JPS61174662A - 半導体集積装置及びその製法 - Google Patents

半導体集積装置及びその製法

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JPS61174662A
JPS61174662A JP1611585A JP1611585A JPS61174662A JP S61174662 A JPS61174662 A JP S61174662A JP 1611585 A JP1611585 A JP 1611585A JP 1611585 A JP1611585 A JP 1611585A JP S61174662 A JPS61174662 A JP S61174662A
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JP
Japan
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circuit
forming
conductivity type
layers
external
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JP1611585A
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English (en)
Inventor
Masaaki Ikeda
正明 池田
Suketoshi Tsushima
津島 左年
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/06Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
    • H01L27/0688Integrated circuits having a three-dimensional layout
    • H01L27/0694Integrated circuits having a three-dimensional layout comprising components formed on opposite sides of a semiconductor substrate

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は、半導体基板の表裏面に回路素子を形成してな
る半導体集積装置及びその製法に関するものである。
[発明の技術的背景とその問題点] 従来の半導体集積装置は、半導体基板(サブストレート
)の片面を利用し、そこに回路素子形成領域を形成し、
回路構成に必要な回路素子を形成していた。このため、
以下に掲げるような種々の問題点を有していた。
■ 例えば混成集積用IC(ハイブリッドIC)を構成
する場合、それぞれのICを別々に接続しなければなら
ず、また、各素子間の接続を外部配線とすることよりI
C自体の占有面積が大きくなリ、全体としての集積度の
向上を図ることができない。
■ 従来のオーディオ用ICの如く、各チャンネル間の
ベア性を必要とするものにあっては、同−基板上に複数
の回路を構成するためチャンネル間のリークが生じ、チ
ャンネルセパレーション等の特性が悪化する。
■ 同一基板上に複雑な回路を多く形成したものにあっ
てはベレットサイズが大きくなり、応力の影響を受は特
性に悪影響を与えていた。
[発明の目的] 本発明は前記事情に鑑みてなされたものであり、前記問
題点を全て解決することのできる半導体集積装置及びそ
の製法を提供することを目的とするものである。
[発明の概要] 前記目的を達成するために本発明は、半導体基板の表裏
面に回路形成領域を形成し、各回路形成領域内に回路素
子を形成し、各回路素子間を表裏面別々に接続するよう
にしている。
[発明の実施例] 以下第1図を参照して本発明装置の製法と、構造を説明
する。
先ずP型半導体基板1を用意し、その表裏面に酸化膜を
形成し、その酸化膜を選択的に窓開けし、この窓開は部
分にN型不純物2.3を堆積させる(第1図(A))。
次に、熱拡散により前記N型不純物を基板内に拡散させ
てN型埋込層2A、28.3A、3Bを形成し、しかる
後、表裏面それぞれに気相成長等によりN型半導体層4
.5を形成し、各N型半導体層の表面にP型不純物6.
7を選択的に堆積させる(前提として、先ず酸化膜を形
成し、この酸化膜を選択的に窓開けし、窓開は部分に不
純物を堆積させる。(第1図(B))。
そして、熱拡散により前記不純物を各半導体層内に拡散
することにより分離層6A〜6C,7A〜7Cを得る。
隣接する分離層で囲まれた領域が回路素子形成領域4A
、48.5A、5Bである。
(第1図(C))。
次に一例として表裏の回路素子形成領域4A。
5A内にラテラルPNPトランジスタ8A、9A形成用
の拡散層及びコンタクト層を形成し、他の領域4B、5
B内それぞれにNPNトランジスタ8B、98形成用の
拡散層及びコンタクト層を形成し、各表面の酸化膜10
.11の各電極部に窓開けを行ない、表面の回路素子間
は金属配線層12.14によって接続し、外部回路との
接続は金属細線15を用いてワイヤホンデングによる接
続を行なう一方、裏面の回路素子間は金属配線によって
接続し外部回路との接続は裏面に、表面保護膜(パッシ
ベーションコート)17を付け、電極取り出し部を開口
し、裏面配線の、電極取出し部(パッド)13と、セラ
ミック等の配線された基板16の電極取出し部(パッド
)18を合わせ、半田等の接合材料により接合すること
により行なう(いわゆるフリップ・チップ方式)。
以上の実施例では表裏に形成される回路及び回路素子は
同一の構成(機能)を有するものを示しており、従って
、気相成長層4.5の厚みは同一としてあり、各拡散層
の深さ及び面積も同一としている。かかる場合、気相成
長層4.5及び配線層の形成はそれぞれ別々に形成する
必要があるが、拡散層や分離層の形成は表裏同時に同一
条件で行うことができる。
本発明は前記実施例に限定されず種々の変形が可能であ
る。
例えば表裏の各回路形成層には別々の使用目的や機能を
有する回路(又は回路素子)を構成してもよい。即ち、
一方の回路形成領域を厚くし、他回路形成領域を薄くし
、この厚さに応じて拡散深さを変えることにより、厚い
方に高耐圧(あるいは低周波)用の回路を構成し、薄い
方に低耐圧(あるいは高周波)用の回路を構成すること
ができる。
このようにして、ICの占有面積を増大させずに多機能
を持った装置を提供することができる。
第2図乃至第4図は上記の点に関する効果説明のための
概略平面図である。
第2図は2個のIC(IC1,ICI[)を1つのブロ
ックBL内で接続する場合であり、外部接続用ビン(パ
ッド)Pr以外に各ICチップよりリード線で接続する
ためのバッドP2が必要となり好ましくない。
第3図は1枚の基板上に2つのIC(ICIとICI)
を並設したものであり、IC同志は内部接続可能である
が、ICの占有面積が大きくなるので好ましくない。
第4図は本発明の如く1枚の基板の表面と裏面にそれぞ
れICを構成した場合であるが、IC同志の接続は外部
配線としている。このように1枚のICチップの占有面
積で2種類の機能を持たせることが可能になる。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば以下のような種々の
効果を得ることができる。
■ 異なる機能を持つICを、1チップ分のICの面積
で構成できるためICの占める割合が小さく、混成集積
用ICとした場合の集積度の向上が図れる。
■ オーディオ用ICの如く各チャンネル間のベア性を
必要とするものにあっては表裏に別々のチャンネルを構
成することによりチャンネル間のリークによる影響を改
善できるのでチャンネルセパレーション特性が良好とな
る。
■ 各回路を表裏面に構成するのでペレットの占有面積
が小さいため樹脂モールド時の応力等による影響で緒特
性が悪くなるおそれがなくなる。
■ 一枚の基板を使って異なるデバイス(プロセス)の
回路を構成できる。
■ 表裏に全く同一の回路を構成する場合には、分離層
形成や、他の拡散層の形成を同時に行うことができるの
で製造工数の削減が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A>乃至(D)は本発明の一実施例を示す製造
工程断面図、第2図乃至第4図は本発明の詳細な説明す
るための概略平面図である。 1・・・半導体基板、 2A、2B、3A、3B−・・埋込層、4.5・・・回
路形成領域、 6A〜6C,7A〜7C・・・分離層、8A、88.9
A、9B・・・素子、 12.13.14・・・配線層、 16・・・セラミック基板、17・・・絶縁保護膜。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板の表裏面に形成された第1と第2の回
    路形成領域と、各回路形成領域内にそれぞれ形成された
    回路素子とを有し、第1の回路形成領域内に形成された
    回路と外部回路とは金属細線によつて接続され、第2の
    回路形成領域内に形成された回路と外部回路とは配線パ
    ターンを備えたセラミック基板を介して接続されている
    ことを特徴とする半導体集積装置。
  2. (2)第1導電型半導体基板の表裏面にそれぞれ選択的
    に第2導電型不純物を拡散させて第2導電型埋込層を得
    る工程と、半導体基板の表裏面にそれぞれ第2導電型半
    導体層を形成する工程と、表裏面の第2導電型半導体層
    に第1導電型不純物を選択的に拡散して第1導電型分離
    層を形成する工程と、第1導電型分離層によつて囲まれ
    た領域内にそれぞれ回路素子を形成する工程と、表面に
    形成された回路と外部回路とは金属細線によつて接続し
    、裏面に形成された各回路と外部回路とは配線パターン
    を形成したセラミック基板を介して接続する工程とを含
    むことを特徴とする半導体集積装置の製法。
JP1611585A 1985-01-29 1985-01-29 半導体集積装置及びその製法 Pending JPS61174662A (ja)

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