JPS61165881A - 高速センスアンプ回路 - Google Patents

高速センスアンプ回路

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Publication number
JPS61165881A
JPS61165881A JP60006402A JP640285A JPS61165881A JP S61165881 A JPS61165881 A JP S61165881A JP 60006402 A JP60006402 A JP 60006402A JP 640285 A JP640285 A JP 640285A JP S61165881 A JPS61165881 A JP S61165881A
Authority
JP
Japan
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cell
circuit
voltage
output
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP60006402A
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English (en)
Inventor
Nobuyuki Ikeda
信行 池田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導集積回路のうち、ダミーセルを用いた、
差動方式センスアンプ回路に関するものである。
従来の技術 近年、不揮発性メモリのセンスアンプ回路として高速性
およびプロセス変動に対する耐性から、ダミーセルを用
いた、差動アンプ方式が主流となっている。第2図は、
その従来例を示すものであり、1はメモリセルを示し、
2はメモリセルが選ばれたときK、しきい値電圧の大小
により、電流が流れたか流れないかを電圧の変化として
読みとる電流・電圧(IV)の変換回路である。一方、
5は本来のメモリセルと同様に作られたダミーセルであ
り、4は2とほぼ同様の回路形式をとった変換回路で゛
ある。ダミーセルのゲートは定を圧に固定され、ノード
7は、比較電圧として一定の電圧を差動アンプ3に供給
している。以上のように構成されたセンスアンプは、1
のメモリセルが選択されたとき、電流が流れたか流れな
いかで、ノード6の電圧を、比較電圧ノード7の電圧の
上下に設定することにより、出力は、°1″“0″と決
めることが出来、メモリセルのデータを読み出し、出力
回路へ送り出す訳である。   ゛発明が解決しようと
する問題点 しかし、従来例の構成では、差動アンプの比較電位側を
定電°圧とするため、さらに高速センスをすることは困
難であり、メモリセル1の微小電流変化を読み出すため
、ノイズに弱くなる欠点も有していた。
本発明は上記従来例の欠点を解消するもので、安定な、
より高速のセンスアンプ回路を提供するものである。
問題点を解決するための手段 本発明は、従来例のアンプに対して、さらにダミーセル
のゲートに本体メモリセルの電流電圧変換回路からの信
号と印加する構成をとったものである。
作  用 IV変換回路およびvREF回路から差動アンプへの入
力6および7の信号の位相を逆にすることにより安定で
かつ高速なセンスアンプ動作ができるものである。
実施例 第1図に本発明の一実施例を示す。メモリセル1に接続
した電流電圧(IV)変換回路2の出力6および、ダミ
ーセル6に接続したvREF回路4の出カフを、出力回
路を有する差動アンプ3に入力接続し、且っIV変換回
路の出力8を、ダミーセル5のコントロールゲートに接
続する構成である。
メモリセル1が選択された場合、メモリセルの状態によ
り、電流が流れたり、流れなかったりするがそのときの
状態を電圧変化として、ノード6に与える。そのときの
位相は、一般的には、流れた場合は低電圧、流れなかっ
た場合は高電圧となる。その際、その電流電圧変換回路
6の信号をダミーセル6のゲートに入力することにより
、ノード7の電位は、電流電圧変換回路6と逆の動きを
させることができる。以上の動作により、差動アンプ3
の入力はそれぞれ逆位相で動くことにより、出力の“1
”0”の判定は、従来例と同様なものとなるが、より微
小な変化で出力が変化すると同時に安定動作を行なうこ
とができるようになる。
発明の効果 本発明は、ダミーセルのゲート電圧に、本体セルの電圧
変化信号を与えることにより、高速でかつ安定なセンス
動作をすることができるという優れた、センスアンプ回
路を実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の高速センスアンプ回路の図、第2図は
従来例のセンスアンプ回路の図である。 1・・・・・・メモリセル、2・・・・・・I−V変換
回路、3・・・・・・差動アンプ、4・・・・・・vR
EF回路、6・・・・・・ダミー セル。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1基筒 
1 図 エカ!回路へ エカr5賂へ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ダミーセルを用いた差動アンプ方式のセンスアンプ回
    路を具備し、且つメモリセルのデータラインの電流変化
    量を前記ダミーセルの制御信号として入力接続したこと
    を特徴とする高速センスアンプ回路。
JP60006402A 1985-01-17 1985-01-17 高速センスアンプ回路 Pending JPS61165881A (ja)

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JPS61165881A true JPS61165881A (ja) 1986-07-26

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0294947A2 (en) * 1987-05-19 1988-12-14 Fujitsu Limited Semiconductor memory device with an error-checking circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0294947A2 (en) * 1987-05-19 1988-12-14 Fujitsu Limited Semiconductor memory device with an error-checking circuit

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