JPS6115408B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6115408B2 JPS6115408B2 JP10464577A JP10464577A JPS6115408B2 JP S6115408 B2 JPS6115408 B2 JP S6115408B2 JP 10464577 A JP10464577 A JP 10464577A JP 10464577 A JP10464577 A JP 10464577A JP S6115408 B2 JPS6115408 B2 JP S6115408B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hologram
- phase object
- focal plane
- phase
- parallel light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ホログラムを利用した微分干渉法に
関するものである。
関するものである。
ホログラムからなる干渉計を用いてシアリング
干渉させる方法は、特開昭52−65460号等により
開示されているがこの方法においては干渉計を２
枚のホログラムの組合わせによつて構成してい
る。
干渉させる方法は、特開昭52−65460号等により
開示されているがこの方法においては干渉計を２
枚のホログラムの組合わせによつて構成してい
る。
本発明は、１枚のホログラムを干渉計として使
用することにより微分干渉させることを特微と
し、それによつてホログラムの製作を簡単にする
と共に、視野を明るく、また調整を極めて容易に
したものである。
用することにより微分干渉させることを特微と
し、それによつてホログラムの製作を簡単にする
と共に、視野を明るく、また調整を極めて容易に
したものである。
以下、図面を参照して本発明の方法について詳
述する。
述する。
本発明の方法において使用するホログラムの作
製には、第１図に示すように、光源からの光を平
行光O1及びそれに対してｘ軸方向に入射角度が
θｘだけ傾いた平行光R1を写真乾板Ph1に投射
し、平行光R1を参照光としてそれらによる干渉
縞を写真乾板Ph1に記録すると共に、上記平行光
O1とわずかな角度Δθｙだけｙ軸方向に入射角
度が異なる平行光O2と上記平行光R1による干渉
縞をその写真乾板Ph1に二重露光によつて記録す
る。而して、この写真乾板Ph1を現像処理するこ
とにより第１のホログラムＨを得る。
製には、第１図に示すように、光源からの光を平
行光O1及びそれに対してｘ軸方向に入射角度が
θｘだけ傾いた平行光R1を写真乾板Ph1に投射
し、平行光R1を参照光としてそれらによる干渉
縞を写真乾板Ph1に記録すると共に、上記平行光
O1とわずかな角度Δθｙだけｙ軸方向に入射角
度が異なる平行光O2と上記平行光R1による干渉
縞をその写真乾板Ph1に二重露光によつて記録す
る。而して、この写真乾板Ph1を現像処理するこ
とにより第１のホログラムＨを得る。
上記ホログラムＨは、第２図に示すような光学
系において使用するとにより微分干渉顕微鏡を構
成することができ、次にその微分干渉顕微鏡によ
つて位相物体の観測を行う方法について説明す
る。
系において使用するとにより微分干渉顕微鏡を構
成することができ、次にその微分干渉顕微鏡によ
つて位相物体の観測を行う方法について説明す
る。
第２図において、超高圧水銀灯、沃素ランプ、
またはレーザ等の光源Ｓからの光は、コンデンサ
レンズＬによりピンホールP1に集められ、鏡M1
を経てコリメータレンズCL1により平行光１と
なり、ビームスプリツタBSを経て、ホログラム
Ｈに対して第１図の平行光R1の方向から入射す
る。この平行光１がホログラムＨに入射する
と、第３図に詳細に示すように、ホログラムＨか
らはわずかな角度Δθｙだけ異なる方向に２平行
光２，３が生じ、顕微鏡対物レンズL0を通
過後、位相物体Ｏを照明する。この場合、ホログ
ラムＨは顕微鏡対物レンズL0（焦点距離０）
の後側焦点面に、位相物体Ｏは前側焦点面に位置
させる必要があり、これによつて位相物体Ｏはク
リテイカル照明される。そして、２平行光２及
び３の間に位相差を与えるために位相物体Ｏを
全体的にわずかに傾ける。この位相差がπのとき
には引き算となる。
またはレーザ等の光源Ｓからの光は、コンデンサ
レンズＬによりピンホールP1に集められ、鏡M1
を経てコリメータレンズCL1により平行光１と
なり、ビームスプリツタBSを経て、ホログラム
Ｈに対して第１図の平行光R1の方向から入射す
る。この平行光１がホログラムＨに入射する
と、第３図に詳細に示すように、ホログラムＨか
らはわずかな角度Δθｙだけ異なる方向に２平行
光２，３が生じ、顕微鏡対物レンズL0を通
過後、位相物体Ｏを照明する。この場合、ホログ
ラムＨは顕微鏡対物レンズL0（焦点距離０）
の後側焦点面に、位相物体Ｏは前側焦点面に位置
させる必要があり、これによつて位相物体Ｏはク
リテイカル照明される。そして、２平行光２及
び３の間に位相差を与えるために位相物体Ｏを
全体的にわずかに傾ける。この位相差がπのとき
には引き算となる。
位相物体Ｏから反射した光は、再び顕微鏡対物
レンズL0を通つて平行光となり、ホログラムＨ
で２平行光が一致して、上記平行光１の方向の
平行光が再生され、この平行光は第２図に示すよ
うにコリメータレンズCL2を通過した後、鏡M2，
M3，M4を経て上記レンズCL2の焦点位置に置か
れたピンホールP2で必要な再生光のみが選択さ
れ、その後方に置かれた接眼レンズＬeに導びか
れて観測される。
レンズL0を通つて平行光となり、ホログラムＨ
で２平行光が一致して、上記平行光１の方向の
平行光が再生され、この平行光は第２図に示すよ
うにコリメータレンズCL2を通過した後、鏡M2，
M3，M4を経て上記レンズCL2の焦点位置に置か
れたピンホールP2で必要な再生光のみが選択さ
れ、その後方に置かれた接眼レンズＬeに導びか
れて観測される。
この場合、ホログラムＨにおいて生じた２平行
光２，３が位相物体Ｏの位置では第３図に付
記したようにわずか異なる位置を照射し、その位
置で反射した光がホログラムＨ上において再び完
全に重なることになるため、接眼レンズＬeを通
して観測すると位相物体Ｏの位置で２平行光
２，３がずれた量だけシアされ、しかも位相物
体を傾けて位相差を与えて引き算することによ
り、位相物体の微分された図形を観測することが
できる。また、位相差を適当に選んで与えること
により、位相物体の立体的な像も観測される。
光２，３が位相物体Ｏの位置では第３図に付
記したようにわずか異なる位置を照射し、その位
置で反射した光がホログラムＨ上において再び完
全に重なることになるため、接眼レンズＬeを通
して観測すると位相物体Ｏの位置で２平行光
２，３がずれた量だけシアされ、しかも位相物
体を傾けて位相差を与えて引き算することによ
り、位相物体の微分された図形を観測することが
できる。また、位相差を適当に選んで与えること
により、位相物体の立体的な像も観測される。
シア量を変える必要がある場合には、顕微鏡対
物レンズの焦点距離を変えるか、角度Δθｙを異
にするホログラムを用いればよい。
物レンズの焦点距離を変えるか、角度Δθｙを異
にするホログラムを用いればよい。
なお、接眼レンズＬeにおける観測は、例えば
ビイデイコンを接眼レンズに付設してそれに接続
したテレビ受像器により行うこともできる。
ビイデイコンを接眼レンズに付設してそれに接続
したテレビ受像器により行うこともできる。
顕微鏡対物レンズの後側焦点面がその顕微鏡対
物レンズの中に存在する場合には、第２図に示す
ようにホログラムをその後側焦点面に置くことは
できないが、この場合には第４図に示すような光
学系を用いることにより目的を達成することがで
きる。この第４図の光学系は、第２図の光学系に
おけるホログラムＨと顕微鏡対物レンズＬeとの
間に、コリメータレンズCL3、鏡M5、ピンホール
P3、コリメータレンズCL4、及び鏡M6を挿入し、
上記コリメータレンズCL3，CL4によホログラム
Ｈの像H′を顕微鏡対物レンズL0の後側焦点面に
結像させるように構成したものであり、その他の
構成は第２図の場合と変るところがないので同一
の符号を付している。
物レンズの中に存在する場合には、第２図に示す
ようにホログラムをその後側焦点面に置くことは
できないが、この場合には第４図に示すような光
学系を用いることにより目的を達成することがで
きる。この第４図の光学系は、第２図の光学系に
おけるホログラムＨと顕微鏡対物レンズＬeとの
間に、コリメータレンズCL3、鏡M5、ピンホール
P3、コリメータレンズCL4、及び鏡M6を挿入し、
上記コリメータレンズCL3，CL4によホログラム
Ｈの像H′を顕微鏡対物レンズL0の後側焦点面に
結像させるように構成したものであり、その他の
構成は第２図の場合と変るところがないので同一
の符号を付している。
このように、本発明の方法によれば、１枚のホ
ログラムを用いて微分干渉させることができ、従
つて微分干渉のための装置を極めて簡単かつ安価
に得ることができ、またクリテイカル照明による
ため視野を明るくすることができ、調整も極めて
容易であるなどの効果がある。
ログラムを用いて微分干渉させることができ、従
つて微分干渉のための装置を極めて簡単かつ安価
に得ることができ、またクリテイカル照明による
ため視野を明るくすることができ、調整も極めて
容易であるなどの効果がある。
なお、本発明は干渉顕微鏡に限らず、一般的な
干渉光学系にも適用することができる。
干渉光学系にも適用することができる。
第１図は本発明におけるホログラムを作製する
方法についての説明図、第２図は本発明によつて
位相物体の観測を行う光学系の構成図、第３図は
その要部拡大図、第４図は本発明を実施する他の
光学系の構成図である。 O1，O2……平行光、Ｈ……ホログラム、
１，２，３……平行光、L0……顕微鏡対物
レンズ、Ｏ……位相物体、Ｌe……接眼レンズ。
方法についての説明図、第２図は本発明によつて
位相物体の観測を行う光学系の構成図、第３図は
その要部拡大図、第４図は本発明を実施する他の
光学系の構成図である。 O1，O2……平行光、Ｈ……ホログラム、
１，２，３……平行光、L0……顕微鏡対物
レンズ、Ｏ……位相物体、Ｌe……接眼レンズ。
Claims (1)
- １ 入射角度がわずかに異なる２つの平行光と参
照光との干渉縞を二重露光によりホログラムに記
録し、このホログラムに対する上記参照光の方向
からの平行光によりホログラムにおいて生じる２
つの平行光を、そのホログラムを後側焦点面に位
置させた顕微鏡対物レンズの前側焦点面に置いた
位相物体に照射し、位相物体を全体的にわずかに
傾けることにより、２つの平行光の間に位相差を
与え、その位相物体からの反射光を上記顕微鏡付
対物レンズ及びホログラムを経て接眼レンズに導
くことを特徴とするホログラムを利用した微分干
渉法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10464577A JPS5438145A (en) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Differentiation interference method making use of holograms |
| US05/932,180 US4272192A (en) | 1977-08-13 | 1978-08-09 | Holographic shearing interference contrast method and interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10464577A JPS5438145A (en) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Differentiation interference method making use of holograms |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5438145A JPS5438145A (en) | 1979-03-22 |
| JPS6115408B2 true JPS6115408B2 (ja) | 1986-04-24 |
Family
ID=14386182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10464577A Granted JPS5438145A (en) | 1977-08-13 | 1977-08-31 | Differentiation interference method making use of holograms |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5438145A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56113428A (en) * | 1980-02-14 | 1981-09-07 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | Calender molding method |
| US4916909A (en) * | 1988-12-29 | 1990-04-17 | Electric Power Research Institute | Cool storage supervisory controller |
-
1977
- 1977-08-31 JP JP10464577A patent/JPS5438145A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5438145A (en) | 1979-03-22 |
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