JPS61139693A - 銀メツキ方法 - Google Patents
銀メツキ方法Info
- Publication number
- JPS61139693A JPS61139693A JP26229484A JP26229484A JPS61139693A JP S61139693 A JPS61139693 A JP S61139693A JP 26229484 A JP26229484 A JP 26229484A JP 26229484 A JP26229484 A JP 26229484A JP S61139693 A JPS61139693 A JP S61139693A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- silver
- plated
- silver plating
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- Prior art date
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- Pending
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- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子部品用銀メッキ方法に関するものである。
一般に、トランジスタやＩＣ用のリードフレフレームな
どの電子部品への銀メッキは、各々の使用目的により、
銀の結晶状態、光沢、硬さなどが異なっている。例えば
、■Ｃ用リードフレームへの銀メッキは、ワイヤーボン
ド、グイボンドの点から、光沢のあるち密な銀メッキよ
りもマット状の銀メッキが強く要求されている。しかし
ながらマット状の銀メッキは、低い’Ｐｉｔ ａ密度で
行う必要があるため、非能率であるばかシでなく、フレ
ーム素地との密着性が悪く、耐熱性に劣るという問題点
があった。通常のこれらＩ ＣＩＪ−ドフレームの耐熱
条件は４５０〜５００℃で１〜５分程度であるが、使用
するフレーム素地に微細な祠料欠陥がなく、またそれが
あった場合に脱脂、酸洗によりその欠陥を完全に除去し
たとしても、マット状の銀メッキの場合かかる耐熱性の
実現は不可能である。そういうことから脱脂、酸洗の前
処理をした後に銅またはニッケルの下地メッキを行い、
その後元沢帳メッキを行い、更にその後マット状の銀メ
ッキを行うなど下地処理をしたあとメッキ質の異なる銀
メッキを２回に分けて行なう方法や、マット状の銀メッ
キに代えてリードフレーをアノードとして逆電解処理す
ることで銀メッキ表面をマット状とする方法などが検討
されている。
どの電子部品への銀メッキは、各々の使用目的により、
銀の結晶状態、光沢、硬さなどが異なっている。例えば
、■Ｃ用リードフレームへの銀メッキは、ワイヤーボン
ド、グイボンドの点から、光沢のあるち密な銀メッキよ
りもマット状の銀メッキが強く要求されている。しかし
ながらマット状の銀メッキは、低い’Ｐｉｔ ａ密度で
行う必要があるため、非能率であるばかシでなく、フレ
ーム素地との密着性が悪く、耐熱性に劣るという問題点
があった。通常のこれらＩ ＣＩＪ−ドフレームの耐熱
条件は４５０〜５００℃で１〜５分程度であるが、使用
するフレーム素地に微細な祠料欠陥がなく、またそれが
あった場合に脱脂、酸洗によりその欠陥を完全に除去し
たとしても、マット状の銀メッキの場合かかる耐熱性の
実現は不可能である。そういうことから脱脂、酸洗の前
処理をした後に銅またはニッケルの下地メッキを行い、
その後元沢帳メッキを行い、更にその後マット状の銀メ
ッキを行うなど下地処理をしたあとメッキ質の異なる銀
メッキを２回に分けて行なう方法や、マット状の銀メッ
キに代えてリードフレーをアノードとして逆電解処理す
ることで銀メッキ表面をマット状とする方法などが検討
されている。
しかし、このような使者の方法では、光へ銀メッキ浴と
無元枳銀メッキ浴の２つを準備する必要′があるため完
全に２工程の銀メッキ法となること、丑だ部分的にメッ
キする場合は、それぞれの工程において正しく位置決め
しなければならないため精密な位置決め機構が必要であ
り、実用困難であるという問題点があった。
無元枳銀メッキ浴の２つを準備する必要′があるため完
全に２工程の銀メッキ法となること、丑だ部分的にメッ
キする場合は、それぞれの工程において正しく位置決め
しなければならないため精密な位置決め機構が必要であ
り、実用困難であるという問題点があった。
丑だ、後者の方法では、銀メッキ厚を目標とする値より
過大に付着させるだめのロス、逆電解処理をしても、目
標とするマット状銀メッキ面の逆電解処理条件が非常に
微妙であり、安定した量産が困難であるという問題点が
あった。
過大に付着させるだめのロス、逆電解処理をしても、目
標とするマット状銀メッキ面の逆電解処理条件が非常に
微妙であり、安定した量産が困難であるという問題点が
あった。
本発明の目的は、前記した従来技術の問題点を解消し、
結晶状態等メッキ質の異なる数種の銀メッキを、一つの
銀メッキ槽の中で容易に実現し得る新規な銀メッキ方法
を提供することにある。
結晶状態等メッキ質の異なる数種の銀メッキを、一つの
銀メッキ槽の中で容易に実現し得る新規な銀メッキ方法
を提供することにある。
すなわち、本発明の要旨は、同一メッキ槽の同一メッキ
液中で任意に電流密度を変えることにより、破メッキ材
上にそれぞれメッキ質の異なる数・１種１７：１銀メッ
キ層を連成して得ることにある。
液中で任意に電流密度を変えることにより、破メッキ材
上にそれぞれメッキ質の異なる数・１種１７：１銀メッ
キ層を連成して得ることにある。
本発明を、短冊状のリードフレームにマント状結晶状態
の銀メッキを部分的に行う場合について述べる。なお、
使用するメッキ液は、無光沢銀メッキ液例えばシャパン
ロナール社製のハイランドシルバー８０や日本エルゲル
ハルト社製の８９００である。これら無光沢銀メッキ浴
の電流密度と銀メッキ後の表面状態例えば平均表面粗さ
、表面光沢度の相対値、表面硬さの相対値とをそれぞれ
第２図ないし第４図に示した。これらのグラフから明ら
かなように、本メッキ液では、電流密度によって表面状
態が大きく影響される。なお、電流密度は、任意の電流
を任意の時間発生できる整流器（図示しない）を銀メッ
キ用電源に用いることにより、変化させるものとする。
の銀メッキを部分的に行う場合について述べる。なお、
使用するメッキ液は、無光沢銀メッキ液例えばシャパン
ロナール社製のハイランドシルバー８０や日本エルゲル
ハルト社製の８９００である。これら無光沢銀メッキ浴
の電流密度と銀メッキ後の表面状態例えば平均表面粗さ
、表面光沢度の相対値、表面硬さの相対値とをそれぞれ
第２図ないし第４図に示した。これらのグラフから明ら
かなように、本メッキ液では、電流密度によって表面状
態が大きく影響される。なお、電流密度は、任意の電流
を任意の時間発生できる整流器（図示しない）を銀メッ
キ用電源に用いることにより、変化させるものとする。
リードフレームは、前処理として脱脂、酸洗され、その
表面が清浄、活性化されており、更にその後全面銅スト
ライクの中間メッキが施され、その後フレームの銀置換
を防止するために置換防止液に浸しておく。
表面が清浄、活性化されており、更にその後全面銅スト
ライクの中間メッキが施され、その後フレームの銀置換
を防止するために置換防止液に浸しておく。
メッキ厚例えば６μのマット状銀メッキを行う場合、本
発明の実施例１では、第１図（Ａ）に実線で示すように
５ ＯＡ ／ ｃｍ、 ２の電流密度で１１秒作業する
ことにより光沢のあるち密な下地メッキを４μ得ること
ができ、その後マット状銀メッキを約２μ程つけるため
電流密度を２０ Ａ ／ｒｙｖｒ、 ′に変化させて１
０秒程遠続して仕上げ銀メッキを施し、これにより下地
メッキと仕上げメッキを１工程で実現できた。同様に、
実施例２では、第１図（Ｂ）に点線で示すように５ＯＡ
／ａ”、９秒の下地メッキと２ ＯＡ／ｍ” 、１８秒
の仕上げメッキを１工程で実現できた。
発明の実施例１では、第１図（Ａ）に実線で示すように
５ ＯＡ ／ ｃｍ、 ２の電流密度で１１秒作業する
ことにより光沢のあるち密な下地メッキを４μ得ること
ができ、その後マット状銀メッキを約２μ程つけるため
電流密度を２０ Ａ ／ｒｙｖｒ、 ′に変化させて１
０秒程遠続して仕上げ銀メッキを施し、これにより下地
メッキと仕上げメッキを１工程で実現できた。同様に、
実施例２では、第１図（Ｂ）に点線で示すように５ＯＡ
／ａ”、９秒の下地メッキと２ ＯＡ／ｍ” 、１８秒
の仕上げメッキを１工程で実現できた。
比較のため、同じ６μのマット状銀メッキを得７ようと
すれば、従来技術による従来例１では１５Ａ。／臨′で
は５０秒、従来例２では２０Ａ、／濡２では３７秒必要
であり、寸だ従来例では８０Ａ／ｍ２で４秒と２０Ａ／
臨２で１８秒の２工程が必要である。ここで、例えば従
来例２と実施例１を比較すれば明らかなように、本発明
は約１７２の ５一 時間で、なおかつ下地メッキと仕上げ銀メッキを１工程
で実施できる。実際には、下地銀メッキ厚さと仕上げ銀
メッキ厚さは、目標仕様に合わせて各々の電流密度の時
間で決定できる。
すれば、従来技術による従来例１では１５Ａ。／臨′で
は５０秒、従来例２では２０Ａ、／濡２では３７秒必要
であり、寸だ従来例では８０Ａ／ｍ２で４秒と２０Ａ／
臨２で１８秒の２工程が必要である。ここで、例えば従
来例２と実施例１を比較すれば明らかなように、本発明
は約１７２の ５一 時間で、なおかつ下地メッキと仕上げ銀メッキを１工程
で実施できる。実際には、下地銀メッキ厚さと仕上げ銀
メッキ厚さは、目標仕様に合わせて各々の電流密度の時
間で決定できる。
従来方法と本発明方法の比較をまとめて下記の表に示す
。
。
この比較表に示されているように、本発明によれば、マ
ット状の銀メッキを得るために、１工程６一 で、従来より短時間でメッキできる他に、下地メッキの
結晶状態を常に一定化でき、銀メッキの密着状態を安定
させることができる。そこで、下地銀メッキを常に一定
状態にしておき、仕上げ銀メッキの表面粗さや表面硬さ
などをコントロールする場合がある。この場合には、電
流密度の発生パターンを各々の最適なパターンに合わせ
て１工程で銀メッキできる。
ット状の銀メッキを得るために、１工程６一 で、従来より短時間でメッキできる他に、下地メッキの
結晶状態を常に一定化でき、銀メッキの密着状態を安定
させることができる。そこで、下地銀メッキを常に一定
状態にしておき、仕上げ銀メッキの表面粗さや表面硬さ
などをコントロールする場合がある。この場合には、電
流密度の発生パターンを各々の最適なパターンに合わせ
て１工程で銀メッキできる。
従来、多層の銀メッキを得るためには、メッキ槽の異な
るいくつかの銀メッキ工程を経るか、銀メッキ後にその
表面の一部をエツチングするかして目標とする銀メッキ
表面を得ていたが、本発明により同一メッキ槽の同一メ
ッキ液中で多層の銀メッキを実現できるため、工程の短
縮やメッキ時間の短縮、更に下地銀メッキの安定化によ
る品質向上が図れるという効果がある。
るいくつかの銀メッキ工程を経るか、銀メッキ後にその
表面の一部をエツチングするかして目標とする銀メッキ
表面を得ていたが、本発明により同一メッキ槽の同一メ
ッキ液中で多層の銀メッキを実現できるため、工程の短
縮やメッキ時間の短縮、更に下地銀メッキの安定化によ
る品質向上が図れるという効果がある。
第１図は本発明による電流密度とメッキ時間の関係を示
すグラフ図、第２図は電流密度と平均表面粗さの関係を
示すグラフ図、第３図は電流密度と表面光沢度の相対値
との関係を示すグラフ図、第４図は電流密度と表面硬さ
の相対値との関係を示すグラフ図である。
すグラフ図、第２図は電流密度と平均表面粗さの関係を
示すグラフ図、第３図は電流密度と表面光沢度の相対値
との関係を示すグラフ図、第４図は電流密度と表面硬さ
の相対値との関係を示すグラフ図である。
Claims (2)
- （１）同一メッキ槽の同一メッキ液中で任意に電流密度
を変えることにより、被メッキ材上にそれぞれメッキ質
の異なる数種の銀メッキ層を連続して得ることを特徴と
する銀メッキ方法。 - （２）上記銀メッキ層が光沢銀メッキ層、半光沢銀メッ
キ層、無光沢銀メッキ層の何れか二つ以上の組合わせで
あることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の銀メ
ッキ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26229484A JPS61139693A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 銀メツキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26229484A JPS61139693A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 銀メツキ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61139693A true JPS61139693A (ja) | 1986-06-26 |
Family
ID=17373782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26229484A Pending JPS61139693A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 銀メツキ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61139693A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006204544A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Wayoo Kk | 物品支持装置 |
| JP2007254855A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Dowa Holdings Co Ltd | 電子部品用銀めっき金属部材及びその製造方法 |
| JP2010287741A (ja) * | 2009-06-11 | 2010-12-24 | Nagasaki Univ | リードフレームとその製造方法、及び半導体装置 |
-
1984
- 1984-12-12 JP JP26229484A patent/JPS61139693A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006204544A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Wayoo Kk | 物品支持装置 |
| JP2007254855A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Dowa Holdings Co Ltd | 電子部品用銀めっき金属部材及びその製造方法 |
| JP2010287741A (ja) * | 2009-06-11 | 2010-12-24 | Nagasaki Univ | リードフレームとその製造方法、及び半導体装置 |
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