JPS61192434A - ステ−ジ装置 - Google Patents

ステ−ジ装置

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Publication number
JPS61192434A
JPS61192434A JP3101585A JP3101585A JPS61192434A JP S61192434 A JPS61192434 A JP S61192434A JP 3101585 A JP3101585 A JP 3101585A JP 3101585 A JP3101585 A JP 3101585A JP S61192434 A JPS61192434 A JP S61192434A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
rotary
treated
saddle
processed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3101585A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasunobu Kawachi
河内 康伸
Akira Suzuki
章 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP3101585A priority Critical patent/JPS61192434A/ja
Publication of JPS61192434A publication Critical patent/JPS61192434A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q1/00Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
    • B23Q1/25Movable or adjustable work or tool supports
    • B23Q1/44Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms
    • B23Q1/56Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism
    • B23Q1/60Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism two sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism
    • B23Q1/62Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism two sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism with perpendicular axes, e.g. cross-slides
    • B23Q1/621Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism two sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism with perpendicular axes, e.g. cross-slides a single sliding pair followed perpendicularly by a single sliding pair
    • B23Q1/623Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism two sliding pairs only, the sliding pairs being the first two elements of the mechanism with perpendicular axes, e.g. cross-slides a single sliding pair followed perpendicularly by a single sliding pair followed perpendicularly by a single rotating pair

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はたとえば電子ビーム描画装置、マスク欠陥検査
装置あるい社マスク欠陥修正装置などに用いられるステ
ージ装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来、この種のステージ装置としてはたとえば、第3図
に示すようなものが知られている。
すなわち、図中1はペースで、このペース1の上面部に
はガイド用の突起部2が突設されている。また、上記ペ
ース1の上面部には移動体としてのサドル3が設けられ
、このサドル3はその底面部に形成された凹所4を上記
ペース1の突起部2に嵌合させてよ方向にスライド自在
になっている。また、上記サドル3の上面部には移動体
としてのステージ5が載置され、このステージ5はその
底面部に形成された凹所6を上記サドル3の上面部に突
設されたガイド用の突起部7に嵌合させてy方向にスラ
イド自在になっている。
上記ステージ5はその上面部にたとえば第4図に2点#
A線で示されるような描画範囲Hを有し、上記サドル3
およびステージ5のスライド範囲Sは上記描画範囲Hの
寸法aよりも大きくされている。
また、上記ステージ5の上方部には処理具としてたとえ
ば電子ビームEを発生させる発生器(図示しない)が設
けられている。
しかして、たとえばレチクルを製作する場合には、第4
図に示すように、まず、ステージ5照射するとともに図
示しない駆動機構によりサドル3をX方向、ステージ5
をY方向にそれぞれ移動させる。
これVこより、電子ビームが描画範囲Hの全面に走査さ
れ、所定のパターンが描画されることになる。
ところで、この描画時において、上記サドル3がスライ
ド移動されると、その一部がペース1から突出するが、
このときサドル3とペースlとの重り部Y、に対するサ
ドル3のオーババング量Y、の比が大きくなると、サド
ル3のピッチング的動きが増大し、走行精度上悪影響を
与える欠点があった。
そこで、ペース1を大形化することにより・重り部Y、
とオーバハング量Y2の比を小さくすることが考えられ
るが、この場合には、軽薄短小の面から特に、真空チャ
ンバを必要とする電子ビーム描画装置においては、真空
チャンバが大形化してしまう不都合があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に着目してなされたもので、その目的
とするところは、移動体の走行精度を低下させることな
く、小形化を図ることができるようにしたステージ装置
を提供しようとするものである。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を達成するため、移動体の上部に回転
台を設け、この回転台上に被処理材を載置し、前記被処
理材の処理面が処理具によって複数分の1処理されるご
とに前記回転台を所定角度ずつ回転させて前記処理具に
対する被処理材の対向位置を変更することにより、大形
化することなく、移動体のピッチング的な動きを防止で
きるようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第1図および第2図に示す一実施例を参
照して説明する。なお、第3図および第4図で示した部
分と同一部分については同一番号を示してその説明を省
略する。図中11はステージ5の上面部に回転自在に設
けられた回転台としての回転ステージである。この回転
ステージ1ノは図示しない駆動機構により支軸11aを
中心として時計方向に90°ずつ回転されるようになっ
ている。また、上記回転ステージ11の上面の描画範囲
Hは第2図に示すように4つのゾーンA、B、C,l)
に区分され、電子ビームの発生器は前記ゾーン人の略中
央部に対向されてhる。前記回転ステージ11はゾーン
Aに対する描画が終了するごとに90°ずつ回転しゾー
ン人の位置に順次、ゾーンB、C。
Dを移動させて電子ビームの発生器にそれぞれ対向させ
るようになっている。  □ また、上記ステージ5の側面部にはレーザミラー12が
取付けられ、ステージ5のX、Y方向の移動量をレーザ
で測長するようになっており、回転ステージ11の回転
に関係なくレーザパルスt−堰込めるようになっている
しかして、たとえばレチクルを製作する場合には、まず
、回転ステージ1ノの上面に試料8を載置して固定し、
しかるのちサドル3をX方向、ステージ5をY方向にそ
れぞれ適宜移動させながら発生器からの電子ビームをO
N 、 OFFさせてゾーンAの全体の描画1f%える
。このときの描画範囲の最大値はほぼ1/2a  であ
る。しかるのち、回転ステージ11を支軸11aを中心
として時計方向に90°回転させてゾーンBを電子ビー
ムの発生器に対向させ、上述したゾーンAの場合と同様
にして描画?行なう。以後、順次、同様にしてゾーン0
1ゾーンDの描画を行ない、試料8の全面が処理される
ことになる。
なお、回転ステージ11の回転中心は描画範囲Hの真中
心で危くともよいが、この場合には、真中心からずれた
分だけ、ステージ5のx、y方向のストロークに余裕を
もたせ、少なくとも各ゾーンA、B、C,Dへ移動した
際には試料8に設けられたマークによって電子ビームと
の位置合せを行なう必要がある0 また、上記一実施例においては、レーザミラー12をス
テージ5の側面に取付けたが、これに限られることなく
回転ステージ11の各面に取付けるようにしてもよい。
また、レーザミラー12はアツベのエラーをなくすため
に、描画面と同じ平面上で測定するようにしてもよい。
また、試料8に対しては電子ビームではなく光を照射さ
せるようにしてもよい。
その他、本発明はその要旨の範囲内で種々変形実施可能
なことは勿論である。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したように、移動体上に回転台を回転
自在に設け、この回転台上に被処理材を載置し、前記被
処理材の処理面が複数分の1処理されるごとに回転台を
所定角度回転させることにより、処理具に対する被処理
材の処理面の対向位置を変更させるから、移動体の移動
ストロークを小さくできる。したが、って、移動体のピ
ッチング的な動作が少なくなり走行精度を向上できると
ともに装置の小形化を図ることができるという効果を奏
する。
はその回転台の描画範囲を示す平面図、第3図は従来の
ステージ装置を示す斜視図、第4図はそのステージ上の
描画範囲を示す平面図である。
8・・・被処理材(試料)、3・・・移動体(サドル)
、5・・・移動体(ステージ)、11・・・回転台。
出願人代理人 弁理士  鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)処理具に対向した状態で被処理材を載置し、この
    被処理材を所定方向に移動する移動体を移動させながら
    前記処理具により処理させるものにおいて、前記移動体
    上に回転自在に設けられ前記被処理材を載置する回転台
    を具備し、前記被処理材の処理面が複数分の1処理され
    るごとに前記回転台を所定角度回転させて前記処理具に
    対する被処理材の対向位置を変更させることを特徴とす
    るステージ装置。
  2. (2)回転台は被処理材の処理面積の1/4が処理され
    るごとに90°回転することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載のステージ装置。
  3. (3)処理具は電子ビームあるいは光を被処理材に照射
    させることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
    2項記載のステージ装置。
JP3101585A 1985-02-19 1985-02-19 ステ−ジ装置 Pending JPS61192434A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3101585A JPS61192434A (ja) 1985-02-19 1985-02-19 ステ−ジ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3101585A JPS61192434A (ja) 1985-02-19 1985-02-19 ステ−ジ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61192434A true JPS61192434A (ja) 1986-08-27

Family

ID=12319713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3101585A Pending JPS61192434A (ja) 1985-02-19 1985-02-19 ステ−ジ装置

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JP (1) JPS61192434A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2381947A (en) * 2001-11-09 2003-05-14 Leica Microsys Lithography Ltd Electron beam lithography machine with rotating stage

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2381947A (en) * 2001-11-09 2003-05-14 Leica Microsys Lithography Ltd Electron beam lithography machine with rotating stage
GB2381947B (en) * 2001-11-09 2004-01-07 Leica Microsys Lithography Ltd Electron beam lithography machine

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