JPS61196103A - 変位計 - Google Patents

変位計

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Publication number
JPS61196103A
JPS61196103A JP60038193A JP3819385A JPS61196103A JP S61196103 A JPS61196103 A JP S61196103A JP 60038193 A JP60038193 A JP 60038193A JP 3819385 A JP3819385 A JP 3819385A JP S61196103 A JPS61196103 A JP S61196103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
mirror
reflected
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60038193A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Nagai
長井 賢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60038193A priority Critical patent/JPS61196103A/ja
Publication of JPS61196103A publication Critical patent/JPS61196103A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02002Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
    • G01B9/02003Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using beat frequencies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 炎亙且1 本発明は変位計に関し、特に互いに周波数の異なるプロ
ーブ光とリファレンス光とのビートによって被測定物の
変位量を測定するようにしたヘテロダイン方式の変位計
に関する。
1未且I 従来、互いに異なる周波数を有するプローブ光とリファ
レンス光とのビートにより生ずるビート信号の位相変化
量によって被測定物の変化量を測定するヘテロダイン方
式の変位計がある。かかる変位計では、光源部から出射
された光をミラー等により測定対象物に導いており、ま
た測定対象物からの反射光もミラー等により検出部へ導
くような構成となっている。
そのために、光源部、検出部及び測定部の各間は空間的
に固定されるを得ず、よって測定系の設置に制約があっ
て不便となっている。
11立旦力 本発明は上記の欠点を排除すべくなされてものであり、
その目的とするところは、光路の一部に光ファイバを挿
入してこの光ファイバ内を70−ブ光及びリファレンス
光を伝搬せしめるようにして設置の自由度を増大するよ
うにした変位計を提供することにある。
発明の構成 本発明によれば、プローブ光及びリファレンス光の光路
の一部に光ファイバを設け、この光ファイバ中を、プロ
ーブ光とリファレンス光との偏波面を互いに直交した状
態で伝搬させるようにしたヘテロダイン方式の変位計が
得られる。
実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
図は本発明の実施例の構成図であり、光源1から出射さ
れた周波数f。の光はハーフミラ−2により部分される
。この部分された光のうち、透過光は偏光ビームスプリ
ッタ3によりP波成分のみが透過して光ファイバ7によ
り部分された後、レンズ8により光ファイバ9へ入射す
る。
一方、ハーフミラ−2で反射した光は、ミラー4で反射
された後周波数変調器5により周波数f8のシフトを受
は周波数(f  +fx)の光となす、ミラー6で反射
されて偏光ビームスプリッタ3によりS波成分のみが反
射し、ハーフミラ−7で部分された後レンズ8により光
ファイバ9へ入射される。
この光ファイバ9内では、周波数foのP波及び(fo
+fx)のS波の光が偏波面を互いに直交した状態で伝
搬することになるのである。光ファイバ9を伝搬した光
はレンズ10で平行ビームとなり、周波数f0のP波は
偏光ビームスプリッタ11を透過してプローブ光として
測定用ミラー12で反射された後、再び偏光ビームスプ
リッタ11を透過しレンズ10により周波数9へ入射す
ることになる。
他方、周波数(fo+fx)のS波は偏光ビームスプリ
ッタ11で反射されリファレンス光として測定基準用ミ
ラー13で反射された後、再び偏光ビームスプリッタ−
1で反射さてレンズ10により光ファイバ9へ入射する
ことになる。
周波数f。のプローブ光及び周波数(fo+fX)のリ
ファレンス光は光ファイバを伝搬した後、レンズ8を通
りハーフミラ−7で反射されて検光子14及びレンズ1
5を介して光検出器16へ入射する。この光検出器16
の出力には、プローブ光とリファレンス光との周波数差
f を有するビビート信号、が得られる。
ここで、ミラー12の位置が変化したとき、このビート
信号の位相が変化し、その位相変化量はビームスプリッ
タ11の変位量に比例することから、ビート信号の位相
変化量を測定することにより、ミラー12の変位量を測
定することができるのである。なお、ビート信号の位相
変化量は周波数変調器5に印加される周波数fXの電気
信号を基準として測定できる。
更に、光ファイバとして偏波面保存型の光ファイバを使
用すれば、周波数中を伝搬する光の偏波面の外部擾乱に
よるゆらぎが押えられるので、光ファイバ出射端での直
交する2つの波の分離が容易となるものである。
11立l】 本発明によれば、互いに異なる周波数のプローブ光とリ
ファレンス光とを互いに直交する直線偏波により光ファ
イバ中を伝搬させることにより、1本の光ファイバのみ
でヘテロダイン方式の変位計が構成でき、よって簡単な
構成で測定系の設置の自由度が増大する。また安価な変
位計となり得るものである。
尚、上記では光変位計につき説明したが、他の一般の光
干渉計についても様に適用可能であることは明白である
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例の構成図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・光源 3.4・・・・・・偏光ビームスプリッタ5・・・・・
・周波数変調器 9・・・・・・光ファイバ 12・・・・・・測定用ミラー 13・・・・・・基準ミラー 15・・・・・・光検出器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 互いに周波数の異なる測定用プローブ光と基準となるリ
    ファレンス光とのビートによつて被測定物の変位量を測
    定するヘテロダイン方式の変位計であつて、前記プロー
    ブ光及びリファレンス光の光路の一部に光ファイバを設
    置し、前記プローブ光とリファレンス光との偏波面を互
    いに直交した状態で前記光ファイバ中をこの両光が伝搬
    するようにしたことを特徴とする変位計。
JP60038193A 1985-02-27 1985-02-27 変位計 Pending JPS61196103A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60038193A JPS61196103A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 変位計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60038193A JPS61196103A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 変位計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61196103A true JPS61196103A (ja) 1986-08-30

Family

ID=12518521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60038193A Pending JPS61196103A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 変位計

Country Status (1)

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JP (1) JPS61196103A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0321252A2 (en) * 1987-12-15 1989-06-21 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Optical fiber sensor
JPH02147805A (ja) * 1988-11-29 1990-06-06 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザー測長計
CN103900467A (zh) * 2014-03-20 2014-07-02 哈尔滨工业大学 基于偏振态检测的单光纤耦合球微尺度传感器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0321252A2 (en) * 1987-12-15 1989-06-21 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Optical fiber sensor
JPH02147805A (ja) * 1988-11-29 1990-06-06 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザー測長計
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