、それぞれの位置
に対応するデイスプレイメモリ45のアドレスを
メモリ42,43のデータに対して指定し、かつ
書き込みをなさせる。デイスプレイ装置36は、
このようにしてデイスプレイメモリ45に書込れ
た信号により、第5図に示す如くブラウン管上に
縮小された側面及び正面のスキヤナグラフイ像A
をCT像Bと共に映出しえる。
成回路34はアドレス変換回路44に接続されて
おり、そしてアドレス変換回路44はデイスプレ
イメモリ45に接続されている。このアドレス変
換回路44は縮小メモリ42,43および画像再
構成回路34からのデータのデイスプレイメモリ
45におけるアドレスを指定するものである。即
ち、画像再構成回路34からのデータがデイスプ
レイメモリ45に書込まれたあと、デイスプレイ
メモリ45の空アドレスにメモリ42,43のデ
ータを書込ませる。メモリ42,43およびデイ
スプレイメモリ45に接続する制御回路46は、
メモリ42あるいはメモリ43もしくは双方のメ
モリのデータの読出しと、アドレス変換回路44
に、デイスプレイメモリ45の空アドレスの選択
をさせる信号を発生するものである。このアドレ
ス変換回路44は制御回路46の信号によりメモ
リ32あるいはメモリ33もしくは双方のデータ
を読み出してデイスプレイメモリ45における
CT撮影によるデータが書込まれていないアドレ
スを指定して書込ませる。アドレス変換回路44
は制御回路46の信号によつて、それぞれの位置
に対応するデイスプレイメモリ45のアドレスを
メモリ42,43のデータに対して指定し、かつ
書き込みをなさせる。デイスプレイ装置36は、
このようにしてデイスプレイメモリ45に書込れ
た信号により、第5図に示す如くブラウン管上に
縮小された側面及び正面のスキヤナグラフイ像A
をCT像Bと共に映出しえる。
本発明によるCTスキヤナでの同一画面表示へ
のCT像とスキヤナグラフイ像の表示の手順を再
度説明する。
のCT像とスキヤナグラフイ像の表示の手順を再
度説明する。
本発明によるCTスキヤナでは、このようにし
て収集されたX線透視像のデータはCT撮影によ
るデータと共にデイスプレイされるようになつて
いる。即ち、画像再構成装置34において再構成
計算され、二次元の断面画像に変換された信号は
アドレス変換回路44を介してデイスプレイメモ
リ45の任意アドレスに転送される。
て収集されたX線透視像のデータはCT撮影によ
るデータと共にデイスプレイされるようになつて
いる。即ち、画像再構成装置34において再構成
計算され、二次元の断面画像に変換された信号は
アドレス変換回路44を介してデイスプレイメモ
リ45の任意アドレスに転送される。
一方メモリ32および33に格納された透視像
に関するデータは、後段の縮小メモリ42および
43に出力され、更に制御回路46からの読出し
信号により縮小メモリ42および43からアドレ
ス変換回路44に出力される。そしてアドレス変
換回路44から出力された信号はデイスプレイメ
モリ45のCT画像のデータとは異なるアドレス
に転送される。そしてCT画像と二つの透視像の
データはそれぞれデイスプレイメモリ45内の指
定されたアドレスに記憶される。
に関するデータは、後段の縮小メモリ42および
43に出力され、更に制御回路46からの読出し
信号により縮小メモリ42および43からアドレ
ス変換回路44に出力される。そしてアドレス変
換回路44から出力された信号はデイスプレイメ
モリ45のCT画像のデータとは異なるアドレス
に転送される。そしてCT画像と二つの透視像の
データはそれぞれデイスプレイメモリ45内の指
定されたアドレスに記憶される。
これらの両画像をデイスプレイ装置36のブラ
ウン管上に表示する場合には、それぞれの画像に
対応する指令信号(図示せず)をデイスプレイメ
モリ45に入力して行なう。そうするとブラウン
管上にはCT画像およびX線透視像が同時に表示
されるので被検体の立体的な診断が可能である。
即ち、本実施例によれば、CRT画面上のX線透
視像をみながらCT断層像の位置決めをできる利
点を持つ。更に本実施例では、これのみならず、
CRT上にCT断層像とX線透視像とを同時表示さ
せたが故に、CT断層像とX線透視像との関係が
一見してわかる。更に、CT断層像の具体的診断
部位がX線透視像でどの位置に相当するかがわか
り、逆にX線透視像の具体的診断部位がCT断層
像ではどうなつているかがわかる。これにより、
CT透視像とCT断層像とをもとにした被検体の立
体的な診断が可能となつた。かかる効果はX線透
視像を縮少するという技術、同一表示画面への表
示という技術とを通じて実現されるもので前記の
従来例では達成できない効果である。
ウン管上に表示する場合には、それぞれの画像に
対応する指令信号(図示せず)をデイスプレイメ
モリ45に入力して行なう。そうするとブラウン
管上にはCT画像およびX線透視像が同時に表示
されるので被検体の立体的な診断が可能である。
即ち、本実施例によれば、CRT画面上のX線透
視像をみながらCT断層像の位置決めをできる利
点を持つ。更に本実施例では、これのみならず、
CRT上にCT断層像とX線透視像とを同時表示さ
せたが故に、CT断層像とX線透視像との関係が
一見してわかる。更に、CT断層像の具体的診断
部位がX線透視像でどの位置に相当するかがわか
り、逆にX線透視像の具体的診断部位がCT断層
像ではどうなつているかがわかる。これにより、
CT透視像とCT断層像とをもとにした被検体の立
体的な診断が可能となつた。かかる効果はX線透
視像を縮少するという技術、同一表示画面への表
示という技術とを通じて実現されるもので前記の
従来例では達成できない効果である。
尚、以上述べた実施例において、CT画像の生
データをデイスプレイメモリ45に書込むとき、
位置信号発生器の出力信号S2を読取り、これをデ
イスプレイメモリ45に記憶させた透視像データ
のCT画像の輪切り面に相当するアドレスに白又
は黒レベルで転送すれば、透視像に輪切り面が直
線で表示され、更に正確な診断を行なうことがで
きる。
データをデイスプレイメモリ45に書込むとき、
位置信号発生器の出力信号S2を読取り、これをデ
イスプレイメモリ45に記憶させた透視像データ
のCT画像の輪切り面に相当するアドレスに白又
は黒レベルで転送すれば、透視像に輪切り面が直
線で表示され、更に正確な診断を行なうことがで
きる。
以上説明したように、本発明のCTスキヤナは、
被検体のCT像および被検体のスキヤナグラフイ
も得ることができるばかりか、これらの像がひと
つの画面上に同時に映出させることができるの
で、診断を正確かつ能率よくなすことができる。
被検体のCT像および被検体のスキヤナグラフイ
も得ることができるばかりか、これらの像がひと
つの画面上に同時に映出させることができるの
で、診断を正確かつ能率よくなすことができる。
第1図ないし第6図は本発明のCTスキヤナに
よる一実施例を示しており、第1図は全体構成を
示すブロツク図、第2図は位置検出器の構成を示
す説明図、第3図は第1図における回路の詳細を
示すブロツク図、第4図は第3図における縮小メ
モリの原理説明図、第5図はこの装置による表示
像の説明図、第6図は前面および側面透視像を得
る際のX線源の配置を示す説明図である。 1……固定フレーム、2……回転フレーム、3
……ローラ、4……X線源、5……X線検出器、
6……被検体収容部、7……被検体、8,8′…
…スプロケツト、9……チエーン、10……電動
機、11……高圧発生装置、12……角度信号発
生器、13……前置増幅器、14……マルチプレ
クサ、15……対数変換器、16……A/D変換
器、17……コントロール信号発生器、18……
起動コントローラ、20……データコントロー
ラ、28……被検体支持手段、31……CT画像
用メモリ、32,33……透視像用メモリ、34
……画像再構成装置、35……画像表示メモリ、
36……表示装置、42,43……縮小メモリ、
44……アドレス変換回路、45……デイスプレ
イメモリ、46……制御回路。
よる一実施例を示しており、第1図は全体構成を
示すブロツク図、第2図は位置検出器の構成を示
す説明図、第3図は第1図における回路の詳細を
示すブロツク図、第4図は第3図における縮小メ
モリの原理説明図、第5図はこの装置による表示
像の説明図、第6図は前面および側面透視像を得
る際のX線源の配置を示す説明図である。 1……固定フレーム、2……回転フレーム、3
……ローラ、4……X線源、5……X線検出器、
6……被検体収容部、7……被検体、8,8′…
…スプロケツト、9……チエーン、10……電動
機、11……高圧発生装置、12……角度信号発
生器、13……前置増幅器、14……マルチプレ
クサ、15……対数変換器、16……A/D変換
器、17……コントロール信号発生器、18……
起動コントローラ、20……データコントロー
ラ、28……被検体支持手段、31……CT画像
用メモリ、32,33……透視像用メモリ、34
……画像再構成装置、35……画像表示メモリ、
36……表示装置、42,43……縮小メモリ、
44……アドレス変換回路、45……デイスプレ
イメモリ、46……制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 フアンビーム状のX線を発生するX線源と、 該X線源と対抗して支持され、且つ回転中心点
を中心に該支持したX線源と共にCT画像検出用
のピツチで回転する多チヤンネルX線検出器と、 上記各ピツチ毎に上記X線源を制御して、中心
におかれた被検体へX線の照射を指示する信号発
生手段と、 該X線の照射により被検体を介して透過し上記
X線検出器で検出された透過X線を取込み被検体
のX線吸収分布に基づく画像データを再構成する
再構成装置と、 該画像データをCT画像として一画面分格納す
るデイスプレイメモリと、 該メモリ内のデータを読出し表示する表示装置
と、 を備えたCTスキヤナにおいて、 該CT画を得る時間帯と異なる時間帯であるス
キヤナグラフイ計測時間帯で上記X線源とX線検
出器とを特定の回転位置に支持させた状態で、上
記被検体を前記回転領域での回転中心軸の長さ方
向にスキヤナグラフイ像検出用のピツチで移動さ
せる移動手段と、 各スキヤナグラフイ像検出用のピツチ毎に、上
記特定の回転位置上に支持された上記X線源から
X線を被検体に照射させるX線源制御手段と、 該X線照射により被検体を介して透過し上記X
線検出器で検出された透過X線をデイジタルスキ
ヤナグラフイデータとして取込み格納する第1の
メモリと、 該スキヤナグラフイ用メモリの格納内容を縮小
して得られる縮小スキヤナグラフイデータを格納
する第2のメモリと、 該縮小スキヤナグラフイデータを、上記CT画
像と共に上記表示装置に表示させるべく、上記デ
イスプレイメモリ内のCT用画像データと異なる
領域に格納させるメモリ制御手段と、 より成るCTスキヤナ。 2 上記第1のメモリは、第3、第4の2つのメ
モリを持ち上記X線源とX線検出器との特定の回
転位置とは被検体の異なる方向からの第1、第2
の位置とし、該第1の位置で上記X線検出器を介
して得たデイジタルスキヤナグラフイデータを第
3のメモリに取込み格納させ、上記第2の位置で
上記X線検出器を介して得たデイジタルスキヤナ
グラフイデータを第4のメモリに取込み格納させ
ると共に、該第3のメモリ及び第4のメモリの格
納内容をそれぞれ縮小して得られる縮小スキヤナ
グラフイ用データを上記第2のメモリに格納させ
てなる特許請求の範囲第1項記載のCTスキヤナ。 3 上記スキヤナグラフイ像を得る時間帯は、上
記CT画像を得る時間帯よりも前の時間帯とする
特許請求の範囲第1項又は第2項記載のCTスキ
ヤナ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7909379A JPS563040A (en) | 1979-06-25 | 1979-06-25 | Ct scanner |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7909379A JPS563040A (en) | 1979-06-25 | 1979-06-25 | Ct scanner |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS563040A JPS563040A (en) | 1981-01-13 |
JPS6348541B2 true JPS6348541B2 (ja) | 1988-09-29 |
Family
ID=13680259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7909379A Granted JPS563040A (en) | 1979-06-25 | 1979-06-25 | Ct scanner |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS563040A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000325337A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-28 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5910838A (ja) * | 1982-07-09 | 1984-01-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像の再生方法、装置および出力シ−ト |
JPS5910840A (ja) * | 1982-07-09 | 1984-01-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 診断用画像の再生方法、装置および出力シ−ト |
JPS59143147A (ja) * | 1983-02-04 | 1984-08-16 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 放射線画像情報再生方法 |
JPS60182934A (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-18 | 横河メディカルシステム株式会社 | 計算機トモグラフイ装置の表示装置 |
JP5222582B2 (ja) * | 2008-02-14 | 2013-06-26 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | 断層撮影装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5234689A (en) * | 1975-09-11 | 1977-03-16 | Jeol Ltd | Apparatus to obtain x-ray body axis tomogramic image |
JPS53128994A (en) * | 1977-04-16 | 1978-11-10 | Toshiba Corp | Ct scanner |
JPS53135293A (en) * | 1977-04-30 | 1978-11-25 | Shimadzu Corp | Tomograph |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5746967Y2 (ja) * | 1976-11-30 | 1982-10-15 |
-
1979
- 1979-06-25 JP JP7909379A patent/JPS563040A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5234689A (en) * | 1975-09-11 | 1977-03-16 | Jeol Ltd | Apparatus to obtain x-ray body axis tomogramic image |
JPS53128994A (en) * | 1977-04-16 | 1978-11-10 | Toshiba Corp | Ct scanner |
JPS53135293A (en) * | 1977-04-30 | 1978-11-25 | Shimadzu Corp | Tomograph |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000325337A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-28 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS563040A (en) | 1981-01-13 |
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