JPS61147871A - 真空蒸着装置 - Google Patents

真空蒸着装置

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Publication number
JPS61147871A
JPS61147871A JP26780584A JP26780584A JPS61147871A JP S61147871 A JPS61147871 A JP S61147871A JP 26780584 A JP26780584 A JP 26780584A JP 26780584 A JP26780584 A JP 26780584A JP S61147871 A JPS61147871 A JP S61147871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
valve
chamber
sample
opened
vapor deposition
Prior art date
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Pending
Application number
JP26780584A
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English (en)
Inventor
Yoshihiro Nakajima
中島 芳廣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS61147871A publication Critical patent/JPS61147871A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野」 本発明は真空蒸着装置に関する。
〔従来の技術〕
混成集積回路に用いられるセラミック基板等に金属配線
等を形成する場合、金属薄膜は真空蒸着により主に形成
される。
この時用いられる真空蒸着装置には、例えば第2図に示
されるように、試料室1と蒸着源室2とに分れた真空室
を有する構造のものがある。
第2図において、試料室1には、例えば回転可能な試料
ホルダー3が固定されており、複数個の試料4が取付け
られるように構成されている。試料室1と蒸着源室2と
は、分離バルブ5と、これを上下及び水平方向に移動さ
せる駆動機構6とにより気密に分離可能となっている。
そして、メインバルブ7は上下機構8によシ蒸着源室2
と拡散ポンプ9とを分離している。
次にこのように構成された真空蒸着装置の操作について
簡単に説明する。
試料室1内に試料4をセットしたのち、真空室内はメイ
ンバルブ7を閉じ、分離バルブ5を開いた状態にしてお
く。そして、ロータリーポンプ10を作動させたのち補
助バルブ11を開き拡散ポンプ9を作動させる。
次に、荒引バルブ12を開さ試料室1及び蒸着源室2内
を10−” Torr程度にまで引いたのち、荒引バル
ブ12を閉じメインバルブ7を開く。試料室lと蒸着源
室2内が所定の高真空(〜1σ6Torr)に達した時
点でシャッタ13を開き、蒸着源14から蒸発した金属
蒸気を試料4にあてその表面に金属薄膜を形成する。
蒸着終了後はメインバルブ7及び分離バルブ5を閉じた
のち、リークバルブ15を開いて試料室1を常圧にし、
試料室1中の蒸着の完了した試料4を取り出す。そして
、新たに未蒸着の試料をセットし次の蒸着操作に移る。
このように、真空室が試料室1と蒸着源室2とに分れて
いる場合は、蒸着源室2の真空をやぶらずに試料4の交
換ができるため、作業能率は向上したものとなる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、蒸着途中で蒸着源14に異常が発生した
場合、例えば電子銃加熱手段を用いた場合のフィラメン
トの断線や蒸発材料不良の場合等では、フィラメントや
蒸発材料を交換するために蒸着源室2のリークは分離バ
ルブ5を開は試料室1を経由して行なわれた。この九め
、蒸着途中の試料4の表面が酸化したり、他の不純物に
より汚染されたりするため、再蒸着して規定厚の蒸着膜
を形成しても、再蒸着した蒸着膜の密着性が悪く、試料
は不良となる欠点があった。
本発明の目的は、上記欠点を除去し、試料室の真空をや
ぶらずく蒸着源の異常を処理でき、試料の製造歩留りを
向上させることのできる真空蒸着装置を提供する仁とに
ある。
〔問題を解決するための手段〕
本発明の真空蒸着装置は、試料室と蒸着源室とが分離バ
ルブにより気密に分離される構造を有する真空蒸着装置
であって、試料室と蒸着源室とがそれぞれ独立にリーク
バルブ及び荒引きバルブを備え九構成となっている。
本発明によれば、蒸着源室にリークバルブと荒引バルブ
とが備えられているため試料室とは無関係に蒸着源室だ
けの真空をやぶることができるため、蒸着途中の試料を
大気にさらすことはない0〔実施例〕 次に本発明の実施例を図面を参照して説明する0第1図
は本発明の一実施例の概略構成を示す断面図であり、第
2図と異る所は試料室1と蒸着源室2にそれぞれ独立し
てリークバルブ15A、15B及び荒引バルブ12A、
12Bとが備えられていることである。
すなわち、第1図において、試料室1と蒸着源室2とは
分離バルブ5により、また蒸着源室2と拡散ポンプ9と
はメインパルグアによりそれぞれ気密に分離可能に構成
されている。
試料室1には、従来と同様にリークバルブ15Aと荒引
バルブ12Aとが設けられているが、一方、蒸着室2に
もリークバルブ15Bと荒引バルブ12Bとが設けられ
ており、それぞれ独立に17−り及び荒引が可能な構造
となっている。
このように構成された本発明の実施例により、試料のセ
ラミック基板に紅等の蒸着膜を形成する場合の操作につ
いて次に説明する。
まず試料室1内の試料ホルダー3にセラミック基板の試
料4をセットし、メインバルブ7を閉じ分離バルブ5t
−開いた状態にしておく。そして、ロータリーポンプ1
0を作動させたのち補助バルブ11を開き拡散ポンプ9
を作動させる。
次に、荒引バルブ(12人又は12B)を開き試料室1
及び蒸着源室2内を10−” Tart程度にまで荒引
きしたのち、荒引バルブ(12A又は12B)を閉じメ
インバルブ7を開く。こうして試料室1と蒸着源室2内
が所定の高真空(〜10−’Torr )に達した時点
でシャッタ13を開き、蒸着源14からのM等の金属蒸
気を試料4にあてその表面に金属薄膜を形成する。
蒸着終了後はシャッタ13.メインバルブ7及び分離バ
ルブ5を閉じたのち、リークバルブ15Aを開いて試料
室1を常圧として試料4の交換を行う。そしてリークバ
ルブ15Aを閉じ、荒引バルブ12Aを開いて次の蒸着
操作に移る。
蒸着の途中で蒸着源14に異常が発生し次場合は、分離
バルブ5及びメインバルブ7を閉じたのチ、リークバル
ブ15Bを開いて蒸着源室2を常圧にして異常対策を行
なう。すなわち、試料室1の真空をやぶる仁となくフィ
ラメントの交換、蒸着材料の補給等の異常処理を行なっ
たのち、リー。
クパルブ15Bを閉じ、荒引バルブ12Bを開けて蒸着
源室2内を荒引きする。その後メインバルブ7t−開け
、蒸着源室2内を高真空にしたのち、分離バルブ5を開
けて蒸着を続行する。
このように本実施例によれば、蒸着源14の異常処理を
試料室1内を高真空に保ったまま行うことができるので
、蒸着途中の試料表面は酸化された9不純物で汚染され
ることがないため、再蒸着しても再蒸着膜の密着強度は
強く、再蒸着膜がはがれたりすることはない。従って、
作業能率及び製造歩留シ共に向上したものとなる。
上記実施例においては試料としてセラミック基板を用い
た場合について説明したが、これに限定されるものでは
なく、半導体基板1石英板、ガラス板等にも応用可能で
あり、また蒸着材料としても紅の他Ti 、 Cu 、
 Au等薄膜形成に用いられる全ての金属材料を用いる
ことができる。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように、本発明によれば、蒸着途中
においても試料室の真空をやふることなく蒸着源の異常
処理を行うことのできる真空蒸着装置が得られるので、
作業能率及び製造歩留りの向上に大きな効果がある0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成を示す断面図、第
2図は従来の真空蒸着装置の一例の概略構成を示す断面
図である。 1・・・・・・試料室、2・・・・・・蒸着源室、3・
・・・・・試料ホルダー、4・・・・・・試料、5・・
・・・・分離ノ(ルブ、6・・・・・・駆動機構、7・
・・・・・メインノ(ルプ、8・・・・・・上下機構、
9・・・・・・拡散ボンダ、10・・・・・・ロータリ
ーポンプ、11・・・・・・補助バルブ、12・・・・
・・荒引〕(ルフ、13・・・・・・シャッタ、14・
・・・・・蒸着源、15・・・・・・1ノークバルプ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料室と蒸着源室とが分離バルブにより気密に分離され
    る構造を有する真空蒸着装置において、前記試料室と蒸
    着源室とはそれぞれ独立にリークバルブ及び荒引きバル
    ブを備えていることを特徴とする真空蒸着装置。
JP26780584A 1984-12-19 1984-12-19 真空蒸着装置 Pending JPS61147871A (ja)

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JP26780584A JPS61147871A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 真空蒸着装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0436468A (ja) * 1990-05-31 1992-02-06 Tokuda Seisakusho Ltd バルブ機構を備えた配管装置
US8771422B2 (en) 2005-03-18 2014-07-08 Ulvac, Inc. Coating method and apparatus, a permanent magnet, and manufacturing method thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0436468A (ja) * 1990-05-31 1992-02-06 Tokuda Seisakusho Ltd バルブ機構を備えた配管装置
JPH07116586B2 (ja) * 1990-05-31 1995-12-13 株式会社芝浦製作所 バルブ機構を備えた配管装置
US8771422B2 (en) 2005-03-18 2014-07-08 Ulvac, Inc. Coating method and apparatus, a permanent magnet, and manufacturing method thereof

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