JPS61214145A - 半導体レ−ザを用いた読取り装置 - Google Patents

半導体レ−ザを用いた読取り装置

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Publication number
JPS61214145A
JPS61214145A JP60054873A JP5487385A JPS61214145A JP S61214145 A JPS61214145 A JP S61214145A JP 60054873 A JP60054873 A JP 60054873A JP 5487385 A JP5487385 A JP 5487385A JP S61214145 A JPS61214145 A JP S61214145A
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JP
Japan
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semiconductor laser
laser element
light
read
laser beam
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Pending
Application number
JP60054873A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nakatsu
弘志 中津
Riyouji Inada
稲田 嶺史
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS61214145A publication Critical patent/JPS61214145A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、半導体レーザを用いてコンパクトディスクお
よびビデオディスクのような光ディスクなどの被読取り
物体を読取るための装置に関する。
背景技術 半導体レーザ素子を光ディスクの読取り用光源として使
用するとき、ディスクで反射した戻り光が半導体レーザ
素子自身に戻ってくることに起因して、半導体レーザ素
子の発振状態が不安定になり、レーザ光出力にゆらぎが
生じる。これは戻り光雑音と呼ばれ、半導体レーザ素子
を用いて読取り用光ピツクアップをWIt處する際に非
常に大きな問題となる。
従来からこの問題を解決するために次のような構t(1
)〜(4)が採られている。
(1)光ピツクアップの光学系中に入/4板を介在し、
光ディスクからの戻り光を減少させる。このような先行
技術によれば、入/4板を設けることによって部品点数
が多くなり、またコストが高(なる。
(2)半導体レーザ素子自身を緩い屈折率導波型にして
、コヒーレント性を悪くし、これによってレーザ光をマ
ルチモード化し、半導体レーザ素子の発振動作を戻り光
に対して鈍感にさせる。この先行技術では、レーザ光の
非、(″に収差が増大するという問題がある。
(3)半導体レーザ素子の駆動回路に高周波発振回路を
付加して、レーザ光に緩和振動を生じ、これによってマ
ルチモード化する。このような先付技術では回路構成が
複雑になるという問題がある。
(4)光ピツクアップにおける光ディスクと半導体レー
ザ素子との闇に^/4板を配置し、この人/4板を角変
位することによって、光ディスクから半導体レーザ素子
に戻る戻り光のエネルギーを大きくし、これによってマ
ルチモード化させる。このような先行技術では、光ディ
スクと半導体レーザ素子との間の距離が変化することに
よって、戻り光雑音が変化する。したがって光ディスク
と半導体レーザ素子との間の光路長を、戻り光雑音が小
さくなる予め定めた値に設定しなければならない。その
ため光ピツクアップを、各種の仕様の異なる構成に共用
することができず、実用上使いにくい。
発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、光ディスクのような被読取り物体と半
導体レーザ素子との間の距離が異なっていても、戻り光
雑音を低減して読取りを行なうことができるように改良
された半導体レーザを用いた読取り装置を提供すること
である。
問題点を解決するための手段 本発明は、内部キャビティモードを形成する半導体レー
ザ素子における被読取り物体側の一端面からレーザ光を
被読取り物体に放射し、その被読取り物体で反射したレ
ーザ光を受光素子によって読取り、半導体レーザ素子に
おけるi読取り物体と反対側の他端面に対向して反射鏡
を設け、前記一端面と反射鏡とによって外部キャビティ
モードを形成することを特徴とする半導体レーザを用い
た読取り装置である。
作  用 本発明に従えば、半導体レーザ素子における内部キャビ
ティモードを形成する被読取り物体側の一端面と、その
被読取り物体とは反対側の他j1面に対向する反射鏡と
によって、外部キャビティモードを形成するようにした
ので、半導体レーザ素子と反射鏡との距離を、被読取り
物体から半導体レーザ素子に戻る戻り光による戻り光雑
音を抑制することがでさる値に設定することが可能とな
る。
これによって半導体レーザ素子と、被読取り物体との距
離にかかわらず、半導体レーザ素子から被読取り物体に
放射されるレーザ光をマルチモード化することが可能と
なり、したがって雑音強度の低減されたレーザ光を得る
ことが可能となる。
実施例 第1図は、本発明の一実施例の簡略化した系統図である
。半導体レーザ素子1では、被読取り物体である光ディ
スク2g1Ilの前面である一端面1aと、その光デイ
スク2側とは反対側の後面である他端面1bとの間で、
内部キャビティを形成する。
両端面1a、lbの反射率は同一値であり、たとえば約
32%程度であり、両端面1atlbから同じ出力でレ
ーザ光を放射している。この光出力は比較的低出力であ
り、たとえば3〜5  mWである。
一端面1aからのレーザ光は、レンズ3.4−を介して
光ディスク2に照射され、その反射光はレンズ4からビ
ームスプリッタ5を経て、さらにレンズ6を経て受光素
子7によって読取られる。他端面1bに対向して反射鏡
8を配置し、こうして前記一端面1aと反射#!8とに
よって外部キャビティを形成する。前記他端面1bと反
射[t8との間にレンズ9,10が介在される。第2図
は、この外部キャビティモードの発振波長を示す。隣接
する発振スペクトルの幅Δr1は Δfl=  「F伽15’GH7,・・・(1)ここで
Cは光速であり、Lは他端面1bと反射鏡8とのが離で
ある。たとえばLは10〜100−曽に選ばれてもよい
、こうしてレーザ光の縦モードはマルチモード化する。
したがって一端面I11から光ディスク2に放射される
レーザ光もまたマルチモードとなる。
半導体レーザ素子1の両端面1a、Ibによる内部キャ
ビティモードの発振波長は、第3図に示される。隣接す
る発振スペクトルの幅Δλ2はここでλは発振波長を示
し、Nは活性層の屈折率を示し、!は両端面1a、ib
闇の距離を示す、このノはたとえば300μ−であって
もよい。
本発明に従えば、f!13図に示された内部キャビティ
モードだけでなく、第2図に示された外部キャビティモ
ードが得られ、それによって光ディスク2に放射される
レーザ光がマルチモード化される。
第4図は、第1図の構成において、半導体レーザ素子1
に戻る戻り光量と、相対雑音強度との関係を示すグラフ
である。半導体レーザ素子1では端面1bと反射鏡8と
の距離りが70−であるときには、参照符12で示され
る特性が得られ、また、距離りが10c箇であるときに
は参照符13で示される特性が得られた6半導体レーザ
素子1への戻り光がほぼ0%では、雑音レベルは充分低
(、問題はないけれども、 0.01%程度の戻り光が
あ。
ると雑音レベルは大きくなる。さらに戻り光量が大きく
なって、たとえば0.1〜1%程度では雑音レベルが小
さくなる。このようにして半導体レベル素子1の戻り光
量が多いときには、その半導体レーザ素子1と反射f!
t8とによって外部共振器が作られて外部キャビティモ
ードが形成され、そのため雑音レベルが低減される。共
振器長がL十):!L        ・・・(3)に
なると、前述のv12図に示されるように発振波長間隔
Δ入1が小さくなり、レーザ光がマルチモード化する。
そのためレーザ光の干渉性が低下する。そのため半導体
レーザ素子1から光ディスク2に放射され、その光ディ
スクの反射面から戻ってきたレーザ光が再び半導体レー
ザ素子1内に入っても、発振状態の乱枕は生じにくくな
る。また温度変化によるモードホップ雑音にも強い特性
が達成される。なお、戻り光量がたとえば3%と一定で
あっても、距離りが変化することによって戻り光雑音の
レベルが変化する。したがって戻り光雑音が小さくなる
ように、戻り光量と距離りとが定めら代ることが必要で
ある。このようにして半導体レーザ素子1と光ディスク
2との間の距離に関係なしに、戻り光量と距離りを適宜
選択することによって、戻り光雑音を低減することが可
能となる。したがって前述の先(テ技術に比べてコスト
の低減が図られ、また半導体レーザ素子自身の光閉込め
を弱くしていないので、非点収差などの問題を生ぜず、
さらにまた、回路構成がむやみに複雑になることはない
@5図は、本発明の具体的な構成を示す断面図である。
この第5図では、前述の対応する#1II1.要素には
同一の参照符を付す。ケーシング15内には半導体レー
ザ素子1とレンズ9,10とが収納され、これらはケー
シング15に固定されたヒートシンク16に取付けられ
る。半導体レーザ素子1の一端面1aからのレーザ光は
、ケーシング15に形成された窓17から、前述のよう
に光ディスク2に向けて放射される。半導体レーザ素子
1の他端面1bからのレーザ光は、レンズ9,10を経
て、ハウジング15に取付けられた反射鏡としての機能
を達成するホトグイオード18に向けて放射される。ホ
トグイオード18の表面には、戻り光量を決定するため
に膜厚が調整されたSiO2膜19 が形成される。ホ
トグイオード18からの出力は、制御回路20に与えら
れ、この制御回路20は半導体レーザ素子1の発振動作
が安定するように動作する。
本発明のさらに他の実施例は、第6図に示される。この
実施例では、ケーシング21内のヒートシンク22上に
半導体レーザ素子1が固定されている9半導体レーザ素
子1の一端面1aからのレーザ光は、窓23から前述の
実施例と同様に光ディスク2に向けて放射される。半導
体レーザ素子1の他端面1bからのレーザ光は、レンズ
9.10および反射鏡8に向けて放射される。このよう
な構成によれば、外部キャビティモードに依存する距離
りを大きな値とすることが容易である。
L/ンズ9,10は小型のいわゆるマイクロレンズであ
ってもよく、あるいはまたセル7オフクレンXなどであ
ってもよい。本発明に従えば、光ディスクだけでなく、
その他の被読取り物体を読取るために、広範囲に実施す
ることができる。
効  果 以上のように本発明によれば、半導体レーザ素子と被読
取り物体との間の距離に拘わらず、比較的簡単な構成に
よってレーザ光をマルチモード化し、これによって戻り
光雑音に強い読取り装置が実現される。しかもコストが
低減され、レーザ光の非点収差が小さく抑えられ、また
回路構成がむやみにamになることはない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の簡略化した系統図、Pls
z図は外部キャビティモードの波長を示す図、第3図は
内部キャビティモードの波長を示す図、第4図は戻り光
量と相対雑音強度との関係を示すグラフ、第5図は本発
明の具体的な構成を示す断面図、第6図は本発明の他の
実施例の断面図である。 1・・・半導体レーザ素子、Ill・・・一端面、1b
・・・他端面、2・・・光ディスク、3,4,9,10
・・・レンズ、8・・・反射鏡、18・・・ホトダイオ
ード、19・・・sio2g! 代理人  弁理士 画数 圭一部 Δλ2 波長 第3図 戻り光量Cん) 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 内部キャビティモードを形成する半導体レーザ素子にお
    ける被読取り物体側の一端面からレーザ光を被読取り物
    体に放射し、その被読取り物体で反射したレーザ光を受
    光素子によって読取り、半導体レーザ素子における被読
    取り物体と反対側の他端面に対向して反射鏡を設け、前
    記一端面と反射鏡とによって外部キャビティモードを形
    成することを特徴とする半導体レーザを用いた読取り装
    置。
JP60054873A 1985-03-18 1985-03-18 半導体レ−ザを用いた読取り装置 Pending JPS61214145A (ja)

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JP60054873A JPS61214145A (ja) 1985-03-18 1985-03-18 半導体レ−ザを用いた読取り装置

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JPS61214145A true JPS61214145A (ja) 1986-09-24

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ID=12982707

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JP60054873A Pending JPS61214145A (ja) 1985-03-18 1985-03-18 半導体レ−ザを用いた読取り装置

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JP (1) JPS61214145A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6293627A (ja) * 1985-10-19 1987-04-30 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レ−ザの戻り光雑音測定方法
JPH08273186A (ja) * 1995-03-30 1996-10-18 Nec Corp 光ヘッド
JP2001189520A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Sony Corp 光源装置およびそれを用いた投射型表示装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6293627A (ja) * 1985-10-19 1987-04-30 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レ−ザの戻り光雑音測定方法
JPH08273186A (ja) * 1995-03-30 1996-10-18 Nec Corp 光ヘッド
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