JPH1151906A - 腐食診断装置 - Google Patents
腐食診断装置Info
- Publication number
- JPH1151906A JPH1151906A JP9209277A JP20927797A JPH1151906A JP H1151906 A JPH1151906 A JP H1151906A JP 9209277 A JP9209277 A JP 9209277A JP 20927797 A JP20927797 A JP 20927797A JP H1151906 A JPH1151906 A JP H1151906A
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- Japan
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- corrosion
- flexible
- flaw detection
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 狭いすき間の腐食を診断することができる腐
食診断装置を提供する。 【解決手段】 先端に励磁コイルと検出コイルからなる
センサ素子をマトリクス状に配列した可撓性基板10
を、被測定対象との接触部32を設けた基盤20に取り
付け、各センサ素子を走査するようにした腐食診断装置
100。
食診断装置を提供する。 【解決手段】 先端に励磁コイルと検出コイルからなる
センサ素子をマトリクス状に配列した可撓性基板10
を、被測定対象との接触部32を設けた基盤20に取り
付け、各センサ素子を走査するようにした腐食診断装置
100。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラント等におけ
る屋内外に設置された配管等の支持部の腐食の状況を診
断する腐食診断装置に関する。
る屋内外に設置された配管等の支持部の腐食の状況を診
断する腐食診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プラントには各種の配管が配設されてい
る。これらの配管は架台に載置されて露天または屋内に
配置されている。このような配管の径が大きくなればな
るほど架台に載置された配管と架台とが接触する角度は
鋭角となり、毛管現象を生じやすくなる。このような個
所に侵入した雨水や塵埃は毛管現象によって保持され、
管や架台の表面に腐食や亀裂を生じるおそれがある。こ
のように配管とこれを支える架台とのすき間等非常に狭
い部分の腐食を検査することが必要となる。
る。これらの配管は架台に載置されて露天または屋内に
配置されている。このような配管の径が大きくなればな
るほど架台に載置された配管と架台とが接触する角度は
鋭角となり、毛管現象を生じやすくなる。このような個
所に侵入した雨水や塵埃は毛管現象によって保持され、
管や架台の表面に腐食や亀裂を生じるおそれがある。こ
のように配管とこれを支える架台とのすき間等非常に狭
い部分の腐食を検査することが必要となる。
【0003】一方、金属等の表面の腐食を非破壊検査す
る手段として超音波探傷試験や渦流探傷試験がある。こ
れらの非破壊検査法は検査用のプローブとして厚みのあ
るものを使用していることから、すき間に挿入すること
ができず使用することができない。したがって、従来の
このような配管と架台とのすき間の腐食を検査する場合
には、工場配管を架台から持ち上げるなどして検査しな
ければならなかった。このように配管を持ち上げる場合
には、プラントを一時停止したり、足場を設置したりす
るなど操業とコストの両面で問題があり、高い頻度で検
査することは困難であり、場合によっては、放置してお
くしかなかった。
る手段として超音波探傷試験や渦流探傷試験がある。こ
れらの非破壊検査法は検査用のプローブとして厚みのあ
るものを使用していることから、すき間に挿入すること
ができず使用することができない。したがって、従来の
このような配管と架台とのすき間の腐食を検査する場合
には、工場配管を架台から持ち上げるなどして検査しな
ければならなかった。このように配管を持ち上げる場合
には、プラントを一時停止したり、足場を設置したりす
るなど操業とコストの両面で問題があり、高い頻度で検
査することは困難であり、場合によっては、放置してお
くしかなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題に
鑑み、狭いすき間での腐食を診断することができる腐食
診断装置を提供することを目的とする。
鑑み、狭いすき間での腐食を診断することができる腐食
診断装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、腐食診断装置において、可撓性基板の先
端に探傷用コイルを設けた可撓性センサを基盤に取り付
けて構成した。また、本発明は、可撓性基板を可撓性を
有するプリント基板によって形成し、探傷用コイルをプ
リント基板製造技術によって形成するか、可撓性基板上
に探傷用コイルをマイクロマシン製造技術によって設け
た。
に、本発明は、腐食診断装置において、可撓性基板の先
端に探傷用コイルを設けた可撓性センサを基盤に取り付
けて構成した。また、本発明は、可撓性基板を可撓性を
有するプリント基板によって形成し、探傷用コイルをプ
リント基板製造技術によって形成するか、可撓性基板上
に探傷用コイルをマイクロマシン製造技術によって設け
た。
【0006】さらに本発明は、腐食診断装置において、
プリント基板の表面に走査線と一端が該走査線に接続さ
れた探傷用コイルを設け、プリント基板の裏面に走査線
を設け、前記探傷用コイルの他端をプリント基板を貫通
して裏面の走査線に接続して可撓性センサとし、該可撓
性センサの先端部に探傷用コイルからなるセンサ素子を
配列して構成した。さらに、本発明は、このセンサ素子
をマトリクス状に配列し、各センサ素子を走査するよう
にした。
プリント基板の表面に走査線と一端が該走査線に接続さ
れた探傷用コイルを設け、プリント基板の裏面に走査線
を設け、前記探傷用コイルの他端をプリント基板を貫通
して裏面の走査線に接続して可撓性センサとし、該可撓
性センサの先端部に探傷用コイルからなるセンサ素子を
配列して構成した。さらに、本発明は、このセンサ素子
をマトリクス状に配列し、各センサ素子を走査するよう
にした。
【0007】本発明は、腐食診断装置において、基盤に
測定対象との接触部を設けるとともに、接触部を移動可
能とした。
測定対象との接触部を設けるとともに、接触部を移動可
能とした。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図4を用いて本発明
にかかる腐食診断装置の第一の実施の形態を説明する。
図1は第一の実施の形態の腐食診断装置の概要を示す側
面図であり、図2はその平面図を示す。図3はセンサ部
の拡大平面図であり、図4は図3のA−A線での断面図
である。
にかかる腐食診断装置の第一の実施の形態を説明する。
図1は第一の実施の形態の腐食診断装置の概要を示す側
面図であり、図2はその平面図を示す。図3はセンサ部
の拡大平面図であり、図4は図3のA−A線での断面図
である。
【0009】この実施の形態にかかる腐食診断装置10
0は、先端にセンサ部を設けた可撓性センサ10と、可
撓性センサ10が載置固定される基盤20と、基盤20
に取り付けた高さ規制用L字板30と、電気コネクタ4
0と、制御演算装置50とから構成される。
0は、先端にセンサ部を設けた可撓性センサ10と、可
撓性センサ10が載置固定される基盤20と、基盤20
に取り付けた高さ規制用L字板30と、電気コネクタ4
0と、制御演算装置50とから構成される。
【0010】可撓性センサ10は、先端に複数の探傷用
コイル16からなるセンサ部を有し、他端部にコネクタ
40に接続される走査電極と可撓性センサ10を基盤2
0へ取り付ける図示を省略した取付部とを有している。
コイル16からなるセンサ部を有し、他端部にコネクタ
40に接続される走査電極と可撓性センサ10を基盤2
0へ取り付ける図示を省略した取付部とを有している。
【0011】金属材料等からなり長方形の変形しない基
盤20は、裏面が平面に形成され、表面に、図示を省略
した可撓性センサの取付け固定部が設けられるととも
に、高さ規制用L字板30とコネクタ40が固定されて
いる。
盤20は、裏面が平面に形成され、表面に、図示を省略
した可撓性センサの取付け固定部が設けられるととも
に、高さ規制用L字板30とコネクタ40が固定されて
いる。
【0012】高さ規制用L字板30は、立上部31と、
測定対象となる管との接触部32と、基盤20への取付
部である基部33とから構成されている。
測定対象となる管との接触部32と、基盤20への取付
部である基部33とから構成されている。
【0013】コネクタ40は、複数の探傷用コイル16
を走査して検出信号を取り出す働きを有しており、走査
電極に対応する電極を有している。
を走査して検出信号を取り出す働きを有しており、走査
電極に対応する電極を有している。
【0014】制御演算装置50は、探傷用コイル16を
走査して得た検出電流を演算処理して映像信号を得て、
図示を省略したモニタに出力する。
走査して得た検出電流を演算処理して映像信号を得て、
図示を省略したモニタに出力する。
【0015】高さ規制用L字板30は、基盤20に溶接
などによって固着されていても良い。また、高さ規制用
L字板30を基盤20に図示を省略したガイド溝を設け
移動可能に取り付けることによって。異なる径の管の腐
食状況の測定に対応することができる。
などによって固着されていても良い。また、高さ規制用
L字板30を基盤20に図示を省略したガイド溝を設け
移動可能に取り付けることによって。異なる径の管の腐
食状況の測定に対応することができる。
【0016】可撓性センサ10の先端に設けたセンサ部
の構成の例を図3および図4を用いて説明する。センサ
部には、複数のセンサ素子が一列に設けられるか、もし
くは複数列設けられてマトリクス状に配列されセンサア
レイを構成している。図3は、これら複数のセンサ素子
の一部を示し、図4は、図3に示したセンサ素子のうち
の1個のセンサ素子のA−A線での断面の一部を示して
いる。
の構成の例を図3および図4を用いて説明する。センサ
部には、複数のセンサ素子が一列に設けられるか、もし
くは複数列設けられてマトリクス状に配列されセンサア
レイを構成している。図3は、これら複数のセンサ素子
の一部を示し、図4は、図3に示したセンサ素子のうち
の1個のセンサ素子のA−A線での断面の一部を示して
いる。
【0017】例えばポリイミド樹脂フィルムからなる可
撓性プリント基板11の表面には、複数の探傷用コイル
16と互いに平行な複数の走査線12が形成されてお
り、裏面には、一点鎖線で示した互いに平行な走査線1
3が設けられている。各探傷用コイル16の一端は、走
査線12に接続され、他端はバイアホール18を介して
裏面に設けた走査線13に接続されている。走査線12
と走査線13とは互いに直交して設けられている。
撓性プリント基板11の表面には、複数の探傷用コイル
16と互いに平行な複数の走査線12が形成されてお
り、裏面には、一点鎖線で示した互いに平行な走査線1
3が設けられている。各探傷用コイル16の一端は、走
査線12に接続され、他端はバイアホール18を介して
裏面に設けた走査線13に接続されている。走査線12
と走査線13とは互いに直交して設けられている。
【0018】これらのコイルおよび走査線ならびにバイ
アホールは、例えばスクリーン印刷やめっきなどの既存
のプリント基板製造技術によって形成することができ
る。このようなプリント基板製造技術によれば、小型の
スパイラル状のコイルを可撓性基板11の表面に、極め
て高い密度で設けることができるので、センサ部の解像
度を上げることができるとともに、極めて薄いセンサ部
を得ることができるので、狭い部分にもセンサ部を挿入
することが可能となり、配管と架台との間の狭いすき間
の腐食を探傷することが可能となる。
アホールは、例えばスクリーン印刷やめっきなどの既存
のプリント基板製造技術によって形成することができ
る。このようなプリント基板製造技術によれば、小型の
スパイラル状のコイルを可撓性基板11の表面に、極め
て高い密度で設けることができるので、センサ部の解像
度を上げることができるとともに、極めて薄いセンサ部
を得ることができるので、狭い部分にもセンサ部を挿入
することが可能となり、配管と架台との間の狭いすき間
の腐食を探傷することが可能となる。
【0019】上記の実施の態様では、センサ素子をマト
リックス状に設け、各センサを走査して腐食の状況を検
出する例を説明したが、複数のセンサ素子を一列に設
け、各センサ素子の出力の平均を採ることによって、平
均的な腐食状況を知ることができる。
リックス状に設け、各センサを走査して腐食の状況を検
出する例を説明したが、複数のセンサ素子を一列に設
け、各センサ素子の出力の平均を採ることによって、平
均的な腐食状況を知ることができる。
【0020】本発明にかかる腐食診断装置に適用する渦
流探傷方式として、標準となるべき試料を用いた出力と
試験コイルからの出力を比較する標準比較方式と、アレ
イ上に隣接して配置されたコイルどうしの出力を比較す
る自己比較方式のいずれの渦流探傷方式をも用いること
ができる。また本発明にかかる腐食診断装置の渦流探傷
コイルは、励磁コイルと検出コイルを兼ねた自己誘導型
コイルとしてとしてでも、他に励磁コイルを持つ相互誘
導型コイルの検出コイルとしても用いることができる。
この場合には、重ねるコイルアレイは、励磁用、検出用
のそれぞれの役割に合うようにコイル形状を変えた者と
を用いることができる。
流探傷方式として、標準となるべき試料を用いた出力と
試験コイルからの出力を比較する標準比較方式と、アレ
イ上に隣接して配置されたコイルどうしの出力を比較す
る自己比較方式のいずれの渦流探傷方式をも用いること
ができる。また本発明にかかる腐食診断装置の渦流探傷
コイルは、励磁コイルと検出コイルを兼ねた自己誘導型
コイルとしてとしてでも、他に励磁コイルを持つ相互誘
導型コイルの検出コイルとしても用いることができる。
この場合には、重ねるコイルアレイは、励磁用、検出用
のそれぞれの役割に合うようにコイル形状を変えた者と
を用いることができる。
【0021】図5を用いて、本発明にかかる探傷装置の
使用態様を説明する。探傷装置100を架台70上に載
置し、探傷装置100を矢印の方向へ押し込む。このと
き、可撓性センサ10の先端は管60の壁面に当たり壁
面に沿ってすき間の奥へ押し込まれる。L字板30の立
上部に設けた接触部32が管60の外壁につきあたる
と、探傷装置100は、これ以上すき間に押し込まれな
くなる。接触部32の高さと、接触部32から下げた垂
線が基盤20の裏面と交差する点と可撓性センサの先端
からの距離を所定の値に設定することによって、所定の
径の管60の架台70とのすき間を探傷することができ
る。またセンサ素子は可撓性基板11の反りによって管
60の表面に密着するので精度の高い探傷結果を得るこ
とができる。
使用態様を説明する。探傷装置100を架台70上に載
置し、探傷装置100を矢印の方向へ押し込む。このと
き、可撓性センサ10の先端は管60の壁面に当たり壁
面に沿ってすき間の奥へ押し込まれる。L字板30の立
上部に設けた接触部32が管60の外壁につきあたる
と、探傷装置100は、これ以上すき間に押し込まれな
くなる。接触部32の高さと、接触部32から下げた垂
線が基盤20の裏面と交差する点と可撓性センサの先端
からの距離を所定の値に設定することによって、所定の
径の管60の架台70とのすき間を探傷することができ
る。またセンサ素子は可撓性基板11の反りによって管
60の表面に密着するので精度の高い探傷結果を得るこ
とができる。
【0022】上記実施の形態では、可撓性センサ10を
プリント配線基板の製造技術によって得た例を説明した
が、薄い可撓性基板の表面に小型のコイルを設けて可撓
性センサ10を得る方法としては、フォトリソエッチン
グ等のマイクロマシーン製造技術を用いて極薄のコイル
を製造する方法を採用することもできる。
プリント配線基板の製造技術によって得た例を説明した
が、薄い可撓性基板の表面に小型のコイルを設けて可撓
性センサ10を得る方法としては、フォトリソエッチン
グ等のマイクロマシーン製造技術を用いて極薄のコイル
を製造する方法を採用することもできる。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、フィルム状の基板に複
数の探傷用コイルを設けた可撓性センサを基盤に取り付
けて探傷装置を構成したので、センサ素子の厚みを極め
て薄くすることができるので、狭い間隙にセンサを挿入
して探傷することができ、架台上に設置された管の腐食
を、配管を持ち上げることなく極めて簡単に探傷するこ
とができる。
数の探傷用コイルを設けた可撓性センサを基盤に取り付
けて探傷装置を構成したので、センサ素子の厚みを極め
て薄くすることができるので、狭い間隙にセンサを挿入
して探傷することができ、架台上に設置された管の腐食
を、配管を持ち上げることなく極めて簡単に探傷するこ
とができる。
【0024】また、本発明によれば、可撓性プリント基
板11として例えば厚さが0.2mm程度のフィルムを
使用することができるので、かなり狭いすき間の検査が
可能となる。
板11として例えば厚さが0.2mm程度のフィルムを
使用することができるので、かなり狭いすき間の検査が
可能となる。
【0025】また、本発明によれば、L字板を用いるこ
とによって、センサ部の挿入深さを正確に位置決めする
ことが可能であり、また、L字板を移動させたり、交換
することによって、センサ部の挿入深さを任意に変更す
ることができる。
とによって、センサ部の挿入深さを正確に位置決めする
ことが可能であり、また、L字板を移動させたり、交換
することによって、センサ部の挿入深さを任意に変更す
ることができる。
【0026】本発明では、可撓性基板11の弾性を利用
して、すき間部においてもセンサ部を管壁に密着させる
ことができ、精度の高い探傷をすることができる。
して、すき間部においてもセンサ部を管壁に密着させる
ことができ、精度の高い探傷をすることができる。
【0027】また、センサを複数個並べたので、センサ
の出力の平均を採ることによって、平均的な腐食状況を
知ることができる。
の出力の平均を採ることによって、平均的な腐食状況を
知ることができる。
【0028】また各センサを小型化し、複数個のセンサ
を走査することによって、腐食の状況を具体的に知るこ
とができる。
を走査することによって、腐食の状況を具体的に知るこ
とができる。
【図1】本発明にかかる腐食診断装置の形状を説明する
正面図。
正面図。
【図2】図1に示した腐食診断装置の形状を説明する平
面図。
面図。
【図3】図1に示した腐食診断装置の探傷用コイルアレ
イの構造を説明する拡大平面図。
イの構造を説明する拡大平面図。
【図4】図3のA−A線における拡大断面図。
【図5】本発明にかかる腐食診断装置の使用状況を説明
する図。
する図。
10 可撓性センサ 11 可撓性基板 12,13 走査線 16 検出コイル 18 バイアホール(スルーホール) 19 保護層 20 基盤 30 L字板 31 立上部 32 接触部 33 基部 40 コネクタ 50 制御演算装置 60 管 70 架台 100 腐食診断装置
Claims (8)
- 【請求項1】 可撓性基板の先端に探傷用コイルを設け
た可撓性センサを基盤に取り付けたことを特徴とする腐
食診断装置。 - 【請求項2】 可撓性基板が可撓性を有するプリント基
板であり、探傷用コイルがプリント基板製造技術によっ
て形成された請求項1記載の腐食診断装置。 - 【請求項3】 可撓性基板上に探傷用コイルがマイクロ
マシン製造技術によって設けられた請求項1記載の腐食
診断装置。 - 【請求項4】 プリント基板の表面に走査線と一端が該
走査線に接続された探傷用コイルを設け、プリント基板
の裏面に走査線を設け、前記探傷用コイルの他端をプリ
ント基板を貫通して裏面の走査線に接続して可撓性セン
サとした請求項1ないし請求項3のいずれか記載の腐食
診断装置。 - 【請求項5】 可撓性センサは先端部に探傷用コイルか
らなる複数のセンサ素子を配列して構成される請求項1
ないし請求項4のいずれか記載の腐食診断装置。 - 【請求項6】 センサ素子がマトリクス状に配列され各
センサ素子を走査するようにした請求項5記載の腐食診
断装置。 - 【請求項7】 基盤に測定対象との接触部を設けた請求
項1ないし請求項6のいずれか記載の腐食診断装置。 - 【請求項8】 接触部を移動可能とした請求項7記載の
腐食診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9209277A JPH1151906A (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 腐食診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9209277A JPH1151906A (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 腐食診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1151906A true JPH1151906A (ja) | 1999-02-26 |
Family
ID=16570289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9209277A Pending JPH1151906A (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 腐食診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1151906A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000008458A1 (fr) * | 1998-08-06 | 2000-02-17 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Detecteur de defauts par courants de foucault |
JP2005164593A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | General Electric Co <Ge> | パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 |
JP2011514534A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-06 | ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス | 乗り物構造体の監視装置 |
WO2011077827A1 (ja) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | 三菱重工業株式会社 | 探傷装置及び探傷方法 |
JP2014077764A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-01 | Tokyo Rigaku Kensa Kk | 渦流探傷装置 |
JP2016524164A (ja) * | 2013-07-10 | 2016-08-12 | スネクマ | 導電性部品の表面を検査する装置 |
-
1997
- 1997-08-04 JP JP9209277A patent/JPH1151906A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6501267B1 (en) | 1998-08-06 | 2002-12-31 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Eddy-current flaw detector probe |
JP2005164593A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | General Electric Co <Ge> | パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 |
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JP2016524164A (ja) * | 2013-07-10 | 2016-08-12 | スネクマ | 導電性部品の表面を検査する装置 |
US10101300B2 (en) | 2013-07-10 | 2018-10-16 | Safran Aircraft Engines | Device for inspecting a surface of an electrically conductive part |
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