JPS61191959A - 超音波顕微鏡の走査装置 - Google Patents
超音波顕微鏡の走査装置Info
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- JPS61191959A JPS61191959A JP60030302A JP3030285A JPS61191959A JP S61191959 A JPS61191959 A JP S61191959A JP 60030302 A JP60030302 A JP 60030302A JP 3030285 A JP3030285 A JP 3030285A JP S61191959 A JPS61191959 A JP S61191959A
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- plate spring
- frame
- lens
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- Pending
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- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 11
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q1/00—Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
- B23Q1/25—Movable or adjustable work or tool supports
- B23Q1/26—Movable or adjustable work or tool supports characterised by constructional features relating to the co-operation of relatively movable members; Means for preventing relative movement of such members
- B23Q1/34—Relative movement obtained by use of deformable elements, e.g. piezoelectric, magnetostrictive, elastic or thermally-dilatable elements
- B23Q1/36—Springs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は超音波顕微鏡の走査装置に関するものである。
超音波顕微鏡の集束超音波送受波素子(以下、単にレン
ズという)と試料の相対的な移動による2次元装置は、
顕微鏡の解像度を高めるためレンズが走査方向以外には
サブ4クロンのオーダで振動しないことが要求される。
ズという)と試料の相対的な移動による2次元装置は、
顕微鏡の解像度を高めるためレンズが走査方向以外には
サブ4クロンのオーダで振動しないことが要求される。
この2次元走査装置の高速走査方向をX方向、低速走査
方向をY方向とすると、X方向の案内要素としては、従
来、空気静圧軸受が用いられていた。しかしさらに小形
軽量にするため、以下のような案内要素が考案されてい
る。その1つIと、例えば、特開昭57−208452
号公報に記載のような、レンズを1対の板バネで支持す
るものがある。この場合、板バネ1ζはX方向の変形が
容易なように突出部が設けられているが、この突出部が
あることにより加振方向以外のY方向及び2方向に振動
する可能性がある。また、例えば、特開昭58−557
51号公報に記載のように、レンズを1対の板バネで保
持体に固定し、さらに別の1対の板バネにより支持する
ものがある。このような2重の支持構造とした理由は、
レンズのX方向の加振によって生じる2方向の変位を、
センターポール形磁石と可動フィルIcより補正するた
めである。しかし、レンズのX方向の加振によって生じ
る2方向変位は非常に小さく、上記の構造では十分1ζ
制御しきれない可能性があり、また可動コイルが必要な
ため装置が複雑になる。以上述べたように、高速走査方
向の走査装置を小形軽量化するためCζ、案内要素番ζ
板バネを用いた走査装置が提案されているが、走査方向
以外にもレンズが振動する可能性があり、その結果、超
音波顕微鏡の解像度が低下する可能性がある。
方向をY方向とすると、X方向の案内要素としては、従
来、空気静圧軸受が用いられていた。しかしさらに小形
軽量にするため、以下のような案内要素が考案されてい
る。その1つIと、例えば、特開昭57−208452
号公報に記載のような、レンズを1対の板バネで支持す
るものがある。この場合、板バネ1ζはX方向の変形が
容易なように突出部が設けられているが、この突出部が
あることにより加振方向以外のY方向及び2方向に振動
する可能性がある。また、例えば、特開昭58−557
51号公報に記載のように、レンズを1対の板バネで保
持体に固定し、さらに別の1対の板バネにより支持する
ものがある。このような2重の支持構造とした理由は、
レンズのX方向の加振によって生じる2方向の変位を、
センターポール形磁石と可動フィルIcより補正するた
めである。しかし、レンズのX方向の加振によって生じ
る2方向変位は非常に小さく、上記の構造では十分1ζ
制御しきれない可能性があり、また可動コイルが必要な
ため装置が複雑になる。以上述べたように、高速走査方
向の走査装置を小形軽量化するためCζ、案内要素番ζ
板バネを用いた走査装置が提案されているが、走査方向
以外にもレンズが振動する可能性があり、その結果、超
音波顕微鏡の解像度が低下する可能性がある。
本発明の目的は、レンズの高速走査方向以外への振動を
極めて小さくすることで、超音波顕微鏡の解像度の低下
を防止できる超音波顕微鏡の走査装置を提供することに
ある。
極めて小さくすることで、超音波顕微鏡の解像度の低下
を防止できる超音波顕微鏡の走査装置を提供することに
ある。
上記したように、従来、小形軽量化を図るため案内要素
に板バネを用いているが、超音波顕微鏡の解像度を高め
るためのレンズの加振方向以外の振動防止に十分な対策
が施されていなかった。本発明はこれに対し、レンズの
加振方向以外の剛性が、高い十字形の板バネを用い、か
つフレームとの結合のし方に注意を払った。即ち十字形
の板バネの端部を曲げ加工してフレームに取付ける構造
とし、また、フレームの十字形の板バネの取付部の曲げ
剛性を任意に設定できる構造にして上記の振動防止対策
を行った。
に板バネを用いているが、超音波顕微鏡の解像度を高め
るためのレンズの加振方向以外の振動防止に十分な対策
が施されていなかった。本発明はこれに対し、レンズの
加振方向以外の剛性が、高い十字形の板バネを用い、か
つフレームとの結合のし方に注意を払った。即ち十字形
の板バネの端部を曲げ加工してフレームに取付ける構造
とし、また、フレームの十字形の板バネの取付部の曲げ
剛性を任意に設定できる構造にして上記の振動防止対策
を行った。
本発明の一実施例を第1図、第2図により説明する。
第1図、第2図においてレンズlはホルダ6Iζ装着さ
れ、ホルダ6を支持する支持棒7は、1対の十字形の板
バネ8を介してフレーム9に固定されている。また10
は支持棒7と十字形板バネ8を固定する治具であり、支
持棒7は加振機11により走査方向であるX方向に加振
される。
れ、ホルダ6を支持する支持棒7は、1対の十字形の板
バネ8を介してフレーム9に固定されている。また10
は支持棒7と十字形板バネ8を固定する治具であり、支
持棒7は加振機11により走査方向であるX方向に加振
される。
板バネ8の端部(B部)は曲げ加工された後、フレーム
9に固定されており、一点鎖線のようIζ板バネ8のX
方向の変位によって生じるB部の2方向の変位を、この
曲げ加工部で吸収できるようになっている。
9に固定されており、一点鎖線のようIζ板バネ8のX
方向の変位によって生じるB部の2方向の変位を、この
曲げ加工部で吸収できるようになっている。
また板バネ8は十字形であるため、Y方向及び2方向の
曲げ剛性が高く、X方向に加振した場合のY及び2方向
の振動は極めて小さくなる。
曲げ剛性が高く、X方向に加振した場合のY及び2方向
の振動は極めて小さくなる。
本発明の他の実施例を第3図、第4図により説明する。
第3図、第4図においてレンズlはホルダ6に装着され
、ホルダを支持する支持棒7は、1対の十字形の板バネ
8′を介してフレーム9′に固定されている。また10
は支持棒7と十字形の板バネ8′を固定する治具で、支
持棒7は加振機11により走査方向であるX方向に加振
される。
、ホルダを支持する支持棒7は、1対の十字形の板バネ
8′を介してフレーム9′に固定されている。また10
は支持棒7と十字形の板バネ8′を固定する治具で、支
持棒7は加振機11により走査方向であるX方向に加振
される。
フレーム9′の板バネ取付部(0部)は、第3図のよう
1ζ板厚が薄くなっており、板ノイネ8′が一点鎖線の
ように変形した場合も取付部のZ方向の変位を0部の曲
げ変形で吸収できるようIr−なっている。
1ζ板厚が薄くなっており、板ノイネ8′が一点鎖線の
ように変形した場合も取付部のZ方向の変位を0部の曲
げ変形で吸収できるようIr−なっている。
以下、上記実施例の補足説明を第5図及び第6図を用い
て行う。第5図のように板バネの支持点d点が完全に剛
体の場合、板バネ8.8′が片振幅aだけ変形するには
、同図のδiだけ伸びることが必要である。
て行う。第5図のように板バネの支持点d点が完全に剛
体の場合、板バネ8.8′が片振幅aだけ変形するには
、同図のδiだけ伸びることが必要である。
この61は、板バネの長さを24’iとすると同図の形
状から式(1)で表わされ、とのδiだけ板バネを引張
り変形させた場合に板バネに生じる応力σiと、変形さ
せるのに要する力Piは各々式+21(3)lこなる。
状から式(1)で表わされ、とのδiだけ板バネを引張
り変形させた場合に板バネに生じる応力σiと、変形さ
せるのに要する力Piは各々式+21(3)lこなる。
δ1=jli f ・・・・・・・・・・・・・
・・・・・(1)ここで、Eは板バネの縦弾性係数、
ti、 wiは各々、板バネの板厚と板幅である。仮り
1ζE=12000K g f 7mm”、ti= 0
.25mm%wi=15mm、 7i=35mmとする
と第6図に示すようにδ、は非常Iこ小さいが、Piは
非常に大きな値になる。
・・・・・(1)ここで、Eは板バネの縦弾性係数、
ti、 wiは各々、板バネの板厚と板幅である。仮り
1ζE=12000K g f 7mm”、ti= 0
.25mm%wi=15mm、 7i=35mmとする
と第6図に示すようにδ、は非常Iこ小さいが、Piは
非常に大きな値になる。
そのため、上記一実施例に示したよう1ζ61をB部の
曲げ変形で吸収するようにする。しかしこの場合、板バ
ネの曲げ剛性は非常に小さく、また板バネにはX方向の
加振力の他にレンズ、ホルダ、支持棒等の自重も加わる
ため、2方向に微小の振動が生じる可能性がある。そこ
で、板バネの支持は適正な曲げ剛性をもたせて支持する
ことが必要である。上記能の実施例は、以上の点を考慮
し、フレームの板バネ取付部の板厚(第3図のtf)及
び取付部の長さく第3図の7f)を変えることで、任意
の曲げ剛性になるようにした点に特徴がある。
曲げ変形で吸収するようにする。しかしこの場合、板バ
ネの曲げ剛性は非常に小さく、また板バネにはX方向の
加振力の他にレンズ、ホルダ、支持棒等の自重も加わる
ため、2方向に微小の振動が生じる可能性がある。そこ
で、板バネの支持は適正な曲げ剛性をもたせて支持する
ことが必要である。上記能の実施例は、以上の点を考慮
し、フレームの板バネ取付部の板厚(第3図のtf)及
び取付部の長さく第3図の7f)を変えることで、任意
の曲げ剛性になるようにした点に特徴がある。
このような構造にすることにより、加振方向以外の振動
は上記一実施例よりさらに減少させることができる。ま
た、案内要素が小形、軽量であるため、超音波顕微鏡を
その分だけ小形、軽量1ζできる。
は上記一実施例よりさらに減少させることができる。ま
た、案内要素が小形、軽量であるため、超音波顕微鏡を
その分だけ小形、軽量1ζできる。
本発明によればレンズを支持した支持棒を加振しても、
加振方向以外の振動を極めて小さくできるため、解像度
が高い超音波顕微鏡を提供することができるという効果
がある。
加振方向以外の振動を極めて小さくできるため、解像度
が高い超音波顕微鏡を提供することができるという効果
がある。
第1図は、本発明による超音波顕微鏡の走査装置の一実
施例を示す正面図、第2図は、同じく側面図、第3図は
本発明による超音波顕微鏡の走査装置の他の実施例を示
す正面図、第4図は同じく側面図、第5図は板バネの変
位解析図、第6図は片振幅とδi、 Piとの関係線図
である。 7・・・・・・支持棒、8.8′・・・・・・板バネ、
9.9′・・・・・・才1図 才2回 才30 才4図
施例を示す正面図、第2図は、同じく側面図、第3図は
本発明による超音波顕微鏡の走査装置の他の実施例を示
す正面図、第4図は同じく側面図、第5図は板バネの変
位解析図、第6図は片振幅とδi、 Piとの関係線図
である。 7・・・・・・支持棒、8.8′・・・・・・板バネ、
9.9′・・・・・・才1図 才2回 才30 才4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試料を第1の方向に低速で移動し、これと垂直な第
2の方向に超音波送受波素子を高速で往復運動させる2
次元走査により試料の観察を行う超音波顕微鏡において
、前記超音波送受波素子を支持する支持棒と、該支持棒
の両端を支持する1対の十字形の板バネと、該板バネを
固定するフレームと、支持棒と連結された加振機とで構
成したことを特徴とする超音波顕微鏡の走査装置。 2、前記、十字形の板バネの前記第1の方向及び前記第
2の方向に曲げ加工を施した特許請求の範囲第1項記載
の超音波顕微鏡の走査装置。 3、前記フ レームの前記十字形の板バネの取付部の板厚を、該取付
部が各々独立に十字形の板バネの面の方向に曲げ変形可
能な板厚とした特許請求の範囲第1項記載の超音波顕微
鏡の走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030302A JPS61191959A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 超音波顕微鏡の走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030302A JPS61191959A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 超音波顕微鏡の走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61191959A true JPS61191959A (ja) | 1986-08-26 |
Family
ID=12299952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60030302A Pending JPS61191959A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 超音波顕微鏡の走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61191959A (ja) |
-
1985
- 1985-02-20 JP JP60030302A patent/JPS61191959A/ja active Pending
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