JPS61176837A - 物品の外観検査方法 - Google Patents
物品の外観検査方法Info
- Publication number
- JPS61176837A JPS61176837A JP1842285A JP1842285A JPS61176837A JP S61176837 A JPS61176837 A JP S61176837A JP 1842285 A JP1842285 A JP 1842285A JP 1842285 A JP1842285 A JP 1842285A JP S61176837 A JPS61176837 A JP S61176837A
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- JP
- Japan
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- range
- circuit
- video signal
- value
- measuring
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Medical Preparation Storing Or Oral Administration Devices (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、錠剤、カプセル等円盤状あるいは偏平の矩形
または橢円形の小型物品（以下検体という）の外観検査
方法に関する。
または橢円形の小型物品（以下検体という）の外観検査
方法に関する。
従来、錠剤等の外観検査方法は、打錠機により製造され
た後、搬送途中において目視により疵、割れ、欠け、印
刷汚れ、刻印の良否等の検査を行っている。しかし人間
の直感的判断力は体調１疲労度により変動し、検査基準
が必ずしも一定ではなく、かつ非能率的でコスト高とな
る。これを改善する手段としてＴｖカメラ等を用い光学
的に検査する方法が提案されている。この方法は、予め
標準品をＴＶカメラ等にて撮影し、表面の映像情報を記
憶し、次いで検体を同一条件にて撮影し、映像情報を上
記標準晶鉄像情報と比較し良昂を判定するものである。
た後、搬送途中において目視により疵、割れ、欠け、印
刷汚れ、刻印の良否等の検査を行っている。しかし人間
の直感的判断力は体調１疲労度により変動し、検査基準
が必ずしも一定ではなく、かつ非能率的でコスト高とな
る。これを改善する手段としてＴｖカメラ等を用い光学
的に検査する方法が提案されている。この方法は、予め
標準品をＴＶカメラ等にて撮影し、表面の映像情報を記
憶し、次いで検体を同一条件にて撮影し、映像情報を上
記標準晶鉄像情報と比較し良昂を判定するものである。
上記両映像を対比するためには両映像を合致させること
が必要であるｏしかし検体の取付方法は為例えば吸着ド
ラムに検体を収納する窪みを設け１これに検体を挿入し
て吸着させる手段が採られているが、検体の挿入取出し
を容易ならしめるためには若干の余裕を必要とする０こ
のため取付位置がその都度若干狂い、従って上記両映像
を正確に一致させることは困難である。
が必要であるｏしかし検体の取付方法は為例えば吸着ド
ラムに検体を収納する窪みを設け１これに検体を挿入し
て吸着させる手段が採られているが、検体の挿入取出し
を容易ならしめるためには若干の余裕を必要とする０こ
のため取付位置がその都度若干狂い、従って上記両映像
を正確に一致させることは困難である。
本発明は１上記位置ずれは機構的に僅少とすることが可
能であり、従って若干の位置ずれを生じてもこれに影響
されることがなく、良否の判定を正確かつ迅速に行うこ
とを目的とする。
能であり、従って若干の位置ずれを生じてもこれに影響
されることがなく、良否の判定を正確かつ迅速に行うこ
とを目的とする。
上記目的を達成するための本発明を、実施例に対応する
第１図乃至第６図について説明する０標準品Ａｓを撮影
し、カメラの各測定部位（例えば画素）の光量を記憶す
ると共に、該測定部位を中心とした所定範囲内の光量即
ち映像信号値を調べ、その最大値及び最小値を基準とし
て該測定部位の許容誤差範囲１８とする。
第１図乃至第６図について説明する０標準品Ａｓを撮影
し、カメラの各測定部位（例えば画素）の光量を記憶す
ると共に、該測定部位を中心とした所定範囲内の光量即
ち映像信号値を調べ、その最大値及び最小値を基準とし
て該測定部位の許容誤差範囲１８とする。
検体人の外観検査に際しては、検体ムを撮影し、上記測
定部位に与えられる光量即ち映像信号値と１上記標準品
ム８の映像信号値とを比較し１その差を上記許容誤差範
囲１８と比較して良否を判定するようにしたものである
。
定部位に与えられる光量即ち映像信号値と１上記標準品
ム８の映像信号値とを比較し１その差を上記許容誤差範
囲１８と比較して良否を判定するようにしたものである
。
検体映像位置が標準品映像位置に対し若干のずれを生じ
ても、許容誤差範囲は、測定部位を中心として所定範囲
内の最大値及び最小値を決められており、この測定範囲
を適宜選択することにより判定に誤差を生ずることがな
い０ 〔実施例〕 図に示す実施例は、打錠機から送り出される錠剤（検体
）の外観検査に１発明を適用した例を示す。第２１ｆ！
！Ｉに示す検査機ｌには、対をなしかつ相接する吸着ド
ラム２．３を備え、それぞれの吸着ドラム２．３には測
定すべき検体Ａ及び標準錠剤（以下標準品という）ム８
を収納する窪みを備え、吸引作用によりこの膳みに検体
ムまたは標準品ム８を吸引収納するようにしたもので、
吸着ドラム２上の検体Ａ（または標準品Ａｓ）は吸着ド
ラム３に表裏反転して移行される。それぞれの吸着ドラ
ム２．３には撮影用カメラ４．５と１瞬間的に投光する
光源例えばストロボランプ６．７とを対設し、一方のカ
メラ４及びスト田ボロは検体ム（または標準品Ａｓ）の
表面を、他方のカメラ５及びストロボ７はその裏面を撮
影するようにしたものである。カメラ４．５はＴＶカメ
ラ等が用いられるが１好ましくはＣＣＩ）方式の固体撮
像素子（以下画素という）を用いたカメラを用いる０本
実施例はこのＣＯＤ方式のカメラを用いたものである。
ても、許容誤差範囲は、測定部位を中心として所定範囲
内の最大値及び最小値を決められており、この測定範囲
を適宜選択することにより判定に誤差を生ずることがな
い０ 〔実施例〕 図に示す実施例は、打錠機から送り出される錠剤（検体
）の外観検査に１発明を適用した例を示す。第２１ｆ！
！Ｉに示す検査機ｌには、対をなしかつ相接する吸着ド
ラム２．３を備え、それぞれの吸着ドラム２．３には測
定すべき検体Ａ及び標準錠剤（以下標準品という）ム８
を収納する窪みを備え、吸引作用によりこの膳みに検体
ムまたは標準品ム８を吸引収納するようにしたもので、
吸着ドラム２上の検体Ａ（または標準品Ａｓ）は吸着ド
ラム３に表裏反転して移行される。それぞれの吸着ドラ
ム２．３には撮影用カメラ４．５と１瞬間的に投光する
光源例えばストロボランプ６．７とを対設し、一方のカ
メラ４及びスト田ボロは検体ム（または標準品Ａｓ）の
表面を、他方のカメラ５及びストロボ７はその裏面を撮
影するようにしたものである。カメラ４．５はＴＶカメ
ラ等が用いられるが１好ましくはＣＣＩ）方式の固体撮
像素子（以下画素という）を用いたカメラを用いる０本
実施例はこのＣＯＤ方式のカメラを用いたものである。
尚、カメラ４及び５による検体ムの撮影及び検査要領は
同一であり、以下一方のカメラ４による検体Ａの検査要
領について説明する。
同一であり、以下一方のカメラ４による検体Ａの検査要
領について説明する。
第１図は本発明の検査方法の概略工程図である〇先づカ
メラ４により標準品ム８を撮影し、映像信号をい変換し
測定範囲規制回路１０に印加し標準品映像に対し測定範
囲を所定面積に制限する０これは撮影に際し標準品Ａ８
と検体Ａのそれぞれの映像を確実に合致させることは困
難で１若干のずれを生じる。その状態を第３図に示す０
但しａｓは標準品映像、ａｌは上方にずれた検体の映像
１ａｆｉは横方向にずれた検体の映像である０このずれ
は例えば前記吸着ドラム２．３の窪みにおける検体Ａの
吸着位置のずれ等により生ずるもので１これらは機構的
に減少を計ることができ１従ってそのずれは、ごく微小
とすることができる０上記測定範囲１１は各映像の合致
する範囲とする。この範囲の決定要領は標準品映像の輪
郭から所要寸法削除してもよく１あるいは映像中心位置
を決定し、この中心位置から所定寸度の範囲内としても
よい０尚映像周辺はノイズを生じ易く１従ってこのノイ
ズ発生部分も測定範囲から除外する０決定された測定範
囲は記憶回路１２に記憶される。
メラ４により標準品ム８を撮影し、映像信号をい変換し
測定範囲規制回路１０に印加し標準品映像に対し測定範
囲を所定面積に制限する０これは撮影に際し標準品Ａ８
と検体Ａのそれぞれの映像を確実に合致させることは困
難で１若干のずれを生じる。その状態を第３図に示す０
但しａｓは標準品映像、ａｌは上方にずれた検体の映像
１ａｆｉは横方向にずれた検体の映像である０このずれ
は例えば前記吸着ドラム２．３の窪みにおける検体Ａの
吸着位置のずれ等により生ずるもので１これらは機構的
に減少を計ることができ１従ってそのずれは、ごく微小
とすることができる０上記測定範囲１１は各映像の合致
する範囲とする。この範囲の決定要領は標準品映像の輪
郭から所要寸法削除してもよく１あるいは映像中心位置
を決定し、この中心位置から所定寸度の範囲内としても
よい０尚映像周辺はノイズを生じ易く１従ってこのノイ
ズ発生部分も測定範囲から除外する０決定された測定範
囲は記憶回路１２に記憶される。
同時に映像信号は各部光量検出回路１３に印加され、各
画素のそれぞれの光量（電圧）が検出され記憶回路ルに
記憶される。この各画素に対するそれぞれの電圧は隣接
光量比較回路１４に印加され各画素に対する一定範囲内
の各画素の電圧が検出される。この範囲は上述の標準品
Ａｓの映像と検体ムの映像との位置ずれを基準とし、そ
の範囲内の光量（電圧）の差を許容誤差範囲とする０第
４図及び第５図は許容誤差範囲の設定要領を示すもので
ある。但し第４図は上記位置ずれを基準とした範囲１即
ち計算範囲１５を示す説明図、第５図は一列の画素Ｃの
それぞれの映像値（電圧）Ｖの変動説明図である。但し
Ｃａは特定画素、ｖａはその映像値を示す。この画素ａ
＆に対する計算範囲１５内における最大値１６と最小値
１７との差を許容誤差範囲１８とする。この演算は許容
誤差演算回路１９において行われる。
画素のそれぞれの光量（電圧）が検出され記憶回路ルに
記憶される。この各画素に対するそれぞれの電圧は隣接
光量比較回路１４に印加され各画素に対する一定範囲内
の各画素の電圧が検出される。この範囲は上述の標準品
Ａｓの映像と検体ムの映像との位置ずれを基準とし、そ
の範囲内の光量（電圧）の差を許容誤差範囲とする０第
４図及び第５図は許容誤差範囲の設定要領を示すもので
ある。但し第４図は上記位置ずれを基準とした範囲１即
ち計算範囲１５を示す説明図、第５図は一列の画素Ｃの
それぞれの映像値（電圧）Ｖの変動説明図である。但し
Ｃａは特定画素、ｖａはその映像値を示す。この画素ａ
＆に対する計算範囲１５内における最大値１６と最小値
１７との差を許容誤差範囲１８とする。この演算は許容
誤差演算回路１９において行われる。
なお、検体ムと標準品ム８との対比に当っては１一般に
設定される製造上の許容範囲等の特定値を付加すること
が好ましい。第５図において２０ａ。
設定される製造上の許容範囲等の特定値を付加すること
が好ましい。第５図において２０ａ。
２ｏｂは特定値を示す。また、１８ａはこの特定値２０
＆、２０ｔｌを付加した許容誤差範囲を示す０次いで検
体ムの測定に当っては１上記標準品Ａｓと同一条件にて
検体ムを撮影し、重合回路２１において記憶回路稔の測
定範囲１１と重合し１該範囲内の画素に対しレベル比較
回路２２において標準品映像信号電圧と比較し、その差
を算出する。
＆、２０ｔｌを付加した許容誤差範囲を示す０次いで検
体ムの測定に当っては１上記標準品Ａｓと同一条件にて
検体ムを撮影し、重合回路２１において記憶回路稔の測
定範囲１１と重合し１該範囲内の画素に対しレベル比較
回路２２において標準品映像信号電圧と比較し、その差
を算出する。
次いで許容誤差比較回路器において上記差を当該画素に
対し許容される許容誤差範囲１８とを比較し良否を判定
する〇 尚上記実施例は各画素に対し許容誤差範囲を設定する例
を示したが、複数の画素を一群とし１こ ゛の一詳
に対し上記要領にて共通の許容誤差範囲を設定するよう
にしてもよい。更に例えば錠剤の裏面の如く、印刷ある
いは刻印等がなく１しかも全体が比較的平坦かつ平滑な
場合には、測定範囲１１内を数箇所に区分し、各区分内
のそれぞれの画素に対する許容誤差範囲を同一としても
よい。あるいは測定範囲内のすべての画素に対し許容誤
差範囲を同一としてもよい０勿論この場合には、測定範
囲ｌｌ内のすべての画素のうちの最高光量（１１！圧）
と最低光量（電圧）との差もしくはこれに前述の製造に
対する許容範囲等の特定値２０＆、２１３ｂを付加した
範囲が許容誤差範囲となるΦ 〔発明の効果〕 以上の如く本発明によるときは＼検体撮影時に若干のず
れを生じても、このずれを修正することなく検査するよ
うにしたから検査を迅速に行うことができる。また測定
個所の許容範囲は周囲の映像信号値により自動的に決定
するようにしたから測定位置の明暗に対しても影響され
ることがなく正確に測定することができる０
対し許容される許容誤差範囲１８とを比較し良否を判定
する〇 尚上記実施例は各画素に対し許容誤差範囲を設定する例
を示したが、複数の画素を一群とし１こ ゛の一詳
に対し上記要領にて共通の許容誤差範囲を設定するよう
にしてもよい。更に例えば錠剤の裏面の如く、印刷ある
いは刻印等がなく１しかも全体が比較的平坦かつ平滑な
場合には、測定範囲１１内を数箇所に区分し、各区分内
のそれぞれの画素に対する許容誤差範囲を同一としても
よい。あるいは測定範囲内のすべての画素に対し許容誤
差範囲を同一としてもよい０勿論この場合には、測定範
囲ｌｌ内のすべての画素のうちの最高光量（１１！圧）
と最低光量（電圧）との差もしくはこれに前述の製造に
対する許容範囲等の特定値２０＆、２１３ｂを付加した
範囲が許容誤差範囲となるΦ 〔発明の効果〕 以上の如く本発明によるときは＼検体撮影時に若干のず
れを生じても、このずれを修正することなく検査するよ
うにしたから検査を迅速に行うことができる。また測定
個所の許容範囲は周囲の映像信号値により自動的に決定
するようにしたから測定位置の明暗に対しても影響され
ることがなく正確に測定することができる０
第１図は本発明の外観検査方法の概略説明図、第２図は
検査機の概略説明図１第３図は標準品映像と検体映像と
の重合説明図、第４図は誤差計算範囲説明図、第５ｍは
一列の画素の映像電圧説明図、第６図は検体並びに標準
品の斜視図であるＯ１８は許容誤差範囲、２０＆、２０
１）は特定値、ムは検体、ムＢは標準品である。 第１図
検査機の概略説明図１第３図は標準品映像と検体映像と
の重合説明図、第４図は誤差計算範囲説明図、第５ｍは
一列の画素の映像電圧説明図、第６図は検体並びに標準
品の斜視図であるＯ１８は許容誤差範囲、２０＆、２０
１）は特定値、ムは検体、ムＢは標準品である。 第１図
Claims (3)
- （１）標準品と検体とをそれぞれ同一の撮影条件にて撮
像し、両者を対比する外観検査方法において、標準品の
各測定部位に対し該測定部位から所定距離内の映像信号
値の最大値及び最小値を計測して上記測定部位の許容誤
差範囲を定め、検体に対する上記測定部位の映像信号値
を標準品の映像信号値と比較すると共に、その差を上記
許容誤差範囲を基準として良否を判定することを特徴と
する物品の外観検査方法。 - （２）標準品の各測定部位の許容誤差範囲は、標準品と
検体との撮影時の映像のずれを計測し、この映像ずれの
距離を基準として設定することを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の物品の外観検査方法。 - （３）標準品の各測定部位の許容誤差範囲は、該測定部
位から所定距離内の映像信号値の最大値及び最小値を計
測し、これに特定値を付加してなる特許請求の範囲第１
項記載の物品の外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1842285A JPS61176837A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 物品の外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1842285A JPS61176837A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 物品の外観検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61176837A true JPS61176837A (ja) | 1986-08-08 |
Family
ID=11971209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1842285A Pending JPS61176837A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 物品の外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61176837A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63173489A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板を検査するためのティーチング装置 |
| JPH0295375A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-06 | Tokyo Shokai:Kk | 錠剤識別装置 |
| JPH04204147A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査方法 |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP1842285A patent/JPS61176837A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63173489A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板を検査するためのティーチング装置 |
| JPH0295375A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-06 | Tokyo Shokai:Kk | 錠剤識別装置 |
| JPH0417666B2 (ja) * | 1988-09-30 | 1992-03-26 | Tokyo Shokai Kk | |
| JPH04204147A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査方法 |
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