JP2008175638A - 構造材の欠陥検出装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】構造材1の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出装置10であって、構造材の離れた2接点間に交流電流を印加する電源コントローラ11及び電流印加端子12と、この交流電流により構造材の表面に誘導された誘導磁界の強度分布を、この構造材に非接触で検出する磁界プローブアレイ14とを有し、この磁界プローブアレイは、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブ13が複数配列されて成り、この磁界プローブアレイにより検出された誘導磁界の強度分布を演算表示装置16が解析し評価することで、構造材に存在する欠陥を検出するものである。
【選択図】 図1
Description
李、庄子、日本機械学会論文集(A編),63(605),(1997),68−72 佐藤、庄子、佐藤、佐藤,日本機械学会論文集(A編),65(632),(1999),925−931
図1は、本発明に係る構造材の欠陥検出装置における第1の実施の形態の構成を概略して示す斜視図である。図2は、図1の磁気プローブアレイにより検出される磁界の強さを示し、(A)が構造材に欠陥が存在する場合、(B)が構造材に欠陥が存在しない場合をそれぞれ示すグラフである。
図4は、本発明に係る構造材の欠陥検出装置における第2の実施の形態の構成を概略して示す斜視図である。この第2の実施の形態において、前記第1の実施の形態と同様な部分は、同一の符号を付して説明を簡略化し、または省略する。
図5は、本発明に係る構造材の欠陥検出装置における第3の実施の形態の構成を概略して示す斜視図である。この第3の実施の形態において、前記第1の実施の形態と同様な部分は、同一の符号を付して説明を簡略化し、または省略する。
2 欠陥
10 構造材の欠陥検出装置
11 電源コントローラ(電流印加手段)
12 電流印加端子(電流印加手段)
13 磁界プローブ
14 磁界プローブアレイ
20 構造材の欠陥検出装置
21 導体
30 構造材の欠陥検出装置
31 コイル状導体
Claims (8)
- 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出装置であって、
前記構造材の離れた2接点間に交流電流を印加する電流印加手段と、
この交流電流により前記構造材の表面に誘導された誘導磁界の強度分布を、当該構造材に非接触で検出する磁界プローブアレイとを有し、
この磁界プローブアレイは、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成り、この磁界プローブアレイにより検出された誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出するよう構成されたことを特徴とする構造材の欠陥検出装置。 - 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出装置であって、
前記構造材の表面に接近可能な導体に交流電流を印加する電流印加手段と、
交流電流が印加された上記導体の接近により前記構造材の表面に誘導された誘導磁界の強度分布を、当該構造材に非接触で検出する磁界プローブアレイとを有し、
この磁界プローブアレイは、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成り、この磁界プローブアレイにより検出された誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出するよう構成されたことを特徴とする構造材の欠陥検出装置。 - 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出装置であって、
前記構造材の表面に接近可能なコイル状導体に交流電流を印加する電流印加手段と、
交流電流が印加された上記コイル状導体の接近により前記構造材の表面に誘導された誘導磁界の強度分布を、当該構造材に非接触で検出する磁界プローブアレイとを有し、
この磁界プローブアレイは、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成り、この磁界プローブアレイにより検出された誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出するよう構成されたことを特徴とする構造材の欠陥検出装置。 - 前記磁界プローブアレイは、複数の磁界プローブが一次元または二次元に配列されて成り、構造材の表面に沿って走査されることで、当該構造材の表面の二次元的な磁界の強度分布を検出するよう構成されたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の構造材の欠陥検出装置。
- 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出方法であって、
前記構造材の離れた2接点間に交流電流を印加することで、当該構造材の表面に磁界を誘導し、
この誘導磁界の強度分布を、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成る磁界プローブアレイを用いて、前記構造材に非接触で検出し、
この誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出することを特徴とする構造材の欠陥検出方法。 - 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出方法であって、
交流電流が印加された導体を前記構造材に接近することで、当該構造材の表面に磁界を誘導し、
この誘導磁界の強度分布を、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成る磁界プローブアレイを用いて、前記構造材に非接触で検出し、
この誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出することを特徴とする構造材の欠陥検出方法。 - 構造材の内部あるいは表面に存在する欠陥を検出する構造材の欠陥検出方法であって、
交流電流が印加されたコイル状導体を前記構造材に接近することで、当該構造材の表面に磁界を誘導し、
この誘導磁界の強度分布を、磁界を検出する素子を備えた磁界プローブが複数配列されて成る磁界プローブアレイを用いて、前記構造材に非接触で検出し、
この誘導磁界の強度分布を評価することで、前記構造材に存在する欠陥を検出することを特徴とする構造材の欠陥検出方法。 - 前記磁界プローブを一次元または二次元に複数配列された磁界プローブアレイを、構造材の表面に沿って走査することで、当該構造材の表面の二次元的な磁界の強度分布を検出することを特徴とする請求項5乃至7のいずれかに記載の構造材の欠陥検出方法。
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