JPS61139027A - 感光性樹脂塗布装置 - Google Patents

感光性樹脂塗布装置

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Publication number
JPS61139027A
JPS61139027A JP26138284A JP26138284A JPS61139027A JP S61139027 A JPS61139027 A JP S61139027A JP 26138284 A JP26138284 A JP 26138284A JP 26138284 A JP26138284 A JP 26138284A JP S61139027 A JPS61139027 A JP S61139027A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
roller
wafer
resist
resist solution
resist film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26138284A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Yamamoto
和彦 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP26138284A priority Critical patent/JPS61139027A/ja
Publication of JPS61139027A publication Critical patent/JPS61139027A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野J 本発明はウェーハやシVドーマスク等の被塗布物表面に
感光性樹脂a膜(レジスト膜)を形成する感光性樹脂塗
布装置に関する。
(発明の技術的背景とその問題点) −IQに、ウェーハ表面をエツチングしてパターンを形
成する際には、ウェーハ表面に塗ηiされたレジスト膜
をパターニングしてマス■ング層を形成している。
従来、このレジスト膜の塗布はレジスト溶液をウェーハ
に霧状に噴射する方法(スプレ一方式)で行なったり、
あるいはウェーハの中心部にレジスト溶液を滴下してウ
ェーハを高速回転さ印、その遠心力で周縁部に拡散さけ
る方法(スピンオン方式・)により行なっていた。
しかしながら、スプレ一方式では簿いレジスト膜を均一
に塗布するのが難しく、10μ九以上の厚いレジスト膜
の形成にのみ利用されるbのであった。一方、スピンオ
ン方式は1〜5μmの薄いレジメ1〜IIQを形成する
ことができ、一般に酋及しているが、1〜2μ乳のレジ
スト膜を形成する場合には故銅状塗布均−性(ストライ
エーション)が生じたり、周縁部付近でレジスト膜の厚
さが不均一となる不都合があった。又、つ、エーハ表面
に段差がある場合には、段差F端部でレジメ1〜膜が非
常に薄くなるため、パターンを形成した後に、その段差
部分の寸法幅が局所的に変化するという問題もあった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、1〜2
μ九の薄いレジスト膜を形成することができると共に、
そのレジスト膜の形成にあってもストライエーションの
ような微小領域での膜厚の不均一性が生じることなく、
またつI−凸表面の段差の有無に関係なく平滑なレジス
ト膜を形成することができる感光性樹脂塗布装置を提供
することを目的とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため、本発明による感光性樹脂塗布
装置はレジスト溶液に下部が浸漬されたローラを用い、
このローラを回転さUながらつ工−ハに下方から接触さ
せてレジストを塗布させることを特徴とする。
(発明の実施例〕 以下、本発明を図示する実施例に基づいて詳述する。
第1図において、ウェーハ1は真空チャック等の保持手
段(図示せず)によって水平に固定されており、研磨さ
れた表面4が下方に位置している。
このウェーハ1の表面4には金属製のローラ2が接して
おり、このローラ2の下部が貯留槽5内のレジスト溶液
3に浸漬している。
ローラ2はその長さがウェーハ1の直径よりも若干、大
きくなるように形成するのが好ましく、これにより、ロ
ーラ2がウェーハ1に対して1回移動することでつJ−
ハ1表面全体へレジスト溶液の塗布が行なわれる。この
ローラ2の寸法は例えば25cIR前後であり、又、ロ
ーラの直径は例えば5cm前(Itである。又、このロ
ーラ2のシVフト(図示往ず)はローラの両端部から延
設しており、このシャフトに図示しないスプリング、あ
るいはガススプリング等が取り付けられ、これらのスプ
リングによってローラ2がウェーハ1に接する圧力を常
に一定に保つように調整されている。
前記レジスト溶液3はポンプ6によって循環されており
、この循環途中で溶媒槽7から一定量の溶媒が補充され
て貯留槽5内の濃度及び粘度が常に一定に保たれでいる
。又、貯留槽5 a3よび循環ラインには温度コントロ
ーラ(図示せず)が配設されてレジスト溶液が一定4度
、例えば10℃、に保たれている。なお、循環ライン中
には濾過槽8が設けられて微小異物の排除が行なわれて
いる。
次にこの感光性樹脂塗布装置による塗布方法を説明する
。下部がレジスト溶液に浸漬したローラ2を回転させて
おき、上方からウェーハ1を下降させる。そして下面に
位置した表面4の左端部がローラ2に接した時点で、ロ
ーラ2を回転さけながら矢印で示ず水平右方向に移Il
lさける。この移動により、ローラ2の外面に付着した
レジスト溶液はウェーハ1の表面に塗布され、ローラ2
がつ■−ハ1の右端部に達すると、ウェーハ1の表面全
体にレジスト膜が形成される。このような塗布はウェー
ハの表面4が下方を向いており、過剰のレジスト溶液は
貯留槽5に落下する1μmのよな薄いレジスト膜を形成
することができ、又、ローラ2がウェーハ1の表面全体
に接触するから均一なレジスト膜とすることができる。
なお、ローラ2の移動速度は例えば、10 cm / 
Secが望ましく、ローラ2の回転速度もこの移動速度
に併せて調整されることが望ましい。またローラ2では
なくつ工−ハ1を水平移動させるようにしてもよい。
なお、上記実施例においてはウェーハにレジストを塗布
する場合について説明したが、シセドーマスク等他のも
のにレジストを塗布する場合にも適用できる。特に大面
積の被塗布物にレジストを塗布する場合に適している。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明によればレジスト溶液に下部が浸漬
したローラを被塗布物に下方から接触させてローラを回
転しながら相対的に水平方向に移動させるものであり、
ローラが被塗布物の全面に接するから±5%以下の誤差
の範囲内でレジスト膜を形成することができると共に、
段差があっても局所的膜厚の不均一性を生じることがな
い。また被塗布物が回転するものでなく、被塗布物表面
のレジスト溶液に遠心力が作用しないから、塗布後のレ
ジスト膜が不均一になったり、飛散するしラスト・グス
クにより周囲環境が汚染したりすることがなくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による塗布装置の一実施例の概略構成図
である。 1・・・ウェーハ、2・・・ローラ、3・・・レジスト
溶液、5・・・レジスト貯留槽、6・・・ポンプ、7・
・・溶媒槽、8 ・・・ i濾過槽 。 出願人代理人  猪  股    清 61 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  感光性樹脂溶液を貯える貯留槽と、この貯留槽中の感
    光性樹脂溶液に下部が浸漬され被塗布物表面に下方から
    接するローラとを備え、このローラを回転させながら前
    記被塗布物と相対的に移動させることにより、前記被塗
    布物表面に感光性樹脂を塗布する感光性樹脂塗布装置。
JP26138284A 1984-12-11 1984-12-11 感光性樹脂塗布装置 Pending JPS61139027A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26138284A JPS61139027A (ja) 1984-12-11 1984-12-11 感光性樹脂塗布装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26138284A JPS61139027A (ja) 1984-12-11 1984-12-11 感光性樹脂塗布装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61139027A true JPS61139027A (ja) 1986-06-26

Family

ID=17361069

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26138284A Pending JPS61139027A (ja) 1984-12-11 1984-12-11 感光性樹脂塗布装置

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JP (1) JPS61139027A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0864521A (ja) * 1994-05-26 1996-03-08 Able:Kk 薄膜形成方法およびこの方法に用いられる装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0864521A (ja) * 1994-05-26 1996-03-08 Able:Kk 薄膜形成方法およびこの方法に用いられる装置

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