JPS61175563A - チル層自動検査装置 - Google Patents
チル層自動検査装置Info
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- JPS61175563A JPS61175563A JP60016801A JP1680185A JPS61175563A JP S61175563 A JPS61175563 A JP S61175563A JP 60016801 A JP60016801 A JP 60016801A JP 1680185 A JP1680185 A JP 1680185A JP S61175563 A JPS61175563 A JP S61175563A
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- chilled roll
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- G—PHYSICS
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- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、チルドロールにおけるチル層の厚みおよび鋳
造欠陥の有無を自動的に検査するチル層自動検査装置の
改良に関する。
造欠陥の有無を自動的に検査するチル層自動検査装置の
改良に関する。
工業材料として用いられる鋳鉄ロールの一種にチルドロ
ールがある。このチルドロールは、ロール内周部に生じ
るチル層の厚みや明渠等のような鋳造欠陥の有無が品質
基準を決める重要な要素となっている。すなわち、上記
チル層の部分は硬質ではあるが大変脆いものであり、上
記チル層が薄すぎるとチルドロールの折損につながる。
ールがある。このチルドロールは、ロール内周部に生じ
るチル層の厚みや明渠等のような鋳造欠陥の有無が品質
基準を決める重要な要素となっている。すなわち、上記
チル層の部分は硬質ではあるが大変脆いものであり、上
記チル層が薄すぎるとチルドロールの折損につながる。
このため、上記チル層の厚みには限度がある上、上記チ
ルドロールの用途によってはチル層の厚みに均一性が要
求されることもある。また、前記鋳造欠陥は絶対にあっ
てはならないものである。
ルドロールの用途によってはチル層の厚みに均一性が要
求されることもある。また、前記鋳造欠陥は絶対にあっ
てはならないものである。
そこで、上記チル層の厚みあるいは鋳造欠陥の有無を検
査する必要があるが、従来、上記チル層を検査する手段
としては、チルドロールの端面において組織の状態を見
ることにより検査する手段、およびチルドロールの硬質
測定を行なってチル層の分布を測ることにより検査する
手段があった。
査する必要があるが、従来、上記チル層を検査する手段
としては、チルドロールの端面において組織の状態を見
ることにより検査する手段、およびチルドロールの硬質
測定を行なってチル層の分布を測ることにより検査する
手段があった。
しかるに前者の手段においては、チルドロール端面のチ
ル層の状態だけでチルドロール全体のチル層の状態を判
断しなければならず、精度的に問題があった。一方、後
者の手段ではチル層の厚みが全く判別できなかった。ま
た、上記手段のいずれを用いても、チルドロールの円周
方向および長手方向におけるチル層の均一性を測ること
ができなかった。また自動化されてないため、多くの人
力を必要としていた。
ル層の状態だけでチルドロール全体のチル層の状態を判
断しなければならず、精度的に問題があった。一方、後
者の手段ではチル層の厚みが全く判別できなかった。ま
た、上記手段のいずれを用いても、チルドロールの円周
方向および長手方向におけるチル層の均一性を測ること
ができなかった。また自動化されてないため、多くの人
力を必要としていた。
そこで本発明は、チル層の厚みおよび鋳造欠陥の有無を
高精度に検査することができると共に、チル層の均一性
を求めることができ、かつ省人化をはかり得るチル層自
動検査装置を提供することを目的とする。
高精度に検査することができると共に、チル層の均一性
を求めることができ、かつ省人化をはかり得るチル層自
動検査装置を提供することを目的とする。
本発明は上記問題点を解決し目的を達成するために次の
ような手段を講じたことを特徴としている。すなわち、
チルドロールを保持して回転させる旋盤に上記チルドロ
ールの長手方向に駆動制御される移動体を取付けると共
に、この移動体に上記チルドロールにおけるチル層の厚
みおよび鋳造欠陥の有無を検査する超音波探傷手段を設
け、この超音波探傷手段により得られたデータをデータ
処理手段により処理し、処理されたデータを表示手段に
より表示するようにしたことを特徴としている。
ような手段を講じたことを特徴としている。すなわち、
チルドロールを保持して回転させる旋盤に上記チルドロ
ールの長手方向に駆動制御される移動体を取付けると共
に、この移動体に上記チルドロールにおけるチル層の厚
みおよび鋳造欠陥の有無を検査する超音波探傷手段を設
け、この超音波探傷手段により得られたデータをデータ
処理手段により処理し、処理されたデータを表示手段に
より表示するようにしたことを特徴としている。
このような手段を講じたことにより、チルドロールの円
周方向および長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造
欠陥の有無が超音波を利用して自動的に検査される。
周方向および長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造
欠陥の有無が超音波を利用して自動的に検査される。
第１図は本発明の一実施例の概略構成を示す側面図であ
る。図中１は旋盤であり、保持部１ａによりチルドロー
ル２を保持し回転させるものとなっている。上記チルド
ロール２は、第２図に示す如くロール内周壁にチル層３
が形成されており、上記チル層３には明渠等の鋳造欠陥
４が生じる場合もある。
る。図中１は旋盤であり、保持部１ａによりチルドロー
ル２を保持し回転させるものとなっている。上記チルド
ロール２は、第２図に示す如くロール内周壁にチル層３
が形成されており、上記チル層３には明渠等の鋳造欠陥
４が生じる場合もある。
第１図において５は検査部であり、前記旋盤１の刃物台
１ｂに固定され、レール１Ｃを介して前記チルドロール
２の長手方向に移動可能なものとなっている。そして、
超音波探傷による検査手段により上記チルドロール２の
円周方向および長手方向におけるチル層３の状態すなわ
ち厚みおよび鋳造欠陥４の有無を検査し、ＣＰＵ等を用
いたデータ処理手段によりデータ処理し、処理結果はＣ
ＲＴによる画像表示およびプリンタによる印字表示等の
表示手段により表示するものとなっている。
１ｂに固定され、レール１Ｃを介して前記チルドロール
２の長手方向に移動可能なものとなっている。そして、
超音波探傷による検査手段により上記チルドロール２の
円周方向および長手方向におけるチル層３の状態すなわ
ち厚みおよび鋳造欠陥４の有無を検査し、ＣＰＵ等を用
いたデータ処理手段によりデータ処理し、処理結果はＣ
ＲＴによる画像表示およびプリンタによる印字表示等の
表示手段により表示するものとなっている。
第３図および第４図は前記検査部５の構成を詳細に示す
側面図および正面図である。第３図および第４図におい
て１１は移動体としてのポストであり、図示しないが下
端部において旋盤１の刃物台１ｂにバイトなどを取付け
る要領で締付は固定されている。１２はアームであり、
ステッピングモータ（不図示）により上下方向および前
後方向へ移動可能なものとなっている。上記アーム１２
の先端には取付は部１３を介して超音波探触子１４が取
付けられており、一定の押圧力および角度をもって被測
定物であるチルドロール２の表面に位置するものとなっ
ている。上記探触子１４にょるチル層３の超音波探傷は
ギャップ水浸法によりなされ、探触媒質には前記ボスト
１１の上端部に設けられた水タンク１５からホース１６
を通って探触面に供給される防鋼材を含んだ水が用いら
れるものとな°っている。１７はマーキング部であり、
前記探触子１４により鋳造欠陥４の存在が検出されると
、この鋳造欠陥４の存在する位置のチルドロール外壁に
マーキングチョーク１８でマーキングするものとなって
いる。なお、第３図、第４図においてＡはキャリブレー
ション位置を示しており、超音波探傷開始時にこの位置
に探触子１４を位置させ、被測定物すなわちチルドロー
ル２と同一材質のテストピースにより超音波探傷の感度
を調整するものとなっている。
側面図および正面図である。第３図および第４図におい
て１１は移動体としてのポストであり、図示しないが下
端部において旋盤１の刃物台１ｂにバイトなどを取付け
る要領で締付は固定されている。１２はアームであり、
ステッピングモータ（不図示）により上下方向および前
後方向へ移動可能なものとなっている。上記アーム１２
の先端には取付は部１３を介して超音波探触子１４が取
付けられており、一定の押圧力および角度をもって被測
定物であるチルドロール２の表面に位置するものとなっ
ている。上記探触子１４にょるチル層３の超音波探傷は
ギャップ水浸法によりなされ、探触媒質には前記ボスト
１１の上端部に設けられた水タンク１５からホース１６
を通って探触面に供給される防鋼材を含んだ水が用いら
れるものとな°っている。１７はマーキング部であり、
前記探触子１４により鋳造欠陥４の存在が検出されると
、この鋳造欠陥４の存在する位置のチルドロール外壁に
マーキングチョーク１８でマーキングするものとなって
いる。なお、第３図、第４図においてＡはキャリブレー
ション位置を示しており、超音波探傷開始時にこの位置
に探触子１４を位置させ、被測定物すなわちチルドロー
ル２と同一材質のテストピースにより超音波探傷の感度
を調整するものとなっている。
第５図は同実施例の具体的な回路構成を示すブロック図
である。チルドロール２のチル層３の状態を超音波探傷
する探触子１４からの出力信号Ｓ１は、信号入力部２１
を介してマルチゲートユニット２２にてＡ／Ｄ変換され
た後、インターフェイス２３を介してＣＰＵ２４に供給
されるものとなっている。そして上記出力信号＄１は上
記ＣＰＵ２４にてデータ処理され、ＣＲＴ２５に画像表
示されると共に、プリンタ２６により印字表示されるも
のとなっている。また上記出力信号Ｓ１は磁気記録媒体
２７に磁気記録されるものとなっている。
である。チルドロール２のチル層３の状態を超音波探傷
する探触子１４からの出力信号Ｓ１は、信号入力部２１
を介してマルチゲートユニット２２にてＡ／Ｄ変換され
た後、インターフェイス２３を介してＣＰＵ２４に供給
されるものとなっている。そして上記出力信号＄１は上
記ＣＰＵ２４にてデータ処理され、ＣＲＴ２５に画像表
示されると共に、プリンタ２６により印字表示されるも
のとなっている。また上記出力信号Ｓ１は磁気記録媒体
２７に磁気記録されるものとなっている。
図中２８は前記探触子１４のチルドロール円周方向およ
び長手方向への移動ピッチを設定するキーボードであり
、このキーボード２８から出力される設定信号Ｓ２は前
記ＣＰＵ２４に送られるものとなっている。なお上記移
動ピッチは、Ｍ６図に示す如く、チルドロール円周方向
においてはＭ箇所で超音波探傷が行なわれるように設定
され、長手方向においてはＮ箇所で超音波探傷が行なわ
れるように設定されるものとなっている。すなわち探触
子１４による超音波探傷箇所はＭとＮとの行列で表わさ
れ、総探傷箇所は（ＭＸＮ）箇所となる。
び長手方向への移動ピッチを設定するキーボードであり
、このキーボード２８から出力される設定信号Ｓ２は前
記ＣＰＵ２４に送られるものとなっている。なお上記移
動ピッチは、Ｍ６図に示す如く、チルドロール円周方向
においてはＭ箇所で超音波探傷が行なわれるように設定
され、長手方向においてはＮ箇所で超音波探傷が行なわ
れるように設定されるものとなっている。すなわち探触
子１４による超音波探傷箇所はＭとＮとの行列で表わさ
れ、総探傷箇所は（ＭＸＮ）箇所となる。
図中２９は旋ａｉの回転軸の回転量に基いて前記探触子
１４のチルドロール円周方向への移動量を相対的に検出
する第１のロータリエンコーダであり、３０は前記探触
子１４のチルドロール長手方向への移動量を検出する第
２のロータリエンコーダである。これら第１．第２のロ
ータリエンコーダ２９．３０からの検出信号８３．８４
およびマーキング部１７の状態信号Ｓ５は前記インター
フェース２３を介してＣＰＵ２４に与えられるものとな
っている。
１４のチルドロール円周方向への移動量を相対的に検出
する第１のロータリエンコーダであり、３０は前記探触
子１４のチルドロール長手方向への移動量を検出する第
２のロータリエンコーダである。これら第１．第２のロ
ータリエンコーダ２９．３０からの検出信号８３．８４
およびマーキング部１７の状態信号Ｓ５は前記インター
フェース２３を介してＣＰＵ２４に与えられるものとな
っている。
そして上記ＣＰＵ２４においては、前記設定信号Ｓ２お
よび検出信号８３．８４に基いて探触子１４の位置制御
信号Ｓ６が求められ、インターフェース２３を介してシ
ーケンサ３１に送出され、上記シーケンサ３１によりイ
ンバータユニット３ 。
よび検出信号８３．８４に基いて探触子１４の位置制御
信号Ｓ６が求められ、インターフェース２３を介してシ
ーケンサ３１に送出され、上記シーケンサ３１によりイ
ンバータユニット３ 。
２を介して探触子１４の前後方向（図中矢印Ｘ）。
上下方向く図中矢印Ｙ）および左右方向（図中矢印２）
への制御がなされるものとなっている。また上記ＣＰＵ
２４においては、前記探触子１４により鋳造欠陥４が検
出された場合、探触子１４からの出力信号Ｓ１とマーキ
ング部１７からの状態信号Ｓ５とによってマーキング部
１７の位ｆｌ ｔｌｌ ｍ信号Ｓ７が求められ、前記探
触子位置制御信号Ｓ６と同様にインターフェース２３を
介してシーケンサ３１に送られ、マーキング部１７の位
置制御がなされるものとなっている。
への制御がなされるものとなっている。また上記ＣＰＵ
２４においては、前記探触子１４により鋳造欠陥４が検
出された場合、探触子１４からの出力信号Ｓ１とマーキ
ング部１７からの状態信号Ｓ５とによってマーキング部
１７の位ｆｌ ｔｌｌ ｍ信号Ｓ７が求められ、前記探
触子位置制御信号Ｓ６と同様にインターフェース２３を
介してシーケンサ３１に送られ、マーキング部１７の位
置制御がなされるものとなっている。
検査部５の感度を調整した後、上記探触子１４を被測定
面の測定開始箇所（１行１列）にセットし、超音波探傷
を行なう。そうすると、上記探触子１４によりチルドロ
ール２におけるチル層３の状態すなわちチル層３の厚み
測定および鋳造欠陥４の検出が行なわれる。上記探触子
１４の出力信号Ｓ１はＣＰＬＩ２４に送られ、チル層の
厚みおよび鋳造欠陥４の有無がＣＲＴ２５に画像表示さ
れると共にプリンタ２６に印字表示される。また磁気記
録媒体２７に磁気記録される。かくして（１行１列）の
検査が終了すると、チルドロール２が回転し、次の探傷
箇所（２行１列）に移行する。このとき第１のロータリ
エンコーダ２９によって旋盤１の回転軸の回転量が検出
され、キーボード２８により設定されたピッチ（標準５
ｍ ）だけ上記チルドロール千が回転するようにシー
ケンサ３１によって回転量が制御されている。以下、順
次同一ピッチでチルドロール２の回転が制御され、１円
周にわたって超音波探傷が終了すると、検査部５がチル
ドロール２の長手方向に移動し、２列目に移行する。こ
のとき上記検査部５の移動量は第２のロータリエンコー
ダ３０によって検出され、キーボード２８により設定さ
れたピッチ（標準１００ｍ）だけ移動するようにシーケ
ンサ３１によって制御されている。そして、１列目と同
様に１行からＮ行まで超音波探傷が行なわれ、以下、（
Ｍ行Ｎ列）まで行なわれる。かくして、チルドロール２
の円周方向および長手方向におけるチル層３の状態が検
査される。
面の測定開始箇所（１行１列）にセットし、超音波探傷
を行なう。そうすると、上記探触子１４によりチルドロ
ール２におけるチル層３の状態すなわちチル層３の厚み
測定および鋳造欠陥４の検出が行なわれる。上記探触子
１４の出力信号Ｓ１はＣＰＬＩ２４に送られ、チル層の
厚みおよび鋳造欠陥４の有無がＣＲＴ２５に画像表示さ
れると共にプリンタ２６に印字表示される。また磁気記
録媒体２７に磁気記録される。かくして（１行１列）の
検査が終了すると、チルドロール２が回転し、次の探傷
箇所（２行１列）に移行する。このとき第１のロータリ
エンコーダ２９によって旋盤１の回転軸の回転量が検出
され、キーボード２８により設定されたピッチ（標準５
ｍ ）だけ上記チルドロール千が回転するようにシー
ケンサ３１によって回転量が制御されている。以下、順
次同一ピッチでチルドロール２の回転が制御され、１円
周にわたって超音波探傷が終了すると、検査部５がチル
ドロール２の長手方向に移動し、２列目に移行する。こ
のとき上記検査部５の移動量は第２のロータリエンコー
ダ３０によって検出され、キーボード２８により設定さ
れたピッチ（標準１００ｍ）だけ移動するようにシーケ
ンサ３１によって制御されている。そして、１列目と同
様に１行からＮ行まで超音波探傷が行なわれ、以下、（
Ｍ行Ｎ列）まで行なわれる。かくして、チルドロール２
の円周方向および長手方向におけるチル層３の状態が検
査される。
なお、前記探触子１４により鋳造欠陥４が検出された場
合には、欠陥位置がマーキング部１７に達した時点で上
記マーキング部１７がシーケンサ３１により位置制御さ
れ、マーキングチョーク１８によりチルドローラ２の外
壁にマーキングされる。したがって、鋳造欠陥４の位置
が明確になる。
合には、欠陥位置がマーキング部１７に達した時点で上
記マーキング部１７がシーケンサ３１により位置制御さ
れ、マーキングチョーク１８によりチルドローラ２の外
壁にマーキングされる。したがって、鋳造欠陥４の位置
が明確になる。
かくして本装置によれば、超音波探傷により自動的にチ
ルドロール２におけるチル１１３の厚みおよび鋳造欠陥
４の有無を検査することができるので、精度の向上をは
かれると共に、省人化をはかれる。また、チル層３の厚
みをチルドロール２の円周方向および長手方向に測定す
ることができるので、チル層３の均一性を求めることが
できる。
ルドロール２におけるチル１１３の厚みおよび鋳造欠陥
４の有無を検査することができるので、精度の向上をは
かれると共に、省人化をはかれる。また、チル層３の厚
みをチルドロール２の円周方向および長手方向に測定す
ることができるので、チル層３の均一性を求めることが
できる。
さらに機械加工ライン上にて検査が行なわれるので、加
工と検査が簡単に切換えられ、チル層３の状態に応じて
容易に修正加工を行なうことができる。
工と検査が簡単に切換えられ、チル層３の状態に応じて
容易に修正加工を行なうことができる。
なお本発明は前記実施例に限定されるものではない。た
とえば前記実施例では検査部５からの検査結果をＣＲＴ
２５およびプリンタ２６により画像表示および印字表示
する場合を示したが、これらはいずれか一方だけであっ
てもよく、またこれ以外の表示手段を用いてもよい。こ
のほか本発明の要旨を越えない範囲・で種々変形実施可
能であるのは勿論である。
とえば前記実施例では検査部５からの検査結果をＣＲＴ
２５およびプリンタ２６により画像表示および印字表示
する場合を示したが、これらはいずれか一方だけであっ
てもよく、またこれ以外の表示手段を用いてもよい。こ
のほか本発明の要旨を越えない範囲・で種々変形実施可
能であるのは勿論である。
以上詳述したように本発明は、チルドロールを固定し回
転させる旋盤に上記チルドロールの長手方向に駆動制御
される移動体を取付けると共に、この移動体に上記チル
ドロールにおけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有無を
検査する超音波探傷手段を設け、この超音波探傷手段に
より得られたデータをデータ処理手段により処理し、処
理されたデータを表示手段により表示するようにしたも
のである。
転させる旋盤に上記チルドロールの長手方向に駆動制御
される移動体を取付けると共に、この移動体に上記チル
ドロールにおけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有無を
検査する超音波探傷手段を設け、この超音波探傷手段に
より得られたデータをデータ処理手段により処理し、処
理されたデータを表示手段により表示するようにしたも
のである。
したがって本発明によれば、チルドロールの円周方向お
よび長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有
無が超音波を利用して自動的に検査されるので、チル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を高精度に検査することが
できると共に、チル層の均一性を求めることができ、か
つ省人化をはかり得るチル層自動検査装置を提供できる
。
よび長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有
無が超音波を利用して自動的に検査されるので、チル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を高精度に検査することが
できると共に、チル層の均一性を求めることができ、か
つ省人化をはかり得るチル層自動検査装置を提供できる
。
第１図〜第６図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は概略構成を示す側面図、第２図はチルドロールの断面
図、第３図および第４図は検査部の詳細な構成を示す側
面図および正面図、第５図は具体的な回路構成を示すブ
ロック図、第６図は検査箇所を示す図である。 １・・・旋盤、２・・・チルドロール、３・・・チル層
、４・・・鋳造欠陥、５・・・検査部、１１・・・ポス
ト、１２・・・アーム、１４・・・探触部、１７・・・
マーキング部、２４・・・ＣＰＵ、２５・・・ＣＲＴ、
２６・・・プリンタ、２７・・・磁気記録媒体、２８・
・・キーボード、３１・・・シーケンサ。 出願人復代理人 弁理士 鈴江武彦 箪 ４ 図 第６図 手続補正書 ４ゎ岨１０升、１０Ｂ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 １、事件の表示 特願昭６０−１６８０１号 ２・ 発明の名称 チル層自動検丘１ｔｉｉ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （６２０）三菱重工業株式会社 ４、復代理人 ５、自発補正 ７、補正の内容 （１） 明細書全文を別紙の通９訂正する。 （２）図面第１図、第２図、第３図および第５図を別紙
の通り訂正する。 明 細 書 １、発明の名称 チル層自動検査装置 ２、特許請求の範囲 チルドロール金保持して回転させる旋盤に取付けられ上
記チルドロールの長平方向に駆動制御される移動体と、
この移動体に設けられ前記チルドロールにおけるチル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を検査する超音波探傷手段
と、この超音波探傷手段により得られるデータを処理す
るデータ処理手段と、このデータ処理手段により得らｆ
’Ｌ７ｔ−データを表示する表示手段とを具備したこと
を特徴とするチルノー自動検査装置。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は、チルドロールにおけるチル層の厚みおよび鋳
造欠陥の有無を自動的に検査するチル層自動検査装置の
改良に関する。 〔従来の技術〕 工業材料として用いられる鋳鉄ロールの一橋にチルドロ
ール（２層材）がある。このチルドロールは、ロール内
周部に生じるチル層の厚みや４巣等のような鋳造欠陥の
有無が品質を決める重要な要素となっている。すなわち
、上記チル層の部分は硬質ではあるが脆いものであり、
上記チル層が厚すぎるとチルドロールの折損につながる
。この九め、上記チル層の厚みには限殿がある上、上記
チルドロールの用途によってはチル層の厚みに均一性が
要求されることもある。また、前記鋳造欠陥も存在の有
無や、その位置を把握する必要がある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 そこで、上記チル層の厚みあるいは鋳造欠陥の有無を検
査する必要があるが、従来、上記チル層を検査する手段
としては、チルドロールの端面において組織の状態を見
ることにより検査する手段、およびチルドロールの硬度
測定を行なってチル層の分布を側ることにより検査する
手段があり九〇 しかるに前者の手段においては、チルドロール端面のチ
ル層の状態だけでチルドロール全体のチル層の状態を判
断しなければならず、精度的に問題があった。一方、後
者の手段ではチル層の厚みが全く判別できなかった。ま
た、上記手段のいずｆ”Ｌを用いても、チルドロールの
円周方向および長手方向におけるチル層の均一性を測る
ことができなかりｆｃａｔた自動化されてないため、多
くの人力を必要としてい友。 そこで本発明は、チル層の厚み、均一性および鋳造欠陥
の有無を高精度に検査することができ、かつ省人化をは
かり得るチル層自動検査装置を提供することを目的とす
る。 〔問題点を解決する几めの手段〕 本発明は上記問題点を解決し目的を達成するために次の
ような手段ｔ−講じたことを特徴としている。すなわち
、チルドロールを保持して回転させる旋盤に上記チルド
ロールの長手方向に駆動制御される移動体を取付けると
共に、この移動体に上記チルドロールにおけるチル層の
厚Ａ紐！ ｎ： ａ ：に々脇の右部シ鰺審す入釦ヰ姑
ａ也手段を設け、この超音波探傷手段により得らｎ次デ
ータをデータ処理手段により処理し、処理されたデータ
を表示手段により表示すると共に、以上の制御を自動的
に行なうようにし九ことを特徴としている。 〔作用〕 このような手段を博じ友ことによシ、チルドロールの円
周方向および長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造
欠陥の有無が超音波を利用して自動的に検査される。 〔実施例〕 第１図は本発明の一実施例の概略構成を示す側面図であ
る。図中１は旋盤で、ｓｂ、保持部１ａによジチルトロ
ール２を保持し回転させるものとなっている上記チルド
ロール２は、第２図に示す如くロール外周部分にチル層
３が形成されており、上記外周部分には４巣等の鋳造欠
陥４が生じる場合もある。 第１図において５は検査部であり、前記旋盤１の刃物台
ＺｂＫ固定され、う、りＩＣを介して前記チルドロール
２の長手方向に移動可能なものとなっている。そして、
超音波探傷による検査手段により上記チルドロール２の
円周方向および長手方向におけるチル層３の状態すなわ
ち厚みおよび鋳造欠陥４の有無を検査し、ＣＰＵ等を用
い友データ処理手段によりデータ処理し、処理結果はＣ
ＲＴによる画像表示およびプリンタによる印字表示等の
表示手段によシ表示するものとなっている。 第３図および第４図は前記検査部５の構成を詳細に示す
側面図および正面図である。第３図および第４図におい
て１１は移動体としてのポストであり、図示しないが下
端部において旋盤１の刃物台１ｂにバイトなどを取付け
る畳領で締付は固定されている。１２はアームであり、
ステッピングモータ（不図示）によシ上下方向および前
後方向へ移動可能なものとなっている。 上記アーム１２の先端には取付は部１３を介して超音波
探触子１４が取付けられておシ、一定の押圧力および角
度をもって被測定物であるチルドロール２の我面に位置
するものとなっている。上記探触子１４によるチル層３
の超音波探傷はギャップ水浸法によりなされ、探触媒質
には前記テスト１１の上瑞部に設けられた水タンク１５
からホース１６を通って探触面に供給される防錆材を含
んだ水が用いられるものとなっている。１７Ｆｉマ一キ
ング部であゃ、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４の存在
が検出されると、この鋳造欠陥４の存在する位置のチル
ドロール外壁にマーキングチ田−り１８でマーキングす
るものとなっている。なお、第３図、第４図においてＡ
はキャリプレーン１フ位置を示しており、超音波探傷開
始時にこの位置に探触子１４を位置させ、被測定物すな
わちチルドロール２と同一材質のテストピースによシ超
音波探傷の感度を調整するものとなっている。 第５図は同案流側の具体的な回路構成を示すプロ、り図
である。チルドロール２のチル層３の状態を超音波探傷
する探触子１４からの出力信号Ｓ１は、信号入力部２１
を介してマルチダートユニット２２にてψ変換され次後
、インターフェイス２３を介してＣＰＵ ２４に供給さ
れるものとなっている。そして上記出力信号Ｓ１は上記
ＣＰＵ ２４にてデータ処理さ九、ＣＲＴ ２５に画像
表示されると共に、プリンタ２６によシ印字弐示される
ものとなっている。また上記出力信号Ｓ１は磁気記録媒
体２７に磁気記録されるものとなっている。 図中２８は前記探触子１４のチルドロール円周方向およ
び長手方向への移動ピッチを設定するキーが−ドであり
、このキーボード２８から出力される設定信号Ｓ２は前
記ＣＰＵ ２４に送られるものとなっている。なお上記
移動ピ“ツチは、第６図に示す如く、チルドロール円周
方向においてはＭ箇所で超音波探傷が行なわれるように
設定され、長手方向においてはＮ箇所で超音波探傷が行
なわれるように設定さｎるものとなっている。すなわち
探触子１４による超音波探傷箇所はＭ、！：Ｎとの行列
で表わされ、総探傷箇所Ｆｉ（ＭＸＮ）箇所となる。 図中２９１ｄ旋盤１の回転軸の回転量に基いて前記探触
子１４のチルドロール円周方向への移動量を相対的に検
出する第１のロータリエンコーダでｈｖ、ｓｏは前記探
触子１４のチルドロール長手方向への移動量を検出する
第２のロータリエンコーダである。これら第１．第２の
ロータリエンコーダ２９．３０からの検出信号８３．８
４は前記インターフェース２３を介してＣＰＵ ２４に
与えられるものとなっている。 そして上記ＣＰＵ ２４においては、前記設定信号Ｓ２
および検出信号８３．８４に基いて探触子１４の位置制
御信号Ｓ６が求められ、インターフェース２３を介して
シーケンサ３１に送出され、上記シーケンサ３１により
インバータユニｙ ） ３２ ’に介してロール回転位
置を制御（図中矢印Ｘ）および長手方向位置（図中矢印
Ｙ）の制御がなされるものとなっている。また上記ＣＰ
Ｕ ２４においては、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４
が検出され穴場合、探触子１４からの出力信号Ｓ１とロ
ータリエ／コーダ２９，３０からの状態信号Ｓ３．８４
とによってマーキングが求められＳ５信号によシマーキ
ング動作がなされるものとなっている。 次に本装置の動作について説明する。始めに探触子１４
をキャリプレーシラン位置Ａに移動させて検査部５及び
信号入力部２１の感度を調整した後、上記探触子１４を
被測定面の測定開始箇所（１列）にセ、トシ、超音波探
傷を行なう。そうすると、上記探触子１４が１行に位置
り、７’Ｃ時チルドロール２におけるチル層３の状態す
なわちチル層３の厚み測定および鋳造欠陥４の検出が行
なわれる。上記探触子１４の出力信号Ｓ１＃−１ｃＰＵ
２４に送らｎ１チル層の厚゛みおよび鋳造欠陥４の有無
がＣＲＴ ２５に画像表示さｎる。かくして（１行１列
）の検査が終了すると、チルドロール２が回転し、次の
探傷箇所（２行１列）に移行する。このとき第１のロー
タリエンコーダ２９によりて旋盤１の回転軸の回転量が
検出さｎ１設定されたピッチだけ上記チルドロール２が
回転するようにシーケンサ３１によって回転量が制御さ
れている。以下、順次同一ピッチでチルドロール２の回
転が制御さｆ’Ｌ、１円周にわたって超音波探傷が終了
すると、１円周分の累積画像が完成し、プリンター２６
に印字表示される。 又、兆気記録媒体２７に磁気記録される。次に検査部５
がチルドロール２の長手方向に移動し、２列目に移行す
る。このとき上記検査部５の移動量は第２のロータリエ
ンコーダ３０によって検出さｎ１キーボード２８によシ
設定さｎたピッチ（標準１００ｍ）だけ移動するように
シーケンサ３１によって制御されている。そして、１列
目と同様に１行からＮ行まで超音波探傷が行なわれ、以
下、（Ｍ行Ｎ列）まで行なわれる。かくして、チルドロ
ール２の円周方向および長手方向におけるチル層３の状
態が検査される。 なお、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４が検出さ几た場
合には、欠陥位置がマーキング部１７に達した時点で上
記マーキング部１２がインターフェース２３により制御
され、マーキングチ四−り１８にニジチルドロール２の
外壁にマーキングされる。し九がって、鋳造欠陥４の位
置が明確になる。 かくして本装置によれば、超音波探傷により自動的にチ
ルドロール２におけるチル層３の厚みおよび鋳造欠陥４
の有無を検査することができるので、精度の向上をはか
れると共に、省人化をはかれる。ま友、チル層３の厚み
をチルドロール２の円周方向および長手方向に測定する
ことができるので、チル層３の均一性を求めることがで
きる。さらに機械加工ライン上にて検査が行なわれるの
で、加工と検査が簡単に切換えられ、チル層３の状態に
応じて容易に修正加工全行なうことができる。 なお本発明は前記実施例に限定されるものではない。次
とえは前記実施例では検査部５からの検査結果ｔ−ＣＲ
Ｔ ２５およびプリンタ２６により画像表示および印字
表示する場合を示したが、これらはいずれか一方だけで
あってもよく、またこれ以外の宍示手段を用いてもよい
。又、チルドロール以外の多層材質にも適用できる。こ
の＃１か本発明の要旨を越えない範囲で種々変形実施可
能でおるのは勿論である。 〔発明の効果〕 以上詳述し友ように本発明は、チルドロールを固足し回
転させる旋盤に上記チルドロールの長手方向に駆動され
る移動体を制御すると共に、この移動体に上記チルドロ
ールにおけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有無を検査
する超音波探傷手段を設け、この超音波探傷手段によシ
得らｒｔ、ｅデータをデータ処理手段により処理し、処
理され几データｔ−表示手段によシ表示するようにし友
ものである。 し友がって本発明によれば、チルドロールの円周方向お
よび長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有
無が超音波を利用して自動的に検査されるので、チル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を高精度に検査することが
できると共に、チル層の均一性を求めることができ、か
つ省人化をはかり得るチル層自動検査装置を提供できる
。 ４、図面の簡単な説明 第１図〜第６図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は概略構成を示す側面図、第２図はチルドロールの断面
図、第３図および第４図は検査部の詳細な構成を示す側
面図および正面図、第５図は具体的な回路構成を示すブ
ロック図、第６図は検査箇所を示す図である。 ｌ・・・旋盤、２・・・チルドロール、３・・・チル層
、４・・・鋳造欠陥、５・・・検査部、１１・・・ゲス
ト、１２・・・アーム、１４・・・探触部、１７・・・
マーキング部、２４・・・ＣＰＵ、２５・・・ＣＲＴ、
２６・・・プリンタ、２７・・・出猟記録媒体、２８・
・・キーボード、３１・・・シーケンサ。
は概略構成を示す側面図、第２図はチルドロールの断面
図、第３図および第４図は検査部の詳細な構成を示す側
面図および正面図、第５図は具体的な回路構成を示すブ
ロック図、第６図は検査箇所を示す図である。 １・・・旋盤、２・・・チルドロール、３・・・チル層
、４・・・鋳造欠陥、５・・・検査部、１１・・・ポス
ト、１２・・・アーム、１４・・・探触部、１７・・・
マーキング部、２４・・・ＣＰＵ、２５・・・ＣＲＴ、
２６・・・プリンタ、２７・・・磁気記録媒体、２８・
・・キーボード、３１・・・シーケンサ。 出願人復代理人 弁理士 鈴江武彦 箪 ４ 図 第６図 手続補正書 ４ゎ岨１０升、１０Ｂ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 １、事件の表示 特願昭６０−１６８０１号 ２・ 発明の名称 チル層自動検丘１ｔｉｉ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （６２０）三菱重工業株式会社 ４、復代理人 ５、自発補正 ７、補正の内容 （１） 明細書全文を別紙の通９訂正する。 （２）図面第１図、第２図、第３図および第５図を別紙
の通り訂正する。 明 細 書 １、発明の名称 チル層自動検査装置 ２、特許請求の範囲 チルドロール金保持して回転させる旋盤に取付けられ上
記チルドロールの長平方向に駆動制御される移動体と、
この移動体に設けられ前記チルドロールにおけるチル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を検査する超音波探傷手段
と、この超音波探傷手段により得られるデータを処理す
るデータ処理手段と、このデータ処理手段により得らｆ
’Ｌ７ｔ−データを表示する表示手段とを具備したこと
を特徴とするチルノー自動検査装置。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は、チルドロールにおけるチル層の厚みおよび鋳
造欠陥の有無を自動的に検査するチル層自動検査装置の
改良に関する。 〔従来の技術〕 工業材料として用いられる鋳鉄ロールの一橋にチルドロ
ール（２層材）がある。このチルドロールは、ロール内
周部に生じるチル層の厚みや４巣等のような鋳造欠陥の
有無が品質を決める重要な要素となっている。すなわち
、上記チル層の部分は硬質ではあるが脆いものであり、
上記チル層が厚すぎるとチルドロールの折損につながる
。この九め、上記チル層の厚みには限殿がある上、上記
チルドロールの用途によってはチル層の厚みに均一性が
要求されることもある。また、前記鋳造欠陥も存在の有
無や、その位置を把握する必要がある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 そこで、上記チル層の厚みあるいは鋳造欠陥の有無を検
査する必要があるが、従来、上記チル層を検査する手段
としては、チルドロールの端面において組織の状態を見
ることにより検査する手段、およびチルドロールの硬度
測定を行なってチル層の分布を側ることにより検査する
手段があり九〇 しかるに前者の手段においては、チルドロール端面のチ
ル層の状態だけでチルドロール全体のチル層の状態を判
断しなければならず、精度的に問題があった。一方、後
者の手段ではチル層の厚みが全く判別できなかった。ま
た、上記手段のいずｆ”Ｌを用いても、チルドロールの
円周方向および長手方向におけるチル層の均一性を測る
ことができなかりｆｃａｔた自動化されてないため、多
くの人力を必要としてい友。 そこで本発明は、チル層の厚み、均一性および鋳造欠陥
の有無を高精度に検査することができ、かつ省人化をは
かり得るチル層自動検査装置を提供することを目的とす
る。 〔問題点を解決する几めの手段〕 本発明は上記問題点を解決し目的を達成するために次の
ような手段ｔ−講じたことを特徴としている。すなわち
、チルドロールを保持して回転させる旋盤に上記チルド
ロールの長手方向に駆動制御される移動体を取付けると
共に、この移動体に上記チルドロールにおけるチル層の
厚Ａ紐！ ｎ： ａ ：に々脇の右部シ鰺審す入釦ヰ姑
ａ也手段を設け、この超音波探傷手段により得らｎ次デ
ータをデータ処理手段により処理し、処理されたデータ
を表示手段により表示すると共に、以上の制御を自動的
に行なうようにし九ことを特徴としている。 〔作用〕 このような手段を博じ友ことによシ、チルドロールの円
周方向および長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造
欠陥の有無が超音波を利用して自動的に検査される。 〔実施例〕 第１図は本発明の一実施例の概略構成を示す側面図であ
る。図中１は旋盤で、ｓｂ、保持部１ａによジチルトロ
ール２を保持し回転させるものとなっている上記チルド
ロール２は、第２図に示す如くロール外周部分にチル層
３が形成されており、上記外周部分には４巣等の鋳造欠
陥４が生じる場合もある。 第１図において５は検査部であり、前記旋盤１の刃物台
ＺｂＫ固定され、う、りＩＣを介して前記チルドロール
２の長手方向に移動可能なものとなっている。そして、
超音波探傷による検査手段により上記チルドロール２の
円周方向および長手方向におけるチル層３の状態すなわ
ち厚みおよび鋳造欠陥４の有無を検査し、ＣＰＵ等を用
い友データ処理手段によりデータ処理し、処理結果はＣ
ＲＴによる画像表示およびプリンタによる印字表示等の
表示手段によシ表示するものとなっている。 第３図および第４図は前記検査部５の構成を詳細に示す
側面図および正面図である。第３図および第４図におい
て１１は移動体としてのポストであり、図示しないが下
端部において旋盤１の刃物台１ｂにバイトなどを取付け
る畳領で締付は固定されている。１２はアームであり、
ステッピングモータ（不図示）によシ上下方向および前
後方向へ移動可能なものとなっている。 上記アーム１２の先端には取付は部１３を介して超音波
探触子１４が取付けられておシ、一定の押圧力および角
度をもって被測定物であるチルドロール２の我面に位置
するものとなっている。上記探触子１４によるチル層３
の超音波探傷はギャップ水浸法によりなされ、探触媒質
には前記テスト１１の上瑞部に設けられた水タンク１５
からホース１６を通って探触面に供給される防錆材を含
んだ水が用いられるものとなっている。１７Ｆｉマ一キ
ング部であゃ、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４の存在
が検出されると、この鋳造欠陥４の存在する位置のチル
ドロール外壁にマーキングチ田−り１８でマーキングす
るものとなっている。なお、第３図、第４図においてＡ
はキャリプレーン１フ位置を示しており、超音波探傷開
始時にこの位置に探触子１４を位置させ、被測定物すな
わちチルドロール２と同一材質のテストピースによシ超
音波探傷の感度を調整するものとなっている。 第５図は同案流側の具体的な回路構成を示すプロ、り図
である。チルドロール２のチル層３の状態を超音波探傷
する探触子１４からの出力信号Ｓ１は、信号入力部２１
を介してマルチダートユニット２２にてψ変換され次後
、インターフェイス２３を介してＣＰＵ ２４に供給さ
れるものとなっている。そして上記出力信号Ｓ１は上記
ＣＰＵ ２４にてデータ処理さ九、ＣＲＴ ２５に画像
表示されると共に、プリンタ２６によシ印字弐示される
ものとなっている。また上記出力信号Ｓ１は磁気記録媒
体２７に磁気記録されるものとなっている。 図中２８は前記探触子１４のチルドロール円周方向およ
び長手方向への移動ピッチを設定するキーが−ドであり
、このキーボード２８から出力される設定信号Ｓ２は前
記ＣＰＵ ２４に送られるものとなっている。なお上記
移動ピ“ツチは、第６図に示す如く、チルドロール円周
方向においてはＭ箇所で超音波探傷が行なわれるように
設定され、長手方向においてはＮ箇所で超音波探傷が行
なわれるように設定さｎるものとなっている。すなわち
探触子１４による超音波探傷箇所はＭ、！：Ｎとの行列
で表わされ、総探傷箇所Ｆｉ（ＭＸＮ）箇所となる。 図中２９１ｄ旋盤１の回転軸の回転量に基いて前記探触
子１４のチルドロール円周方向への移動量を相対的に検
出する第１のロータリエンコーダでｈｖ、ｓｏは前記探
触子１４のチルドロール長手方向への移動量を検出する
第２のロータリエンコーダである。これら第１．第２の
ロータリエンコーダ２９．３０からの検出信号８３．８
４は前記インターフェース２３を介してＣＰＵ ２４に
与えられるものとなっている。 そして上記ＣＰＵ ２４においては、前記設定信号Ｓ２
および検出信号８３．８４に基いて探触子１４の位置制
御信号Ｓ６が求められ、インターフェース２３を介して
シーケンサ３１に送出され、上記シーケンサ３１により
インバータユニｙ ） ３２ ’に介してロール回転位
置を制御（図中矢印Ｘ）および長手方向位置（図中矢印
Ｙ）の制御がなされるものとなっている。また上記ＣＰ
Ｕ ２４においては、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４
が検出され穴場合、探触子１４からの出力信号Ｓ１とロ
ータリエ／コーダ２９，３０からの状態信号Ｓ３．８４
とによってマーキングが求められＳ５信号によシマーキ
ング動作がなされるものとなっている。 次に本装置の動作について説明する。始めに探触子１４
をキャリプレーシラン位置Ａに移動させて検査部５及び
信号入力部２１の感度を調整した後、上記探触子１４を
被測定面の測定開始箇所（１列）にセ、トシ、超音波探
傷を行なう。そうすると、上記探触子１４が１行に位置
り、７’Ｃ時チルドロール２におけるチル層３の状態す
なわちチル層３の厚み測定および鋳造欠陥４の検出が行
なわれる。上記探触子１４の出力信号Ｓ１＃−１ｃＰＵ
２４に送らｎ１チル層の厚゛みおよび鋳造欠陥４の有無
がＣＲＴ ２５に画像表示さｎる。かくして（１行１列
）の検査が終了すると、チルドロール２が回転し、次の
探傷箇所（２行１列）に移行する。このとき第１のロー
タリエンコーダ２９によりて旋盤１の回転軸の回転量が
検出さｎ１設定されたピッチだけ上記チルドロール２が
回転するようにシーケンサ３１によって回転量が制御さ
れている。以下、順次同一ピッチでチルドロール２の回
転が制御さｆ’Ｌ、１円周にわたって超音波探傷が終了
すると、１円周分の累積画像が完成し、プリンター２６
に印字表示される。 又、兆気記録媒体２７に磁気記録される。次に検査部５
がチルドロール２の長手方向に移動し、２列目に移行す
る。このとき上記検査部５の移動量は第２のロータリエ
ンコーダ３０によって検出さｎ１キーボード２８によシ
設定さｎたピッチ（標準１００ｍ）だけ移動するように
シーケンサ３１によって制御されている。そして、１列
目と同様に１行からＮ行まで超音波探傷が行なわれ、以
下、（Ｍ行Ｎ列）まで行なわれる。かくして、チルドロ
ール２の円周方向および長手方向におけるチル層３の状
態が検査される。 なお、前記探触子１４によシ鋳造欠陥４が検出さ几た場
合には、欠陥位置がマーキング部１７に達した時点で上
記マーキング部１２がインターフェース２３により制御
され、マーキングチ四−り１８にニジチルドロール２の
外壁にマーキングされる。し九がって、鋳造欠陥４の位
置が明確になる。 かくして本装置によれば、超音波探傷により自動的にチ
ルドロール２におけるチル層３の厚みおよび鋳造欠陥４
の有無を検査することができるので、精度の向上をはか
れると共に、省人化をはかれる。ま友、チル層３の厚み
をチルドロール２の円周方向および長手方向に測定する
ことができるので、チル層３の均一性を求めることがで
きる。さらに機械加工ライン上にて検査が行なわれるの
で、加工と検査が簡単に切換えられ、チル層３の状態に
応じて容易に修正加工全行なうことができる。 なお本発明は前記実施例に限定されるものではない。次
とえは前記実施例では検査部５からの検査結果ｔ−ＣＲ
Ｔ ２５およびプリンタ２６により画像表示および印字
表示する場合を示したが、これらはいずれか一方だけで
あってもよく、またこれ以外の宍示手段を用いてもよい
。又、チルドロール以外の多層材質にも適用できる。こ
の＃１か本発明の要旨を越えない範囲で種々変形実施可
能でおるのは勿論である。 〔発明の効果〕 以上詳述し友ように本発明は、チルドロールを固足し回
転させる旋盤に上記チルドロールの長手方向に駆動され
る移動体を制御すると共に、この移動体に上記チルドロ
ールにおけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有無を検査
する超音波探傷手段を設け、この超音波探傷手段によシ
得らｒｔ、ｅデータをデータ処理手段により処理し、処
理され几データｔ−表示手段によシ表示するようにし友
ものである。 し友がって本発明によれば、チルドロールの円周方向お
よび長手方向におけるチル層の厚みおよび鋳造欠陥の有
無が超音波を利用して自動的に検査されるので、チル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を高精度に検査することが
できると共に、チル層の均一性を求めることができ、か
つ省人化をはかり得るチル層自動検査装置を提供できる
。 ４、図面の簡単な説明 第１図〜第６図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は概略構成を示す側面図、第２図はチルドロールの断面
図、第３図および第４図は検査部の詳細な構成を示す側
面図および正面図、第５図は具体的な回路構成を示すブ
ロック図、第６図は検査箇所を示す図である。 ｌ・・・旋盤、２・・・チルドロール、３・・・チル層
、４・・・鋳造欠陥、５・・・検査部、１１・・・ゲス
ト、１２・・・アーム、１４・・・探触部、１７・・・
マーキング部、２４・・・ＣＰＵ、２５・・・ＣＲＴ、
２６・・・プリンタ、２７・・・出猟記録媒体、２８・
・・キーボード、３１・・・シーケンサ。
Claims (1)
- チルドロールを保持して回転させる旋盤に取付けられ上
記チルドロールの長手方向に駆動制御される移動体と、
この移動体に設けられ前記チルドロールにおけるチル層
の厚みおよび鋳造欠陥の有無を検査する超音波探傷手段
と、この超音波探傷手段により得られるデータを処理す
るデータ処理手段と、このデータ処理手段により得られ
たデータを表示する表示手段とを具備したことを特徴と
するチル層自動検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60016801A JPS61175563A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | チル層自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60016801A JPS61175563A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | チル層自動検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61175563A true JPS61175563A (ja) | 1986-08-07 |
Family
ID=11926255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60016801A Pending JPS61175563A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | チル層自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61175563A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01137409U (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | ||
| JPH0353105A (ja) * | 1989-07-20 | 1991-03-07 | Hihakai Kensa Kk | タンク底板の肉厚自動測定装置 |
| WO1994014031A1 (en) * | 1992-12-04 | 1994-06-23 | United Technologies Corporation | Processing ultrasonic measurements of a rotating hollow workpiece |
| JP2017191013A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-10-19 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 肉厚測定装置、肉厚評価装置、肉厚測定方法及び肉厚評価方法 |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP60016801A patent/JPS61175563A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01137409U (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | ||
| JPH0353105A (ja) * | 1989-07-20 | 1991-03-07 | Hihakai Kensa Kk | タンク底板の肉厚自動測定装置 |
| WO1994014031A1 (en) * | 1992-12-04 | 1994-06-23 | United Technologies Corporation | Processing ultrasonic measurements of a rotating hollow workpiece |
| JP2017191013A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-10-19 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 肉厚測定装置、肉厚評価装置、肉厚測定方法及び肉厚評価方法 |
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